DE3101994A1 - Verfahren und einrichtung zur messung eines elektrischen widerstandes - Google Patents

Verfahren und einrichtung zur messung eines elektrischen widerstandes

Info

Publication number
DE3101994A1
DE3101994A1 DE19813101994 DE3101994A DE3101994A1 DE 3101994 A1 DE3101994 A1 DE 3101994A1 DE 19813101994 DE19813101994 DE 19813101994 DE 3101994 A DE3101994 A DE 3101994A DE 3101994 A1 DE3101994 A1 DE 3101994A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measurement
resistance
voltage
resistor
measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19813101994
Other languages
English (en)
Other versions
DE3101994C2 (de
Inventor
Hartmut 6457 Maintal Petzold
Norbert 6000 Frankfurt Schmalstieg
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Building Technologies AG
Landis and Gyr AG
Original Assignee
Landis and Gyr AG
LGZ Landis and Gyr Zug AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Landis and Gyr AG, LGZ Landis and Gyr Zug AG filed Critical Landis and Gyr AG
Publication of DE3101994A1 publication Critical patent/DE3101994A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3101994C2 publication Critical patent/DE3101994C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/14Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

  • Verfahren und Einrichtung zur Messung eines elektrischen
  • Widerstandes Verfahren und Einrichtung zur Messung eines elektrischen Widerstandes Anwendungsgebiet und Zweck Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Einrichtung zur Messung eines elektrischen Widerstandes mit Hilfe eines Spannungsmessgerätes und einer einen Messstrom liefernden Konstantstromquel le.
  • Stand der Technik Bei einer aus der DE-AS ! 48 337 bekannten Schaltungsanordnung wird eine Konstantstromquelle verwendet und der Spannungsabfall über einem zu messenden Widerstand bestimmt.
  • Aufgabe und Lösung Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die im Stand der Technik beschriebene Messmethode zu automatisieren und unabhängig zu machen von Eichvorgängen. Sie hat als weiteren Vorteil, dass die gerade yeltenden Eichparameter berücksichtigt werden und so, falls diese zeitvariabel und/oder temperaturabhängig sincl, der Einfluss der Zeit und/oder der Temperatur auf das Messergebnis eliminiert wird.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäss durch die im Kennzeichen des Patentanspruchs 1 angegebenen Markmale gelöst.
  • Beschreibung Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben.
  • Es zeigen: Fig. 1 ein Btockschattbild einer Widerstands-Messeinrichtung und Fig. 2 ein Blockschaltbild eines abgeänderten Eingangsteils der Widerstands-Messeinrichtung.
  • Gleiche Bezugszahlen bezeichnen in allen Figuren der Zeichnung die gleichen Teile.
  • Beschreibung der Widerstands-Messeinrichtung nach der Fig. 1 Die Messeinrichtung weist einen Eingangsteil 1 auf, welcher einen Hilfswiderstand R1, einen Referenzwiderstand R2, einen zu messenden elektrischen Widerstand R3, einen ersten Schalter S1, einen zweiten Schalter S2 und einen dritten Schalter 53 enthält.
  • Ferner gehören zur Messeinrichtung eine zweipolige Konstantstromquelle 2, ein Spannungsmessgerät 3, ein Speicher 4, ein Rechner 5 und ein Steuergerät 6. Die drei Schalter S1, 52 und 53 besitzen je zwei Schtiesskontakte und können elektromechanische Schalter sein, wie z.B. Relais, oder analoge Halbleiterschalter, wie z.B.
  • Analog-Schalter vom Typ CD 4066.
