JPH0574772B2 - - Google Patents
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- JPH0574772B2 JPH0574772B2 JP12231684A JP12231684A JPH0574772B2 JP H0574772 B2 JPH0574772 B2 JP H0574772B2 JP 12231684 A JP12231684 A JP 12231684A JP 12231684 A JP12231684 A JP 12231684A JP H0574772 B2 JPH0574772 B2 JP H0574772B2
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- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 15
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 44
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0006—Calibrating gas analysers
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Combustion & Propulsion (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は連続分析計にゼロガス又はスパンガス
を流してゼロ又はスパン点を校正するときの、校
正ガスを流す時間（校正を実行するまでの時間）
を自動的に決定する機構に関する。
を流してゼロ又はスパン点を校正するときの、校
正ガスを流す時間（校正を実行するまでの時間）
を自動的に決定する機構に関する。
（従来の技術）
従来の連続分析計でゼロガス又はスパンガスを
流してゼロ点又はスパン点を校正する場合、以下
の方法が採られている。
流してゼロ点又はスパン点を校正する場合、以下
の方法が採られている。
(1) 手動で校正ガスを流す場合、校正ガスを流し
たのち指示が安定したのを見定めてから分析計
の補正をする。
たのち指示が安定したのを見定めてから分析計
の補正をする。
(2) 自動校正器を備えた分析計では、分析計の方
式（非分散型赤外線式、ケミカルルミネツセン
ス式、磁気式など）や測定成分により、校正ガ
スを流す時間を充分な余裕を見て決定し固定し
ていた。
式（非分散型赤外線式、ケミカルルミネツセン
ス式、磁気式など）や測定成分により、校正ガ
スを流す時間を充分な余裕を見て決定し固定し
ていた。
(3) また、自動校正器を備えた一部の分析計で
は、第８図に示されるように、校正ガス導入後
一定時間（To）間隔で指示値を比較し、指示
値変化が一定値（xo）以下になつたときをチ
エツクして校正ガスを流す時間を決定している
ものもある。
は、第８図に示されるように、校正ガス導入後
一定時間（To）間隔で指示値を比較し、指示
値変化が一定値（xo）以下になつたときをチ
エツクして校正ガスを流す時間を決定している
ものもある。
（発明が解決しようとする問題点）
上記の(1)，(2)の方法では、指示が安定した後で
その安定度を見極めるためには相当な時間が必要
であり、高価な校正ガスを浪費しているとともに
分析計の欠測（測定を行なつていない期間）を不
要に長くしていた。
その安定度を見極めるためには相当な時間が必要
であり、高価な校正ガスを浪費しているとともに
分析計の欠測（測定を行なつていない期間）を不
要に長くしていた。
また、(3)の方法では指示値の瞬時値を比較して
いるため、最終点とする指示値の差xoは分析計
のノイズレベルを考慮して設定する必要があり、
あまり小さくは設定できない。そのため最終値と
しての正確さに問題を生ずることもあり、その後
の指示安定までの時間の考慮を必要とする問題が
ある。
いるため、最終点とする指示値の差xoは分析計
のノイズレベルを考慮して設定する必要があり、
あまり小さくは設定できない。そのため最終値と
しての正確さに問題を生ずることもあり、その後
の指示安定までの時間の考慮を必要とする問題が
ある。
本発明は校正ガス導入後の指示の応答を自動的
にチエツクし、さらに若干のノイズレベルをもつ
分析計であつても指示が100％応答する終了点を
正しく検出し、手動校正の場合なら保守員に分析
計の補正可能の表示を行ない、また自動校正の場
合ならゼロ点又はスパン点の補正を実行して校正
ガス導入を終了することによつて、校正ガスの浪
費を防ぎ、校正時間を短縮して欠測時間の短縮を
図ることを目的とするものである。
にチエツクし、さらに若干のノイズレベルをもつ
