JPS61737A - 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 - Google Patents
連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構Info
- Publication number
- JPS61737A JPS61737A JP12231684A JP12231684A JPS61737A JP S61737 A JPS61737 A JP S61737A JP 12231684 A JP12231684 A JP 12231684A JP 12231684 A JP12231684 A JP 12231684A JP S61737 A JPS61737 A JP S61737A
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- JP
- Japan
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- integrated value
- integrated
- memory
- calibration gas
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0006—Calibrating gas analysers
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は連続分析計にゼロガス又はスパンガスを流して
ゼロ点又はスパン点を校正するときの、校正ガスを流す
時間（校正を実行するまでの時間）を自動的に決定する
機構に関する。 ゛（従来の技術） 従来の連続分析計でゼロガス又はスパンガスを流してゼ
ロ点又はスパン点を校正する場合：以下の方法が採られ
ている。
ゼロ点又はスパン点を校正するときの、校正ガスを流す
時間（校正を実行するまでの時間）を自動的に決定する
機構に関する。 ゛（従来の技術） 従来の連続分析計でゼロガス又はスパンガスを流してゼ
ロ点又はスパン点を校正する場合：以下の方法が採られ
ている。
（１）手動モ校正ガスを流す場合１校正ガス′を梳した
のち指示が安定したのを見定めてから分析計の補正をす
る。 パ へ゛（２）自動校正器
を備えた分析計□では、−分析計の方式（非分散型赤外
線式、ケミカルルミネッセンス式、磁気式など）や測定
成分により１校正ガスを流す時間を充分な余裕を見て決
定し固定していた。
のち指示が安定したのを見定めてから分析計の補正をす
る。 パ へ゛（２）自動校正器
を備えた分析計□では、−分析計の方式（非分散型赤外
線式、ケミカルルミネッセンス式、磁気式など）や測定
成分により１校正ガスを流す時間を充分な余裕を見て決
定し固定していた。
（３）また、自動校正器を備えた一部の分析計では、第
８図に示されるように、校正ガス導入後一定時間（Ｔｏ
）間隔で指示値を比較し、指示値変化が一定値（ｘＯ）
以下になったときをチェックして校正ガスを流す時間を
決定しているものもある。
８図に示されるように、校正ガス導入後一定時間（Ｔｏ
）間隔で指示値を比較し、指示値変化が一定値（ｘＯ）
以下になったときをチェックして校正ガスを流す時間を
決定しているものもある。
（発明が解決しようとする問題点）
上記の（１）、（２）の方法では、指示が安定した後そ
の安定度を見極めるためには相当な時間が必要であり、
高価な校正ガスを浪費しているとともに分析計の欠測（
測定を行なっていない期間）を不要に長くしていた。
の安定度を見極めるためには相当な時間が必要であり、
高価な校正ガスを浪費しているとともに分析計の欠測（
測定を行なっていない期間）を不要に長くしていた。
また、（３）の方法では指示値の瞬時値を比較している
ため、最終点とする指示値の差ｘｏは分析計のノイズレ
ベルを考慮して設定する必要があり、あまり小さくは設
定できない。そのため最終値としての正確さに問題を生
ずることもあり、その後の指示安定までの時間の考慮を
必要とする問題がある。
