JPH05215673A - 低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計 - Google Patents
低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計Info
- Publication number
- JPH05215673A JPH05215673A JP4046065A JP4606592A JPH05215673A JP H05215673 A JPH05215673 A JP H05215673A JP 4046065 A JP4046065 A JP 4046065A JP 4606592 A JP4606592 A JP 4606592A JP H05215673 A JPH05215673 A JP H05215673A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lamp
- light source
- low
- discharge tube
- pressure discharge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/02—Details
- H01J61/30—Vessels; Containers
- H01J61/32—Special longitudinal shape, e.g. for advertising purposes
- H01J61/325—U-shaped lamps
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/02—Details
- H01J61/52—Cooling arrangements; Heating arrangements; Means for circulating gas or vapour within the discharge space
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/70—Lamps with low-pressure unconstricted discharge having a cold pressure < 400 Torr
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
- G01N2021/3111—Atomic absorption analysis using Zeeman split
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 発光線ゼーマン法を利用した原子吸光分光光
度計で複数のランプを光源部に装着できるようにして汎
用性を高めたり、連続分析を可能にする。 【構成】 光源部のランプホルダ１２に低圧放電管１４
とホローカソードランプ１６とが合計で複数本装着され
ており、ランプホルダ１２を回転させることによって任
意のランプが測定用光源位置に位置決めされる。低圧放
電管１４を光源とした場合にはゼーマン法によるバック
グラウンド補正を行なうことができるように、光源に磁
場を作用させる永久磁石又は電磁石２４を配置し、測定
光路に偏光部２６を配置して原子化部１８に送る測定光
の偏光方向を原子吸光測定時とバックグラウンド補正時
とで切り換える。
度計で複数のランプを光源部に装着できるようにして汎
用性を高めたり、連続分析を可能にする。 【構成】 光源部のランプホルダ１２に低圧放電管１４
とホローカソードランプ１６とが合計で複数本装着され
ており、ランプホルダ１２を回転させることによって任
意のランプが測定用光源位置に位置決めされる。低圧放
電管１４を光源とした場合にはゼーマン法によるバック
グラウンド補正を行なうことができるように、光源に磁
場を作用させる永久磁石又は電磁石２４を配置し、測定
光路に偏光部２６を配置して原子化部１８に送る測定光
の偏光方向を原子吸光測定時とバックグラウンド補正時
とで切り換える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は試料物質中の含有金属元
素の定量を行なう原子吸光分光光度計と、原子吸光分光
光度計の光源として用いられる低圧放電管に関するもの
である。
素の定量を行なう原子吸光分光光度計と、原子吸光分光
光度計の光源として用いられる低圧放電管に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】原子吸光分光光度計では光源としてホロ
ーカソードランプが一般に用いられているが、低圧放電
管も用いられる。低圧放電管は、図１に示されるよう
に、Ｕ字型をなして密閉された光透過性ランプ管２中に
金属又はハロゲン化物などの金属塩４が蒸発可能な状態
でアルゴンなどの希ガスとともに封入されている。アル
ゴンは例えば４０ｍｍＨｇ程度の圧力で封入されてい
る。ランプ管２の湾曲部分には金属又は金属塩４を収納
