JPS60333A - 原子吸光分光光度計 - Google Patents

原子吸光分光光度計

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JPS60333A
JPS60333A JP58108911A JP10891183A JPS60333A JP S60333 A JPS60333 A JP S60333A JP 58108911 A JP58108911 A JP 58108911A JP 10891183 A JP10891183 A JP 10891183A JP S60333 A JPS60333 A JP S60333A
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JP
Japan
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sample
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reference signal
signal series
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JP58108911A
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English (en)
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Konosuke Oishi
大石 公之助
Hideaki Koizumi
英明 小泉
Tadataka Koga
古賀 正太佳
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Hitachi Ltd
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/3103Atomic absorption analysis
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    • G01N2021/3111Atomic absorption analysis using Zeeman split

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は原子吸光分光光度計に係り、特に物質が特定の
波長の光を吸収することを利用して物質の分析を行う原
子吸光分光光度計の改良に関するものである。
〔発明の背景〕
原子吸光分光光度計においては、分析目的原子による光
の吸収以外の光の吸収、すなわち、ツクツクグラウンド
吸収の問題がある。例えば、微粒子による光の散乱ある
いは分子ガスによる光の吸収などがあり、これが測定誤
差要因となっている。
したがって、原子吸光分光光度計には一般にバックグラ
ウンド吸収の補正を行う機能を伺加しである。
第1図はバックグラウンド吸収の補正機能を持つ原子吸
光分光光度計の機能図である。第1図において、1は原
子スペクトルを放射する光源で、一般的に放′ル陰極に
分析目的元素と同じ元素を含ませた物質ケ用いたいわゆ
るホローカソードランプが利用される。2は光源1から
放射されて偏光子3によって直線(至)光された光線で
、1aid光子3は入射した自然光を直線偏光するもの
で、直線偏光の偏光面は、光線2の進行方向に対して垂
直となっている。すなわち、直線面光を電磁波とみなし
たときの磁場スペクトルの方向は、光線2の進行方向に
垂直となっている。なお、1扁光子3は、光線2の進行
方向を軸として一定の回転数で回転する。しだがって、
偏光子3を透過した後の直線偏光の偏光面(磁場スペク
トル)も回転する。
4は分析目的原子の気体(蒸気)を示し、5は分析目的
物質を2000〜3000r の高温に加熱して熱分解
し、固形物質を気化させる加熱炉である。
6は分析目的原子蒸気4に約1万ガウスの磁場を印加す
る磁石で、磁場の方向は光線2の進行方向に垂直としで
ある。
7は分光器で、光源1から放射される各種の発光スペク
トルの中から目的原子の原子共鳴吸収線の波長を選択的
に取り出す。8は光電変換素子、9は増幅器である。
10は偏光子3の回転角(回転の位相)を検出してその
電気信号を増幅器9に与えるゲート信号発生器である。
11は光信号の記憶および演nを行う演算処理装置、1
2は光信号の演算結果の表示装置でおる。
ところで、ゼーマン効果の原理により、分析目的原子4
と入射する直線偏光2との間に次の性質がある。
(1)入射する直線偏光2の振動方向(磁場スペクトル
の方向)が磁石6の磁場の方向に一致したとき、分析目