  • Je ein Pol des Hilfswiderstandes R1, des Referenzwiderstandes R2 und des zu messenden elektrischen Widerstandes R3 sind elektrisch miteinander verbunden, und dieser gemeinsame Punkt ist über einen ersten Schliesskontakt des ersten Schalters S1 an einen ersten Pol der Konstantstromquelle 2 und über den zweiten Schliesskontakt des ersten Schalters S1 an den Messeingang des Spannungsmessgerätes 3 angeschlossen. Der zweite Pol des Hilfswiderstandes R1 und der zweite Pol der Konstantstromquelle 2 liegen an Masse. Der zweite Pol des Referenzwiderstandes R2 ist mittels eines ersten Schliesskontaktes des zweiten Schalters S2 auf den ersten Pol der Konstantstromquelle 2 und mittels des zweiten Schliesskontaktes des zweiten Schalters 52 auf den Messeingang des Spannungsmessgerätes 3 geschaltet. Der zweite Pol des zu messenden elektrischen Widerstandes R3 ist mit Hilfe eines ersten Schliesskontaktes des dritten Schalters S3 auf den ersten Pol der Konstantstromquelle 2 und mit Hilfe des zweiten Schliesskontaktes des dritten Schalters 53 auf den Messeingang des Spannungsmessgerätes 3 geführt. Der Ausgang des Spannungsmessgerätes 3 liegt am Eingang des Speichers 4, dessen Ausgang wiederum auf den Eingang des Rechners 5 geführt ist. Das Steuergerät 6 steuert über je eine, in der Fig. 1 strich-punktiert daryestellte Leitung die drei Schalter S1, S2 und 53 und über eine oder mehrere zusätzliche Leitungen den Rechner 5.
  • Der Referenzwiderstand R2 ist ein Präzisionswiderstand mit einem Toleranzwert von 4 0,01 %. Alle restlichen Elemente sind kurzzeitstabil, d.h. Während der Dauer eines Messzyklus von ca.
  • 1 Sekunde ändern sich ihre Kenndaten nicht. Ausserdem hat das Spannungsmessgerät 3 hinreichend linear zu sein und haben die Schalter möglichst kleine Fehtströme aufzuweisen, welche sich allerdings kornpensieren, wenn alle Schalter gleich sind.
  • Die Konstantstromquelle 2 liefert den Messstrom I.
  • Ist der Rechner 5 ein Digitalrechner, so ist das Spannungsmessgerät 3 vorteilhafterweise ein Analog/Digital-Wandler, z.B. ein Spannungs/Frequenz-Wandler vom Typ LM 331. Letzterer enthält gleichzeitig noch eine Referenzstromquel le, welche für den Aufbau der Konstantstromquelle 2 verwendet werden kann, was den Vorteil hat, dass der Temperaturgang des Spannungs/Frequenz-Wandlers den Wert des Messstromes I gegensinnig beeinflusst. Als Rechner 5 wird vorteilhafterweise ein Mikrocomputer eingesetzt. Dieser enthält dann auch noch das Steuergerät 6 und den Speicher 4.
  • Ist der zu messende elektrische Widerstand R3 temperaturabhängiy, so kann die Widerstands-Messeinrichtung der Temperaturmessung dienen. Bei Wärmezählern hat dies z.B. den Vorteil, dass mit einer einzigen Messschaltung beide Temperaturwerte ermittelt werden, eine Linearisierung durch den Rechner 5 erfolgt und die Aenderung der spezifischen Wärme durch den Rechner kompensiert wird. Durch Differenzbildungen fallen eventuell noch vorhandene Fehler gerade bei kleinen Temperaturdifferenzen weg.
  • Funktionsbeschreibung der Widerstands-Messeinrichtung nach der Fig. 1 Im idealen Falle ist ein Spannunysmesswert Uoj am Ausgang des Spannungsmessgerätes 3 einer Eingangsspannung Uij dieses Spannungsmessgerätes 3 proportional. In der Praxis ist dies nur selten der Fall, da eine Eingangsspannung Null in der Regel nicht eine Ausgangsspannung Null ergibt. Daher gilt für das Spannungsmessgerät 3 die allgemeine Formel Uoj = A + B.U jj, wobei j die Messung kennzeichnet und in unserem Fall die Werte 1, 2 und 3 annehmen kann. Wären die Eichparameter A und B bekannt oder zumindestens konstant, könnten sie zur Zeit der ersten Inbetriebnahme des Spannungsmessgerätes 3 ein für allemal ermittelt und korrigiert werden. Da sie jedoch in der Regel zeit- und/oder temperaturabhängig sind, müssen ihre Werte fortlaufend für jede Messung neu bestimmt und der Spannungsmessert Uoj dementsprechend korrigiert werden.