する部分が設けられ、ランプ管２の直線部分の基端部か
ら電極６ａ，６ｂがランプ管２中に導入されている。ラ
ンプ管２にはランプの点灯を安定させるためにヒータワ
イヤ８が巻き付けられている。
ーカソードランプが一般に用いられているが、低圧放電
管も用いられる。低圧放電管は、図１に示されるよう
に、Ｕ字型をなして密閉された光透過性ランプ管２中に
金属又はハロゲン化物などの金属塩４が蒸発可能な状態
でアルゴンなどの希ガスとともに封入されている。アル
ゴンは例えば４０ｍｍＨｇ程度の圧力で封入されてい
る。ランプ管２の湾曲部分には金属又は金属塩４を収納
する部分が設けられ、ランプ管２の直線部分の基端部か
ら電極６ａ，６ｂがランプ管２中に導入されている。ラ
ンプ管２にはランプの点灯を安定させるためにヒータワ
イヤ８が巻き付けられている。
【０００３】この低圧放電管の発光は矢印で示されるよ
うに、直線部分を含む面内で直線部分と直交する方向に
取り出される。そのため、ランプ強度を強くすると前後
のランプ管の直線部分からの光が自己吸収を起こし、取
り出される光強度が弱くなって分析感度が低下する。
うに、直線部分を含む面内で直線部分と直交する方向に
取り出される。そのため、ランプ強度を強くすると前後
のランプ管の直線部分からの光が自己吸収を起こし、取
り出される光強度が弱くなって分析感度が低下する。
【０００４】原子吸光分析ではバックグラウンドを補正
する方法として、Ｄ2法、自己吸収法（ＳＲ法）、及び
ゼーマン法の３種類がある。Ｄ2法では光源としてホロ
ーカソードランプとＤ2ランプを用い、自己吸収法では
ホローカソードランプのみで放電電流値を変える。ゼー
マン法には大きく分けて発光線ゼーマン法と吸光線ゼー
マン法があるが、発光線ゼーマン法によるものでは光源
として専用の低圧放電管が使用される。発光線ゼーマン
法では磁場内に置かれた光源から放射される光がゼーマ
ン効果により波長分離することを利用する。発光線ゼー
マン法を用いる場合、図１の低圧放電管を用いると光源
部にホローカソードランプを装着することができない。
そのため発光線ゼーマン法による原子吸光分光光度計で
は限られた元素の分析しかできない。また、発光線ゼー
マン法では磁場中に光源を置かなければならないため、
１種類のランプしか装着できない。
する方法として、Ｄ2法、自己吸収法（ＳＲ法）、及び
ゼーマン法の３種類がある。Ｄ2法では光源としてホロ
ーカソードランプとＤ2ランプを用い、自己吸収法では
ホローカソードランプのみで放電電流値を変える。ゼー
マン法には大きく分けて発光線ゼーマン法と吸光線ゼー
マン法があるが、発光線ゼーマン法によるものでは光源
として専用の低圧放電管が使用される。発光線ゼーマン
法では磁場内に置かれた光源から放射される光がゼーマ
ン効果により波長分離することを利用する。発光線ゼー
マン法を用いる場合、図１の低圧放電管を用いると光源
部にホローカソードランプを装着することができない。
そのため発光線ゼーマン法による原子吸光分光光度計で
は限られた元素の分析しかできない。また、発光線ゼー
マン法では磁場中に光源を置かなければならないため、
１種類のランプしか装着できない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】発光線ゼーマン法を利
用する原子吸光分光光度計では、光源が図１に示される
形状の低圧放電管であるため、分析可能な元素数が少な
くなり、汎用性がなくなる。また、光源部にランプを１
本しか装着することができないため、試料を変えて順次
連続的に分析をするといった操作を行なうことができな
い。そして、図１の形状では発光強度を強くすることが
できず、分析感度（Ｓ／Ｎ比）を上げるのが困難であ
る。
用する原子吸光分光光度計では、光源が図１に示される
形状の低圧放電管であるため、分析可能な元素数が少な
くなり、汎用性がなくなる。また、光源部にランプを１
本しか装着することができないため、試料を変えて順次
連続的に分析をするといった操作を行なうことができな
い。そして、図１の形状では発光強度を強くすることが
できず、分析感度（Ｓ／Ｎ比）を上げるのが困難であ
る。
【０００６】本発明は少なくとも発光線ゼーマン法を利
用してバックグラウンド補正を行なうことのできる原子
吸光分光光度計において、分析可能な元素数を増やし、
複数のランプを光源部に装着できるようにして汎用性を
高めたり、連続分析を可能にすることを目的とするもの
である。本発明はまた、発光線ゼーマン法を利用してバ
ックグラウンド補正を行なう原子吸光分光光度計に光源
として用いるのに適した低圧放電管を提供することを目
的とするものである。
用してバックグラウンド補正を行なうことのできる原子
吸光分光光度計において、分析可能な元素数を増やし、
複数のランプを光源部に装着できるようにして汎用性を
高めたり、連続分析を可能にすることを目的とするもの
である。本発明はまた、発光線ゼーマン法を利用してバ
ックグラウンド補正を行なう原子吸光分光光度計に光源
として用いるのに適した低圧放電管を提供することを目
的とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】ゼーマン法を利用してバ
ックグラウンド補正をするのに適した放電管として、本
発明ではＵ字型の密閉された光透過性ランプ管中に金属
又は金属塩が蒸発可能な状態で希ガスとともに封入さ
れ、ランプ管の湾曲部分から外方向で直線部分に平行な
方向に発光を取り出すように構成された低圧放電管を使
用する。
ックグラウンド補正をするのに適した放電管として、本
発明ではＵ字型の密閉された光透過性ランプ管中に金属
又は金属塩が蒸発可能な状態で希ガスとともに封入さ
れ、ランプ管の湾曲部分から外方向で直線部分に平行な
方向に発光を取り出すように構成された低圧放電管を使
用する。
【０００８】また、その放電管を用いた本発明の原子吸
光分光光度計では、光源部のランプホルダに複数個のラ
ンプが装着され、任意のランプが測定用光源位置に位置
決めされるようになっているとともに、そのランプホル
ダに装着されたランプのうちの少なくとも１つは、Ｕ字
型の密閉された光透過性ランプ管中に金属又は金属塩が
蒸発可能な状態で希ガスとともに封入され、ランプ管の
湾曲部分から外方向で直線部分に平行な方向に発光を取
り出すように構成された低圧放電管であり、光源部には
測定用光源位置の低圧放電管に磁場を作用させる磁場発
生部が設けられ、測定用光源から検出部に至る測定光路
には偏光方向を切り換える偏光部が設けられている。
光分光光度計では、光源部のランプホルダに複数個のラ
ンプが装着され、任意のランプが測定用光源位置に位置
決めされるようになっているとともに、そのランプホル
ダに装着されたランプのうちの少なくとも１つは、Ｕ字
型の密閉された光透過性ランプ管中に金属又は金属塩が
蒸発可能な状態で希ガスとともに封入され、ランプ管の
湾曲部分から外方向で直線部分に平行な方向に発光を取
り出すように構成された低圧放電管であり、光源部には
測定用光源位置の低圧放電管に磁場を作用させる磁場発
生部が設けられ、測定用光源から検出部に至る測定光路
には偏光方向を切り換える偏光部が設けられている。
【０００９】
【作用】本発明の低圧放電管では発光をランプ管の湾曲
部分から外方向で直線部分に平行な方向に取り出すの
で、光の自己吸収が少なくなり、発光強度が大きくなっ
て分析感度を上げることができる。湾曲部分から外方向
に光を取り出すようにすれば、低圧放電管を含む複数の
ランプを共通のランプホルダに装着することができるよ
うになる。ランプホルダに２種類以上の低圧放電管を装
着すれば、２種類以上の元素をゼーマン法によるバック
グラウンド補正法を利用して測定することができる。ラ
ンプホルダに少なくとも１つの低圧放電管と、少なくと
も１つのホローカソードランプを装着すれば、ゼーマン
法によるバックグラウンド補正とＤ2法又は自己吸収法
によるバックグラウンド補正をともに利用することがで
きる。
部分から外方向で直線部分に平行な方向に取り出すの
で、光の自己吸収が少なくなり、発光強度が大きくなっ
て分析感度を上げることができる。湾曲部分から外方向
に光を取り出すようにすれば、低圧放電管を含む複数の
ランプを共通のランプホルダに装着することができるよ
うになる。ランプホルダに２種類以上の低圧放電管を装
着すれば、２種類以上の元素をゼーマン法によるバック
グラウンド補正法を利用して測定することができる。ラ
ンプホルダに少なくとも１つの低圧放電管と、少なくと
も１つのホローカソードランプを装着すれば、ゼーマン
法によるバックグラウンド補正とＤ2法又は自己吸収法
によるバックグラウンド補正をともに利用することがで
きる。
【００１０】
【実施例】図２は本発明の低圧放電管の一実施例を表わ
したものである。ランプ管１０は直線部分１０ａ，１０
ｂと湾曲部分１０ｃとを含む全体としてＵ字型をなして
おり、一方の直線部１０ｂには蒸発可能な状態の金属又
はハロゲン化物などの金属塩４が収納された収納部１０
ｄが設けられている。ランプ管１０は密閉され、内部に
アルゴンなどの希ガスが４０ｍｍＨｇ程度の圧力で封入
されている。ランプ管１０は直線部分１０ａ，１０ｂの
直径が湾曲部分１０ｃの直径よりも太くなっている。直
線部分１０ａ，１０ｂの基端部からそれぞれ電極６ａ，
６ｂがランプ管１０内に導入されている。ランプ管１０
にはまた、点灯を安定させるためにヒータワイヤ８が巻
かれている。
したものである。ランプ管１０は直線部分１０ａ，１０
ｂと湾曲部分１０ｃとを含む全体としてＵ字型をなして
おり、一方の直線部１０ｂには蒸発可能な状態の金属又
はハロゲン化物などの金属塩４が収納された収納部１０
ｄが設けられている。ランプ管１０は密閉され、内部に
アルゴンなどの希ガスが４０ｍｍＨｇ程度の圧力で封入
されている。ランプ管１０は直線部分１０ａ，１０ｂの
直径が湾曲部分１０ｃの直径よりも太くなっている。直
線部分１０ａ，１０ｂの基端部からそれぞれ電極６ａ，
６ｂがランプ管１０内に導入されている。ランプ管１０
にはまた、点灯を安定させるためにヒータワイヤ８が巻
かれている。
【００１１】発光は、図２に矢印で示されるように、湾