的原子4はこの直線偏光4を最も強く吸収する。
(2)直線I線光2の振動方向が磁場の方向に垂直のと
きは、分析目的原子4はこの直線偏光4を吸収しない。
すなわち、磁場中に置かれた原子が入射する直線偏光を
吸収する割合は、直線偏光の磁場ベクトルの方向と原子
に加えられている磁・易の方向とのなす角度をωtとす
ると、(cO8ωt)2に比例して変化する。なお、ゼ
ーマン効果の開光吸収につ゛いては、文献(1,I−L
E、White、 ]:ntroduction (□
Atomic 5pectra、、MCgraW−Hi
ll、NeWYork(1934)、 p□age 1
59−160.2. f(、Koizu+ni 2nd
 K。
Yosuda 、 Ana 1.chem、 、 48
.1178 (1976)参照〕に詳しく述べられてい
るので、ここでは結果のみを簡単に説明する。要約する
と、第1図に示した装置においては、分析目的原子4に
よって吸収されるサンプル光線Sと、分析目的原子4に
よって吸収されないリファレンス光gBとの2種類の光
線が作られている。そして、実際の測定は、次のように
してなされる。例えば、土壌中のカドミウムを分析する
場合は、あらかじめ秤量された一定温この土壌を加熱炉
5の中に導入して、加熱炉5の中で土壌中に含′まれ仝
功ドミウムを蒸発させて蒸気とする。このとき、土壌中
に含まれる有機物が灰化し、炭素の微粒子(煙あるいは
煤)が発生する。
そして、加熱炉5の中を直線偏光2が通過するとき、サ
ンプル光線Sはカドミウム原子によって吸収されるが、
リファレンス光IRは吸収されない。
しかしながら、両光線とも炭素の微粒子などによって等
しく散乱され、減光される。これを数式を用いて衣わす
と次のようになる。
5=So −exp(A B) −−−(1)R−鵡・
exp(−73) ・・・・・・・・・(2)ここに、 So ;サンプル光線の加熱炉5への入射光強度 S:サンプル光線の加熱炉5からの透過光強度 Ro;!Jファレンス光線の加熱炉5への入射光強度 R;リファレンス光線の加熱炉5からの透過光強度 A;カドミウム原子による光吸収の吸光度B;バックグ
ラウンド吸収(光の散乱などによる見かけ上の吸収)の
吸光度 ここて、吸光度Aはカドミウムの原子の数Nに比例する
から、次式で表わされる。
A = N−F o ・・・・・・・・・(3)ここに
% Fo ;原子の種類と加熱炉5の構造によって定ま
る定数 さて、第1図においては、(1)、 (2)式に対応す
る電気信号を演算処理装置11に送り、吸光度Aをめる
。この場合、あらかじめ既知量のカドミウム標準試料を
加熱炉5内に導入することにより、定数Foをめておく
。このようにして、一般の土嚢などの未知量の試料を加
熱炉内に導入してそれの吸光度Aを測定し、信号の演算
を行って目的とするカドミウムの原子の数Nをめる。
ところで、バックグラウンド吸収の補正は、次のように
して行う。(1)、 (2)式の両辺の対数値をとると
、 LogS=LogSo A B =(4)LogR,=
LogRo−B ==(5)となる。いま、2つの入射
光強度80 とROとが等しくなる装置としておけば、
(4)式と(5)式の差をとると、 LogS LogR=LogSo LogRa &=−
A ・・・・・・・・・(6) が得られる。
ド このようにして、バックブラウン吸収の吸光度△ Bを消去し、カドミウム原子のみによる吸光度Aを得る
ようにする。
以上、原子吸光分光光度計のバックグラウンド吸収の補
正方法の一例としてゼーマン効果を応用したものについ
て説明したが、一般的には、サンプル光線とリファレン
ス光線に対応する2つの光信号S、Rfr、作ることに
より、他の方法でもバックグラウンド補正を行うことが
可能である。そして、いずれの方法においても、(6)
式に示すように、両信号の減算により吸光度Bを消去す
ることが必要である。
第1図に示す装置の加熱炉5に、クリえば、一定量の土
壌試料を導入した場合、始めに土壌中に含まれる各種の
有機物が灰化し、煙、煤などが発生する。続いて土壌中
に含まれていた分析目的原子のカドミウムが蒸発するっ
この場合のカドミウム原子による吸光度Aと煙、煤など
によるバックグラウンド吸収による吸光度Bとの時間的
変化の様子を第2図に示す。第2図において、aはバッ
クグラウンド吸収による吸光度〔信号B(す〕、bは原
子吸光による吸光度〔信号A(t):lである。なお、
実際の装置においては、カドミウム原子による吸光度A
とバックグラウンド吸収による吸光度Bの2つの信号を
独立に測定することは不可能であり、第2図は現象の説
明のために仮想的に示したものである。
第3図は実際の装置で得られる信号を示した線図である
