DE2434381A1 - Anordnung zur photometrischen analyse von einem oder mehreren stoffen - Google Patents

Anordnung zur photometrischen analyse von einem oder mehreren stoffen

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DE2434381A1
DE2434381A1 DE2434381A DE2434381A DE2434381A1 DE 2434381 A1 DE2434381 A1 DE 2434381A1 DE 2434381 A DE2434381 A DE 2434381A DE 2434381 A DE2434381 A DE 2434381A DE 2434381 A1 DE2434381 A1 DE 2434381A1
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David Frederick Sacarisen
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TDK Micronas GmbH
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Deutsche ITT Industries GmbH
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Description

Deutsche ITT Industrie GmbH 2434381
Freiburg
D.F. Sacarisen 1
Anordnung zur photometrischen Analyse von einem oder mehreren Stoffen
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur photometrischen Analyse von einem oder mehreren Stoffen, insbesondere zur ■ photometrischen Analyse von Gichtgasen oder Gasen in einem' Bauchabzug, bei der eine Sonde eines photometrischen Prüfgerätes mit ihrem äußeren Ende in einen zumindest teilweise geschlossenen Raum mit dem bzw. den zu analysierenden Stoff(en) hineinragt.
Eine Anordnung dieser Art ist beschrieben in der deutschen Patentanmeldung P 23 24 049-5- Bei dieser Anord-
vo/poe
9-7-74 - 2
509809/1009
D.F. Sacarisen 1 - 2 -
nung ist das Ergebnis der photometrischen Analyse jedoch nicht unabhängig von der Temperatur des analysierten Stoffes "bzw. der analysierten Stoffe.
Aufgabe der Erfindung ist es, die Analyse temperaturunabhängig zu machen. Zur Lösung dieser Aufgabe ist die eingangs geschilderte Anordnung so ausgebildet, daß das photometrische Prüfgerät ein Ausgangssignal SQ
der Form S = e e, erzeugt, wobei e ein einem Parameter ο ο t D ' ο
(z.B. Temperatur) eines der Stoffe direkt proportionales Signal und e, eine dimensionslose Funktion der in Grad Kelvin ausgedrückten Temperatur dieses Stoffes ist, daß das Ausgangssignal S des photometrischen Prüfgerätes dem Eingang einer Verstärkerschaltung nit variablem Verstärkungsgrad zugeführt wird und daß ein von der Temperatur des vorgenannten Stoffes beeinflußter Temperaturfühler auf die Verstärkerschaltung so einwirkt, daß diese an ihrem Ausgang ein Aus gangs signal abgibt, das dem Produkt aus dem Äusgangssignal S des photometrischen Prüfgerätes und dem Reziprokwert von e, direkt proportional ist. Auf diese Veise wird eine verläßliche Temperaturkompensation erreicht.
Nachfolgend wird die Erfindung mit ihren weiteren Merkmalen und Vorteilen anhand der Zeichnung näher erläutert. In dieser zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Anordnung,
Fig. 2 eine schematische Darstellung einer
Sonde eines bei der erfindungsgemäßen Anordnung verwendbaren photometrischen Prüfgerätes und
509809/1009 - 3 -
D.I. Sacarisen 1 3 -
Pig. 3 das Schaltbild eines Ausführungsbeispiels der in der Anordnung nach Pig. 1 verwendeten Temperaturkompensationsschaltung.
Gemäß Pig. 1 weist ein photometrisches Prüfgerät 10 zwei Ausgänge 11 und 12 auf. An den Ausgang 11 ist ein Punktiongsgenerator 13, an diesen eine Temperaturkompensationsschaltung 14 und an diese eine Anzeige 15 angeschlossen. In analoger Weise sind an den Ausgang 12 ein Punktionsgenerator 16, eine Temperaturkompensationsschaltung 17 und eine Anzeige 18 - und zwar in dieser Reihenfolge - angeschlossen.
