JPS59206737A - 温度補償機能を有する漏洩検査装置 - Google Patents

温度補償機能を有する漏洩検査装置

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JPS59206737A
JPS59206737A JP58080944A JP8094483A JPS59206737A JP S59206737 A JPS59206737 A JP S59206737A JP 58080944 A JP58080944 A JP 58080944A JP 8094483 A JP8094483 A JP 8094483A JP S59206737 A JPS59206737 A JP S59206737A
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    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/26Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors
    • G01M3/32Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators
    • G01M3/3236Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators by monitoring the interior space of the containers
    • G01M3/3263Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators by monitoring the interior space of the containers using a differential pressure detector

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く発明の技術分野〉 この発明は例えばガス器具或は各種の気密構造を必要と
する器具のように実用状態において流体と接するため漏
れがあってはならないか、或はθ吊れ量が規定の範囲内
であるか否かを検査する漏洩検査装置に関し、特に被検
食物の温1リが各被検食物毎に大きく異なる場合でもそ
の71’li!, Ii f化に伴なう検測誤差を自動
的に修正し、正しい瑛査全自動的に行なうことができる
温1凭袖偵′{張能を持つ漏洩検査装置を提供しようと
するものである。
〈発明の背景〉 漏洩検査装置は大別して次の二J…シの方式がある。そ
の一つは被検死物ノに正又は負圧を.与え、−・定時間
後における圧力の変化を恢測し、その変化−計が規定の
範囲内にあるか否かを見て良否を判定する方式と、 その二は被検査物に対して同等の形状を持つ基準タンク
を設け、tQG Bf−タンクと被検食物との間の圧力
差が一定時間後にどの程度変化するかを見て被検査物の
良否を判定する方式とがある。
この発明はこれら何れの方式の漏洩検査装置にも適用で
きる温度補償回路を提供するものである。
〈従来技術の説明〉 第1図は従来の温度補償機能を有する漏洩検査装置の構
成を示すフロック図である。図中111、(は空気圧源
又は排気装置のような正圧又は負圧を発生する流体圧発
生装置′を示す。流体圧発生装置11]の出カイ141
]に(ri流管1]0か接Hシされ、流管]、 10は
調圧弁112孜び7b磁弁1 ]、 4を介して電磁弁
1]4の出[]イ111]で分岐管路118,119に
二分きれる。+a調圧弁112の出口と電磁弁]14の
入口との間には倹糞圧を設定指示する圧力計113か接
わじされている。
分岐管路118には遮断弁116か接続され、遮断弁1
16の出口側に漏れを検査すべき被検査物120を接続
する機構が設けられる。分岐管路118の端部に設けた
機構により被検査物120が順次接続されて凋れ検査が
可能な構成となっている。一方、分岐管路119には遮
断弁117を接続し、遮断弁117の出口側に基準タン
ク12]が接続されている。遮断弁116及び]T1の
出口側において分岐管路118及び119の間に差圧検
出器122が取9付けられている。
差圧検出器122の出力信号は増幅器131と温度補償
回路130を介して良否判定手段132に与えられる。
