DE2847771A1 - Spektralphotometer - Google Patents
SpektralphotometerInfo
- Publication number
- DE2847771A1 DE2847771A1 DE19782847771 DE2847771A DE2847771A1 DE 2847771 A1 DE2847771 A1 DE 2847771A1 DE 19782847771 DE19782847771 DE 19782847771 DE 2847771 A DE2847771 A DE 2847771A DE 2847771 A1 DE2847771 A1 DE 2847771A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- sample
- electrical
- signals
- photoelectric converter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 title description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 6
- XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-N phthalic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 4
- LGRFSURHDFAFJT-UHFFFAOYSA-N Phthalic anhydride Natural products C1=CC=C2C(=O)OC(=O)C2=C1 LGRFSURHDFAFJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JHIWVOJDXOSYLW-UHFFFAOYSA-N butyl 2,2-difluorocyclopropane-1-carboxylate Chemical compound CCCCOC(=O)C1CC1(F)F JHIWVOJDXOSYLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- JEPDBWHGNKPOHW-UHFFFAOYSA-N 2-benzofuran-1,3-dione;phthalic acid Chemical compound C1=CC=C2C(=O)OC(=O)C2=C1.OC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O JEPDBWHGNKPOHW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000251730 Chondrichthyes Species 0.000 description 1
- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 description 1
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 description 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
HITACHI, LTD., Tokyo, Japan
Spektralphotometer
Die Erfindung betrifft ein Spektralphotometer und insbesondere ein Zweistrahl- oder Zweiwellenlängen-Spektrr"1-photometer.
Ein Zweistrahl-Spektralphotometer ist im allgemeinen in der folgenden Weise aufgebaut. Von einer Lichtquelle ausgesandte
Lichtstrahlen werden in einen Monochromator einschließlich Dispersionselementen eingeführt. Bei Drehung der Dispersionselemente
ändert sich die Wellenlänge der aus einem Ausgangsspalt austretenden Lichtstrahlen nacheinander. Das
monochromatische Licht vom Monochromator wird mittels eines umlaufenden Sektors oder eines Strahlteilers in zwei Strahlen
aufgeteilt. Einer der aufgeteilten Strahlen wird als Bezugsstrahl und der andere als Probenstrahl bezeichnet. Ein Bezugsobjekt liegt im Strahlengang des Bezugsstrahles, und eine Probe
ist im Strahlengang des Probenstrahles vorgesehen. Die durch
909819/0818
das Bezugsobjekt und die Probe geschickten Lichtstrahlen werden mittels eines photoelektrischen Umsetzers in entsprechende
elektrische Signale umgesetzt. Das elektrische Signal entsprechend dem durch das Bezugsobjekt oder -material
geschickten Strahl wird als Bezugssignal bezeichnet, und das elektrische Signal entsprechend dem durch die
Probe geschickten Strahl wird Probensignal· genannt. Zusätzlich zu diesen Signalen ist ein Vorsignal (gewöhnlich als
Null-Signal bezeichnet), wie z. B. ein durch äußere Lichtstrahlen und einen Dunkelstrom hervorgerufenes Signal, im
Ausgangssignal des optoelektrischen Umsetzers enthalten. Beim üblichen Zweiwellenlängen-Spektralphotometer werden
von einer Lichtquelle ausgesandte Lichtstrahlen in zwei Monochromatoren eingeführt. Die monochromatischen Lichtstrahlen
von den Monochromatoren werden durch einen Sektor in einen einzigen Lichtstrahl gemischt. Die Probe liegt im
Strahlengang des Lichtstrahles. Der durch das Material der Probe geschickte Lichtstrahl wird in ein elektrisches Signal
umgesetzt. Bei der Messung können die Wellenlängen von zwei monochromatischen Lichtstrahlen auf unterschiedliche Werte
festgelegt werden, oder eine der Wellenlängen kann auf einem bestimmten Wert festgehalten werden, während die andere
Wellenlänge abgetastet wird. Das elektrische Signal entsprechend einer der Wellenlängen wird als Bezugssignal bezeichnet.
Das elektrische Signal entsprechend der anderen Wellenlänge wird Probensignal genannt. Bei einem üblichen Spektralphotometer
wird das Verhältnis des Bezugssignales R zum Probensignal S, also S/R, berechnet, und der berechnete Wert
wird durch einen Schreiber angezeigt. Bei einer der herkömmlichen Methoden zum Berechnen des Verhältnisses wird die Differenz
zwischen einem Bezugswert und dem Bezugssignal R rückgekoppelt, um das Bezugssignal konstant zu machen. Wenn ein durch
Rückkopplungsbetrieb gesteuertes Objekt die an eine Photover-
909819/0818
vielfacherröhre zu legende Spannung ist, wird die Methode als Sekundäremissionskathoden- oder Dynoden-Rüekkopplungsmethode
bezeichnet. Wenn es die Spaltbreite eines Monochromators ist, wird die Methode Spalt-Servo-Methode genannt.