曲部分１０ｃから外方向で直線部分１０ａ，１０ｂに平
行な方向に取り出される。湾曲部分１０ｃが直線部分１
０ａ，１０ｂよりも直径が細くなっていることによって
発光の自己吸収がより小さく抑えられ、発光強度が一層
大きくなる。
曲部分１０ｃから外方向で直線部分１０ａ，１０ｂに平
行な方向に取り出される。湾曲部分１０ｃが直線部分１
０ａ，１０ｂよりも直径が細くなっていることによって
発光の自己吸収がより小さく抑えられ、発光強度が一層
大きくなる。
【００１２】図３は本発明の原子吸光分光光度計の一実
施例を概略的に表わしたものである。光源部ではランプ
ホルダ１２に本発明による低圧放電管１４が少なくとも
１本とホローカソードランプ１６が少なくとも１本装着
されており、ランプホルダ１２を回転させることによっ
て任意のランプが測定用光源位置に位置決めされる。図
３では低圧放電管１４が測定用光源位置に位置決めされ
ている。
施例を概略的に表わしたものである。光源部ではランプ
ホルダ１２に本発明による低圧放電管１４が少なくとも
１本とホローカソードランプ１６が少なくとも１本装着
されており、ランプホルダ１２を回転させることによっ
て任意のランプが測定用光源位置に位置決めされる。図
３では低圧放電管１４が測定用光源位置に位置決めされ
ている。
【００１３】測定用光源からの測定光の光路上には原子
化部１８が配置されており、原子化部１８を透過した測
定光が分光部２０で分光されて検出部２２で検出される
ようになっている。低圧放電管１４を光源とした場合に
はゼーマン法によるバックグラウンド補正を行なうこと
ができるようにするために、測定用光源位置の光源に磁
場を作用させる永久磁石又は電磁石２４が配置されてい
る。磁石２４は低圧放電管１２を使用するときにのみ機
能するように構成されている。ゼーマン法を利用すると
きには更に光路に偏光部２６を配置し、原子化部１８に
送る測定光の偏光方向を原子吸光測定時とバックグラウ
ンド補正時とで切り換える。また、ホローカソードラン
プ１６を測定用光源としたときにＤ2法によりバックグ
ラウンド補正ができるように、Ｄ2ランプ２８からの光
がハーフミラー３０によって測定光路に導入できるよう
になっている。
化部１８が配置されており、原子化部１８を透過した測
定光が分光部２０で分光されて検出部２２で検出される
ようになっている。低圧放電管１４を光源とした場合に
はゼーマン法によるバックグラウンド補正を行なうこと
ができるようにするために、測定用光源位置の光源に磁
場を作用させる永久磁石又は電磁石２４が配置されてい
る。磁石２４は低圧放電管１２を使用するときにのみ機
能するように構成されている。ゼーマン法を利用すると
きには更に光路に偏光部２６を配置し、原子化部１８に
送る測定光の偏光方向を原子吸光測定時とバックグラウ
ンド補正時とで切り換える。また、ホローカソードラン
プ１６を測定用光源としたときにＤ2法によりバックグ
ラウンド補正ができるように、Ｄ2ランプ２８からの光
がハーフミラー３０によって測定光路に導入できるよう
になっている。
【００１４】ランプホルダ１２はホルダ駆動部３０によ
って任意のランプを測定光源位置へ位置決めすることが
できる。あるランプでの測定が終了するとランプホルダ
１２がホルダ駆動部３０によって駆動されて次のランプ
を測定光源位置にセットする。低圧放電管１４にはラン
プドライバ３２が接続されてランプの点灯が制御され、
ホローカソードランプ１６にはＨＣＬランプドライバ３
４が接続されてランプの点灯が制御される。ランプドラ
イバ３２，３４は測定光源位置にセットされて測定用ラ
ンプとなったときにそのランプを点灯させ、次に使用さ
れるランプには予備点灯を行なう。３６は検出器２２の
検出信号を制御部３８へ取り込む信号処理部である。制
御部３８には操作部４０と表示部４２が接続されてお
り、ホルダ駆動部３０及びランプドライバ３２，３４の
動作を制御し、偏光部２６の動作を制御し、分光部２０
の波長走査も制御する。
って任意のランプを測定光源位置へ位置決めすることが
できる。あるランプでの測定が終了するとランプホルダ
１２がホルダ駆動部３０によって駆動されて次のランプ
を測定光源位置にセットする。低圧放電管１４にはラン
プドライバ３２が接続されてランプの点灯が制御され、
ホローカソードランプ１６にはＨＣＬランプドライバ３
４が接続されてランプの点灯が制御される。ランプドラ
イバ３２，３４は測定光源位置にセットされて測定用ラ
ンプとなったときにそのランプを点灯させ、次に使用さ
れるランプには予備点灯を行なう。３６は検出器２２の
検出信号を制御部３８へ取り込む信号処理部である。制
御部３８には操作部４０と表示部４２が接続されてお
り、ホルダ駆動部３０及びランプドライバ３２，３４の
動作を制御し、偏光部２６の動作を制御し、分光部２０
の波長走査も制御する。
【００１５】光源部の具体的な例を図４と図５により説
明する。図４ではランプホルダ１２にホローカソードラ
ンプ１６や低圧放電管１４が複数個装着できるようにな
っており、何れのランプも発光はランプホルダ１２の面