良否判定手段132において基準信号設定器133の出
力基準値と比較し良否を判定する。134はその判定結
果を表示する衣示器を示す。
温度補償回路130には被検食物120と基準タンク1
21の表面温度の差に対応した信号が与えられ、その温
度差信号により圧力検濁佃を補正する。つまり被検査物
120と基準タンク121に温度センサ135a及び1
35bを取付け、温度センサ135a、135bにより
被検青物120と基準タンク121の表面温度を測定す
る。温度検出信号を差動増幅器136に与え、差動増幅
器136の出力に被検査物120と基準タンク1210
表面温度の差に対応した信号137を得る。この温度差
信号137を温度補償回路130に与え、圧力検測信号
の値を温度差信号137によって補正し、良否判定手段
132において被検査物120の温度のバラツキによる
誤差に基すいて誤った判定が下されないようにしている
〈第1図の動作説明〉 被検食物120を分岐管路118の端部に取り付け、分
岐管路119には漏れのない基準タンク121を取り付
けて電磁弁114を閉状態とし、調圧弁]]2を開いて
圧力計113によって流体圧発生手段111から力えら
れる流体圧が所定の値とがるように調整する。次に遮断
弁116及び117全開状態とし、市、妹弁114を開
状態にして設定さnた一定圧の流体(空気)を分岐管路
118.119を通じてそれぞれ被検査物120及び基
準タンク121に供給する。この状態を第2図Aに示す
ように加圧又は排気区間とし、その時間をT1で表わす
遮断弁116及び117を開にしてから、一定時間T1
が経過して被検査物120及び基準タンク121内の圧
力が安定した後に遮断弁116及び117を閉状態にす
る。9ユに所定の時間T2(この時間T2を平衡時間と
称する)後に差圧検出器122に接続された自動零補正
式増幅器131に零補正信号138が与えられ、増幅器
131の出力r予め苓の状態に設定すると共に、この苓
設21時点から一足時間T3後に増幅器]31の出力信
号の読取りが行われる。零設定萌点から読取りを行う址
での時間T3を検測時間と称する。増幅器131を不点
設定したとき、増幅器131の感度は高感度の状態に切
替えられる。よって増幅器131の出力を読取る状態で
は差圧瑛出器122の検出信号を大きく拡大して読取る
ようにしている。
遮断弁116,117を開に匍]御し圧力を萼える期間
T1と、遮の7弁1 ]、 6 、117を閉じて圧力
を安定させる期間T2と、増幅器131を零設定してか
ら翫取りを行う寸での朗測時間T3を通して−十灸′6
11ザイクルと称する。この期間TI、T2.T3の切
’71dシーケンスコントローラ139によって行われ
る。
被検査物120の気密が完全で漏れが存在しない状態で
は増幅器131からの出力信号は一定検両時間において
理想的には零となる。被検食物1201/liれか存在
すると、その内部の圧力が正圧の場合はその正圧が漸次
減少し、負圧の場合は圧力力i倉次増加する出力信号が
得られ、一定検側時間内の出力信号は負又は正の誦れ量
にはヌ比例した1直となる。こ\で被検査物120か完
全に漏れが無いものであっても差圧検出器122には差
圧が発生する。この差圧は例えばT1.T2.Taの時
間を経過するに伴なって被=X物120内の温度変化に
よって圧力変化が生じたり、或は被検査物120と分岐
管路118とを接続する部分のわずかな漏れ等によって
発生する検測誤差である。ここでは主に温度変化によっ
て生じる誤差を補償する点について説明する。
増幅器131の出力信号は温度補償回路130を通じて
良否判定手段132 K与えられる。、また基準信号設
定器133からは基準信号か供給きれ、検測信号が基準
信号ヲ極えたか否かにより、良品もしくは不良品を示す
良否判定信号を出力し、表示器135に良否を表示する
〈従来技術の欠点〉 従来の温度補償方式は被検査物120と基準タンク12
1の表面温度の差に応じた補正信号137を得る。この
補正イ言号137によって検測信号を補償している。第
3図を用いて被・演査物120と基準タンク121との
間の温度差と圧力検測値との間の関係について説明する
3゜ 第3図において小黄軸T +−i:被倹食物120とノ
、ト準タンク121との間の温度差(基準タンク121
の温度が一定であるものとすると温度差Tは−ff/i
lf+j査物120の温度に対応する)、N軸△Ptは
6w度差Tの存在に伴なって発生する圧力検測値の誤差
