DE2747387C2 - Spektralphotometer - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 12
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 5
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 1
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 claims 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101700004678 SLIT3 Proteins 0.000 description 1
- 102100027339 Slit homolog 3 protein Human genes 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/08—Beam switching arrangements
Description
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 ein Blockschaltbild eines Spektralphotometers nach einem ersten Ausführungsbeispiel und
Fig.2 ein Blockschaltbild für ein Zweiwellenlängen-Spektralphotometer
als ein zweites AusführungsbeispieL
In Fig. 1, die ein Blockschaltbild eines Zweistrahl-Spektralphotometers
zeigt, ist eine Lichtquelle Ϊ zum Emittieren eines Spektrums dargestellt, die in herkömm-t0
licher Weise aus einer Glühlampe, einer Wasserstofflampe,
einer Deuteriumlampe od. dgl. bestehen kann. Gegebenenfalls können auch eine Halogenlampe und
eine Xenonlampe verwendet werden. Die Lichtstrahlen von der Lichtquelle 1 fallen auf einen Monochromator 2,15
der Dispersionselemente wie z. B. ein Prisma oder ein
Beugungsgitter aufweist
Durch Drehen der Dispersionselemente kann ein monochromatischer Lichtstrahl einer gegebenen Wellenlänge
aus dem Monochromator 2 über einen20 Austrittsspalt 3 herausgegriffen werden. Ein Spiegelrad
4 hat einen lichtdurchlässigen Flächenabschnitt sowie einen reflektierenden Flächenabschnitt und ist durch
einen Antriebsmotor 16 drehbar. Das Licht vom Austrittsspalt 3 wird in einen Referenzstrahl R und
einen Meßstrahl S durch Drehen des Spiegelrades 4 aufgeteilt, die abwechselnd auftreten und jeweils nach
Reflexion an einem Spiegel 5 bzw. 5' auf ein Spiegelrad 4' fallen. Im Strahlengang des Referenzstrahls R und des
Meßstrahls 5 liegt ein Vergleichskörper bzw. eine zu untersuchende Probe. Das Spiegelrad 4' hat durchlässige
und reflektierende Flächenabschnitte wie das Spiegelrad 4 und wird durch den Motor 16 synchron mit
dem Spiegelrad 4 gedreht. Durch die Drehung des Spiegelrades 4' werden der Referenzstrahl R und der
Meßstrahl 5 zu einem Einzelstrahl vereinigt, der so aus abwechselnd auftretenden Referenz- und Meßkomponenten
besteht. Der vereinigte Strahl wird in ein elektrisches Signal umgewandelt durch einen Lichtempfänger
6, der aus einem Photovervielfacher, einer Photozelle, einer Photodiode oder dergl. bestehen kann.
Das elektrische Ausgangssignal des Lichtempfängers 6 wird durch einen Vorverstärker 7 verstärkt und
anschließend durch einen kurz als A/D-Umsetzer bezeichneten in ein entsprechendes Digitalsignal umgewandelt.
Mit dem Motor 16 ist ein Synchronisiersignalgenerator 15 verbunden, der ein zur Phasendiskriminierung
(der Referenz-Komponenten) verwendetes Synchronisiersignal erzeugt und gleich aufgebaut sein kann
wie ein Synchronisiersignalgenerator, der zur Aufzeichnung des Referenzsignals und des Meßsignals in den
jeweiligen Haltegliedern dient. Zum Beispiel kann der Synchronisiersignalgenerator 15 aus einer direkt mit der
Welle des Motors 16 gekoppelten Scheibe bestehen, die zwei Arten von Löchern aufweist, die auf Kreisen mit
verschiedenem Radius angeordnet sind. Eine Gruppe der Löcher ist dann dem reflektierenden Flächenabschnitt
des Spiegelrades 4 zugeordnet, während die andere Gruppe von Löchern zum lichtdurchlässigen
Flächenabschnitt des Spiegelrades 4 gehört. Zwei Lichtkoppler liegen auf beiden Seiten der Scheibe und
sind auf die Löcher ausgerichtet. Wenn auf diese Weise die beiden Lichtkoppler optisch durch die sich drehende
Scheibe unterbrochen sind, wird kein Synchronisiersignal erzeugt. Wenn andererseits die Lichtkoppler
während der Drehung der Scheibe mit den Löchern fluchten, wird das Synchronisiersignal zur Phasendiskriminierung
des oben erläuterten Digitalsignals erzeugt.