と垂直な方向に取り出される。低圧放電管１４は図５に
示されるように、円筒状のランプケース４４に入れら
れ、ホローカソードランプと同様な円形の外径形状とな
っている。このようにランプ管１０を円筒のランプケー
ス４４に入れることにより、ランプホルダ１２が図４に
示されるように円形の孔をもつだけの簡単な構造にする
ことができ、ホローカソードランプ１６とともに装着で
き、ランプの装着も単にランプホルダ１２の孔にランプ
を挿入するだけの簡単な操作ですむようになる。特に、
ランプホルダ１２の孔に装着される部分の、ホロカソー
ドランプ１６の外径と低圧放電管のランプケース４４の
外径とを等しくしておけば、ランプホルダ１２にはラン
プ装着用の均一な孔を複数個設け、低圧放電管１４とホ
ローカソードランプ１６を任意に装着することができる
ようになる。
明する。図４ではランプホルダ１２にホローカソードラ
ンプ１６や低圧放電管１４が複数個装着できるようにな
っており、何れのランプも発光はランプホルダ１２の面
と垂直な方向に取り出される。低圧放電管１４は図５に
示されるように、円筒状のランプケース４４に入れら
れ、ホローカソードランプと同様な円形の外径形状とな
っている。このようにランプ管１０を円筒のランプケー
ス４４に入れることにより、ランプホルダ１２が図４に
示されるように円形の孔をもつだけの簡単な構造にする
ことができ、ホローカソードランプ１６とともに装着で
き、ランプの装着も単にランプホルダ１２の孔にランプ
を挿入するだけの簡単な操作ですむようになる。特に、
ランプホルダ１２の孔に装着される部分の、ホロカソー
ドランプ１６の外径と低圧放電管のランプケース４４の
外径とを等しくしておけば、ランプホルダ１２にはラン
プ装着用の均一な孔を複数個設け、低圧放電管１４とホ
ローカソードランプ１６を任意に装着することができる
ようになる。
【００１６】図３の原子吸光分光光度計の動作について
説明する。光源として低圧放電管１４を選択したとき
は、磁石２４と偏光部２６を用い、ゼーマン法によるバ
ックグラウンド補正を行ないながら測定を行なう。光源
としてホローカソードランプ１６を選択したときは、磁
石２４と偏光部２６は使用しない。自己吸収法によりバ
ックグラウンド補正を行なうときは、ＨＣＬランプドラ
イバ３４によってホローカソードランプ１６に放電電流
を流すが、その放電電流は原子吸光測定時は低電流と
し、バックグラウンド吸収を測定するときは高電流とす
るように放電電流を切り換えながら測定を行なう。ま
た、Ｄ2法を利用するときは、原子吸光測定時はホロー
カソードランプ１６からの発光を用い、バックグラウン
ド吸収を測定するときはＤ2ランプ２８からの発光を用
いる。
説明する。光源として低圧放電管１４を選択したとき
は、磁石２４と偏光部２６を用い、ゼーマン法によるバ
ックグラウンド補正を行ないながら測定を行なう。光源
としてホローカソードランプ１６を選択したときは、磁
石２４と偏光部２６は使用しない。自己吸収法によりバ
ックグラウンド補正を行なうときは、ＨＣＬランプドラ
イバ３４によってホローカソードランプ１６に放電電流
を流すが、その放電電流は原子吸光測定時は低電流と
し、バックグラウンド吸収を測定するときは高電流とす
るように放電電流を切り換えながら測定を行なう。ま
た、Ｄ2法を利用するときは、原子吸光測定時はホロー
カソードランプ１６からの発光を用い、バックグラウン
ド吸収を測定するときはＤ2ランプ２８からの発光を用
いる。
【００１７】ランプホルダ１２には複数種類の低圧放電
管のみを装着してもよい。光源部には少なくとも１つの
低圧放電管を含むように、複数の元素を測定するための
複数種類のランプを装着し、被測定元素に応じでランプ
を選択する。
管のみを装着してもよい。光源部には少なくとも１つの
低圧放電管を含むように、複数の元素を測定するための
複数種類のランプを装着し、被測定元素に応じでランプ
を選択する。
【００１８】
【発明の効果】本発明の低圧放電管は、Ｕ字型の密閉さ
れた光透過性ランプ管中に金属又は金属塩が蒸発可能な
状態で希ガスとともに封入され、ランプ管の湾曲部分か
ら外方向で直線部分に平行な方向に発光を取り出すよう
にしたので、発光強度を大きくすることができる。その
ため、従来の原子吸光分光光度計では感度が低くて分析
が困難であった試料も本発明の低圧放電管を使用すると
分析可能になる。また、本発明の低圧放電管はホローカ
ソードランプと同じ方向に光を取り出すので、ホローカ
ソードランプとともに共通のランプホルダに装着するこ
とができるようになり、複数の低圧放電管を装着するこ
ともできるようになる。その結果、発光線ゼーマン法を
利用した原子吸光分光光度計で多元素を順次連続分析で
きるようになり、分析元素数を増すことができるように
なるため、汎用性のある原子吸光分光光度計を実現する
ことができる。
れた光透過性ランプ管中に金属又は金属塩が蒸発可能な
状態で希ガスとともに封入され、ランプ管の湾曲部分か
ら外方向で直線部分に平行な方向に発光を取り出すよう
にしたので、発光強度を大きくすることができる。その