。第3図において、Cは時刻(を−Δt)におけるリフ
ァレンス信号(a(t−Δt)) l dは時刻tにお
けるサンプル信号(S(t))、eは時刻(を十Δt)
におけるリファレンス信号(R,(t+Δ1))である
。このようにリファレンス信号とサンプル信号が時刻と
ともに点線として得られるのは、次の事情による。
第1図において、サンプル信号S(りとリファレンス信
号R(りは、偏光子3の回転によりそれぞれ直線偏光2
の振動面が′f&場の方向と平行となるときと、垂直と
なるときに得られるからである。このため、同一時刻に
両方の信号は得られず、偏光子30回転に同期して時刻
tにしたがって次の順番で得られる。
・・・・・・、5(t−2Δt)、1%(t−Δt)、
 5(t)。
B(t+Δt)、19(t−1−2Δt)、・・−・・
しだがって、(i)、 (2)式を時刻tを考慮して書
き直すと、次のようになる。
5(t)=So −e x p CA(t)−B(すm
l ・・−・−・・・−(7)rt(t−Δt)=Ro
 ・expCB(を−Δ1))・・・・・・・・・(8
) あるいは、 5(t)=So −exp(A(t)−B(t)) −
−=(9)B(t+Δt)−Ra ・exp(−B(t
+Δ1))・・・・・・・・・(10) ところで、第3図に示す如く、A(りおよびB(りがと
もに時間tとともに変化しているので、異なる時刻に得
られたバックグラウンド吸収による吸光度B (t)と
B(t+Δt)の値は等しくない。したがって、従来装
置においては、(7)、 (8)式あるいは(9)。
00)式を用いて正しくバックグラウンド吸収による吸
光度B(t)の値を消去することができなかった。
そこで、B(t)とB(t+Δt)の吸光度の差を無視
して近似的に等しいとみなし、(7)、 (8)式ある
いは(9)。
00)式の両辺の対数値の減算を行う方法を実施してい
た。その結果を第4図に示す。第4図(a)は、(9)
(10)式に対応する演算を行った場合のバックグラウ
ンド吸収の補正結果を示す線図で、補正信号の最大値の
位置より左側に正の補正誤差が生じている。
第4図(b)は(7)、 (8)式に対応する演算を行
った場合のバックグラウンド吸収の補正結果を示す線図
で、補正信号の最大値の位置より左側に負の補正誤差が
生じている。
分析目的原子の数Nは、第2図におけるカドミウム原子
による吸光度曲線すによる面積に比例する。したがって
、実際の装置においては、第4図(a) iたは(b)
の補正された吸光度曲線の面積ケ求めるようにしている
が、上述の正または負の補正誤差が面積の積分結果に含
まれるという不都合がさけられなかった。
〔発明の目的〕
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目的とする
ところは、バックグラウンド吸収の影響を除去するだめ
の演算精度を向上することができる原子吸光分光光度計
を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明の特徴は、信号の記憶、演算を行う演算処理装置
を、光−電変換した電気信号を増幅する増幅手段から入
力されるサンプル信号とリファレンス信号とからなる1
つの信号系列をサンプル信号系列とリファレンス信号系
列とに分けて記憶する手段と、上記サンプル信号系列と
リファレンス信号系列のうちのいずれか一方の信号系列
の相陶り合う2つの信号の平均直音それぞれ6i、算し
てこの平均値の信号系列を作る手段と、上記サンプル信
号系列とリファレンス信号系列のりらの他方の信号系列
と前記平均値の信号系列との同一時刻におけるそれぞれ
の信号の対数変換呟の差を演算してバックグラウンド吸
収の補正信号を得る手段とを具備した構成とした点にあ
る。
〔発明の実施例〕
以下本発明′f:第1第1第、第4第5図を用いて詳細
に説明する。
第1図に示す構成の原子吸光分光光度計において、偏光
子30回転とともにj−次得られるサンプル信号および
リファレンス信号・・・、5(t−2・Δt)。
R,(t−Δt)、 S (t)、 R,(t+Δt)
、S(t+2・Δ’L・・・・をゲート信号信号発生器
10によって次のように2つの信号系列X、Yに分け、
演算処理装置11の記憶部に記憶させる。
X;・・・、5(12・Δt)、5(t)、S(t+2
・ΔB、・・・Y;・・・、1(t−Δt)、R(t+
Δt)、R(t−)−3・Δt)、・・・そして、第3
図に示しであるように、S(りとR(t+Δt)とは測
定時刻が一致していないが、サンプル信号S (t)の
測定時刻に対応した仮想のリファレンス信号R(りを次
式によって演算する。
8g5図は本発明の詳細な説明するための第3図に相当
する線図で、fは新しいデータR(t)で、これはCと