分析計であつても指示が100％応答する終了点を
正しく検出し、手動校正の場合なら保守員に分析
計の補正可能の表示を行ない、また自動校正の場
合ならゼロ点又はスパン点の補正を実行して校正
ガス導入を終了することによつて、校正ガスの浪
費を防ぎ、校正時間を短縮して欠測時間の短縮を
図ることを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
本発明は校正ガス導入時の最終点を検出するた
めに、指示値の瞬時値を比較するのではなく、一
定時間の指示値の積算値を比較するようにした自
動決定機構である。
めに、指示値の瞬時値を比較するのではなく、一
定時間の指示値の積算値を比較するようにした自
動決定機構である。
本発明の第１の校正ガス導入自動決定機構は第
１図に記号２で示される構成を有する。すなわ
ち、校正ガス導入時の指示値ｘを一定時間Toの
間積算して積算値Stを得る信号積算部４と、この
信号積算部４の積算値StをSt′として記憶する積
算値メモリ６と、信号積算部４の現積算値Stと積
算値メモリ６に記憶されている前積算値St′とを
比較し、その差が一定値So以下であるか否か冷
を判断する積算値比較演算部８と、を備えてい
る。
１図に記号２で示される構成を有する。すなわ
ち、校正ガス導入時の指示値ｘを一定時間Toの
間積算して積算値Stを得る信号積算部４と、この
信号積算部４の積算値StをSt′として記憶する積
算値メモリ６と、信号積算部４の現積算値Stと積
算値メモリ６に記憶されている前積算値St′とを
比較し、その差が一定値So以下であるか否か冷
を判断する積算値比較演算部８と、を備えてい
る。
また、本発明の第２の校正ガス導入時間自動決
定機構は第２図に記号１０で示される構成を有す
る。すなわち、ｎ個のメモリ領域を有し、校正ガ
ス導入時の一定時間to（＝To／ｎ）間隔の指示値
ｘを後記第２の信号積算部１６の演算後に順次シ
フトしながら記憶していく瞬時値メモリ１２と、
この瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶値を積算して
積算値St′を得る第１の信号積算部１４と、瞬時
値メモリ１２のｎ個の記憶値のうちの新しい方の
（ｎ−１）個の記憶値x1〜ｘ（ｎ−１）と現指示値
ｘとを積算して積算値Stを得る第２の信号積算部
１６と、第１の信号積算部１４の積算値St′と第
２の信号積算部の積算値Stとを比較し、その差が
一定値So以下であるかを判断する積算値比較演
算部１８とを備えている。
定機構は第２図に記号１０で示される構成を有す
る。すなわち、ｎ個のメモリ領域を有し、校正ガ
ス導入時の一定時間to（＝To／ｎ）間隔の指示値
ｘを後記第２の信号積算部１６の演算後に順次シ
フトしながら記憶していく瞬時値メモリ１２と、
この瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶値を積算して
積算値St′を得る第１の信号積算部１４と、瞬時
値メモリ１２のｎ個の記憶値のうちの新しい方の
（ｎ−１）個の記憶値x1〜ｘ（ｎ−１）と現指示値
ｘとを積算して積算値Stを得る第２の信号積算部
１６と、第１の信号積算部１４の積算値St′と第
２の信号積算部の積算値Stとを比較し、その差が
一定値So以下であるかを判断する積算値比較演
算部１８とを備えている。
（作用）
第１図に示された校正ガス導入時間自動決定機
構では、第３図に示されるように、信号積算部４
の積算値Stは最新の一定時間Toの積算値であり、
積算値メモリ６の記憶値St′はその前の一定時間
Toでの積算値であり、積算値比較演算部８は両
積算値の差（St′−St）が一定値So以下であるか
否かを判断するものである また、第２図に示された校正ガス導入時間自動
決定機構では、第４図に示されるように、第２の
信号積算部１６の積算値Stは最新の一定時間To
の積算値であり、第１の信号積算部１４の積算値
St′はそれよりto（＝To／ｎ）時間前の一定時間
Toでの積算値であり、積算値比較演算部１８は
第１図の積算値比較演算部８と同じく両積算値の
差St′−St）が一定値So以下であるか否かを判断
するものである。
構では、第３図に示されるように、信号積算部４
の積算値Stは最新の一定時間Toの積算値であり、
積算値メモリ６の記憶値St′はその前の一定時間
Toでの積算値であり、積算値比較演算部８は両
積算値の差（St′−St）が一定値So以下であるか
否かを判断するものである また、第２図に示された校正ガス導入時間自動
決定機構では、第４図に示されるように、第２の
信号積算部１６の積算値Stは最新の一定時間To
の積算値であり、第１の信号積算部１４の積算値
St′はそれよりto（＝To／ｎ）時間前の一定時間