ため、最終点とする指示値の差ｘｏは分析計のノイズレ
ベルを考慮して設定する必要があり、あまり小さくは設
定できない。そのため最終値としての正確さに問題を生
ずることもあり、その後の指示安定までの時間の考慮を
必要とする問題がある。
本発明は校正ガス導入後の指示の応答を自動的にチェッ
クし、さらに若干のノイズレベルをもつ分析計であって
も指示が１００％応答する終了点を正しく検出し１手動
校正の場合なら保守員に分析計の補正可能の表示を行な
い、また自動校正の場合ならゼロ点又はスパン点の補正
を実行して校正ガス導入を終了することによって、校正
ガスの浪費を防ぎ、校正時間を短縮して欠測時間の短縮
を図ることを目的とするものである。
クし、さらに若干のノイズレベルをもつ分析計であって
も指示が１００％応答する終了点を正しく検出し１手動
校正の場合なら保守員に分析計の補正可能の表示を行な
い、また自動校正の場合ならゼロ点又はスパン点の補正
を実行して校正ガス導入を終了することによって、校正
ガスの浪費を防ぎ、校正時間を短縮して欠測時間の短縮
を図ることを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
本発明は校正ガス導入時の最終点を検出するために、指
示値の瞬時値を比較するのではなく、一定時間の指示値
の積算値を比較するようにした自動決定機構である。
示値の瞬時値を比較するのではなく、一定時間の指示値
の積算値を比較するようにした自動決定機構である。
本発明の第１の校正ガス導入時間自動決定機構は第１図
に記号２で示される構成を有する。すなわち、校正ガス
導入時の指示値Ｘを一定時間Ｔ。
に記号２で示される構成を有する。すなわち、校正ガス
導入時の指示値Ｘを一定時間Ｔ。
の間積算して積算値Ｓ ｔ、を得る信号積算部４と、こ
の信号積算部４の積算値ＳｔをＳｔ’として記憶する積
算値メモリ６と、信号積算部４の現積算値Ｓｔと積算値
メモリ６に記憶されている前積算値Ｓｔ’とを比較し、
その差が一定値Ｓｏ以下であるか否かを判断する積算値
比較演算部８と、を備えている。
の信号積算部４の積算値ＳｔをＳｔ’として記憶する積
算値メモリ６と、信号積算部４の現積算値Ｓｔと積算値
メモリ６に記憶されている前積算値Ｓｔ’とを比較し、
その差が一定値Ｓｏ以下であるか否かを判断する積算値
比較演算部８と、を備えている。
また、本発明の第２の校正ガス導入時間自動決定機構は
第２図に記号１０で示される構成を有する。すなわち、
ｎ個のメモリ領域を有し１校正ガス導入時の一定時間ｔ
ｏ（＝Ｔｏ／ｎ）間隔の指示値Ｘを後記筒２の信号積算
部１６の演算後に順次シフトしながら記憶していく瞬時
値メモリ１２と、この瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶値
を積算して積算値Ｓｔ’を得る第１の信号積算部１４．
と、瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶値のうちの新しい方
の（ｎ−１，）個の記憶値ｘ＋〜ｘ（ｎ−＋）と現指示
値Ｘとを積算して積算値Ｓｔを得る第２の信号積算部１
６と、第１の信号積算部１４の積算値Ｓｔ’と第２の信
号積算部の積算値Ｓｔとを比較し、その差が一定値ＳＯ
以下であるか否かを判断する積算値比較演算部１８とを
備えている。
第２図に記号１０で示される構成を有する。すなわち、
ｎ個のメモリ領域を有し１校正ガス導入時の一定時間ｔ
ｏ（＝Ｔｏ／ｎ）間隔の指示値Ｘを後記筒２の信号積算
部１６の演算後に順次シフトしながら記憶していく瞬時
値メモリ１２と、この瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶値
を積算して積算値Ｓｔ’を得る第１の信号積算部１４．
と、瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶値のうちの新しい方
の（ｎ−１，）個の記憶値ｘ＋〜ｘ（ｎ−＋）と現指示
値Ｘとを積算して積算値Ｓｔを得る第２の信号積算部１
６と、第１の信号積算部１４の積算値Ｓｔ’と第２の信