  • Dies geschieht mit Hilfe von drei kurz aufeinanderfolgenden Meszungen Während der ersten Messung steuert das Steuergerät 6 den ersten Schalter 51 so, dass seine beiden Schliesskontakte geschlossen sind, wobei einerseits der Messstrom I der Konstantstromquelle 2 den Hilfswiderstand R1 durchfliesst und andererseits der Spannungsabfall U. = I.R1 am Hilfswiderstand R1 mit Hilfe des Spannungsmessgerätes 3 gemessen wird. Während der zweiten Messung bewirkt das Steuergerät 6 das Schliessen der Kontakte des zweiten Schalters 52. Dann durchfliesst einerseits der Messstrom I der Konstantstromquelle 2 den Summenwiderstand aus Hilfswiderstand R1 und Referenzwiderstand R2, anderseits wird der Spannungsabfall U j2 = I.(R1 + R2) an diesem Summenwiderstand mit Hilfe des Spannungsmessgerätes 3 gemessen. Während der dritten Messung steuert das Steuergerät 6 den dritten Schalter 53 so, dass seine beiden Schliesskontakte geschlossen, der Messstrom I der Konstantstromquelle 2 im Summenwiderstand aus dem Hilfswiderstand R1 und dem zu messenden elektrischen Widerstand R3 fliesst und der Spannungsabfall = I.(R1 + R3) an diesem Summenwiderstand mit Hilfe des Spannungsmessgerätes 3 gemessen wird. Die drei Spannungsmesswerte der ersten Messung U01, der zweiten Messung U02 und der dritten Messung U03 werden im Speicher 4 abgespeichert und stehen dort dem Rechner 5 zur Verfügung.
  • Die drei Gleichungen U01 =A + B. Ui1 = A + B. (I.R1), U02 =A + B. 2 = A + B.I.(R1 + R2) und U03 =A + B.U~ = A + B.I.(R1 + R3) ergeben nach Elimination der zwei Unbekannten A und B den gesuchten Widerstandswert: R3 = R2. (U03 - U0l )/(U02 U01).
  • Mit Hilfe dieser Gleichung und an Hand der im Speicher 4 gespeicherten Spannungsmesswerte U0l, U02 und U03 und des bekannten Widerstandswertes R2 kann nun der Rechner 5 den gesuchten Wert des zu messenden elektrischen Widerstandes R3 errechnen.
  • Die unbekannten und variablen Eichparameter A und B haben somit keinen Einfluss mehr auf das Messresultat des zu messenden elektrischen Widerstandes R3.
  • Ist das Spannungsmessgerät 3 ein Spannungs/Frequenz-Wandler, so ist Uoj durch f0j = 1/T0j zu ersetzen, wobei die Frequenzmesswerte foj Frequenzenund Toj die zugehörigen Perioden darstellen.
  • Die Gleichungdes zu messenden elektrischen Widerstandes R3 wird dann: Beschreibung des Eingangsteils nach der Fig. 2 Das Eingangsteil 1 nach der Fig. 2 besteht zusätzlich zum Hilfswiderstand R1, zum Referenzwiderstarad R2 und zum zu messenden elektrischen Widerstand R3 aus einem ersten Beschaltungswider stand R4, einem zweiten 23eschaltungswiderstand R5, einem vierten Schalter 54, einem fünften Schalter S5, einem sechsten Schalter S6, einem siebten Schalter S7, einem ersten Operationsverstärker 7 und einem zweiten Operationsverstärker 8. Eine hier nicht gezeichnete Referenzspannungsquelle der Spannung Uref speist den invertierenden Eingang des ersten Operationsverstärkers 7 über den ersten Beschaltungswiderstand R4 mit dem Messstrom I. Der nichtinvertierende Eingang des ersten Operationsverstärkers 7 liegt über den zweiten Beschaltungswiderstand R5 an Masse. Auch hier sind je ein Pol des Hilfswiderstandes R1, des Referenzwiderstandes R2 und des zu messenden elektrischen Widerstandes R3 elektrisch miteinander verbunden. der zweite Pol des Hilfswiderstandes R1 ist auf den invertierenden Eingang des ersten Operationsverstärkers 7 geführt. Der zweite Pol des Referenzwiderstandes R2 ist mit Hilfe eines Schliesskontaktes des vierten Schalters S4 auf den Ausgang des ersten Operationsverstärkers 7 und mit Hilfe eines Schliesskontaktes des siebten Schalters S7 auf den nicht-invertierenden Eingang des zweiten Operationsverstärkers 8 geschaltet.