値を衣わす。温度差Tによって発生する圧力検測値の誤
差値△ptは理論的には第3図に示す直線301のよう
に一次式で表わされる。誤差値へptが直線301(△
pt=A+BT)で示すように常に一定の傾斜Bと、一
定の零点Aを持つものであれば従来の補償方法でも充分
に対応できる。
然し乍ら実際には第3図に点線302で示すように非直
線特性を持ち、然も周囲温度或は温度センサ135a、
135bの接触状態の変化等が原因して曲線302は上
下にドリフトするのが一般的である。曲a!302の傾
斜値等がドリフトすることから従来は差動増幅器136
の利得及び七口点等を手動によりしけしば修正しなけれ
ばならない欠点がある。このため検査装置に調整用員が
付添っていなげればならないだめ人手を要し、捷だ調整
用員も熟練が妥求され取扱いが面倒である。
寸た4寺に検査工程の前に高温洗浄或は溶接工程等が有
る場合には被検食物120の温度は各被検食vI毎にバ
ラツキが大きくなる。従って被検査物120の温度のバ
ラツキに伴なって生じる誤差値は大きな値になることが
多く、この点で温度補償は重要な要素となる。
〈発明の目的〉 この発明は人手を全く必要とすることなく完全に自動化
された温度補償機能を持つ漏洩倹青装置を提供しようと
するものである。
〈発明の概要〉 この発明では複数の記憶領域を持つメモリを設ける。こ
のメモリの各記憶領域には被検査物の温度11σによっ
て仕分けされた圧力検測値(検測誤差値)を収納し、各
温度値によって仕分けされた圧力検測値の過去複数個の
平均値を算出し、この平均値によって現在倹食中の検測
値を補償するように構成する。
よってこの発明によれば、メモリの各記憶領域には検測
中に得られた最新の検測値が各温度佃毎に予め決められ
た個数つ捷り各紀悔領域の記憶容量によって決捷る個数
分だけ蓄えられているから第3図に示した温度補償回路
302がわずかつつ変化してもその変化はメモリにx、
・またに暑込搾れる横側=差値をわずかづつ変化させる
。よって温度補償曲線302が上又は下にドリフトして
もこの変動に追従して各配?M 領域から得られる補償
値も変化し、自動的に補償値を修正することができる。
よって漏洩検食装簡の温度補償を完全に自動化すること
ができる。
〈発明の実施例〉 第4図にこの発明の一笑施例を示す。第4図において第
1図と対応する部分には同一符号を付してその重複説明
は省略するが、この発明においては被検査物120の温
度をA−D変換器401によ、9A−D変換し、被検査
物120の温度値(この1タリでは基準タンク121と
の温度差)に対応したディジタル信号402に変換する
。このディジタル信号402によってメモリ403をア
クセスする。メモ’J 4.03は複数の記憶領域A 
、 ’B 、 C・・・・Nを有し、温度値に対応した
ディジタル信号402によってこれら複数の記憶領域A
−Nのイロ]れか一つを選択する。選択された記憶領域
から圧力検測誤差テークを取出し平均値算出手段404
によりその平均値を算出し、その平均値によシ検測値を
補正手段130において補正し良否判定手段132によ
り良否を判定する。
とXで検測誤差値のメモリ403への取込み方法につい
て詳しく説明する。温度センサ135a。
135bの温度差を差動増幅器136により取り出す。
差動増幅器136から取出された温度差信号をA−D変
換器401に供給し、ディジタル信号402に変換する
。このときA−D変換の分解能を例えば1℃に設定する
と温度差信号は1℃の間隔でディジタル信号に変換され
る。温度差0℃のときメモリ403の記憶領域Aを選択
し、温度差1℃のとき記憶領域Bを選択し、温度差2℃
のとき記憶領域Cを選択し、・・・・温反差N’Cのと
さ記憶領域Nを選択する。このようにディジタル信号4
02によってメモリ403の記憶領域を選択制御する。
この選択制御はψ1jえばCPUを含むマイクロコンピ
ュータ400によって行なわれる1、各記憶領域A−N
にはそれぞれに例えば20〜30点の記憶アドレスを有
し、この記憶アドレスに差圧検出器122で検出した圧
力検測値を順次圧力検側誤差餉として取込む。
つ1り圧力検測値は差圧検出器122によって検出され
増幅器131を通じてA−D変換器405に供給し、圧
力検測値をディジタル信号406に変換する。このディ
7タル信号406−は補正手段]30と、マイクロコン
ピュータ400に供給する。マイクロコンピュータ4.