号積算部の積算値Ｓｔとを比較し、その差が一定値ＳＯ
以下であるか否かを判断する積算値比較演算部１８とを
備えている。
（作用）
第１図に示された校正ガス導入時間自動決定機構では、
第３図に示されるように、信号積算部４゜の積算値Ｓｔ
は最新の一定時間ＴＯの積算値であり、積算値メモリ６
の記憶・値Ｓｔ’はその前の一定時間Ｔｏでの積算値で
あり、積算値比較演算部８は両積算値の差（ｓｔ’−５
ｔ）が一定値ＳＯ以下であるか否かを判断するものであ
るまた、第２図に示された校正ガス導入時間自動決定機
構では、第４図に示されるように、第２の信号積算部１
６の積算値Ｓｔは最新の一定時間ＴＯの積算値であり、
第１の信号積算部１４の積算値Ｓｔ′はそれよりｔ ｏ
（”Ｔｏ／ｎ）時間前の一定時間Ｔｏでの積算値であ
り、積算値比較演算部１８は第１図の積算値比較演算部
８と同じく両積算値の差（Ｓｔ’−８ｔ）が一定値Ｓｏ
以下であるか否かを判断するものである。
第３図に示されるように、信号積算部４゜の積算値Ｓｔ
は最新の一定時間ＴＯの積算値であり、積算値メモリ６
の記憶・値Ｓｔ’はその前の一定時間Ｔｏでの積算値で
あり、積算値比較演算部８は両積算値の差（ｓｔ’−５
ｔ）が一定値ＳＯ以下であるか否かを判断するものであ
るまた、第２図に示された校正ガス導入時間自動決定機
構では、第４図に示されるように、第２の信号積算部１
６の積算値Ｓｔは最新の一定時間ＴＯの積算値であり、
第１の信号積算部１４の積算値Ｓｔ′はそれよりｔ ｏ
（”Ｔｏ／ｎ）時間前の一定時間Ｔｏでの積算値であ
り、積算値比較演算部１８は第１図の積算値比較演算部
８と同じく両積算値の差（Ｓｔ’−８ｔ）が一定値Ｓｏ
以下であるか否かを判断するものである。
（実施例）
第５図は本発明が適用される連続ガス自動校正システム
である。２０は分析計であり、ガス導入切換電磁弁２２
により試料ガスと校正ガスであるゼロガス、スパンガス
が切り換えて導入される。
である。２０は分析計であり、ガス導入切換電磁弁２２
により試料ガスと校正ガスであるゼロガス、スパンガス
が切り換えて導入される。
２３は校正ガスのボンベである。２４は本発明の校正ガ
ス導入時間自動決定機構２又は１０と、ガス導入切換制
御部２６とを備えた自動校正器であり、分析計２０から
出力信号２８を受けて電磁弁制御信号３０を出力する。
ス導入時間自動決定機構２又は１０と、ガス導入切換制
御部２６とを備えた自動校正器であり、分析計２０から
出力信号２８を受けて電磁弁制御信号３０を出力する。
第５図の連続ガス分析計自動校正システムに第１図の校
正ガス導入時間自動決定機構を備えた実施例の動作につ
いて、第６図のフローチャートを参照して説明する。
正ガス導入時間自動決定機構を備えた実施例の動作につ
いて、第６図のフローチャートを参照して説明する。
いま、測定中の分析計のゼロ点を補正する場合を考える
と、ゼロガス導入後分析計の出力信号は第３図のように
変化する。そこで、指示値が変化し始めたら信号積算部
４により一定時間Ｔｏの出力信号を積算して積算値Ｓｔ
を得る（ステップＳ１）。その積算値Ｓｔを積算メモリ
６の記憶値Ｓｔ′と比較し、その差（Ｓｔ’−８ｔ）が
一定値Ｓｏ以下であるか否かを判定する（ステップＳ２
゜その差がＳｏ以下でなければ、そのときの積算値５ｔ
１ｓｔ’として積算値メモリ６を更新した後、ステップ
Ｓ１へ戻って再び一定時間Ｔｏの出力信号を積算して積
算値Ｓｔを得、積算メモリ６の記憶値Ｓｔ’との比較・
判定を行なう。このサイクルは差（Ｓｔ’−８ｔ）が一
定値Ｓｏ以下になるまで繰り返して行なわれる。
と、ゼロガス導入後分析計の出力信号は第３図のように
変化する。そこで、指示値が変化し始めたら信号積算部
４により一定時間Ｔｏの出力信号を積算して積算値Ｓｔ
を得る（ステップＳ１）。その積算値Ｓｔを積算メモリ
６の記憶値Ｓｔ′と比較し、その差（Ｓｔ’−８ｔ）が
一定値Ｓｏ以下であるか否かを判定する（ステップＳ２
゜その差がＳｏ以下でなければ、そのときの積算値５ｔ
１ｓｔ’として積算値メモリ６を更新した後、ステップ
Ｓ１へ戻って再び一定時間Ｔｏの出力信号を積算して積
算値Ｓｔを得、積算メモリ６の記憶値Ｓｔ’との比較・