  • Der zweite Pol des zu messenden elektrischen Widerstandes R3 ist mittels eines Schliesskontaktes des fünften Schalters S5 mit dem Ausgang des ersten Operationsverstärkers 7 und mittels eines Schliesskontaktes des sechsten Schalters S6 mit dem nicht-invertierenden Eingang des zweiten Operationsverstärkers 8 verbunden.
  • Der Ausgang des zweiten Operationsverstärkers 8 ist auf dessen invertierenden Eingang und auf den Ausgang des Eingangsteils 1 geführt. Alle vier Schalter S4, S5, S6 und S7 besitzen nur einen einzigen Schliesskontakt. Vorteilhafterweise wird hier für diese Schalter der Analog-Schalter vom Typ CD 4066 verwendet, da dieser ein Vierfach-Schalter ist und alle vier Schalter auf einen einzigen Halbleiter-Kristall integriert sind, was den Vorteil geringer Streuungen für die Innenwiderstände der geschlossenen Schalter-Schl iesskontakte hat.
  • Funktionsbeschreibung des Eingangsteils nach der Fig. 2 Aus der Schaltungstheorie der Operationsverstärker ist bekannt, dass für den zweiten Beschaltungswiderstand R5 der gleiche Ohmwert zu wählen ist wie für die Parallelschaltung aus dem ersten Beschaltungswiderstand R4 und dem Rückkopplungswiderstand des ersten Operationsvt-rstärkers 7. Wie aus der Theorie der Operationsverstärker ebenfalls bekannt, liegt der invertierende Eingang des Operationsverstärkers 7 virtuell an Masse und bildet somit den Bezugspunkt aller Spannungen. Der Messstrom I ist daher gleich Uref/R4. Da der invertierende Eingang des ersten Operationsverstärkers 7 hochohmig und daher sein Eingangsstrom gegenüber dem Messstrarn I vernachlässigbar klein ist, durchfliesst der gesamte Messstrom I auch, nachdem er den Beschaltungswiderstand R4 durchquert hat, den Hilfswiderstand R1. Der zweite Operationsverstärker 8 ist als nicht-invertierender Verstärker mit Verstärkungsfaktor 1 geschaltet.
  • Während der ersten Messung sind die Schliesskontakte des fünften Schalters S5 und des siebten Schalters 57 geschlossen. Da der n icht-i nvertierende E ingang des zweiten Operationsverstärkers 8 ebenfalls hochohrnig und daher sein Eingangsstrom gegenüber dem Messstrom I vernachlässiybar klein ist, fliesst der Messstrom I vom Hilfswiderstand R1 über den zu messenden elektrischen Widerstand 113 und den geschlossenen Schliesskontakt des fünften Schalters S5 zum Ausgang des ersten Operationsverstärkers 7. Somit wird der Spannungsabfall am Hilfswiderstand R1 = = - I.R1 über den Referenzwiderstand R2, den geschlossenen Schliesskontakt des siebten Schalters S7 und den zweiten Operationsverstärker 8 auf den Ausgang des Eingangsteils 1 gegeben.
  • Dies geschieht ohne nennenswerten zusätzlichen Spannungsabfall, da der Eingangsstpom des nicht-invert ierenden Eingangs des zweiten Operationsverstärkers 8 vernachlässigbar klein ist.
  • Während der zweite Messung sind die Schliesskontakte des vierten Schalters S4 und des siebten Schalters S7 geschlossen, so dass auf die gleiche Art und Weise wie oben beschrieben diesmal der Spannungsabfall am Summenwiderstand bestehend aus Hilfswiderstand R1 und Referenzwiderstand R2 U. = - 1 (Rl + R2) 2 ermittelt wird.
  • Während der dritten Messung sind die Schliesskontakte des fünften Schalters S5 und des sechsten Schalters S6 geschlossen, so dass diesmal der Spannungsabfall am Sumrnenwiderstand bestehend aus Hilfswiderstand R1 und zu messenden elektrischen Widerstand R3 Ui3 = - I.(R1 + R3) gemessen wird.
  • Die so erhaltenen drei Messresultate sind abgesehen vom Vorzeichen die gleichen wie diejenigen, welche durch die Widerstands-Messeinrichtung nach der Fig. 1 erzielt wurden.
  • Leerseite