Wenn das Probensignal S größer als das Bezugssignal R ist j sättigt das Probensignal den Detektor oder einen Verstärker,
was oft zu einem Ausfall der Photometrie führt. In diesem Fall ist es nahezu unmöglich, insbesondere eine negative
Extinktion zu messen, und ein weiter Bereich einer Photometrie ist tatsächlich unmöglich. Bei einem schmalen Bereich
der Photometrie ist es schwierig, einen Änderungsbetrag im Differenzspektrum zu messen. Die Sättigung des Monochromators
oder des Verstärkers verringert die Lebensdauer des Gerätes oder des Spektralphotometers. Das Null-Signal wird dem Bezugssignal R und dem Probensignal S überlagert, und unter dieser
Bedingung erfolgt der Rückkopplungsbetrieb so, daß lediglich das Bezugssignal R konstant gehalten ist. Aus diesem Grund
ist mit steigendem Null-Signal Z der Viert des erfaßten Bezugssignales R kleiner als dessen tatsächlicher oder Ist-Wert.
Daher wird der Rückkopplungsbetrieb mit weiter steigender Spannung am Photovervielfacher oder mit weiter vergrößerter
Spaltbreite durchgeführt, was möglicherweise zu einem unsteuerbaren Meßbetrieb des Gerätes führt.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Zweistrahl-Spektralphot
ometer anzugeben, mit dem eine Photometrie selbst dann möglich ist, wenn ein Probensignal größer als ein Bezugssignal
ist; das Zweistrahl-Spektralphotometer soll dabei einen weiten Photometrie-Bereich aufweisen; eine Änderung der Materialmenge
soll außerdem bei einer Differenz-Spektralmessung einfach
ausführbar sein; schließlich soll das Zweistrahl-Spektralphotometer eine lange Lebensdauer besitzen und bei einem Rückkopplungs-
909819/0818
betrieb frei von einem unsteuerbaren Meßablauf sein.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird das größere Signal aus dem Bezugssignal und dem Probensignal, die von einem photoelektrischen
Umsetzer abgegeben sind, so gesteuert, daß es im wesentlichen konstant ist, und es wird das Verhältnis der
beiden Signale erzeugt.
Beim erfindungsgemäßen Zweistrahl-Spektralphotometer
werden also zwei Lichtstrahlen verwendet, nämlich ein Bezugsstrahl und ein Probenstrahl. Optische Signale in den Lichtstrahlen
werden in elektrische Signale umgesetzt. Die Größen eines Bezugssignales und eines Probensignales werden verglichen.
Eine an einen photoelektrischen Umsetzer zu legende Spannung wird aufgrund des Differenzsignales zwischen dem
größeren Signal der verglichenen Signale und einer Bezugsspannung so eingestellt, daß die Größe des größeren Signales
im wesentlichen konstant ist. Das durch einen Schreiber angezeigte Spektrum wird durch das Verhältnis des Bezugssignales
zum Probensignal erhalten. Da das größere Signal so gesteuert ist3 daß es im wesentlichen konstant ist, wird der photoelektrische
Umsetzer nicht gesättigt und ein weiter Photometrie-Bereich sichergestellt, wenn das Probensignal größer als das
Bezugssignal ist, wie dies bei einem Differenzspektrum zutrifft .
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung beispielsweise
näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels eines erfindungsgemäßen Zweistrahl-Spektralphotometers
,
909819/0818
Fig. 2 ein Blockschaltbild eines zweiten Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen
Zweistrahl-Spektralphotometers,
Fig. 3a den Verlauf von Signalen, die von einem
bis 3e photoelektrischen Umsetzer erzeugt sind,
Fig. 4 ein drittes Ausführungsbeispiel der Erfindung
, und
Fig. 5a Meßbeispiele eines Differenzspektrums, und 5b
Zunächst wird die Fig. 1 näher erläutert, die in einem Blockschaltbild ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen
Zweistrahl-Spektralphotometers zeigt. Eine Lichtquelle 10 ist z. B. eine Wolfram- oder Metallfadenlampe oder eine De tcieriumlampe.
