JPH04148846A - 濃度補正装置 - Google Patents

濃度補正装置

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JPH04148846A
JPH04148846A JP2274039A JP27403990A JPH04148846A JP H04148846 A JPH04148846 A JP H04148846A JP 2274039 A JP2274039 A JP 2274039A JP 27403990 A JP27403990 A JP 27403990A JP H04148846 A JPH04148846 A JP H04148846A
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JP
Japan
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temperature
pressure
concentration
time
measured
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Pending
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JP2274039A
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English (en)
Inventor
Akio Wada
明生 和田
Mitsuo Watanabe
光男 渡辺
Yoshikazu Yuki
結城 良和
Kazunori Ebisawa
蛯沢 和憲
Masaji Nishimoto
西本 正司
Kazuhisa Hayashi
和久 林
Taketo Mizutani
健人 水谷
Kiyoji Kutsuna
喜代治 沓名
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jasco Corp
Denso Corp
Original Assignee
Jasco Corp
NipponDenso Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は濃度補正装置、特に圧力、温度により体積の変
化する試料の濃度測定結果の補正装置に関する。
[従来の技術] 液体或いは気体中の所定成分の測定を行なうため光学的
手段が広く用いられており、特に吸光度測定による濃度
測定がその操作性の良さがら汎用される。
この吸光光度法においては、試料の吸光度を測定し、そ
の測光値を予め作成しておいた検量線の式に代入して濃
度値を得ている。これは試料の吸光度が、その一定体積
中に含まれる測定対象物質の量(濃度)に依存すること
に基づいており、試料体積が条件によって変化j、ない
ことが前提となっている。
[発明が解決しようとする課題] ところがフロン等の冷媒や液化炭酸ガス等に含まれる成
分を測定する場合、圧力、温度等によってこれらの媒質
の体積が変化し、それにともなって測定目的物質の体積
あたりの含有量も変化してしまう。
この結果、吸光光度法による体積あたりの濃度が、より
本質的な量として要求される重量あたりの含有量と比例
しなくなり、正確な重量濃度の測定ができないという課
題が生じる。
この課題を解決するためには、厳密に一定の圧力・温度
下で測定を実施すれば良い。しがし、測定系の制御が極
めて高度、複雑となり、実現が困難であるばかりでなく
、装置間、測光データ間での条件不一致により、データ
に客観性が期待できなくなってしまう。
本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされたものであり
、その目的は温度、圧力にともなって体積が変化しやす
い媒質中に含まれる目的成分の濃度を正確に得ることの
できる濃度補正装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 前記目的を達成するために本出願にかかる濃度補正装置
は、補正係数演算手段及び補正手段を有する。
そして、前記補正係数演算手段は、温度測定手段及び圧
力測定手段の測定結果より、実測定時の媒質密度を基準
温度、圧力条件下の媒質密度に換算した場合の測定対象
物質の濃度を補正する補正係数を演算する。
また、補正手段は、測定手段の測定結果を、前記補正係
数により基準温度・圧力下における濃度に補正する。
[作用] 本発明にかかる濃度補正装置は前述した手段を有するの
で、温度、圧力のパラメータとして捉らえられる媒質の
体積を、一定温度、一定圧力下での体積にした場合の補
正係数により、実測定値を補正することにより、当該一
定温度、一定圧力下での測定値を仮想的に算出すること
ができる。
このため、測定時に温度、圧力が変化した場合にも、常
に一定条件下の単位重量あたり濃度を算出することが可
能となる。
[実施例] 以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する
第1図には本発明の一実施例にかかる補正装置を冷媒中
の油量測定に用いた例が示されている。
同図に示す濃度補正装置は、測定手段としての測光部1
0と、温度測定手段として測光部10近傍に配置された
温度センサー12と、圧力測定手段として測光部10近
傍に配置された圧力センサ−14と、補正係数演算手段
としての第−CPU16と、補正手段としての第二CP
UI 8と、を備える。
そして、前記測光部10、温度センサー12、圧力セン
サー14は冷媒管20にそれぞれ接続され、測光部10
は紫外線吸収スペクトルより冷媒中の単位体積あたりの
油分を測定している。また、温度センサー12、圧力セ
ンサー14はそれぞれ冷媒管20中の冷媒の温度、圧力
を測定している。