Das photometrische Prüfgerät 10 weist eine Sonde 19 auf, an deren äußerem Ende ein Gehäuse 20 angebracht ist. In diesem Gehäuse 20 sind temperaturempfindliche Widerstände 21,22,23 und 24 angeordnet, wobei jeder der Widerstände und 22 mit seinen beiden Anschlüssen an die Temperaturkompensationsschaltung 14 und jeder der beiden Widerstände und 24 mit seinen beiden Anschlüssen an die Temperaturkompensationsschaltung 17 angeschlossen ist.
Mit Ausnahme des Gehäuses 20 und der darin angeordneten Widerstände kann das photometrische Prüfgerät in etwa so ausgestaltet sein, wie das in der deutschen Patentanmeldung P 23 24 O49.5 beschriebene.
Wie aus Pig. 2 ersichtlich, kann die Sonde 19 durch eine
Mauer 25 eines Schachts hindurchragen. Dabei soll sich in Pig. 2 rechts von der bei 25 angedeuteten Maue'r das Innere des Schachts befinden und links davon der Außenraum.
509809/1009 . - 4 -
D.F. Sacarisen 1 - 4 -
Der in Fig. 1 gezeigte Funktionsgenerator kann ein konventioneller, mit vorgespannter Diode versehener Funktionsgenerator sein, der dazu dient, ITichtlineaitäten des Ausgangssignals des photometrisehen Prüfgerätes 10, die nicht von der Temperatur abhängen, zu eliminieren. Der Funktionsgenerator 16 kann - muß a"ber nicht - identisch zum Funktionsgenerator 13 ausgebildet sein.
Die Temperaturkompensationsschaltung 14- eliminiert Fehler, die durch die Temperatur verursacht werden. Dasselbe gilt für die Temperaturkompensationsschaltung 17. Die beiden Temperaturkompensationsschaltungen 14 und 17 können - müssen aber nicht - gleichartig ausgebildet sein.
Bei den Anzeigen 15 und 18 kann es sich um Gleichspannungsmesser handeln, die evtl. in Volumen pro Volumeneinheit geeicht sein können.
Aus Vorstehendem ist erkennbar, daß die Anordnung nach Fig. 1 dazu dient, mittels der Anzeigen 15 und 18 die Mengen von zwei Gasen in einem Bauchabzug oder einer Esse anzuzeigen. Beispielsweise kann die Anzeige 15 die Menge von SO^ anzeigen und die Anzeige 18 die Menge von
Die in Fig. 3 näher dargestellte Temperaturkompensationsschaltung 14 weist eine Eingangsklemme 26 und eine Ausgangsklemme .27 auf. Zwei Widerstände 29 und 30 sind in Reihe zwischen die Eingai^klemme 26 und einem Eingangsknoten 28 geschaltet. Die Temperaturkompensationsschaltung 14 weist weiterhin einen Differenzverstärker 31 mit einem invertierenden Eingang 32, einem nichtinverti er enden Ein-
- 5 509809/1009
D.P. Sacarisen 1 - 5 -
gang 32 und einem Ausgang 34- auf. Weitere in der Schaltung vorhandene Verbindungsknoten sind mit 35 TDe zeichnet.
Ein Potentiometer 55 mit einer Widerstandswicklung 56 und einem Abgreifer y] ist so geschaltet, daß die Widerstandswicklung 56 zwischen einem Potential +V und einem Potential -V liegt, während der Abgreifer 57 über einen Widerstand 58 mit dem Verbindung skno ten 47 verbunden ist. Dieser Verbindungsknoten 4-7 liegt über einen Widerstand 59 an Masse und außerdem ist er über einen Widerstand 60 mit dem nicht-invertierenden Eingang 33 des Differenz-verstärkers 31 verbunden. Die Verbindungsknoten 35^36,37? 38 und 39 sind alle mit dem Eingangsknoten 28 verbunden. Der Verbindungsknoten 35 ist mit dem invertierenden Eingang 32 des Differenzverstärkers 31 verbunden und außerdem über einen Kondensator 61 mit einem Verbindungsknoten 42. An diesen Verbindungsknoten 42 ist auch der Ausgang 34 des Differenzverstärkers angeschlossen. Der Verbindung skno ten 42 ist schließlich mit einem Verbindungsknoten 43 verbunden, der über einen Widerstand 62 an einen Verbindungsknoten 44 angeschlossen ist, der seinerseits über einen Kondensator 63 an Masse liegt. An den Verbindungsknoten 44 ist auch die Ausgangsklemme 27 angeschlossen.