Claims (6)

  1. PATENTANSPRUECHE ¼ Verfahren zur Messung eines elektrischen Widerstandes mit Hilfe eines Spannungsmessgerätes und einer einen Messstrom liefernden Konstantstromquelle, dadurch gekennzeichnet, dass mit Hilfe von Schaltern (51, 52 53 bzw. S4, S5, 56, S7) und eines Steuergerätes (6) in einer ersten Messung der Spannungsabfall an einem Hilfswiderstand (R1), in einer zweiten Messung der Spannungsabfall an einem Summenwiderstand bestehend aus dem Hilfswiderstand (R1) und einem Referenzwiderstand (R2) und in einer dritten Messung der Spannungsabfall an einem Summenwiderstand, bestehend aus dem Hilfswiderstand (R1) und dem zu messenden elektrischen Widerstand (R3), gemessen wird, wobei bei allen drei Messungen des gleiche Messstrom (1) die verschiedenen Widerstände (Rl, R2, R3) durchfliesst, dass ferner die drei Spannungsmesswerte (U01, Uö2, U03) in einem Speicher (4) gespeichert und nach Beendigung der dritten Messung mit Hilfe eines Rechners (5) so ausgewertet werden, dass unbekannte und/ oder variable Eichparameter (A, 8) eliminiert werden.
  2. 2. Einrichtung zur Messung eines elektrischen Widerstandes, welche ein Spannungsmessgerät und eine Konstantstromquel le enthält, gekennzeichnet durch die Anordnung eines Hilfswiderstandes (ei), eines Referenzwiderstandes (R2), mehrerer Schalter (S1, S2, S3 bzw. 54, S5, S6, 57) zum zeitlich aufeinander folgenden Verbinden der Konstantstromquelle (2) und des Spannungsmessgerätes (3) mit dem Hilfswiderstand (ei), mit dem Summenwiderstand bestehend aus Hilfswiderstand (R1) und Referenzwiderstand (R2) und mit dem Summenwiderstand bestehend aus Hilfswiderstand (R1) und zu messenden elektrischen Widerstand (R3), eines Steuergerätes (6) zum Steuern der Schalter (51, S2, 53 bzw. S4, S5, 56, S7), eines Speichers (4) zum Speichern von mindestens drei Spannungsmesswerten (U01, U02, U03) und eines Rechners (5) zur Eliminierung von unbekannten und/oder variablen Eichparametern (A, B).
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Eliminierung der Eichparameter (A, B) mit Hilfe der Beziehung R3 = R2. (U03 - 01 )/(U02 - U01) erfolgt, wobei U03 den Spannungsmesswert der dritten Messung, U02 den Spannungsmesswert der zweiten Messung, U01 den Spannungsmesswert der ersten Messung, R3 den Wert des zu messenden elektrischen Widerstandes und R2 den Wert des Referenzwiderstandes darstellt.
  4. 4. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Spannungsmessgerät (3) ein Anatog/Digitat-Wandter und der Rechner (5) ein Digitalrechner ist.
  5. 5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Anatog/Digital-Wandler ein Spannungs/Frequenz-Wandler ist und die Spannungsmesswerte (U01, U02, U03) Frequenzmesswerte (f01, f02, f03) sind.
  6. 6. Einrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Rechner (5), der Speicher (4) und das Steuergerät (6) Teile eines Mikrocornputers sind.
DE19813101994 1980-12-18 1981-01-22 Verfahren zur Messung eines elektrischen Widerstands und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens Expired DE3101994C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH934380A CH653445A5 (de) 1980-12-18 1980-12-18 Verfahren und einrichtung zur messung eines elektrischen widerstandes.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3101994A1 true DE3101994A1 (de) 1982-07-08
DE3101994C2 DE3101994C2 (de) 1982-10-14