 OOでは先に説明したようにそのとき検査される被検
歪体120と基準タンク121との温度差に応じてメモ
リ403の記憶領域を選択し、その記憶領域に圧力検測
値を圧力検611]誤差値として取込む。谷記憶領域に
取込まれる谷圧力俟測誤差値は各記憶−I!ロ域の先頭
番地1に書込捷れる。そして既に書込まれていた圧力・
検測誤差値(l−1:順次アドレスを1つずつシフトさ
れる。
このように被瑛食物120の温度に応じて仕分けされて
メモリ403に取込まれた圧力検測誤差値は次の被検食
物120:を検査する際にその被検査物の温度に対応し
た記憶領域のテークを読出し、そのテークの平均値を平
均値算出手段404によp算出し、算出された平均値を
補正値と1〜で温度補償回路130に与え、圧力検1i
111 iiσを補正する。
温度補償回路130において補正した袖正済テータ40
7は良否判定手段132に供給され、良否判定手段13
2において基準信号設定”f、:’; 133から与え
られる基準信号408と比軟し、基ω信号408より小
さい値であれは良信号409が、まだ基準信号408よ
シ太きければ不良信号410が出力され、その状態を衣
示器135に表示する。
こXで不良信号410が出力された場合はそのときA−
D変換器405からマイクロコンピータ400に供給さ
れている圧)1炙測値はメモリ403に書込まないよう
にしている。配向411けその書込禁止をマイクロコン
ピュータ400に1双送するだめの伝送路を示す。
メモリ403にはサンプル数設定器412が側設される
。このサンプル叡設定器412によりメモリ403の各
記憶領域A−Hに取込んだテークの中から何個のテーク
を取出して平均値を得るかを設定することができるよう
にしている。
〈発明の効果〉 以上説明したように、この発明によれば谷検測勿に扱瑛
611]物120の温度(基準タンク121の温度との
差)を検出し、温度毎に圧力検測値を検測誤差値として
メモリ403に取込み、一つの検1411 値を取込¥
J−切に古い検測値を押し出すようにしこのようにして
蓄えられた検測誤差値を平均してネ111正値を得るよ
うに構成したから、第5図に示すように温度補正曲線3
02が上又は下にわずかづつ変化しても、メモ’J 4
.03に取込−まれる検測誤差値もその変化に追従して
変化する。よって温度補正曲線302か変動しても自動
的にネIJ正値が修jEθれ′畠に正しい温j、ぼ補償
を行なうことができる。
〈検測開始時に関する説明〉 上述ではメモリ403の各記憶領域A−Nに各温度に対
しした圧力検測誤差値が既に取込壕れているものとして
酸1明したが、設置してがら検測を開始する時点ではメ
モリ403に検」I]誤差値が全くイr在しない。この
ような状態から検測を開始するには次のように動作する
メモリ403に圧力検測誤差値が全く存在しない場合に
は温度補正回路130に供給する補正値はゼロである。
このため検測開始の立上り時点では被検査物120は予
め良品を用意する。尚、特に良品を用意しなくとも一般
に92品の不良発生率は低い。よって通常の製造ライン
を流れる製品をそのま\検測しても各製品ははソ艮品と
して見ることができる。
よってメモl) 403に圧カ倹8i’l m差値が各
温度毎に蓄積されていなくとも良品として検測してよい
。第1被険食物の温度が第6図に示すようにTaであっ
たとする。温度Taの被検査物によって発生する圧力検
測値を圧カ倹11(1」誤差値△Paとしてメモリ4.