An die Eingangsklemme 26 der Fig. 3 ist, wie in Pig. 1 gezeigt, der Punktionsgenerator 13 angeschlossen. An die Ausgangsklemme 27 ist, wie ebenfalls in Pig. 1 gezeigt, die Anzeige 15 angeschlossen.
Zwischen den Verbindungsknoten 45 und 46 der in Pig. 3 gezeigten Schaltung liegt die Wicklung 65 eines Eelais 64, das einen Wechselkontakt 66 mit einer Kontaktzunge 69
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D.I1. Sacarisen 1 - 6 -
und zwei Kontakten 6? und 68 steuert. Der Verbindungsknoten 36 ist über einen Widerstand 70 an einen Verbindungsknoten 4-1 angeschlossen, der über die Widerstandswicklung 72 eines Potentiometers 71 an d-en Eingangsknoten 28 angeschlossen ist. Der Abgreifer 73 des Potentiometers 71 ist mit dem Verbindungsknoten 37 verbunden. Der Verbindungsknoten 4-1 ist weiterhin über die Reihenschaltung der Widerstände 7^? 21 und 75 an den Eontakt 68 angeschlossen.
Der Verbindungsknoten 38 liegt über einen Widerstand 76 an einem Verbindungsknoten 4-0. Ein Potentiometer 77 liegt mit seiner Widerstandswicklung 78 zwischen den Verbindungsknoten 39 und 40, während sein Abgreifer 79 an den Verbindungsknoten 39 angeschlossen ist. Der Verbindungsknoten 4-0 liegt über die in Reihe geschalteten Widerstände 80 und 81 am Eontakt 67.
Ein Verbindungsknoten 4-8 ist einmal über einen Widerstand 82 an ein Potential Vß und zum anderen über einen Widerstand 83 an einen Verbindungsknoten 4-9 angeschlossen, der seinerseits über einen Widerstand 84- mit einem Verbindungsknoten 50 verbunden ist. Der Verbindungsknoten liegt über einen Widerstand 85 an Masse. Der Verbindungsknoten 4-8 ist schließlich über einen Widerstand 86 an einen Verbindungsknoten 52 angeschlossen, der über einen Widerstand 87 mit einem Verbindungsknoten 51 verbinden ist. Parallel zu diesem Widerstand 87 liegt zwischen den Verbindungsknoten 51 und 52 die Widerstandswicklung 89 eines Potentiometers 88, dessen Abgreifer 90 mit einem Verbindungsknoten 53 verbunden ist.
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D.F. Sacarisen 1 - 7 -
Die Schaltung weist einen weiteren Differenzverstärker-91 mit einem nicht-invertierenden Eingang 92, mit einem invertierenden Eingang 93 und einem Ausgang 94- auf.
Der Verbindungsknoten 53 ist einmal an den nicht-invertierenden Eingang 92 des Differenzverstärkers 91 angeschlossen und zum anderen über einen Widerstand 95 aneinen Verbindungsknoten 54-· Der invertierende Eingang 93 des Differenzverstärkers 91 ist an den Verbindungsknoten 4-9 angeschlossen und der Ausgang 94- dieses Verstärkers an den Verbindungsknoten 54·. Die Verbindungsknoten 50 und 51 sind miteinander über die Reihe liegenden Widerstände 96 und 22 verbunden. Weiterhin ist ein Transistor 97 vorgesehen, dessen Basis 100 über einen Widerstand 101 an den Verbindungsknoten 54- angeschlossen ist, dessen Emitter 99 an Masse liegt und dessen Kollektor 98 an den Verbindungsknoten 4-6 angeschlossen ist. Zwischen den Verbindungsknoten 4-5 und 4-6 liegt eine Diode 102, die so gepolt ist, daß sie in Richtung zum Verbindungsknoten 4-5 leitend ist. Der VerMndungsknoten 4-5 liegt am Potential +V.