ため、従来の原子吸光分光光度計では感度が低くて分析
が困難であった試料も本発明の低圧放電管を使用すると
分析可能になる。また、本発明の低圧放電管はホローカ
ソードランプと同じ方向に光を取り出すので、ホローカ
ソードランプとともに共通のランプホルダに装着するこ
とができるようになり、複数の低圧放電管を装着するこ
ともできるようになる。その結果、発光線ゼーマン法を
利用した原子吸光分光光度計で多元素を順次連続分析で
きるようになり、分析元素数を増すことができるように
なるため、汎用性のある原子吸光分光光度計を実現する
ことができる。
【図１】従来の低圧放電管を示す概略側面図である。
【図２】本発明の低圧放電管の一実施例を示す概略側面
図である。
図である。
【図３】本発明の原子吸光分光光度計を示す概略構成図
である。
である。
【図４】図３における光源部を示す概略斜視図である。
【図５】図４のランプホルダに装着される低圧放電管の
例を示す図であり、（Ａ）は側面断面図、（Ｂ）は正面
図である。
例を示す図であり、（Ａ）は側面断面図、（Ｂ）は正面
図である。
４ 蒸発可能な金属又は金属塩 １０ ランプ管 １０ａ，１０ｂ ランプ管の直線部分 １０ｃ ランプ管の湾曲部分 １２ ランプホルダ １４ 低圧放電管 １６ ホローカソードランプ １８ 原子化部 ２０ 分光部 ２２ 検出部 ２４ 磁石 ２６ 偏光部 ２８ Ｄ2ランプ
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｕ字型の密閉された光透過性ランプ管中
に金属又は金属塩が蒸発可能な状態で希ガスとともに封
入され、ランプ管の湾曲部分から外方向で直線部分に平
行な方向に発光を取り出すように構成されたことを特徴
とする低圧放電管。 - 【請求項２】 光源部のランプホルダに複数個のランプ
が装着され、任意のランプが測定用光源位置に位置決め
されるようになっているとともに、前記ランプホルダに
装着されたランプのうちの少なくとも１つは、Ｕ字型の
密閉された光透過性ランプ管中に金属又は金属塩が蒸発
可能な状態で希ガスとともに封入され、ランプ管の湾曲
部分から外方向で直線部分に平行な方向に発光を取り出
すように構成された低圧放電管であり、光源部には測定
用光源位置の低圧放電管に磁場を作用させる磁場発生部
が設けられ、測定用光源から検出部に至る測定光路には
偏光方向を切り換える偏光部が設けられていることを特
徴とする原子吸光分光光度計。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4046065A JPH05215673A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計 |
| EP93100737A EP0553690B1 (en) | 1992-01-31 | 1993-01-19 | Atomic absorption spectrophotometer using low pressure discharge tube |
| DE69309511T DE69309511T2 (de) | 1992-01-31 | 1993-01-19 | Atomabsorptionsspektrometer mit Niederdruckentladungslampe |
| US08/010,328 US5568254A (en) | 1992-01-31 | 1993-01-28 | Low pressure discharge tube and atomic absorption spectrophotometer using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4046065A JPH05215673A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215673A true JPH05215673A (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=12736607
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4046065A Pending JPH05215673A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5568254A (ja) |
| EP (1) | EP0553690B1 (ja) |
| JP (1) | JPH05215673A (ja) |
| DE (1) | DE69309511T2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5545948A (en) * | 1994-09-08 | 1996-08-13 | Chilong Data Products Corp. | Glass tube lamp matrix device |