03の記憶領域に取込む。第2被検食物が第1被検査物
の温PiT aと同じであ、flばその圧カ険測1[σ
は先の記憶領域に取込む。然し乍ら第2被検食物の温度
TbがTa\Tbであった場合にはその圧力検測値Δp
bを誤差値として温度1゛bに対応する記憶領域に取込
む。
このように温度が異なる圧力検測誤差値△pa、△pb
が取込捷れると、その後は次式により’r”+Tb以外
の温度に対する圧力検測誤差値をマイクロコンピュータ
400により推定演算して躊、出する。
△Pt=A+BTt               f
l)A−△Pa−BTa           (2)
この演算式によシ上記実測温度T a 、 T b以外
の温度の第1回目の誤差値として谷温度の記憶領域に取
込む。これと共に演算によって得られた誤差値により圧
力検測値を補正して良否判定手段132に補正済テータ
として供給する。
この推定演算は各面1度に対して第1回目だけに適用し
、各部IWの記憶領域A−Nの各先頭番地に全て誤差値
が取込まれると、その後は、この取込1れた誤差値を補
正値として用い、その後に実aa+ L−た圧力・検測
値を順次誤差値として各記憶領域に加入して記憶する。
各記憶領域A−Nに2個以上のテークが記憶されるとそ
の後の検測に関しては各記憶領域A−Nのテークの平均
値を補正値として用いる。
以上説明したようにこの発明によれば各温度毎に圧力検
測誤差値を仕分けしてメモ’J 403に取込み、各温
度毎に仕分けして取込んだ検測誤差値を平均して補正値
としてオリ用するよう構成したから温度補償曲線302
がドリフトしてもそのドリフトに追従して補正値が変化
する。よって自動的に温度補償曲線を修正するから人手
を全く使うことなく温度補償することができ検査工程を
完全に自動化することができる。
尚、上述では差圧検出形の漏洩検査装置にこの発明を適
用した場合を説明したが、単一の圧力検出器によって被
検食物に与えられる正又は負の圧力変化を検測する方式
の痛洩検肴装置ii:にもこの発明を適用できる。この
方式の副洩検査装置に適用する場合は温度センサ135
bは周囲温度を61す定し、周囲温度と被検査物120
との間の温度規によりメモリ403の記憶領域A−Nを
選択するように構成すればよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の温度補正機能を描つθ市洩倹介装置を説
明するだめのフロック図W!21図はそのj英側動作の
順序を説明するだめのグラフ、第3図(はl浦洩検歪に
おける温度補正特性を説明するだめのグラフ、第4図は
この発明の−′、1(施1り1]を説明するだめのブロ
ック図、第5図aこの発明による装置の温度補償特性の
補償動作を説明するだめのグラフ、第6図は“推定削具
動作を説明するだめのグラフを示す。 122:圧力検測手段を(”#)成する差圧検出器、1
32;良否判定手段、135a、135b:温;■セン
サ、400:マイクロコンピュータ、40]、405:
A−D変換器、403 :圧力検d11]誤差値を記憶
するメモリ。 %野山願人 株式会社 コスモ剖器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)A。被検査物に与えられた正又は負の流体圧の一
    定時間内の変化を検出する圧力検測手段と、B.この圧
    力検測手段から得られる圧力検測値をテイジタル信号に
    変換するA−D変換器と、C.上記被検食物の表面温度
    と基準温度との差を検出する温度差検出手段と、 D.この温度差検出手段で検出した温度差に応じて記憶
    領域が指定さnlその指定された記1惹領域に上記A−
    D変侠手段から一出力される圧力検測値を一尾サンプル
    数分だけ記憶すると共にその記憶領域に収納されている
    圧力検測値を読出すメモリと、 E.このテータメモリから読出される各温度差と女づ応
    イス」けされた圧力横辿j値の平均1iU’を求める演
    算手段と、 F.この演算手段で得られた平均1闘を上記圧力検測手
    段から出力される圧力検測値に補正値として加える補正
    手段と、 G.この補正手段で補正された補正済テータと設定値と
    を比較し被検査物の良否を判定する良否判定手段と、 から成る温度補償機能を有する漏洩検査装置。
JP58080944A 1983-05-11 1983-05-11 温度補償機能を有する漏洩検査装置 Granted JPS59206737A (ja)

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