なお、各センサー12.14は測光部10に近接配置さ
れており、冷媒管も同径に構成されているため、各セン
サーの検出する温度、圧力はそれぞれ測光部10におい
て測定対象となる冷媒の温度、圧力と一致する。
一方、第−CPU16は前記センサー12,14より出
力されるアナログデータをデジタルデータに変換するA
/D変換器を備え、実際の媒体密度を基準温度、基準圧
力条件下の媒体密度に換算した場合の濃度の補正係数を
演算する。
また、第二CPU18は測光部10による測光データを
、前記補正係数に基づき基準温度、基準圧力下における
濃度に補正する。
なお、補正された結果は、濃度(重量%)としてプリン
タ、プロッタ等22に表示される。
第2図には本実施例にかかる濃度補正装置の作用を示す
フローチャート図が示されている。
同図に示すように、測定が開始される(ステップ50)
と、まず時刻関数tがゼロにリセットされる(ステップ
52)。
次に前記測光部10、温度センサー12、圧力センサー
14からそれぞれ吸光度A1圧力P、7.5度′I゛を
得る(ステップ54)。
次に第−CI) U 16において温度T及び圧力Pに
依存する補正係数81(p、 T)を演算する(ステッ
プ56)。
そして、第7’、CPUはこの補正係数a I (P、
工、に基づいて時刻tにおける濃度C(t)を演算しく
ステップ58)、チャー1・出力等により表示する(ス
テップ60)。
以」二の補正が終了したならば、次の測定に移り、八を
時間後のデータを得る(ステップ62)。
このようにして本実施例にかかる濃度補正装置によれば
、冷媒のように温度、圧力により体積が大幅に変化する
媒質中の微量成分を、重量濃度として正確に算出するこ
とができ、しかも時々刻々と温度、圧力が変化する場合
でも常に一定条件下での濃度を連続的(ザンプリング間
隔Δt)に測定することが可能となる。
次に本実施例において用いられる補正係数について説明
する。
本実施例においては、一定の温度、圧力下では濃度は吸
光度に比例する点に基づき、検量線を次の関数系として
いる。
C=f(^) ””a(1(P、Tl+al(P、T) ” A   
 ’−・■なお、上記式においてCは濃度、Aは吸光度
、Pは圧力、Tは温度である。
一方、問題としているような液体(超臨界流体をふくむ
)の体積の圧力、温度依存性は、気体の場合に準じて取
扱うことができ、P V −K 1・Tが成きγする(
 K sは定数)。
そして、同一試料についてはC−V−一定となり、且つ
吸光度は濃度に比例するからA〜C3従ってA−V=一
定(K2)と用人される。
同一の試料について測定値として得られる濃度がI)、
Tによらず一定となるには、 C=ao(PTl + at+p、n ’ A−ao+
p、n+a+tp、n’(P/T)・K+42・・・■ がP、Tに依存せず成立つ必要がある。これはal (
P、 TlがT/Pに比例する形であることを要請して
いる。
これに基づきa。、alの実験式を ・・・■ ・・・■ と表示することができる。
このα1.β1.γ1.δ、はそれぞれ定数であり、濃
度既知の試料を用いて実際に測定して、その結果から最
小2乗法等で決定する。
なお、以」二の結論は別の観点からも導かれる。
すなわち、ある圧力P1温度]゛において、C+p、n
−ao+a+”A(p、r、・・・■ かつ、 C(P、、TolV (P、、T、)= C(P、T)
・V (P、T)  −・・■が成立つ(p、、T、は
標準となる圧力、温度)。
これより、 が得られる。
実験式とじて ・・・■ を仮定すると、最終的に前記■、■、■式と同じ関数形
となる。
なお、以上説明した実施例においては、冷媒中の不純物
を測定する場合について説明したが、例えば純気体、あ
るいは超臨界流体等の場合にも適用可能である。
[発明の効果] 以上説明したように本発明にかかる濃度補正装置によれ
ば、補正係数演算手段及び補正手段を設けたので、温度
、圧力に関わらず、常に止痛゛な重足、濃度を得ること
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例にかかる濃度補正装置の構成
説明図、 第2図は第1図に示した装置の動作を示すフローチャー
1・図である。 1o・・・測光部(測定手段) 12・・・温度センサー(温度測定手段)14・・・圧
力センサー(圧力測定手段)1−6・・・第−CPU 
(補正係数演算手段)18・・・第二CPU (補正手
段)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)媒質中の測定対象物質を単位体積あたりの濃度と
    して測定する測定手段と、 前記測定手段近傍に設置され、媒質の温度を測定する温
    度測定手段と、 前記測定手段近傍に配置され、媒質の圧力を測定する圧
    力測定手段と、 前記温度測定手段及び圧力測定手段の測定結果より、実
    測定時の媒質密度を基準温度、圧力条件下の媒質密度に
    換算した場合の測定対象物質の濃度を補正する補正係数
    を演算する補正係数演算手段と、 前記測定手段の測定結果を、前記補正係数により基準温
    度・圧力下における濃度に補正する補正手段と、 を備えたことを特徴とする濃度補正装置。
JP2274039A 1990-10-13 1990-10-13 濃度補正装置 Pending JPH04148846A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06249779A (ja) * 1993-02-26 1994-09-09 Shimadzu Corp ガス分析計
JPH08159964A (ja) * 1994-12-02 1996-06-21 Tsurumi Soda Co Ltd ガス中の水分の定量方法及び試料容器
JP2008268107A (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Yokogawa Electric Corp センサユニット及びマイクロリアクタシステム