Die Wirkungsweise der Temperaturkompensationsschaltung 14- kann wie folgt erläutert werden:
Der Differenzverstärker 3I ist so geschaltet, daß er eine temperaturabhängige Verstärkung "bewirkt, wenn die Kontaktzunge 69 mit dem Kontakt 68 im Eingriff ist. Dies ist eine Folge des Umstandes, daß der Widerstand 21 temperaturabhängig ist. Wenn nun das temperaturabhängige Ausgangssignal des Eunktionsgenerators 13 der Eingangsklemme 26 zugeführt wird, tritt an der Ausgangsklemme 27 ein Ausgangssignal auf, das nicht mehr temperaturabhängig ist.
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D.F. Sacarisen 1 - 8 -
Es hat sich gezeigt, daß der vom photometrischen Prüf- , gerät 10 erzeugte Temperaturfehler ziemlich linear ist in einem Bereich von "beispielsweise 34-5 "bis 600 Kelvin. Allerdings benötigt man im Bereich unterhalt 34-5 Kelvin praktisch keine Temperaturkompensation. Demgemäß wirkt der mit 103 "bezeichnete Teil der Schaltung nach Fig. 3 als Brückenschaltung dargestellt, daß das Relais 64- abfällt, wenn die Temperatur des Gases unter 34-5 Kelvin fällt. Beim Abfall des Relais 64- kommt die Kontaktzunge 69 unter Wirkung einer Feder in Eingriff mit Kontakt 67 und dies hat zur Folge, daß die Schaltung des Verstärkers 31 mit konstantem Verstärkungsfaktor arbeitet.
Das Potentiometer 55 erzeugt eine konstante, aber einstellbare Eingangsgleichspannung für den nicht-invertierenden Eingang 33 des Differenzverstärkers 31· Der Widerstand 95 bewirkt eine positive Rückkopplung für den Differenzverstärker 91 und dies hat einen schnelleren Abfall des Relais 64- zur Folge.
Wie erwähnt, kann die Anordnung nach Fig. 1 verwendet werden zur Mengenanzeige von einerseits SOp und andererseits UOp. Sofern erwünscht, kann die Anordnung auch zur Messung der Menge nur eines Gases eingerichtet sein. Es kann auch eine einzige Anzeige verwendet werden, die über einen Umschalter angeschlossen wird. Ebenso kann mit Hilfe von Umschaltern auch nur ein einziger Funktionsgenerator und/ oder eine einzige Temperaturkompensationsschaltung verwendet werden.
Das am Ausgang 11 des photometrischen Prüfgerätes 10 oder am Ausgang des Funlctionsgenerators 13 auftretende Signal kann eine Gleichspannung S sein, für die gilt S =e e..
mm Q mm
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D.I1. Sacarisen 1 - 9 -
Wenn dem so ist, wird e ein einem Parameter eines Gases - z.B. seiner Konzentration - direkt proportionales Signal.sein. e. ist eine dimensionslose Punktion der in Grad Kelvin ausgedrückten Temperatur. Das an der Ausgangsklemme 27 der Schaltung nach. I1Xg. 3 auftretende Signal ist dann direkt proportional dem Produkt aus S„ und dem Reziprokwert von e, .
O 0
Es wurde festgestellt, daß ziemlich, genau gilt
et = At + B
wobei .
A eine pro Grad Kelvin konstante, positive, aber sonst dimensionslose Größe ist und
B eine positive, dimensionslose Konstante ist.
Der Widerstand 21 kann als ein erster Widerstand mit einem ersten Widerstandswert, der eine !Funktion der in Grad Kelvin ausgedrückten Temperatur ist, "bezeichnet werden. Dann gilt für den ersten Widerstandswert H(t):
E(t) = E0I1Ct)
wobei EQ der Widerstandswert des Widerstandes 21 bei der Temperatur t = t ist.