判定を行なう。このサイクルは差（Ｓｔ’−８ｔ）が一
定値Ｓｏ以下になるまで繰り返して行なわれる。
ある時刻ｔにおいて、ステップＳ３でその差（Ｓｔ’−
８ｔ）が一定値Ｓｏ以下になれば、その時の分析計の出
力信号の値Ｘを最終値としてゼロ点の補正を行ない、ま
た、ガス導入切換制御部２６から電磁弁制御信号３０を
出力させて電磁弁２２を切り換え、校正ガスの導入を停
止する（ステップＳ３→Ｓ５）。
８ｔ）が一定値Ｓｏ以下になれば、その時の分析計の出
力信号の値Ｘを最終値としてゼロ点の補正を行ない、ま
た、ガス導入切換制御部２６から電磁弁制御信号３０を
出力させて電磁弁２２を切り換え、校正ガスの導入を停
止する（ステップＳ３→Ｓ５）。
次に第５図の連続ガス分析計自動校正システムに第２図
の校正ガス導入時間自動決定機構を備えた実施例の動作
について、第７図のフローチャートを参照して説明する
。この場合もゼロ点の補正を例にして考える。
の校正ガス導入時間自動決定機構を備えた実施例の動作
について、第７図のフローチャートを参照して説明する
。この場合もゼロ点の補正を例にして考える。
指示値が変化し始めたらｔｏ（＝Ｔｏ／ｎ）時間間隔の
分析計の出力信号Ｘを読み取る（ステップ５１１）。第
１の信号積算部１４では瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶
値Ｘｌ’＝Ｘｎを積算して積算値Ｓｔ’を得（ステップ
５１２）、第２の信号精算部１６では瞬時値メモリ１２
のｎ個の記憶値のうちの新しい（ｎ−１）個の記憶値ｘ
＋＝ｘ（ｎ−＋）と読み取った最新の信号値Ｘとを積算
して積算値Ｓｔを得る（ステップ５１３）。そして面積
算値Ｓｔ’とＳｔを比較してその差（Ｓｔ’−’Ｓｔ）
が一定値ＳＯ以下であるか否かを判定する（ステップＳ
Ｌ４．１５）。
分析計の出力信号Ｘを読み取る（ステップ５１１）。第
１の信号積算部１４では瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶
値Ｘｌ’＝Ｘｎを積算して積算値Ｓｔ’を得（ステップ
５１２）、第２の信号精算部１６では瞬時値メモリ１２
のｎ個の記憶値のうちの新しい（ｎ−１）個の記憶値ｘ
＋＝ｘ（ｎ−＋）と読み取った最新の信号値Ｘとを積算
して積算値Ｓｔを得る（ステップ５１３）。そして面積
算値Ｓｔ’とＳｔを比較してその差（Ｓｔ’−’Ｓｔ）
が一定値ＳＯ以下であるか否かを判定する（ステップＳ
Ｌ４．１５）。
その差がＳｏ以下でなければ、瞬時値メモリ１２に記憶
されている記憶値ｘｉをｘ（ｉ−１−＋）に更新すると
ともに最新の信号値ＸをＸ１として瞬時値メモリ１２へ
記憶（ステップ８１６．）した後、ステップＳ、１．１
へ戻り、再びｔｏ時間後の信号値Ｘを読み取って積算値
Ｓｔ’とＳｔを演算し、その比較−判定を行なう。この
サイクルも第６図と同じく差（Ｓｔ′−８ｔ）が一定値
Ｓｏ品下になるまで繰り返して行なわれる。
されている記憶値ｘｉをｘ（ｉ−１−＋）に更新すると
ともに最新の信号値ＸをＸ１として瞬時値メモリ１２へ
記憶（ステップ８１６．）した後、ステップＳ、１．１
へ戻り、再びｔｏ時間後の信号値Ｘを読み取って積算値
Ｓｔ’とＳｔを演算し、その比較−判定を行なう。この
サイクルも第６図と同じく差（Ｓｔ′−８ｔ）が一定値
Ｓｏ品下になるまで繰り返して行なわれる。
そして、ある時刻ｔにおいて、ステップＳ１５でその差
（Ｓ ｔ ’ −ＦＪ ｔ）が一定値Ｓｏ以下になれば
、第６図の場合と同じくその時の分析計の出力信号の値
Ｘを最終値としてゼロ点の補正を行ない、また、ガス導
入切換制御部２６から電磁弁制御信号３０を出力させて
電磁弁２２を切り換え、校正ガスの導入を停止する（ス
テップＳ１５→５１７）。
（Ｓ ｔ ’ −ＦＪ ｔ）が一定値Ｓｏ以下になれば
、第６図の場合と同じくその時の分析計の出力信号の値
Ｘを最終値としてゼロ点の補正を行ない、また、ガス導
入切換制御部２６から電磁弁制御信号３０を出力させて
電磁弁２２を切り換え、校正ガスの導入を停止する（ス
テップＳ１５→５１７）。
第２図及び第７図で示された実施例の場合には、積算区