| DE19607167C2 (de) * | 1995-05-16 | 1997-09-04 | Laserspec Analytik Gmbh | Atomabsorptionsspektrometer |
| JP3508722B2 (ja) * | 2000-12-25 | 2004-03-22 | 株式会社島津製作所 | 原子吸光光度計 |
| US20060170361A1 (en) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | Osram Sylvania Inc. | Single-ended Arc Discharge Vessel with a Divider Wall |
| CN111707628B (zh) * | 2020-07-09 | 2022-03-29 | 上海安杰环保科技股份有限公司 | 多工位自动切换的光路装置及光谱仪 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL44356C (ja) * | 1933-04-04 | |||
| FR1158700A (fr) * | 1955-10-18 | 1958-06-18 | Philips Nv | Tube à décharge, en particulier dans la vapeur de sodium et à remplissage gazeux |
| JPS5011480A (ja) * | 1973-06-01 | 1975-02-05 | ||
| DE2456713A1 (de) * | 1974-11-30 | 1976-06-10 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Atomabsorptions-spektrometer |
| US4140385A (en) * | 1976-03-22 | 1979-02-20 | Xerox Corporation | Low pressure metal or metal halide lamps for photocopying applications |
| DE3005638A1 (de) * | 1980-02-15 | 1981-08-20 | Erdmann & Grün KG, 6330 Wetzlar | Atomspektrallampe fuer die zeeman-atomabsorptionsspektroskopie |
| JPS56117149A (en) * | 1980-02-22 | 1981-09-14 | Hitachi Ltd | Zeeman atomic absorption photometer |
| US4645343A (en) * | 1981-11-11 | 1987-02-24 | U.S. Philips Corporation | Atomic resonance line source lamps and spectrophotometers for use with such lamps |
| JPS60333A (ja) * | 1983-06-16 | 1985-01-05 | Hitachi Ltd | 原子吸光分光光度計 |
| US4877997A (en) * | 1988-02-18 | 1989-10-31 | Tencor Instruments | High brightness and viewed gas discharge lamp |
| DE3809213A1 (de) * | 1988-03-18 | 1989-10-05 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Atomabsorptions-spektrometer |
| JPH0622256B2 (ja) * | 1988-06-24 | 1994-03-23 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置の製造方法 |
-
1992
- 1992-01-31 JP JP4046065A patent/JPH05215673A/ja active Pending
-
1993
- 1993-01-19 DE DE69309511T patent/DE69309511T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-01-19 EP EP93100737A patent/EP0553690B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-01-28 US US08/010,328 patent/US5568254A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5568254A (en) | 1996-10-22 |
| EP0553690A1 (en) | 1993-08-04 |