Die Summe der Widerstandswerte der Widerstände 29 und JO kann bezeichnet werden als der äquivalente Serienwiderstandswert eines ersten Zweiges, der von der Eingangsklemme einer Schaltung mit veränderlichem Verstärkungsfaktor zum Eingangsknoten 28 führt. Dieser äquivalente Widerstandswert wird mit E bezeichnet. Der vom Eingangs-
- 10 509809/ 1 009
D. 1. Sacarisen 1
knoten 28 zu der Leitung 105 führende Widerstandszweig kann als ein zweiter Widerstands zweig "bezeichnet werden, der den Eingangsknoten 28 mit einer ersten Anschlußklemme des Widerstandes 21 verbindet. Der Widerstand 75 kann als dritter Widerstandszweig "bezeichnet werden, der die zweite Anschlußklemme des Widerstandes 21 mit dem Ausgang 3^ des Differenzverstärkers 31 verbindet, und gemeinsam mit dem Widerstand 21 und dem zweiten Widerstandszweig einen temperatürabhängigen RückKopp lungsweg für den Verstärker 31 bildet. Die Summe der äquivalenten Widerstandswerte des zweiten und dritten Zweiges wird mit E. bezeichnet. Der Widerstand 21 und die drei genannten Widerstandszweige sind nun so ausgebildet , daß
f(t) =
wobei C eine willkürlich gewählte, positive, dimensionslose Eonstante mit einem Wert größer Null ist.
Der Widerstand 21 kann vorzugsweise aus Wickel bestehen. Die Wahl des Materials für den Widerstand 22 ist nicht kritisch.
Der Widerstand 22 hat einen positiven Temperaturkoeffizienten. Wäre er negativ, müßten die Eingänge des Differenzverstärkers 91 vertauscht oder andere Maßnahmen getroffen werden.
Für eine realisierte Haltung gemäß Fig. 3 erwiesen sich folgende Werte als praktikabel:
0 Ea - Eo
-At + B Eo
- 11 -
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JD.F. Sacarisen 1
Kondensator 61 1 Mikrofarad + 1 %
Kondensator 63 " 33 Mikrofarad + 1 %
Potentiometer 55 20 kr*. + 1 %
Potentiometer 71 100 CX. + 5 %
Potentiometer 77 100 n. + 5 %
Potentiometer 88 100 Λ.
Widerstand 29 4,5.CL
Widerstand 30 670 n-
Widerstand 58 100 kn.
Widerstand 59 100 λ
Widerstand 60 240 ω-
Widerstand 62 10 krx + Λ %
Widerstand 70 10 Ol + 1 %
Widerstand 74 495 ο. + 1 %
Widerstand 75 5 λ + 1 %
Widerstand 76 10 ex. + 1 %
Widerstand 80 495 ω. + 1 %
Widerstand 81 5 Ol + 1 %
Widerstand 82 220 CL
Widerstand 83 1780 sx + 5 %
Widerstand 84 1780 ω_
Widerstand 85 220 λ
Widerstand 86 178 CL
Widerstand 87 10 Λ-
Widerstand 95 900 kra.
Widerstand 96 5 Λ
Widerstand 101 5100 Λ
Transistor 97 2F5 135
Bei einem photometrischen Prüfgerät gemäß der vorgenannten deutschen Patentanmeldung P 23 24 049.5 haben sich für A und B folgende Werte ergeben:
A =* 0.001231
B - 1.425
509809/1009 - 12 -
D.F. Sacarisen 1 - 12 -
Die hier "beschriebene Anordnung arbeitet bei Verwendung eines Nickel-Widerstandes als Widerstand 21 besonders zufriedenstellend und praktisch ohne untere Temperatürgrenze. Sie sollte vorzugsweise nicht verwendet werden in Temperaturbereichen, die wesentlich über 600° bis 700° Eelvin liegen. Die hierin angegebenen Bedingungen und Formeln gelten jedoch grundsätzlich sowohl für beschränkte, als auch für sehr große bis unbeschränkte Temperaturbereiche.
Die Kurve f(t) ist im allgemeinen keine Funktion von R Ob dies jedoch so ist oder nicht, spielt im Ergebnis keine Rolle. Es bestehen vier Freiheitsgrade zur genauen, aber nicht notwendigerweise perfekten Anpassung der Kurve
! -At + B
L J
R.