Das so erzeugte Phasendiskriminierungssignal dient zum Steuern der Inhalte in einem Adressenregister 20,
wodurch die Digitalsignalkomponente entsprechend dem Referenzstrahl bzw. dem Meßstrahl in einem
Digitalspeicher 21 an jeweils zugeordneten Adressen aufgezeichnet werden. Dem Digitalspeicher 21 ist ein
Digitalprozessor 18 zugeordnet Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel wird die Größe oder
Amplitude des Referenzsignals K in einem mit dem Digitalprozessor 18 vereinigten Vergleicher 22 mit
einem vorbestimmten Maximalwert Rax, und einem
vorbestimmten Minimalwert Rmm verglichen, wobei das
Vergleichsergebnis ein Ausgangssigna] ergibt das als analoge Größe über einen im folgenden kurz als
D/A-Umsetzer bezeichneten Digitalanalog-Umsetzer 19 zum Einstellen der Empfindlichkeit des Lichtempfängers
6 über eine Stelleinrichtung 11 dient Die Steuerung dieser Einstellung erfolgt so, daß Rm3X>
R> Rmin gibt Entsprechend ist auch eine Steuerung der Größe oder
Amplitude des Meßsignals S möglich. Der Digitalprozessor 18 bestimmt aus dem Referenzsignal R und dem
Meßsignal S aus dem Digitalspeicher 21 arithmetisch das Verhältnis S/R, das dann gegebenenfalls nach
logarithmischer Umformung auf einem Sichtgerät 14 als Transmissionsrad bzw. Durchlässigkeit und Absorptionsgrad
der Probe digital angezeigt wird. Das Ergebnis der Rechenoperation des Digitalprozessors 18
kann aber auch nach D/A-Umsetzung auf einem analogen Sichtgerät, wie z. B. einem Schreiber od. dgl.
angezeigt werden.
Im folgenden wird der Vergleich des Referenzsignals R mit dem voreingestellten Maximalwert (obere
Grenze) Rmax und dem voreingestellten Minimalwert
(untere Grenze) Rm,„ näher erläutert. Zunächst wird in
einem ersten Schritt das Referenzsignal R durch eine Konstante k geteilt, die abhängig von der Differenz
zwischen Rmax und Rm,n gewählt ist, und es wird
bestimmt, ob der Quotient R/k gleich einer Konstanten C ist oder nicht. Wenn z. B. /?ma* und Rm/n dezimal die
Werte »99« bzw. »90« haben, kann die Konstante k gleich »10« gewählt werden. Dann bleibt der Quotient
(R/k) gleich »9«, sofern R im Bereich von »90« bis »99«
ist. Wenn dann »9« auch als Wert für die Konstante C gewählt wird, kann bestimmt werden, ob der Wert R im
Bereich von »99« bis »90« liegt. Dieser Vergleich kann einfach durchgeführt werden, ohne den Wert R einzeln
mit R„,ax und Rmi„ zu vergleichen.
Bei einem zweiten Verfahren wird lediglich die höchststellige Ziffer von R für den Vergleich mit einer
Konstanten C verwendet. Mit Rmax=99 und /?m,„=90
hat die höchststellige Ziffer von R im Bereich von »99« bis »90« den Wert »9«. Indem wieder so »9« als Wert für
die Konstante C' gewählt wird, kann die Bestimmung von R zu dessen Bereich einfacher als bei dem zuerst
erläuterten Verfahren durchgeführt werden.
Bei den obigen Erläuterungen wurden Dezimalzahlen verwendet; selbstverständlich kann die Digitaioperation
auch mit Binärzahlen durchgeführt werden. Weiterhin ist es möglich, R mit Rmax und Rmjn einzeln zu
vergleichen, obwohl dieses Vorgehen komplizierter ist als das oben erläuterte Vergleichsverfahren.
Eine Steuergröße Vn zum Einstellen der Empfindlichkeit
des Lichtempfängers 6 durch den D/A-Umsetzer 19 kann erhalten werden, indem das Ergebnis der oben
beschriebenen Rechenoperation, d.h. (C—R/k) zur Steuergröße V„_i addiert wird, die zum Einstellen der
Empfängerempfindlichkeit aufgrund der Ergebnisse der vorhergehenden Rechenoperation verwendet wurde.