eの2つの信号R,(t−Δt)とR(を十Δt)の中
間の時刻tに得られるデータに対応し、dのサンプル信
ρS (t)の測定時刻tと同一時刻におけるリファレ
ンス信号となる。
ここに、α0式の演算を上記した信号系列Yに適用し、
下記の新しい信号系列Y’ k得る。
Y′;・・・、R,(t−2・Δt)、 R(t)、 
R(t+2・Δt)、・・・これを用いて、 5(t)=So −expCA(t)(3(t)) ”
”α2a(g=z ・exp[−B(す〕 ・・・・・
・・・・α段だだし、 を得る。ここで、バックグラウンド吸収による吸光度B
(t)は、時間(t−Δt)と(t+Δt)の間で直線
的に変化するとみなせるから、B(す=B(t)とおけ
る。次に、(+21 、 (131式の両辺の対数値を
め、両者よりB (t)を消去する。このようにしてめ
たバックグラウンド補正信号を第4図(C)に示す。こ
の場合は、@4図(a)、(b)に見られる正または負
の補正鵬差は全く見られない。すなわち、第2図のbの
カドミウムの真の原子吸光信号に極めて近いバックグラ
ウンド補正信号が得られる。
上記したように、第1図の偏光子3を回転したときに一
定時間差で順次得られる信号系列・・・・・・。
5(t−2・Δt)*R(t〜Δt)、S(す、R(t
+Δt)。
S(t+2・Δt)、・・・・・・から得られる2つの
信号系列X、Ye用いて、(7)、(8)式によりバッ
クグラウンド補正を行う従来方法では、測定データの得
られる時刻が一致しないことに起因して補正信号に正ま
たは負の補正誤差が生ずるが、本発明の実施例によれば
、(11)式により測定時刻を一致させた仮想のリファ
レンス信号をめて、上記信号系列Yに代わる信号系列Y
′と信号系列Xを用いて(12,09式によりバックグ
ラウンド醋正を行うようにしたので、バックグラウンド
補正誤差を従来に比較してはるかに低減することができ
る。
なお、上記した実施例では、(11)式により仮想のリ
ファレンス信号を演算するようにしだが、サンプル信号
の測定時刻に対応した仮想のサンプル信号を演痒するよ
うにしてもよく、同一効果を得ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、バックグラウン
ド吸収の影gを除去するための演算精度を向上すること
ができ、バックグラウンド補正誤差を大幅に低減てきる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はバックグラウンド吸収の補正機能を持つ原子吸
光分光光度計の機能図、第2図はカドミウム原子による
吸光度とバックグラウンド吸収による吸光度との時間的
変化の様子を示す線図、第3図は実際の装置で得らnる
リファレンス信号とサンプル信号との時間的変化を示す
線図、第4図は従来および本発明による1易合のバック
グラウンド補正信号の様子を示す線図、第5図は本発明
全説明するだめの第3図に相当する線図である。 1・・・光源、3・・・偏光子、5・・・加熱炉、6・
・・磁石、7・・・分光器、8・・・光電変換素子、9
・・・増幅器、第 2 日 g、8間人 (1,to se c、)第 3 目 1、の (C) 鮪 5171 (を十4t)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、分析目的原子に吸収されるサンプル光線と吸収され
    ないリファレンス光線とを放射する光源と、該光源から
    の前記2つの光1iiii! k一定の時間差で順次分
    析試料に投光する回転偏光手段と、前記分析試料を透過
    した光を光−電変換する光−電変換手段と、該光−電変
    換手段からの電気信号を増幅する増幅手段と、前記回転
    偏光手段の回転位置を検知して前記サンプル光線とリフ
    ァレンス光線とを識別する信号を発生して前記増幅手段
    に与えるゲート信号発生手段と、前記増幅手段からのサ
    ンプル信号とリファレンス信号とを入力して記憶、演算
    を行う演算処理装置とを備えた原子吸光分光光度計にお
    いて、前記演算処理装置は、前記増幅手段から入力され
    る前記サンプル信号とリファレンス信号とからなる1つ
    の信号系列をサンプル信号系列とリファレンス信号系列
    とに分けて記憶する手段と、前記サンプル信号系列とリ
    ファレンス信号系列のうちのいずれか一方の信号系列の
    相隣り合う2つの信号の平均値をそれぞれ演算して該平
    均値の信号系列を作る手段と、前記サンプル信号系列と
    リファレンス信号系列のうちの他方の信号系列と前記平
    均値の信号系列との同一時刻におけるそれぞれの信号の