Toでの積算値であり、積算値比較演算部１８は
第１図の積算値比較演算部８と同じく両積算値の
差St′−St）が一定値So以下であるか否かを判断
するものである。
（実施例）
第５図は本発明が適用される連続ガス自動校正
システムである。２０は分析計であり、ガス導入
切換電磁弁２２により試料ガスと校正ガスである
ゼロガス、スパンガスが切り換えて導入される。
２３は校正ガスのボンベである。２４は本発明の
校正ガス導入時間自動決定機構２又は１０と、ガ
ス導入切換制御部２６とを備えた自動校正器であ
り、分析計２０から出力信号２８を受けて電磁弁
制御信号３０を出賄する。
システムである。２０は分析計であり、ガス導入
切換電磁弁２２により試料ガスと校正ガスである
ゼロガス、スパンガスが切り換えて導入される。
２３は校正ガスのボンベである。２４は本発明の
校正ガス導入時間自動決定機構２又は１０と、ガ
ス導入切換制御部２６とを備えた自動校正器であ
り、分析計２０から出力信号２８を受けて電磁弁
制御信号３０を出賄する。
第５図の連続ガス分析計自動校正システムに第
１図の校正ガス導入時間自動決定機構を備えた実
施例の動作について、第６図のフローチヤートを
参照する。
１図の校正ガス導入時間自動決定機構を備えた実
施例の動作について、第６図のフローチヤートを
参照する。
いま、測定中の分析計ゼロ点を補正する場合を
考えると、ゼロガス導入後分析計の出力信号は第
３図のように変化する。そこで、指示値が変化し
始めたら信号積算部４により一定時間Toの出力
信号を積算して積算値Stを得る（ステツプＳ１）。
その積算値Stを積算値メモリ６の記憶値St′と比
較し、その差（St′−St）が一定値So以下である
か否かを判定する（ステツプＳ２，Ｓ３）。
考えると、ゼロガス導入後分析計の出力信号は第
３図のように変化する。そこで、指示値が変化し
始めたら信号積算部４により一定時間Toの出力
信号を積算して積算値Stを得る（ステツプＳ１）。
その積算値Stを積算値メモリ６の記憶値St′と比
較し、その差（St′−St）が一定値So以下である
か否かを判定する（ステツプＳ２，Ｓ３）。
その差がSo以下でなければ、そのときの積算
値StをSt′として積算値メモリ６を更新した後、
ステツプＳ１へ戻つて再び一定時間Toの出力信
号を積算して積算値Stを得、積算値メモリ６の記
憶値St′との比較・判定を行なう。このサイクル
は差（St′−St）が一定値So以下になるまで繰り
返して行なわれる。
値StをSt′として積算値メモリ６を更新した後、
ステツプＳ１へ戻つて再び一定時間Toの出力信
号を積算して積算値Stを得、積算値メモリ６の記
憶値St′との比較・判定を行なう。このサイクル
は差（St′−St）が一定値So以下になるまで繰り
返して行なわれる。
なる時刻ｔにおいて、ステツプＳ３でその差
（St′−St）が一定値So以下になれば、その時の分
析計の出力信号の値ｘを最終値としてゼロ点の補
正を行ない、また、ガス導入切換制御部２６から
電磁弁制御信号３０を出力させて電磁弁２２を切
り換え、校正ガスの導入を停止する（ステツプＳ
３→Ｓ５）。
（St′−St）が一定値So以下になれば、その時の分
析計の出力信号の値ｘを最終値としてゼロ点の補
正を行ない、また、ガス導入切換制御部２６から
電磁弁制御信号３０を出力させて電磁弁２２を切
り換え、校正ガスの導入を停止する（ステツプＳ
３→Ｓ５）。
次に第５図の連続ガス分析計自動校正システム
に第２図の校正ガス導入時間自動決定機構を備え
た実施例の動作について、第７図のフローチヤー
トを参照して説明する。この場合もゼロ点の補正
を例にして考える。
に第２図の校正ガス導入時間自動決定機構を備え
た実施例の動作について、第７図のフローチヤー
トを参照して説明する。この場合もゼロ点の補正
を例にして考える。
指示値が変化し始めたらto（＝To／ｎ）時間間
隔の分析計の出力信号Ｘを読み取る（ステツプＳ
１１）。第１の信号積算部１４では瞬時値メモリ
１２のｎ個の記憶値x1〜xnを積算して積算値
St′を得（ステツプＳ１２）、第２の信号積算部１
６では瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶値のうちの
新しい（ｎ−１）個の記憶値x1〜ｘ（ｎ−１）と
読み取つた最新の信号値ｘとを積算して積算値St
を得る（ステツプＳ１３）。そして両積算値St′と
Stを比較してその差（St′−St）が一定値So以下
であるか否かを判定する（ステツプＳ１４，１
５）。
隔の分析計の出力信号Ｘを読み取る（ステツプＳ
１１）。第１の信号積算部１４では瞬時値メモリ
１２のｎ個の記憶値x1〜xnを積算して積算値
St′を得（ステツプＳ１２）、第２の信号積算部１
６では瞬時値メモリ１２のｎ個の記憶値のうちの