Lj
an f(t) und/oder vice-versa. Bekanntlich ist es unmöglich, eine Anordnung mit perfekter Genauigkeit herzustellen. Die vier Freiheitsgrade sind R , R , R, und C.
oau
Der Faktor C kann, muß aber nicht, gleich 1 sein. Wenn der Widerstand 21 aus einer Widerstandsdrahtwicklung besteht, wobei die Drahtlänge L und der über die ganze Länge gleiche Drahtdurchmesser D ist, kann R variiert werden durch Änderung von L und/oder D. Dies ist eine Folge der wohlbekannten Beziehung
4-O L
R = -^-2-
- 13 509809/1009
D.F. Sacarisen 1 - 13 -
<!o = der spezifische Widerstand des den Widerstand 21 bildenden Widerstandsdrahtes ist,
L = "die Länge des den Widerstand 21 bildenden Widerstandsdrahtes ist und
D = der Durchmesser des den Widerstand'21 bildenden ο
Widerstandsdrahtes ist. ;
Wie bereits erwähnt, können die Faktoren L und/oder D variiert werden,um R zu verändern. Die Faktoren 1^* , L und.D geben Werte für spezifischen Widerstand, Drahtlänge und Drahtdurchmesser an bei t = tQ. Die Temperatur t kann gleich 273° Kelvin gewählt sein, sie kann aber auch einen anderen Wert haben.
Die Kurve f(t) ist im allgemeinen keine Funktion von L oder D . Ob dies so ist oder nicht, spielt jedoch keine Rolle. Zur Anpassung der Kurve können auch unregelmäßige Widerstandsformen für den Widerstand 21 verwendet werden. Zur optimalen Anpassung können auch mehrere untereinander gleiche oder in bezug aufeinander verschiedene'Widerstandsgebilde "Verwendung finden. Wie erwähnt, kann der Widerstand 21 aber auch aus einer Wicklung bestehend aus ■Widerstandsdraht konstanten Durchmessers gebildet sein. "'■--'
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Claims (1)

  1. D.F. Sacarisen - 14
    Patentansprüche
    Anordnung zur photometrischen Analyse -von einem oder mehreren Stoffen, insbesondere zur photometrischen""Analyse von Gichtgasen oder Gasen in einem Rauchabzug, "bei der eine-Sonde eines photometrischen Prüfgerätes mit ihrem äußeren Ende in
    einen zumindest teilweise geschlossenen Raum mit dem "bzw. den zu. analysierenden. Stoff (en) hineinragt , dadurch gekennzeichnet >"- daß das photometrische Prüfgerät (10) ein Ausgangssignal S- der Form S = e e, erzeugt, wobei e ein einem Parameter (z.B. Temperatur) eines der Stoffe ■( ζ * B. SOp) direkt proportionales Signal und e, eine-.-,dimensionsIose Funktionder. in Grad Kelvin ausgedrückten -Temperatur dieses Stoffes (z.B. - SOp) ist,. daß .das Ausgangssignal SQ des photometrischen Prüfgerätes_(10) dem Eingang; ( 26) " einer Verstärkerschaltung (Fig. - J.) mit variablem .Verstärkungsgrad zugeführt wird, und daß ein von der Temperatur desvorgenannten Stoffes : .; .(z.B. S.Op) beeinflußter Temperatnirfühler (21) auf die Yer stärker schaltung so einwirkt,, daß diese an ihrem Ausgang (.27) ein Ausgangssignal abgibt,, das ■ dem Produkt aus dem Ausgangssignal S des photometrischen Prüfgeräts (10) und dem Eeziprokwert von e, direkt proportional, ist.: . ;
    2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Ausgang; (2?) der Verstärkerschaltung anöden Eingang einer Auswerteeinrichtung: .(15) angeschlossen
    509809/1 00 9
    D.I1. Sacarisen 1 - 15 -
    3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,, daß die Auswerteeinrichtung aus einem Spannungsmeßgerät "besteht, das in Volumen pro Volumeneinheit geeicht ist.
    4. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß für e, gilt
    et = -At + B
    wobei A eine positive, dimensionslose, pro Grad Kelvin konstante Größe und B eine positive, dimensionslose, konstante Größe ist.