| EP0553690B1 (en) | 1997-04-09 |
| DE69309511D1 (de) | 1997-05-15 |
| DE69309511T2 (de) | 1997-08-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB1271170A (en) | Device for the spectrochemical determination of the concentration of an element in a sample | |
| JP2010507787A (ja) | ガス分析用に正および／または負にイオン化したガス検体を生成するための方法及び装置 | |
| JPH05215673A (ja) | 低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計 | |
| Bieber et al. | Studies of magnetic dipole transitions in highly charged argon and barium using an electron beam ion trap | |
| Duan et al. | Characterization of a modified, low-power argon microwave plasma torch (MPT) as an atomization cell for atomic fluorescence spectrometry | |
| US4100446A (en) | Light source lamp with particular envelope structure to accommodate external magnets | |
| WO1999023466A3 (en) | Apparatus and methods for measuring fluorescence polarization | |
| Wu et al. | Doppler-free measurement of the calcium 4s2 1S0-4s4p 1P1 transition at 422.673 nm by degenerate four-wave mixing in a demountable cathode discharge atomizer | |
| USRE33415E (en) | Double-bore capillary-tube gas discharge lamp with an envelope window transparent to short wavelength light | |
| US4523096A (en) | Liquid chromatography apparatus | |
| JP2010197207A (ja) | 発光分光分析方法及び発光分光分析装置 | |
| JPS63122922A (ja) | ホロ−カソ−ドランプ及び該ランプを光源とした原子吸光／螢光分光光度計 | |
| US3937576A (en) | Illumination system for an atomic absorption spectral photometer | |
| JP2893943B2 (ja) | ゼーマン原子吸光分光光度計 | |
| CA2001237A1 (en) | Hollow electrode plasma excitation source | |
| JPH056758A (ja) | 高周波点灯式放電ランプおよび放電ランプの高周波点灯装置 | |
| US11670496B2 (en) | Ionization sources and methods and systems using them | |
| JPH076736A (ja) | 重水素ランプ | |
| RU2038582C1 (ru) | Бездисперсионный атомно-флуоресцентный анализатор с вольфрамовым спиральным атомизатором | |
| JP2934451B2 (ja) | 原子吸光光度計のホローカソードランプ切り替え方法 | |
| JPH027344A (ja) | グロー放電質量分析装置 | |
| RU2264604C2 (ru) | Источник излучения для спектрофотометра | |
| YOSHIDA et al. | Simultaneous measurements of two wavelength spectra for Ag break arc | |
| GB1599595A (en) | Spectral sources | |
| Slinkman et al. | Magnetic-field modulation of a two-electrode direct-current plasma |