Ein Monochromator 12 hat einen Eingangsspalt 1*1, ein
Dispersionselement 16, wie z. B. ein Prisma oder ein Gitter, einen Ausgangsspalt 18 und Spiegel. Abhängig von der Anordnung
des Dispersionselementes 16, eines Kollimationsspiegels und eines Kameraspiegels wird der Monochromator als "Liftrow-"
oder als "Ebert-Monochromator" bezeichnet. Eine Wellenlängen-Abtasteinrichtung,
die im wesentlichen aus einem Kurvenkörper oder einem Sinusstab besteht, dient zur Änderung der Wellenlänge
des aus dem Ausgangsspalt 18 austretenden monochromatischen Lichtes. Das vom Monochromator 12 ausgesandte Licht wird
in zwei Strahlen mittels eines umlaufenden Sektors 20 aufgeteilt, der ein fächerförmiger Spiegel ist. Durch die Drehung
des Sektors 20 wird der vom Monochromator 12 ausgesandte Lichtstrahl in zwei Lichtstrahlen aufgeteilt. Wenn ein Spiegel im
Strahlengang dieses Lichtstrahles liegt, wird der Lichtstrahl
909819/0818
durch den Spiegel reflektiert und in zwei Lichtstrahlen aufgeteilt. Wenn andererseits kein Spiegel im
Strahlengang vorgesehen ist, läuft der Lichtstrahl gerade durch den Sektor 20 weiter. Der Sektor 20 hat einen Bereich,
der frei von Durchlässigkeit und Reflexion oder Spiegelung des Strahles ist. Der Sektor 20 kann aus einem festen Strahlteiler
bestehen. Die vom Sektor 20 reflektierten Strahlen werden weiter durch einen Spiegel 22 reflektiert, während die
durch den Sektor 20 geschickten Strahlen von einem Spiegel reflektiert werden. Beide Lichtstrahlen von diesen Spiegeln
22 und 24 werden in einen einzigen Lichtstrahl mittels eines
Halbspiegels 26 gemischt. Ein weiterer Sektor 20, der gleich aufgebaut ist wie der Sektor 20 und synchron mit dem Sektor
20 umläuft, kann anstelle des Halbspiegels 26 vorgesehen werden. Wie in der Fig. 1 gezeigt ist, liegen eine Bezugs zelle
28 und eine Probenzelle 30 im Strahlengang der jeweiligen Lichtstrahlen. Der Bezugsstrahl und der Probenstrahl, die
in einen einzigen Lichtstrahl gebündelt wurden, fallen abwechselnd auf einen Photovervielfacher 32 ein, wo diese Signale
in die entsprechenden elektrischen Signale umgesetzt werden. Die Optik von der Lichtquelle bis zum Detektor ist in
üblicher Weise aufgebaut und kann verschiedenen Änderungen unterworfen werden. Z. B. kann der Monochromator nach dem
Strahlteiler vorgesehen sein, oder es können zwei Detektoren verwendet werden. Beides ist für die Optik möglich. Ein von
der Photovervielfacherröhre 32 erzeugtes elektrisches Signal wird durch einen Vorverstärker 34 verstärkt und an einen Störoder
Vorsignal-Entferner 36 abgegeben. Der Vorsignal-Entferner
36 entfernt ein Vorsignal einschließlich eines vom Außenlicht oder von der Photovervielfacherröhre auftretenden Dunkelstromes
. Der Verlauf des von der Photovervielfacherröhre 32 erzeugten
elektrischen Signales ist in Fig. 3a gezeigt. Die Bezugssignale und die Probensignale treten abwechselnd auf, wobei ein
909819/0818
Vorsignal Z überlagert ist. Das Vorsignal Z wird durch den Bereich des Sektors 20 ohne Beziehung zur Durchlässigkeit
und Reflexion der Lichtstrahlen gebildet. Daher besteht der Vorsignal-Entferner 36 aus einem Schalter, der synchron
zu diesem Bereich des Sektors 20 ein- und ausschaltbar ist, einem Halteglied zum Halten eines Signalwertes, wenn der Schalter
eingeschaltet ist, und einem Differenzverstärker zum Erzeugen einer Differenz zwischen den AusgangsSignalen des Haltegliedes
und des Vorverstärkers 3^ u. dgl. Der Vorsignal-Entferner
36 entfernt das Vorsignal Z, das dem Bezugs- und dem
Probensignal R bzw. S überlagert ist, wie dies in Fig. 3a dargestellt ist. Das Ausgangssignal vom Vorsignal-Entferner 36
wird an einen Vergleicher 38 abgegeben, in dem das Bezugssignal R in der Größe oder Amplitude mit dem Probensignal S
verglichen wird, und der das größere Signal von diesen Signalen erzeugt. Insbesondere werden das Bezugssignal R und das
Probensignal S in den Haltegliedern mittels Schaltern gehalten, die im reflektierenden Bereich des Sektors und im durchlässigen
Bereich synchron mit der Drehung des Sektors 20 ein- und ausgeschaltet sind. Die Ausgangssignale der Halteglieder liegen
als zwei Eingangssignale am Vergleicher. Der Vergleicher entscheidet oder beurteilt die Größen des Bezugssignales und
des Probensignales als Eingangssignale bezüglich einer Bezugsspannung,
um ein Zweiwert-Ausgangssignal mit einem positiven oder einem negativen Wert zu erzeugen. Wenn das
Probensignal S größer als der Bezugswert R ist, erzeugt der Vergleicher ein positives Ausgangssignal. Wenn dagegen das Probensignal
S kleiner als der Bezugswert R ist, wird ein negatives Ausgangssignal abgegeben. Die beiden Halteglieder sind an
den Ausgangsseiten jeweils mit Schaltern ausgestattet. Wenn das Ausgangssignal des Vergleichers positiv ist, wird der am
Halteglied für das Bezugssignal R vorgesehene Schalter eingeschaltet. Wenn es andererseits negativ ist, wird der Schalter
am Halteglied für das Probensignal S durch einen Inverter ein-
909819/0818
28477?]
geschaltet. Auf diese Weise wird die relative Größe des Bezugssignales
R zur Größe des Probensignales S entschieden
oder beurteilt.