    5· Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Eingang (26) der Verstärkerschaltung über einen ersten Widerstandszweig (29,30) an einen Eingangsknoten (28) angeschlossen ist, der seinerseits mit einem invertie-' renden Eingang (32) eines Verstärkers (31) verbunden ist,und daß der Temperaturfühler einen temperaturabhängigen Widerstand (21) umfaßt, dessen erster Anschluß (105) über einen zweiten Widerstandszweig (70,71,74) an den Eingangsknoten (28) und dessen zweiter Anschluß über einen dritten Widerstandszweig (75) an denmLt dem Ausgang (27) der Verstärkerschaltung verbundenen (über 43,62,44) Ausgang (34) des Verstärkers (31) anschließbar (über 68, 69,43,42) ist.
    6. Anordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Verstärker (31) als Differenzverstärker ausgebildet ist, der einen nicht-invertierenden Eingang (33) aufweist, der über Einstellschaltmittel (55) an einer konstanten, bezüglich ihrer Größe einstellbaren Gleichspannung liegt.
    509 8097 1009 - 16 -
    D.F. Sacarisen 1 - 16 -
    7. Anordnung nach. Anspruch 5 oder 6, dadurch, gekennzeichnet, daß ein Umsehaltekontakt (66) in seiner ersten Schaltstellung (Eontaktzung 69 in Eingriff mit Eontakt 68) den dritten Widerstandszweig (75) mit dem Ausgang des Verstärkers (31) verbindet und in seiner zweiten Schaltstellung (Eontaktzunge 69 in Eingriff mit Eontakt 67) den Eingangsknoten (28) über einen temperaturabhängigen Widerstandszweig (76,77,80,81) an den Ausgang (34·) des Verstärkers (31) anschließt, und daß ein weiterer, von der Temperatur des zu analysierenden Stoffes (z.B. SOp) beeinflußter Temperaturfühler (22) vorgesehen ist, der Schaltmittel (103,91,97,65) beeinflußt, die den Umschaltekontakt (66) in seine zweite Schaltstellung (Eontaktzunge 69 in Eingriff mit Eontakt 67) bringen, wenn die Temperatur des weiteren Temperaturfühlers (22) unter einen vorbestimmten Wert sinkt, und die den Umschaltekontakt (66) in seine erste Schaltstellung (Eontaktzunge in Eingriff mit Eontakt 68) bringen, wenn die Temperatur des weiteren Temperaturfühlers (22) diesen vorbestimmten Wert überschreitet.
    8. Anordnung nach Anspruch 75 dadurch gekennzeichnet, daß der vorbes
    Eelvin beträgt
    daß der vorbestimmte Wert der Temperatur etwa 34-5°
    Anordnung nach einem oder mehreren der Ansprüche 5 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Widerstandswert E(t) des temperaturabhängigen Widerstandes (21) des Temperaturfühlers eine !Funktion der in Grad Eelvin ausgedrückten Temperatur ist, für die in etwa gilt
    E(t) = EQf(t)
    509809/1009
    - 17 -
    D.I1. Sacarisen 1 - 17 -
    wobei E der Viderstandswert des temperaturabhängige!!. Widerstandes (21) "bei der Temperatur t = t ist, daß der Widerstand des ersten Widerstandszweiges (29,30) den Wert E und der gesamte Widerstand des zweiten und dritten Widerstandszweiges (70,71,74 und 75) den Wert R^ hat und daß diese Werte so gewählt sind, daß für f(t) gilt
    Γ Ί γ ι Γ ι
    f(t) =
    j j -ä.| BiE1 J ! °-
    j
    -At +BiE1 ; E
    J ! ° 0J
    10. Anordnung nach einem oder mehrerer der Ansprüche 5 "bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß .der temperaturabhängige Widerstand (21) des Temperaturfühlers aus Nickel besteht.
    509809/Ί009
    Leer seife
DE2434381A 1973-07-20 1974-07-17 Anordnung zur photometrischen analyse von einem oder mehreren stoffen Withdrawn DE2434381A1 (de)

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