分を少しずつずらせながら最終点をチェックするので、
積算期間ＴＯによる遅れはなくなる。
分を少しずつずらせながら最終点をチェックするので、
積算期間ＴＯによる遅れはなくなる。
以上の実施例は、いずれもゼロガスを流した場合につい
て説明しているが、スパンガスを流した場合でも同様で
ある。
て説明しているが、スパンガスを流した場合でも同様で
ある。
また、本発明は導入ガスの切換えと分析計の校正を手動
で行なうシステムに適用することもできる。その場合は
導入ガス切換制御部２６は不要にケリ、校正ガス導入後
指示が安定したと判定した時にブザーやランプなどでオ
ペ・レータに知らせるようにすればよい。
で行なうシステムに適用することもできる。その場合は
導入ガス切換制御部２６は不要にケリ、校正ガス導入後
指示が安定したと判定した時にブザーやランプなどでオ
ペ・レータに知らせるようにすればよい。
また、実施例では積算値の差（Ｓｔ’−３ｔ）が一定値
Ｓｏ以下になった時点ｔを最終点として、直にゼロ点を
補正し校正ガスの供給を停止しているが、さらに高精度
を期すために上記の時点ｔの一定時間ｔ′後を最終点と
することもできる。その場合でもこの時間ｔ′は、従来
の第８図で示される方法において同様の時間ｔ′を設け
る場合に比べると、非常に短かい時間で充分である。
Ｓｏ以下になった時点ｔを最終点として、直にゼロ点を
補正し校正ガスの供給を停止しているが、さらに高精度
を期すために上記の時点ｔの一定時間ｔ′後を最終点と
することもできる。その場合でもこの時間ｔ′は、従来
の第８図で示される方法において同様の時間ｔ′を設け
る場合に比べると、非常に短かい時間で充分である。
（発明の効果）
本発明によれば、分析計のノイズレベルを充分に圧縮す
ることができるので、最終点の基準になる積算値の差Ｓ
ｏを非常に小さく設定することができ、正確な最終点チ
ェックが可能になるとともに、再現性のよい最終点チェ
ックができるようになる。したがって、分析計の種類や
測定成分の相違に拘らず、また、同一分析計であっても
流量変化などによる応答速度の違いがあっても、さらに
ノイズレベルの比較的大きい分析計であっても、最小の
校正ガス消費で正しい最終点をチェックすることができ
る。
ることができるので、最終点の基準になる積算値の差Ｓ
ｏを非常に小さく設定することができ、正確な最終点チ
ェックが可能になるとともに、再現性のよい最終点チェ
ックができるようになる。したがって、分析計の種類や
測定成分の相違に拘らず、また、同一分析計であっても
流量変化などによる応答速度の違いがあっても、さらに
ノイズレベルの比較的大きい分析計であっても、最小の
校正ガス消費で正しい最終点をチェックすることができ
る。
第１図及び第２図はそれぞれ本発明の構成を示すブロッ
ク図、第３図は第１図の発明の作用を示す波形図、第４
図は第２図の発明の作用を示す波。 形図、笹５図は本発明が適用される自動校正システムを
示す概略図、第６図及び第７図はそれぞれ実施例の動作
を示すフローチャート、第８図は従来の方法を示す波形
図である。 ４・・・・・・信号積算部、 ６・・・・積算値メモリ
、８．１８・・・・積算値比較演算部、 １２・・・
・・・瞬時値メモリ、 １４・・・・・・第１の信号
積算部、１６・・・・・・第２の信号積算部。
ク図、第３図は第１図の発明の作用を示す波形図、第４
図は第２図の発明の作用を示す波。 形図、笹５図は本発明が適用される自動校正システムを
示す概略図、第６図及び第７図はそれぞれ実施例の動作
を示すフローチャート、第８図は従来の方法を示す波形
図である。 ４・・・・・・信号積算部、 ６・・・・積算値メモリ
、８．１８・・・・積算値比較演算部、 １２・・・
・・・瞬時値メモリ、 １４・・・・・・第１の信号
積算部、１６・・・・・・第２の信号積算部。
Claims (2)
- （１）連続分析計における校正ガス導入時の指示値を一
定時間積算する信号積算部と、 該信号積算部の積算値を記憶する積算値メモリと、 前記信号積算部の現積算値と前記積算値メモリに記憶さ
れている前積算値とを比較し、その差が一定値以下であ
