DE2844121C2 - Einrichtung zur Messung von kleinen Kapazitäten - Google Patents

Einrichtung zur Messung von kleinen Kapazitäten

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    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2475231A1 (fr) * 1980-02-04 1981-08-07 Testut Aequitas Dispositif de mesure de capacite, en particulier pour instrument de pesage
JPS56166411A (en) * 1980-05-27 1981-12-21 Yokogawa Hokushin Electric Corp Capacity type displacement transducer
DE3117808A1 (de) * 1981-05-06 1982-11-25 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Schaltungsanordnung zur messung von induktivitaetsaenderungen
DK4383A (da) * 1983-01-07 1984-07-08 Nils Aage Juul Eilersen Oscillatorkobling
FI69932C (fi) * 1984-05-31 1986-05-26 Vaisala Oy Maetningsfoerfarande foer kapacitanser speciellt foer smao kapacitanser vid vilker man anvaender tvao referenser
JPS6114578A (ja) * 1984-06-30 1986-01-22 Suzuki Shigeo 容量計
FI74549C (fi) * 1986-02-13 1988-02-08 Vaisala Oy Maetningsfoerfarande foer impedanser, saerskilt smao kapacitanser.
DE4039006C1 (fr) * 1990-12-06 1992-03-12 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De
JP2007187509A (ja) 2006-01-12 2007-07-26 Denso Corp 容量式物理量センサ
EP2344896A1 (fr) * 2008-11-02 2011-07-20 Siemens Aktiengesellschaft Circuit de mesure de capacité par capteur de courant
FR2977950B1 (fr) * 2011-07-13 2014-11-07 Jean Noel Lefebvre Dispositif de detection capacitif

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3518537A (en) * 1967-11-28 1970-06-30 Richard Mcfee Apparatus and method for determining the capacitance and conductance of capacitors
US3626287A (en) * 1969-02-10 1971-12-07 C G I Corp System for responding to changes in capacitance of a sensing capacitor
FR2142732B1 (fr) * 1971-06-24 1975-02-07 Commissariat Energie Atomique
FR2208121B1 (fr) * 1972-11-29 1978-12-29 Commissariat Energie Atomique
US4083248A (en) * 1975-09-04 1978-04-11 Simmonds Precision Products, Inc. Digital liquid-level gauging systems

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Publication number Publication date
AU4067578A (en) 1980-04-17
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FR2410280B1 (fr) 1984-01-06
AU523345B2 (en) 1982-07-22
IT7828692A0 (it) 1978-10-12
ZA785694B (en) 1979-09-26

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