    対数変換値の差全演算して/(ツクグラウンド吸収の補
    正信号を得る手段とを備えだ構成としであることを特徴
    とする原子吸光分光光度計。
JP58108911A 1983-06-16 1983-06-16 原子吸光分光光度計 Pending JPS60333A (ja)

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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05215673A (ja) * 1992-01-31 1993-08-24 Shimadzu Corp 低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計
AUPM329594A0 (en) * 1994-01-11 1994-02-03 Varian Australia Pty Ltd Method and means for carrying out atomic spectroscopy
JP3508722B2 (ja) * 2000-12-25 2004-03-22 株式会社島津製作所 原子吸光光度計
CN104655272B (zh) * 2015-02-10 2018-07-24 北京海光仪器有限公司 塞曼背景校正光路及其系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5352180A (en) * 1976-10-22 1978-05-12 Hitachi Ltd Two light beams spectrophotometer
JPS5433083A (en) * 1977-08-19 1979-03-10 Omron Tateisi Electronics Co Spectrophotometer
JPS5436788A (en) * 1977-08-26 1979-03-17 Hitachi Ltd Automatic analyzer
JPS55140121A (en) * 1979-03-05 1980-11-01 Pye Ltd Spectrophotometer
JPS56150305A (en) * 1980-03-07 1981-11-20 Perkin Elmer Ltd Method of and apparatus for generating electrical output signal indicating ratio between two quantities

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4299485A (en) * 1979-03-05 1981-11-10 Pye Electronic Products Limited Spectrophotometer
US4357673A (en) * 1980-04-18 1982-11-02 Hewlett-Packard Company Apparatus for performing measurements and error analysis of the measurements

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5352180A (en) * 1976-10-22 1978-05-12 Hitachi Ltd Two light beams spectrophotometer
JPS5433083A (en) * 1977-08-19 1979-03-10 Omron Tateisi Electronics Co Spectrophotometer
JPS5436788A (en) * 1977-08-26 1979-03-17 Hitachi Ltd Automatic analyzer
JPS55140121A (en) * 1979-03-05 1980-11-01 Pye Ltd Spectrophotometer
JPS56150305A (en) * 1980-03-07 1981-11-20 Perkin Elmer Ltd Method of and apparatus for generating electrical output signal indicating ratio between two quantities

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US4948250A (en) 1990-08-14

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