るか否かを判断する積算値比較演算部と、を備えたこと
を特徴とする校正ガス導入時間自動決定機構。 - （２）ｎ個のメモリ領域を有し、連続分析計における校
正ガス導入時の一定時間間隔の指示値を後記第２の信号
積算部の演算後に順次シフトさせながら記憶していく瞬
時値メモリと、 該瞬時値メモリのｎ個の記憶値を積算する第１の信号積
算部と、 前記瞬時値メモリのｎ個の記憶値のうち新しい方の（ｎ
−１）個の記憶値と現指示値とを積算する第２の信号積
算部と、 前記第１及び第２の信号積算部の積算値を比較し、その
差が一定値以下であるか否かを判断する積算値比較演算
部と、を備えたことを特徴とする校正ガス導入時間自動
決定機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12231684A JPS61737A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12231684A JPS61737A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61737A true JPS61737A (ja) | 1986-01-06 |
| JPH0574772B2 JPH0574772B2 (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=14832933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12231684A Granted JPS61737A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61737A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0688784A (ja) * | 1992-09-05 | 1994-03-29 | Horiba Ltd | ガス分析計の校正方法 |
| WO2002048705A3 (en) * | 2000-12-11 | 2002-12-05 | Zellweger Analytics Ltd | Gas sensor calibration system |
| JP2009042184A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | ガス計測器 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5164388B2 (ja) * | 2007-01-31 | 2013-03-21 | シスメックス株式会社 | 試料測定装置 |
-
1984
- 1984-06-14 JP JP12231684A patent/JPS61737A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0688784A (ja) * | 1992-09-05 | 1994-03-29 | Horiba Ltd | ガス分析計の校正方法 |
| WO2002048705A3 (en) * | 2000-12-11 | 2002-12-05 | Zellweger Analytics Ltd | Gas sensor calibration system |
| AU2002222165B2 (en) * | 2000-12-11 | 2006-04-27 | Honeywell Analytics Limited | Gas sensor calibration system |
| JP2009042184A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | ガス計測器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0574772B2 (ja) | 1993-10-19 |
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