Das Ausgangssignal des Vergleichers 38 liegt an einem
Rückkopplungsglied 40 mit einem Abweichungsverstärker, d. h., mit einem Differenzverstärker, der an seinen Eingangsanschlüssen
die Ausgangssignale des Vergleichers 38 und die Bezugsspannung empfängt. Entsprechend erzeugt das Rückkopplungsglied
40 ein Differenzsignal zwischen dem Vergleicher-Ausgangssignal und der Bezugsspannung, wobei das Differenzsignal seinerseits
in einen Hochspannungsgenerator 42 mit einem Gleichstrom-Gleichstrom-Umrichter eingespeist ist. Der Gleichstrom-Gleichstrom-Umrichter
legt gewöhnlich eine feste Spannung an die Photovervielfacherröhre 32 und stellt bei Empfang des Differenzsignales vom
Rückkopplungsglied 40 die feste Spannung entsprechend dem Differenzsignal ein, damit das größere Signal aus dem Bezugs- und
dem Probensignal, die von der Photovervielfacherröhre 32 abgegeben
sind, auf einen festen Wert eingeschränkt ist.
Wenn es unmöglich ist, eine Dynoden-Rückkopplung vorzusehen, d. h., wenn z. B. eine photoleitende Zelle für den Detektor
verwendet wird, kann das Ausgangssignal des Rückkopplungsgliedes 40 zur Ansteuerung eines Servomotores dienen, um dadurch
die Spaltbreite zu verändern. Der Verlauf der Ausgangssignale
von der Photovervielfacherröhre 32, die durch die oben erläuterte Steuerung erzeugt werden, wird im folgenden anhand der
Fig. 3 näher erläutert. Die in Fig. 3b gezeigten Signale werden erhalten, wenn eine herkömmliche Methode verwendet wird,
die das Bezugssignal so steuert, daß dieses konstant ist. Wenn das Bezugssignal R größer ist als das Probensignal S, wie insbesondere
bei der Differenz-Spektralmessung zu beobachten ist, liegt ein Fall vor, in dem das Bezugssignal R ansteigt, um einen
durch eine Linie L angedeuteten Pegel zu überschreiten. Die
Ö098 1 9/0818
Linie L zeigt den Sättigungspegel der Photovervielfacherröhre 32 oder des Vorverstärkers 3**. Es ist unmöglich,
ein den Pegel überschreitendes Signal zurückzunehmen, so daß der Meßbereich des Probensignales unter den durch die
Linie L angedeuteten Pegel begrenzt ist. Im allgemeinen ist der Pegel der L-Linie der doppelte Pegel des Bezugssignales
R. Entsprechend beträgt der Mindestbereich der Photometrie -0,3 in Termen der Extinktion. Die obere Grenze ist ca.
+2 bis +33 obwohl sie sich abhängig vom verwendeten Gerät
ändert.
Die in Fig. 3c gezeigten Signale treten auf, wenn der
Rückkopplungsbetrieb durch das größere Signal aus dem Bezugs- und dem Probensignal erfolgt. Wie aus dieser Figur zu
ersehen ist, wird das Bezugssignal R in der Anfangsstufe für den Rückkopplungsbetrxeb verwendet. Dann dient das Probensignal
S hierfür.
Das Verhältnis des Bezugssignales R zum Probensignal S wird durch einen Dividierer Hk berechnet, und das Ergebnis
der Division wird durch einen Schreiber 46 angezeigt. In einer Ausführungsform des Dividierers werden das Bezugs- und
das Probensignal R bzw. S logarithmisch umgesetzt, und die umgesetzten Werte werden an einen Differenzverstärker abgegeben.
Schließlich werden die Ausgangssignale des Differenzverstärkers umgekehrt logarithmisch umgesetzt. Da bei diesem
Ausführungsbeispiel das Verhältnis des Bezugssignales R zum Probensignal S durch den Dividierer berechnet wird, ist keine
genaue Steuerung des Signales durch den Rückkopplungsbetrxeb erforderlich.
Wie oben erläutert wurde, wird das größere Signal aus dem Bezugssignal und dem Probensignal für die Rückkopplung
909819/0818
verwendet. Entsprechend ist das größere Signal immer auf einen im wesentlichen festen Pegel unter der Linie L begrenzt,
wodurch ein Ausfall der Photometrie ausgeschlossen wird. Wenn bezüglich des Meßbereiches die höchste meßbare
Extinktion den Wert +3 hat, beträgt die Mindestextinktion -3. Weiterhin ist die Sättigung der Photovervielfacherröhre
ausgeschlossen, was zu einer Verlängerung der Lebensdauer des Gerätes führt. Der Pegel der Rückkopplung kann weiterhin
enger beim Pegel L verglichen mit dem Pegel des herkömmlichen Gerätes liegen, der höchstens die Hälfte des Pegels L beträgt.
Daher kann bei der Messung einer Probe hoher Konzentration, d. h. eines kleinen Probensignales S, ein sehr geringes Probensignal
S gemessen werden, so daß die Meßgenauigkeit einer Probe hoher Konzentration verbessert ist.