新しい（ｎ−１）個の記憶値x1〜ｘ（ｎ−１）と
読み取つた最新の信号値ｘとを積算して積算値St
を得る（ステツプＳ１３）。そして両積算値St′と
Stを比較してその差（St′−St）が一定値So以下
であるか否かを判定する（ステツプＳ１４，１
５）。
その差がSo以下でなければ、瞬時値メモリ１
２に記憶されている記憶値xiをｘ（ｉ＋１）に更
新するとともに最新の信号値ｘをx1として瞬時
値メモリ１２へ記憶（ステツプＳ１６）した後、
ステツプＳ１１へ戻り、再びto時間後の信号値ｘ
を読み取つて積算値St′とStを演算し、その比
較・判定を行なう。このサイクルも第６図と同じ
く差（St′−St）が一定値So以下になるまで繰り
返して行なわれる。
２に記憶されている記憶値xiをｘ（ｉ＋１）に更
新するとともに最新の信号値ｘをx1として瞬時
値メモリ１２へ記憶（ステツプＳ１６）した後、
ステツプＳ１１へ戻り、再びto時間後の信号値ｘ
を読み取つて積算値St′とStを演算し、その比
較・判定を行なう。このサイクルも第６図と同じ
く差（St′−St）が一定値So以下になるまで繰り
返して行なわれる。
そして、ある時刻ｔにおいて、ステツプＳ１５
でその差（St′−St）が一定値So以下になれば、
第６図の場合と同じくその時の分析計の出力信号
の値ｘを最終値としてゼロ点の補正を行ない、ま
た、ガス導入切換制御部２６から電磁弁制御信号
３０を出力させて電磁弁２２を切り換え、校正ガ
スの導入を停止する（ステツプＳ１５→Ｓ１７）。
でその差（St′−St）が一定値So以下になれば、
第６図の場合と同じくその時の分析計の出力信号
の値ｘを最終値としてゼロ点の補正を行ない、ま
た、ガス導入切換制御部２６から電磁弁制御信号
３０を出力させて電磁弁２２を切り換え、校正ガ
スの導入を停止する（ステツプＳ１５→Ｓ１７）。
第２図及び第７図で示された実施例の場合に
は、積算区分を少しずつずらさせながら最終点を
チエツクするので、積算期間Toによる遅れはな
くなる。
は、積算区分を少しずつずらさせながら最終点を
チエツクするので、積算期間Toによる遅れはな
くなる。
以上の実施例は、いずれもゼロガスを流した場
合について説明していたが、スパンガスを流した
場合でも同様である。
合について説明していたが、スパンガスを流した
場合でも同様である。
また、本発明は導入ガスの切換えと分析計の校
正を手動で行なうシステムに適用することもでき
る。その場合は導入ガス切換制御部２６は不要に
なり、校正ガス導入後指示が安定したと安定した
と判定した時にブザーやランプなどでオペレータ
に知らせるようにすればよい。
正を手動で行なうシステムに適用することもでき
る。その場合は導入ガス切換制御部２６は不要に
なり、校正ガス導入後指示が安定したと安定した
と判定した時にブザーやランプなどでオペレータ
に知らせるようにすればよい。
また、実施例では積算値の差（St′−St）が一
定値So以下になつた時点ｔを最終点として、直
にゼロ点を補正し校正ガスの供給を停止している
が、さらに高精度を期すために上記の時点ｔの一
定時間t′後を最終点とすることもできる。その場
合でもこの時間t′は、従来の第８図で示される方
法において同様の時間t′を設ける場合に比べる
と、非常に短かい時間で充分である。
定値So以下になつた時点ｔを最終点として、直
にゼロ点を補正し校正ガスの供給を停止している
が、さらに高精度を期すために上記の時点ｔの一
定時間t′後を最終点とすることもできる。その場
合でもこの時間t′は、従来の第８図で示される方
法において同様の時間t′を設ける場合に比べる
と、非常に短かい時間で充分である。
（発明の効果）
本発明によれば、分析計のノイズレベルを充分
に圧縮することができるので、最終点の基準にな
る積算値の差Soを非常に小さく設定することが
でき、正確な最終点チエツクが可能になるととも
に、再現性のよい最終点チエツクができるように
なる。したがつて、分析計の種類や測定成分の相
違に拘らず、また、同一分析計であつても流量変
化などによる応答速度の違いがあつても、さらに
ノイズレベルの比較的大きい分析計であつても、
最小の校正ガス消費で正しい最終点をチエツクす
ることができる。
に圧縮することができるので、最終点の基準にな
る積算値の差Soを非常に小さく設定することが
でき、正確な最終点チエツクが可能になるととも
に、再現性のよい最終点チエツクができるように
なる。したがつて、分析計の種類や測定成分の相
違に拘らず、また、同一分析計であつても流量変
化などによる応答速度の違いがあつても、さらに
ノイズレベルの比較的大きい分析計であつても、
最小の校正ガス消費で正しい最終点をチエツクす
ることができる。
第１図及び第２図はそれぞれ本発明の構成を示