Auf diese Weise kann das Referenzsignal R so gesteuert werden, daß es konstant in den Bereich Rm,x>
R> Rmin fällt
Bei der obigen Beschreibung wurde angenommen, daß eine Dynoden-Rückkopplung angewandt wird.
Jedoch kann in gleicher Weise auch beim Spalt-Servo-Verfahren
vorgegangen werden, wobei das Signal vom Digitalprozessor 18 an einen Servomotor abgegeben
wird, um die Spaltbreite einzustellen.
Das dargestellte Spektralphotometer hat u.a. die folgenden Vorteile:
Der Transmissionsgrad und das Reflexionsvermögen der Probe können auf dem Sichtgerät 14 für jede
Drehungsperiode des Spiegelrades 4 mit sehr schnellem Ansprechen ohne Beeinflussung durch eine Verzögerung
in der Rückkopplung zum Einstellen der Empfindlichkeit des Lichtempfängers 6 angezeigt
werden, da die Anzeige aufgrund der arithmetischen Bestimmung erfolgt.
Da das Verhältnis S/R durch eine Digitaloperation ermittelt wird, kann die Meßgenauigkeit durch Vergrößern
der Wortlänge der digitalen Größen S und R erhöht werden. Da bei dieser Steuerung die Tatsache,
daß das Referenzsignal R in einem vorbestimmten Bereich liegt, keinen Einfluß auf die Meßgenauigkeit
hat, kann die Wortlänge (Anzahl der Bits), die durch den D/A-Umsetzer 17 nach Einstellen der Empfindlichkeit
des Lichtempfängers entsprechend dem Steuersignal vom Digitalprozessor 18 verarbeitet wird, relativ klein
gehalten werden. Im allgemeinen hat nämlich ein D/A-Umsetzer mit zunehmender Anzahl von zu
verarbeitenden Hits schlechtere Rauscheigenschaften und ein verzögertes Ansprechverhalten. Auch dieser
Nachteil wird bei dem dargestellten Spektralphotometer ausgeschlossen. Das Referenzsignal R wird lediglich
so gesteuert, daß es in einen vorbestimmten Bereich fällt, und nicht auf einem vorbestimmten konstanten
Wert gehalten. Daher können der D/A-Umsetzer 17 und die Stelleinrichtung 11 ohne großen Aufwand für
deren Betriebsgenauigkeit ausgeführt werden. Dennoch können die optischen Eigenschaften der Probe, wie z. B.
der Transmissionsgrad und das Reflexionsvermögen, mit erhöhter Genauigkeit gemessen werden, da das
Verhältnis S/R durch digitale arithmetische Operation bestimmt wird.
Weiterhin beeinflußt keine mögliche Verzögerung in der Rückkopplung für die Stelleinrichtung direkt die
erhaltenen Spektren. Damit kann die Wellenlängenabtastung am Spektralphotometer mit einer von der
Ansprechgeschwindigkeit unabhängigen Geschwindigkeit durchgeführt werden.
Oben wurde als ein erstes Ausführungsbeispiel ein Zweistrahl-Spektralphotometer erläutert, bei dem insbesondere
der monochromatische Lichtstrahl von einem Monochromator in zwei Strahlen aufgeteilt wird.
Es gibt jedoch auch Zweistrahl-Spektralphotometer, bei denen Licht von einer Lichtquelle anfänglich in zwei
Strahlen aufgeteilt wird, die nach Durchgang durch einen Vergleichskörper und eine zu untersuchende
Probe wieder zu einem Einzelstrahl vereinigt werden. Der vereinigte Strahl wird dann zu einem Monochromator
gespeist. Die Erfindung kann auch bei einem derartigen Spektralphotometer angewendet werden.