In Fig. 2 ist in einem Blockschaltbild ein weiteres Ausführungsbeispiel
des erfindungsgemäßen Zweistrahl-Spektralphotometers gezeigt. In dieser Figur sind einander entsprechende
Teile mit den gleichen Bezugszeichen versehen wie in Fig. 1. Bei dem Gerät wird ein Ausgangssignal des Vorverstärkers
3^ durch den Betrieb eines Schalters 50 in drei Signale
klassifiziert. Ein Fühler 48 ist vorgesehen, um ein Ansteuersignal in Phase mit dem Bezugssignal und dem Probensignal synchron
zur Drehung des Sektors 20 abzugreifen. Abhängig von dem Signal vom Fühler 48 teilt der Schalter 50 das Ausgangssignal
des Vorverstärkers 34 in ein Probensignal, ein Bezugssignal und ein Vorsignal. Der Fühler 48 besteht z. B. aus
einer sich koaxial mit dem Sektor 20 drehenden Scheibe und drei Optokopplern, die jeweils auf den beiden Seiten von drei
ausgeschnittenen Teilen in der Scheibe vorgesehen sind. Die ausgeschnittenen Teile, die sich am Umfang mit verschiedenen
Radien erstrecken, liegen in der Scheibe entsprechend drei Bereichen des Sektors 20 vor. Drei Signalleitungen vom Fühler
909819/0818
sind jeweils mit den Schaltern 50 verbunden. Ein Bezugs-Haiteglied
52, ein Proben-Halteglied 54 und ein Null-Halteglied
56 messen bei Empfang dieser drei Signale diese Signale als R-Signal + Z-Signal bzw. als S-Signal + Z-Signal bzw. als Z-Signal.
Unter diesen Signalen werden das R-Signal + Z-Signal und das S-Signal + Z-Signal durch den Vergleicher verglichen,
und von diesem wird das größere Signal abgegeben. Der Schaltungsaufbau des Vergleichers 58 entspricht dem Schaltungsaufbau
des Vergleichers 38 mit der Ausnahme, daß das Halteglied
weggelassen ist. Ein Schalter 60 dient zum Messen eines einzigen Strahles, und bei der Messung ist der Schalter in der
Figur nach der rechten Seite gelegt und hält die Spannung am Photovervielfacher 32 konstant. Dieses Signal durch den
Schalter 60 wird durch das Rückkopplungsglied 40 so gesteuert, daß es immer konstant ist. Der Hochspannungsgenerator 42, der
das konstante Signal vom Rückkopplungsglied 40 empfängt, legt eine Hochspannung an die Photovervielfacherrohre 2.
Das Z-Signal wird immer durch einen Vergleicher 62 überwacht, ob es einen festen Bezugswert Z überschreitet oder
nicht. Wenn es den Bezugswert Z überschreitet, speist der Vergleicher 62 ein Signal zu einem Schreiber/Servo-Steuerglied
64 und zu einem Fehler-Anzeigeglied 66, so daß das Schreiben unterbrochen und der Fehler angezeigt wird.
Die Ausgangssignale des Bezugs-Haitegliedes 52, des
Proben-Haltegliedes 54 und des Null-Haltegliedes 56 liegen
an einem Subtrahierer/Dividierer 68, in dem das Verhältnis S/R berechnet wird. Der Subtrahierer/Dividierer 68 besteht
aus z. B. einem Differenzverstärker, der an den beiden Eingängen das R-Signal + Z-Signal und das Z-Signal empfängt, einem
weiteren Differenzverstärker, der an den beiden Eingängen das S-Signal + Z-Signal und das Z-Signal empfängt, und aus ei-
909819/0818
nem Dividierer, an dem die Ausgangssignale dieser Differenzverstärker
liegen. Das Ausgangssignal des Subtrahierer/Dividierers
68 liegt als Durchlässigkeit am Schreiber. Das Ausgangssignal liegt weiterhin an einem logarithmischen Umsetzer
70 und einem Multiplizierer 72 mit einem Faktor als Multiplikator, wobei das Ausgangssignal in die Extinktion und die Konzentration
umgesetzt wird. Diese umgesetzten Werte werden als das Ausgangssignal des Spektralphotometers angezeigt.
Die durch die Photovervielfacherrohre 32 erzeugten Signale
werden anhand der Fig. 3 näher beschrieben. Bei offenem Probenraum und steigender Vorspannung ohne Beziehung zum Signallicht,
d. h. bei sehr großem Z-Signal (vgl. Fig. 3d), steuert eine herkömmliche Schaltung lediglich das R-Signal unabhängig
von der Größe des Z-Signales so, daß es konstant ist. Wenn daher das Z-Signal stark anwächst, liegt ein Fall vor,
in dem das Z-Signal + R-Signal den Pegel L überschreitet. Wenn das Z-Signal + R-Signal den Pegel L überschreitet, erfaßt
das Bezugs-Halteglied ein kleineres R-Signal als einen Bezugswert. Daher legt das Rückkopplungsglied eine höhere
Spannung an den Photovervielfacher 32, so daß das Z-Signal weiter näher am Pegel L ist. Wenn jedoch der Rückkopplungsbetrieb
durch das größere Signal aus dem Proben- und dem Bezugssignal erfolgt, tritt auf keinen Fall eine Sättigung des
Photovervielfachers auf, selbst wenn das Z-Signal anwächst.
Weiter oben wurde das erfindungsgemäße Zweistrahl-Spektralphotometer
schaltungsmäßig erläutert; die gleiche Funktion kann jedoch auch mittels eines Mikrocomputers verwirklicht
werden.