Family

ID=4350978

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19813101994 Expired DE3101994C2 (de) 1980-12-18 1981-01-22 Verfahren zur Messung eines elektrischen Widerstands und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens

Country Status (2)

Country Link
CH (1) CH653445A5 (de)
DE (1) DE3101994C2 (de)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3634052A1 (de) * 1986-10-07 1988-04-21 Philips Patentverwaltung Verfahren und schaltungsanordnung zur messung des widerstandswertes eines sensorwiderstandes
DE3634053A1 (de) * 1986-10-07 1988-04-21 Philips Patentverwaltung Verfahren und schaltungsanordnung zur messung der widerstandswerte zweier in reihe geschalteter sensorwiderstaende
DE3634051A1 (de) * 1986-10-07 1988-04-21 Philips Patentverwaltung Verfahren zur ermittlung der stellung des abgriffes eines widerstandsferngebers
DE3735900A1 (de) * 1987-10-23 1989-05-11 Audi Ag Verfahren zum messen eines widerstandswertes
EP0524086A1 (de) * 1991-07-18 1993-01-20 Societe D'applications Generales D'electricite Et De Mecanique Sagem Verfahren zur Messung eines Widerstandes durch Auswertung der Ladezeiten eines Kondensators
DE19825436C2 (de) * 1998-05-29 2002-08-14 Fraunhofer Ges Forschung Schaltungsanordnung zur eigenkalibrierten Impedanzmessung
CN104007322A (zh) * 2014-06-12 2014-08-27 中国人民解放军第四军医大学 一种用于电阻抗成像的高精度数据采集系统
CN105467219A (zh) * 2014-09-04 2016-04-06 盛微先进科技股份有限公司 负载阻抗测量系统和方法
EP2546664A3 (de) * 2011-07-13 2016-11-02 ThyssenKrupp Marine Systems GmbH Verfahren zur Überprüfung einer Messanordnung zur Spannungsbestimmung und Verfahren zum Laden einer ladbaren Spannungsquelle
EP3421940A1 (de) * 2017-06-26 2019-01-02 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Sensorschaltungsanordnung

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1944400A1 (de) * 1969-09-02 1971-03-11 Knapp Juergen Dipl Ing Vielstellen-Messeinrichtung fuer genaue Widerstandsmessungen
DE2448337B1 (de) * 1974-10-10 1975-09-18 Digi Table Thielen Gmbh & Co K Schaltungsanordnung fuer Widerstandsmessungen

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1944400A1 (de) * 1969-09-02 1971-03-11 Knapp Juergen Dipl Ing Vielstellen-Messeinrichtung fuer genaue Widerstandsmessungen
DE2448337B1 (de) * 1974-10-10 1975-09-18 Digi Table Thielen Gmbh & Co K Schaltungsanordnung fuer Widerstandsmessungen