JP2010066209A (ja) * 2008-09-12 2010-03-25 Yazaki Corp 濃度測定装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5530529A (en) * 1994-12-21 1996-06-25 Xerox Corporation Fluid sensing aparatus
EP0988521A1 (en) 1998-04-14 2000-03-29 Instrumentarium Corporation Sensor assembly and method for measuring nitrogen dioxide
JP4578729B2 (ja) * 2001-07-06 2010-11-10 株式会社日本自動車部品総合研究所 油分率測定装置およびこれを用いた冷凍装置
US20080041081A1 (en) * 2006-08-15 2008-02-21 Bristol Compressors, Inc. System and method for compressor capacity modulation in a heat pump
US8790089B2 (en) 2008-06-29 2014-07-29 Bristol Compressors International, Inc. Compressor speed control system for bearing reliability
US8601828B2 (en) * 2009-04-29 2013-12-10 Bristol Compressors International, Inc. Capacity control systems and methods for a compressor
CN110376131A (zh) * 2019-08-05 2019-10-25 江苏禾吉新材料科技有限公司 一种分布式多参量光纤气体检测系统及检测方法
CN114674973A (zh) * 2022-04-06 2022-06-28 云南中烟工业有限责任公司 大气压强对卷烟主流烟气检测结果影响的修正方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52124388A (en) * 1976-04-12 1977-10-19 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Measurement of exhaust gas
JPS6197552A (ja) * 1984-10-19 1986-05-16 Toshiba Corp ウランの濃縮度測定方法
JPH01301149A (ja) * 1987-12-03 1989-12-05 Mutek Laser & Optoelectronisch Geraete Gmbh ガス分析のための方法および装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3840305A (en) * 1973-07-20 1974-10-08 Itt Electro-optical apparatus with temperature compensation
US4883354A (en) * 1985-10-25 1989-11-28 Luxtron Corporation Fiberoptic sensing of temperature and/or other physical parameters
ATE112852T1 (de) * 1988-06-01 1994-10-15 Hartmann & Braun Ag Kalibriereinrichtung für ein nichtdispersives infrarot-fotometer.

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52124388A (en) * 1976-04-12 1977-10-19 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Measurement of exhaust gas
JPS6197552A (ja) * 1984-10-19 1986-05-16 Toshiba Corp ウランの濃縮度測定方法
JPH01301149A (ja) * 1987-12-03 1989-12-05 Mutek Laser & Optoelectronisch Geraete Gmbh ガス分析のための方法および装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06249779A (ja) * 1993-02-26 1994-09-09 Shimadzu Corp ガス分析計
JPH08159964A (ja) * 1994-12-02 1996-06-21 Tsurumi Soda Co Ltd ガス中の水分の定量方法及び試料容器
JP2008268107A (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Yokogawa Electric Corp センサユニット及びマイクロリアクタシステム
JP2010066209A (ja) * 2008-09-12 2010-03-25 Yazaki Corp 濃度測定装置

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US5315376A (en) 1994-05-24

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