Ein Beispiel, bei dem ein Mikrocomputer verwendet wird, ist in Fig. 1I dargestellt, in der einander entsprechende Bau-
909819/0818
teile mit den gleichen Bezugszeichen wie in Fig. 2 versehen sind. In Fig. 4 sind vorgesehen ein Analog/Digital-Umsetzer
74, ein Rechen/Logik-Glied 76, ein Taktsignalgenerator 78,
ein Steuerglied 80 und ein Digital/Analog-Umsetzer 82.
Das Ausgangssignal des Vorverstärkers 34 wird in den
Analog/Digital-Umsetzer 74 gespeist, in dem es in ein Digital-Signal
umgesetzt wird, das seinerseits an das Rechen/Logik-Glied 76 abgegeben wird. Das Signal vom Fühler 48 verläuft
durch den Taktsignalgenerator 78, um das Steuerglied 80 zu erreichen.
Das durch das Steuerglied 80 zum Rechen/Logik-Glied 7 β übertragene Signal wird in das R-Signal + Z-Signal, das
S-Signal + Z-Signal und das Z-Signal eingeteilt oder klassifiziert,
und dann werden diese Signale wie beim Ausführungsbeispiel der Fig. 2 verarbeitet. Das Ergebnis der Verarbeitung
wird wiederum durch den Digital/Analog-Umsetzer 82 in ein Analog-Signal umgesetzt. Das umgesetzte Analog-Signal steuert den
Hochspannungsgenerator 42 an, der seinerseits eine Ho !.spannung
an die Photovervielfacherrohre 32 legt.
Wie oben erläutert wurde, werden bei diesen Ausführungsbeispielen das Probensignal einschließlich des Vorsignales
und das Bezugssignal überwacht, und die Photovervielfacherrohre wird durch eine Dynoden-Rückkopplung so gesteuert, daß
das größere Signal von diesen Signalen nicht einen festen Wert überschreitet. Selbst wenn entsprechend das Probensignal
größer als das Bezugssignal ist, tritt im Gegensatz zu den herkömmlichen Geräten keine Sättigung der Photovervielfacherrohre
und des Vorverstärkers auf. Wenn zusätzlich ein großes Vorsignal wie bei einem offenen Probenraum erzeugt wird, sind
die Photovervielfacherrohre und der Vorverstärker nicht gesättigt,
da das Probensignal einschließlich des Vorsignales und das Bezugssignal überwacht werden. Wenn daher der Proben-
909819/0818
raum offen ist, wird der Photovervielfacher keiner gefährlichen Situation ausgesetzt.
Wenn der Probenraum offen ist und starkes Licht von außen das Gerät bestrahlt, kann möglicherweise der Meßwert
extrem gestört sein. Um dies zu vermeiden, wird das Vorsignal immer überwacht und wenn das Vorsignal einen vorbestimmten
Wert überschreitet, wird dessen gefährlicher Zustand durch eine Warnlampe angezeigt, oder es wird die Verbindung
zum Schreiber oder zum Servosystem unterbrochen. Wenn jedoch das Gerät für lange Zeit in diesem gefährlichen Zustand belassen
"wird, werden der Photovervielfacher und der Vorverstärker auf einem sicheren Pegel gehalten.
Das erfindungsgemäße Gerät ist für eine Differenz-Spektralmessung
besonders vorteilhaft und kann einfach die Änderung einer Größe messen, wenn sich das Material verändert.
Die Fig. 5a und 5b zeigen wiederholt einen Vorgang, bei dem Phthalanhydrid in Phthalsäure hydrolisiert wird. In den Figuren
5a und 5b sind auf der Abszisse die Wellenlänge und auf der Ordinate die Extinktion (ABS) aufgetragen. Das Meßergebnis
mittels eines herkömmlichen Gerätes ist in Fig. 5a gezeigt. In diesem Fall ist die Messung des Differenzspektrums
schwierig, und daher wird destilliertes Wasser für das Bezugsmaterial verwendet. Die aus Phthalanhydrid erzeugte Menge an
Phthalsäure kann nicht direkt aus der Kurve abgelesen werden. Wenn andererseits beim erfindungsgemäßen Gerät Phthalanhydrid
nicht in Phthalsäure verändert wird, ist die Extinktion Null, d. h. ABS = 0, so daß die Menge an erzeugter Phthalsäure direkt
in der Form eines Änderungsbetrages von der Linie abgelesen werden kann, die ABS = 0 darstellt.
Die beschriebenen Ausführungsbeispiele beziehen sich auf
909810/0818
284777Ί
eine Dynoden-Rückkopplungsmethode. Jedoch ist die Erfindung in gleicher Weise auch für eine Spalt-Servomethode anwendbar
, bei der das Bezugs-Gleichsignal mit einer Bezugsspannung mittels eines Fehler- oder Abweichungsverstärkers verglichen
wird, wobei das Ausgangssignal des Verstärkers einen Servomotor ansteuert, der seinerseits einen Spalt öffnet oder
schließt, und durch diesen Betrieb wird die Stärke des Bezugssignales eingestellt.
Die Erfindung ist in gleicher Weise für ein Zweiwellenlängen-Spektralphotometer
vorteilhaft, was auf einem ähnlichen Signalverarbeitungssystem für das Zweistrahl- und das Zweiwellenlängen-Spektralphotometer
beruht.
Wie oben erläutert wurde, hat das erfindungsgemäße Zweistrahl-Spektralphotometer
einen weiten dynamischen Bereich und ist für einen praktischen und industriellen Gebrauch besonders
vorteilhaft.
909819/0818
Claims (4)
- AnsprücheZweistrahl-Spektralphotometer, miteinem photoelektrischen Umsetzer zum Umsetzen von Licht· Signalen in ein elektrisches Bezugs- und ein Probensignal,gekennzeichnet durchein Entscheidungsglied, um die Größe des elektrischen Bezugssignales bezüglich des elektrischen Probensignales zu entscheiden und als Ausgangssignal das größere Signal von diesen Signalen abzugeben,ein Steuerglied, das das größere Signal auf einen im wesentlichen konstanten Wert steuert,eine Einrichtung (20) zum Unterbrechen von Lichtstrahlen, die auf wenigstens ein Material ausgesandt sind,einen Subtrahierer (36) zum Subtrahieren eines vom photoelektrischen Umsetzer (32) erhaltenen Vorsignales bei der Unterbrechung vom elektrischen Bezugs- und vom Probensignal, um ein subtrahiertes elektrisches Bezugs- und ein Probensignal zu erhalten,ein Rechenglied (44) zum Erzeugen des Verhältnisses der subtrahierten beiden elektrischen Signale, undein Sichtgerät (46) zum Anzeigen des Verhältnisses des elektrischen Bezugs- und des Probensignals.
- 2. Zweistrahl-Spektralphotometer nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch8l-(A 3407-02)-KoE909819/0818— C. —eine Einrichtung (3O3 die zwischen dem photoelektrischen Umsetzer (32) und dem Subtrahierer (36) vorgesehen ist und das Vorsignal vom elektrischen Bezugs- und vom Probensignal subtrahiert, die vom photoelektrischen Umsetzer (32) erzeugt sind,wodurch das größere Signal aus dem elektrischen Bezugsund dem Probensignal, von denen das Vorsignal subtrahiert ist, auf einen im wesentlichen konstanten Wert gesteuert ist.
- 3. Zweistrahl-Spektralphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,daß das Steuerglied eine an den photoelektrischen Umsetzer (32) zu legende Spannung aufgrund der Differenz zwischen dem vom Entscheidungsglied erhaltenen elektrischen Signal und einer Bezugsspannung steuert.
- 4. Zweistrahl-Spektralphotometer nach Anspruch 1, gekennzeichnet durcheinen Signalgenerator zum Erzeugen eines Signales, wenn das Vorsignal größer als eine Bezugsspannung durch einen Vergleich dazwischen ist.909819/0818
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13274477A JPS5466190A (en) | 1977-11-04 | 1977-11-04 | Two luminous flux spectrophotometer |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2847771A1 true DE2847771A1 (de) | 1979-05-10 |
DE2847771B2 DE2847771B2 (de) | 1980-09-25 |
DE2847771C3 DE2847771C3 (de) | 1981-10-22 |
Family
ID=15088564
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2847771A Expired DE2847771C3 (de) | 1977-11-04 | 1978-11-03 | Zweistrahl-Spektralphotometer |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4227811A (de) |
JP (1) | JPS5466190A (de) |
DE (1) | DE2847771C3 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3211725A1 (de) * | 1981-04-28 | 1982-11-11 | Shimadzu Corp., Kyoto | Detektor zur verwendung in optischen messgeraeten |
DE3211724A1 (de) * | 1981-04-30 | 1982-12-02 | Shimadzu Corp., Kyoto | Spektralphotometer |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56122936A (en) * | 1980-02-29 | 1981-09-26 | Shimadzu Corp | Reflection factor measuring device |
JPS56144335U (de) * | 1980-03-31 | 1981-10-30 | ||
US4412744A (en) * | 1981-06-01 | 1983-11-01 | E. I. Du Pont De Nemours & Co. | Absolute spectrophotometer |
GB2113830B (en) * | 1982-01-19 | 1985-05-01 | Philips Electronic Associated | Optimising operation of atomic spectrophotometers |
US4464051A (en) * | 1982-03-02 | 1984-08-07 | The Perkin-Elmer Corporation | Spectrophotometer |
US4449821A (en) * | 1982-07-14 | 1984-05-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process colorimeter |
JPS59125040A (ja) * | 1982-12-30 | 1984-07-19 | Shimadzu Corp | 分光分析装置 |
JPS6071922A (ja) * | 1983-09-29 | 1985-04-23 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
EP0176826A3 (de) * | 1984-09-24 | 1987-09-02 | Kollmorgen Technologies Corporation | Verfahren und Vorrichtung für spektrale Zweistrahldurchlässigkeitsmessungen |
JPH0619329B2 (ja) * | 1984-12-04 | 1994-03-16 | 株式会社島津製作所 | 示差屈折計 |
DE3546056C2 (de) * | 1984-12-26 | 1993-12-23 | Shimadzu Corp | Vorrichtung zur Messung der integralen Extinktion einer Probe |
US4669877A (en) * | 1985-02-22 | 1987-06-02 | The Perkin-Elmer Corporation | Digital gain controlled current to voltage amplifier |