すブロツク図、第３図は第１図の発明の作用を示
す波形図、第４図は第２図の発明の作用を示す波
形図、第５図は本発明が適用される自動校正シス
テムを示す概略図、第６図及び第７図はそれぞれ
実施例の動作を示すフローチヤート、第８図は従
来の方法を示す波形図である。 ４……信号積算部、６……積算値メモリ、８，
１８……積算値比較演算部、１２……瞬時値メモ
リ、１４……第１の信号積算部、１６……第２の
信号積算部。
すブロツク図、第３図は第１図の発明の作用を示
す波形図、第４図は第２図の発明の作用を示す波
形図、第５図は本発明が適用される自動校正シス
テムを示す概略図、第６図及び第７図はそれぞれ
実施例の動作を示すフローチヤート、第８図は従
来の方法を示す波形図である。 ４……信号積算部、６……積算値メモリ、８，
１８……積算値比較演算部、１２……瞬時値メモ
リ、１４……第１の信号積算部、１６……第２の
信号積算部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 連続分析計における校正ガス導入時の指示値
を一定時間積算する信号積算部と、 該信号積算部の積算値を記憶する積算値メモリ
と、 前記信号積算部の現積算値と前記積算値メモリ
に記憶されている前積算値とを比較し、その差が
一定値以下であるか否かを判断する積算値比較演
算部と、を備えたことを特徴とする校正ガス導入
時間自動決定機構。 ２ ｎ個のメモリ領域領域を有し、連続分析計に
おける校正ガス導入時の一定時間間隔の指示値を
後記第２の信号積算部の演算後に順次シフトさせ
ながら記憶していく瞬時値メモリと、 該瞬時値メモリのｎ個の記憶値を積算する第１
の信号積算部と、 前記瞬時値メモリのｎ個の記憶値のうち新しい
方の（ｎ−１）個の記憶値と親指示値とを積算す
る第２の信号積算部と、 前記第１及び第２の信号積算部の積算値を比較
し、その差が一定値以下であるか否かを判断する
積算値比較演算部と、を備えたことを特徴とする
校正ガス導入時間自動決定機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12231684A JPS61737A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12231684A JPS61737A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61737A JPS61737A (ja) | 1986-01-06 |
| JPH0574772B2 true JPH0574772B2 (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=14832933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12231684A Granted JPS61737A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61737A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008185527A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Sysmex Corp | 試料測定装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0688784A (ja) * | 1992-09-05 | 1994-03-29 | Horiba Ltd | ガス分析計の校正方法 |
| GB2369888A (en) * | 2000-12-11 | 2002-06-12 | Zellweger Analytics Ltd | Gas detector calibration device |
| JP5084395B2 (ja) * | 2007-08-10 | 2012-11-28 | 紀本電子工業株式会社 | ガス計測器 |
-
1984
- 1984-06-14 JP JP12231684A patent/JPS61737A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008185527A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Sysmex Corp | 試料測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61737A (ja) | 1986-01-06 |
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