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3634052A1 (de) * 1986-10-07 1988-04-21 Philips Patentverwaltung Verfahren und schaltungsanordnung zur messung des widerstandswertes eines sensorwiderstandes
DE3634053A1 (de) * 1986-10-07 1988-04-21 Philips Patentverwaltung Verfahren und schaltungsanordnung zur messung der widerstandswerte zweier in reihe geschalteter sensorwiderstaende
DE3634051A1 (de) * 1986-10-07 1988-04-21 Philips Patentverwaltung Verfahren zur ermittlung der stellung des abgriffes eines widerstandsferngebers
US4803420A (en) * 1986-10-07 1989-02-07 U.S. Philips Corp. Method of determining the position of the tap on a resistance teletransmitter
DE3735900A1 (de) * 1987-10-23 1989-05-11 Audi Ag Verfahren zum messen eines widerstandswertes
FR2679339A1 (fr) * 1991-07-18 1993-01-22 Sagem Methode de mesure d'une resistance par evaluation de temps de charge d'un condensateur.
EP0524086A1 (de) * 1991-07-18 1993-01-20 Societe D'applications Generales D'electricite Et De Mecanique Sagem Verfahren zur Messung eines Widerstandes durch Auswertung der Ladezeiten eines Kondensators
DE19825436C2 (de) * 1998-05-29 2002-08-14 Fraunhofer Ges Forschung Schaltungsanordnung zur eigenkalibrierten Impedanzmessung
EP2546664A3 (de) * 2011-07-13 2016-11-02 ThyssenKrupp Marine Systems GmbH Verfahren zur Überprüfung einer Messanordnung zur Spannungsbestimmung und Verfahren zum Laden einer ladbaren Spannungsquelle
CN104007322A (zh) * 2014-06-12 2014-08-27 中国人民解放军第四军医大学 一种用于电阻抗成像的高精度数据采集系统
CN104007322B (zh) * 2014-06-12 2017-05-17 中国人民解放军第四军医大学 一种用于电阻抗成像的高精度数据采集系统
CN105467219A (zh) * 2014-09-04 2016-04-06 盛微先进科技股份有限公司 负载阻抗测量系统和方法
EP3421940A1 (de) * 2017-06-26 2019-01-02 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Sensorschaltungsanordnung

Also Published As

Publication number Publication date
DE3101994C2 (de) 1982-10-14
CH653445A5 (de) 1985-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2917237C2 (de)
DE2139999A1 (de) Zustandsfuhlerschaltung in Brücken anordnung
EP3449264B1 (de) Verfahren zum bestimmen eines laststroms und batteriesensor
EP0274767A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Ermittlung der Stellung des Abgriffes eines Widerstandsferngebers
DE3101994A1 (de) Verfahren und einrichtung zur messung eines elektrischen widerstandes
DE2944364C2 (de) Anordnung zur Messung einer Größe, die einen Feldeffekttransistor beeinflußt
DE2855482C3 (de) Verfahren zur Auswertung des Diagonalsignals einer Widerstandsbrücke und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE1438969A1 (de) Gleichstromregelungsgeraet
EP0438637A1 (de) Verfahren und Anordnung zur Ermittlung eines Effektivwertes Ieff eines mit Hilfe eines Hallelementes und einer Verstärkeranordnung zu messenden Stromes
DE2353812A1 (de) Temperaturmesschaltung
DE1058149B (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung des an einer Stelle eines elektrischen Netzes zu erwartenden Kurzschlussstromes
EP1132794B1 (de) Verfahren zur Gewinnung einer temperaturunabhängigen Spannungsreferenz sowie Schaltungsanordnung zur Gewinnung einer derartigen Spannungsreferenz
DE2203306C2 (de) Schaltungsanordnung zur Nullpunktsverschiebung von Meßspannungen
DE287765C (de)
DE1932005C (de) Direkt anzeigendes Leitfähigkeitsmeßgerät
DE662516C (de) Vorrichtung zur Messung der Wasserstoffionenkonzentration
DE943420C (de) Schaltungsanordnung zum Messen elektrischer Wirk- und Scheinwiderstaende
DE945464C (de) Schaltungsanordnung zum Messen elektrischer Spannungen oder Stroeme
DE886923C (de) Gleichstrom-Kompensationsverstaerker
DE1538362C (de) Stabilisiertes Netzgerat mit die elektrischen Ausgangsgroßen anzeigenden Meßgeraten
DE925215C (de) Schaltungsanordnung zur Messung der Zeitdauer einzelner elektrischer Impulse
DE2842041A1 (de) Verfahren zur korrektur der empfindlichkeit der auswaegeeinrichtung von elektrischen waegeanlagen und schaltungsanordnung zur ausuebung des verfahrens
DE2030671A1 (de) Korrosionsgeschwindigkeitsmesser
DE102017223318A1 (de) Schaltung zur Erfassung einer Eingangsgröße in einem elektrischen Steuergerät
DE2163749B2 (de) Verfahren zur Eliminierung der Temperatureinflüsse einer Schaltungsanordnung mit nicht linearer Kennliniencharakteristik

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8339 Ceased/non-payment of the annual fee