F i g. 2 zeigt als ein weiteres Ausführungsbeispiel ein
Blockschaltbild eines Zweiwellenlängen-Spektralphotometers; das von einer Lichtquelle 1 emittierte Licht wird
auf zwei Monochromatoren 30 und 32 gerichtet, von denen jeweils monochromatische Lichtstrahlen erzeugt
und zu einem Einzelstrahl vereinigt werden. Das durch die Probe hindurch übertragene Licht wird von einem
Lichtempfänger 6 erfaßt, dessen Ausgangssignal einer A/D-Umsetzung unterworfen wird. Wie beim Ausführungsbeispiel
nach F i g. 1 werden die Digitalsignale entsprechend den monochromatischen Lichtstrahlen
von den jeweiligen Monochromatoren 30 und 32 in einem Digitalspeicher 21 an den jeweiligen zugeordneten
Adressen gespeichert, wobei Befehlssignale von einem Adressenregister 20 eingegeben werden, das
durch das Signal von einem Synchronisiersignalgenerator 15 betrieben wird. Das Verhältnis zwischen den
Digitalsignalen wird arithmetisch in einem Digitalprozessor 18 bestimmt und auf einem Sichtgerät 14
angezeigt. Das dargestellte Zweiwellenlängen-Spektraiphotometer gewährleistet wiederum die Prüfung einer
Probe mit erhöhter Genauigkeit.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Spektralphotometer nut einer Lichtquelle, mit
einer Einrichtung zum alternierenden Erzeugen eines Meß- und eines Referenzstrahls aus dem Licht
der Lichtquelle, mit einer Monochromatoranordnung zum Abstimmen der Wellenlänge von MeB-
und Referenzstrahl, mit Halterungen für eine Meßprobe oder eine Meßprobe und eine Referenzprobe
im Wege von Meß- und Referenzstrahl, mit einem photoelektrischen Empfänger zum Erzeugen
von dem Meß- bzw. dem Referenzstrahl zugeordneten elektrischen Meß- und Referenzsignalen, mit
einem Speicher zum getrennten Speichern der elektrischen Meß- und Referenzsignale, mit einer
Recheneinrichtung zum Bilden des Verhältnisses von Meß- und Referenzsignalen und rost einer
Stelleinrichtung zum Einstellen des Pegels eines der beiden elektrischen Signale auf einen innerhalb eines
durch zwei vorgebbare Festwerte begrenzten Bereichs liegenden Wert, dadurch gekennzeichnet,
daß die Recheneinrichtung zusätzlich einen Vergieichier (22) enthält, der einen bestimmten
Anteil des einen elektrischen Signals aus dem Speicher (21) mit einem von einem für dieses Signal
einzuhaltenden Bereich abhängigen konstanten Wert (C; C) vergleicht und die Stelleinrichtung (11)
fortlaufend auf Gleichheit der miteinander verglichenen Größen steuert
2. Spektralphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Vergleicher (22) an die den
höchststelligen Ziffern des zu regelnden einen elektrischen Signals zugeordneten Plätze im Speicher
(21) angeschlossen ist.
3. Spektralphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Vergleicher (22) mit dem
Speicher (21) über eine Dividierschaltung zum Dividieren des zu regelnden einen elektrischen
Signals durch eine Konstante (k) verbunden ist.
Die Erfindung betrifft ein Spektralphotometer, wie es im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 angegeben ist.
Ein Spektralphotometer dieser Art ist aus »Applied Spektroskopy«, Band 28, Nr. 1 (1974), Seiten 45 bis 51
bekannt. Bei einem: solchen Spektrometer hängt die erzielbare Meßgenauigkeit in starkem Maße ab von der
Einhaltung des für das eine der miteinander in Beziehung zu setzenden Signale zusätzlichen Bereichs.
Bei dem bekannten Spektrometer ist insoweit ein Abgleich nur jeweils am Beginn der Messungen
vorgesehen, wobei dann ein längeres Prüfprogramm abläuft, in dessen Verlauf die Empfindlichkeit des
photoelektrischen Empfängers entsprechend eingestellt wird.