FR2632401B1 (fr) * | 1988-06-01 | 1992-02-21 | Bussotti Jean Franck | Dispositif d'asservissement energetique pour des appareils de mesure photometriques multi-faisceaux, et appareils equipes d'un tel dispositif |
JPS63314423A (ja) * | 1988-06-09 | 1988-12-22 | Shimadzu Corp | 二波長分光光度計 |
US5296843A (en) * | 1991-03-28 | 1994-03-22 | Sd Laboratories, Inc. | Fluid or vapor diagnostic device |
JP2700607B2 (ja) * | 1993-11-08 | 1998-01-21 | 日本分光株式会社 | 分光器用スリット切替機構 |
JP2002139380A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
AU2007257967A1 (en) * | 2006-06-14 | 2007-12-21 | The Glad Products Company | Microwavable bag or sheet material |
JP5605318B2 (ja) * | 2011-06-21 | 2014-10-15 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
JP6161968B2 (ja) * | 2013-06-14 | 2017-07-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光光度計 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2039451B2 (de) * | 1970-08-08 | 1971-12-09 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Anordnung zur messung der absolutwerte zweier lichtintensi taeten |
DE2351291A1 (de) * | 1972-10-13 | 1974-04-25 | Baxter Laboratories Inc | Vorrichtung zum messen der intensitaets-differenz zwischen einem referenzlichtstrahl und einem messlichtstrahl einer empfangsschaltung fuer einen photometer mit dualer wellenlaenge |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3664744A (en) * | 1969-09-02 | 1972-05-23 | Smith Kline Instr | Log ratio circuit for double beam spectrophotometers |
-
1977
- 1977-11-04 JP JP13274477A patent/JPS5466190A/ja active Granted
-
1978
- 1978-10-31 US US05/956,238 patent/US4227811A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-11-03 DE DE2847771A patent/DE2847771C3/de not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2039451B2 (de) * | 1970-08-08 | 1971-12-09 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Anordnung zur messung der absolutwerte zweier lichtintensi taeten |
DE2351291A1 (de) * | 1972-10-13 | 1974-04-25 | Baxter Laboratories Inc | Vorrichtung zum messen der intensitaets-differenz zwischen einem referenzlichtstrahl und einem messlichtstrahl einer empfangsschaltung fuer einen photometer mit dualer wellenlaenge |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3211725A1 (de) * | 1981-04-28 | 1982-11-11 | Shimadzu Corp., Kyoto | Detektor zur verwendung in optischen messgeraeten |
DE3211724A1 (de) * | 1981-04-30 | 1982-12-02 | Shimadzu Corp., Kyoto | Spektralphotometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5466190A (en) | 1979-05-28 |
US4227811A (en) | 1980-10-14 |
DE2847771C3 (de) | 1981-10-22 |
JPS6140926B2 (de) | 1986-09-11 |
DE2847771B2 (de) | 1980-09-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2847771A1 (de) | Spektralphotometer | |
DE2905630A1 (de) | Optische messeinrichtung | |
DE2747387C2 (de) | Spektralphotometer | |
DE1964469C3 (de) | Vorrichtung zur Atomabsorptionsanalyse einer Probe | |
EP0438465B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur quantitativen bestimmung optisch aktiver substanzen | |
DE2452500A1 (de) | Spektralphotometer | |
EP0244721B1 (de) | Verfahren und System zur optischen Transmissionsmessung | |
DE19881180B4 (de) | Frequenzstabilisierter Halbleiter-Laser | |
DE3604815C2 (de) | ||
DE1497558B1 (de) | Registriergeraet zur Messung des zirkularen Dichroismus | |
DE3016812C2 (de) | Lichtabsorptionsmonitor | |
DE2914534C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Betrags der Reduktion eines Rasterfilms | |
WO1993005364A1 (de) | Optischer sensor für rotationsbewegungen | |
EP0111194A2 (de) | Einrichtung zur Messung der Rotationsgeschwindigkeit | |
DE2207298A1 (de) | Strahlungsenergie-Analysator für Atomabsorpti ons-An alyse | |
DE19954368A1 (de) | Lichtempfangsschaltung zum Einsatz bei einem elektrooptischen Sampling-Oszilloskop | |
DE2905230A1 (de) | Zweistrahl-wechsellicht-kolorimeter | |
DE2451352C3 (de) | Vorrichtung zum Scharfeinstellen eines optischen Systems | |
WO1989012806A2 (en) | Apparatus for measuring the radiated power of lasers | |
DE3007823A1 (de) | Spektralphotometer | |
DE2138519C3 (de) | Vorrichtung zur kontinuierlichen, fotometrischen Messung | |
DE2813908A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur spektralphotometrischen farbbestimmung | |
DE4031423A1 (de) | Spektralphotometer | |
DE2032195C3 (de) | Mehrkanal-Kolorimeter, insbesondere Durchflußkolorimeter | |
DE2702275A1 (de) | Interferenzoptische messeinrichtung fuer eine zentrifuge |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAP | Request for examination filed | ||
OD | Request for examination | ||
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) |