Aus der US-PS 39 27 944 ist weiter ein Spektralphotometer bekannt, bei dem im Wege des Lichtes von
einer Lichtquelle zu einem Lichtempfänger ein Monochromator zum Erzeugen von monochromatischem
Licht und eine Einrichtung zum Aufspalten dieses Lichts in einen Meßstrahl und einen Referenzstrahl eingefügt
und an den Lichtempfänger ein Speicher zum65
getrennten Speichern der dem Meßstrahl und dem Referenzstrahl entsprechenden elektrischen Signale
angeschlossen ist. Außerdem sind ein Prozessor zum Bestimmen des Verhältnisses zwischen den dem
Meßstrahl und dem Referenzstrahl entsprechenden Signalen und ein Stellglied zum Beeinflussen des
Signalwerts für den einen dieser beiden Strahlen vorgesehea Dabei wird das geregelte Signal jedoch
stets auf einem festen Wert gehalten. Das befriedigende Arbeiten einer solchen Regelung verlangt jedoch eine
Ausbildung des Rückkopplungsweges mit sehr schneller Ansprechcharakteristik, und außerdem bedarf es für den
Fall einer digitalen Signalauswertung des Einsatzes von Digital/Analog-Umsetzern mit extrem hoher Genauigkeit
Außerdem ist die bekannte Spektrometerausbüdung sehr empfindlich gegen eine im Interesse einer
raschen Meßfolge andererseits erwünschte rasche Umschaltung zwischen Meßstrahl und Referenzstrahl.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Spektralphotometer der eingangs erwähnten Art so
auszubilden, daß sich eine Vereinfachung für die Einhaltung des für das eine der beiden miteinander in
Beziehung zu setzenden elektrischen Signale einzuhaltenden Bereichs ergibt.
Die gestellte Aufgabe wird gemäß der Erfindung gelöst durch ein Spektralphotometer, wie es im
Patentanspruch 1 angegeben ist; vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Mit Hilfe der Erfindung gelingt es, die bei dem Arbeiten mit einem Spektralphotometer erzielbare
Meßgenauigkeit wesentlich zu steigern. Im Rahmen der Erfindung werden elektrische Signale, die ihrerseits auf
Lichtsignale zurückgehen, die optische Eigenschaften einer zu vermessenden Probe wiedergeben, in entsprechende
Digitalsignale umgewandelt, von denen dann eine Signalart nämlich entweder die dem Meßstrahl
oder die dem Referenzstrahl zugeordnete Signalart, so gesteuert wird, daß die entsprechende Signalamplitude
in einem vorbestimmten Bereich liegt. Danach wird das Verhältnis zwischen den beiden Digitalsignalarten
arithmetisch bestimmt, und außerdem wird die Einhaltung des für die eine Signalart vorgegebenen Bereichs
ständig überwacht und die entsprechende Signalamplitude gegebenenfalls nachgeregelt.
Im Rahmen der Erfindung wird das von einem Monochromator emittierte monochromatische Licht in
einen Meßstrahl und einen Referenzstrahl aufgeteilt. Diese beiden Lichtstrahlen werden nach Durchgang
durch eine zu analysierende Probe bzw. einen Vergleichskörper von einem Lichtempfänger erfaßt und
in entsprechende elektrische Signale umgewandelt. Aus diesen Signalen werden dann entsprechende Digitalsignale
gewonnen, die in entsprechenden Aufzeichnungsträgern oder Speichern festgehalten werden. Das dem
Referenzstrahl entsprechende Signal wird mit einem Wert in einem vorbestimmten Bereich verglichen. Der
Vergleichswert wird dann in ein analoges Signal für den Betrieb einer Stellereinrichtung umgewandelt, mit der
die Empfindlichkeit des Lichtempfängers eingestellt wird. Damit wird das dem Referenzstrahl entsprechende
Referenzsignal so gesteuert, daß es in einem vorbestimmten Bereich liegt. Aus den im Speicher
aufgezeichneten Digitalsignalen wird durch einen Digitalprozessor das Verhältnis zwischen dem Meßsignal
und dem Referenzsignal arithmetisch berechnet, um die Durchlässigkeit oder den Transmissionsgrad der
Probe zu bestimmen. Da sich das Referenzsignal nicht merklich ändern kann und die Berechnung des
Signalverhältnisses digital erfolgt, kann die Meßgenauigkeit merklich gesteigert werden.
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Family
ID=14929197
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---|---|---|---|
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Country Status (3)
Country | Link |
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US (1) | US4180327A (de) |
JP (1) | JPS5352180A (de) |
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-
1976
- 1976-10-22 JP JP12620176A patent/JPS5352180A/ja active Granted
-
1977
- 1977-10-20 US US05/843,790 patent/US4180327A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-10-21 DE DE2747387A patent/DE2747387C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5352180A (en) | 1978-05-12 |
US4180327A (en) | 1979-12-25 |
DE2747387A1 (de) | 1978-05-03 |
JPS6132607B2 (de) | 1986-07-28 |
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OAP | Request for examination filed | ||
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8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: BEETZ SEN., R., DIPL.-ING. BEETZ JUN., R., DIPL.-I |
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8126 | Change of the secondary classification |
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D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |