JPS60159624A - 圧力測定装置の校正装置 - Google Patents
圧力測定装置の校正装置Info
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- JPS60159624A JPS60159624A JP1430384A JP1430384A JPS60159624A JP S60159624 A JPS60159624 A JP S60159624A JP 1430384 A JP1430384 A JP 1430384A JP 1430384 A JP1430384 A JP 1430384A JP S60159624 A JPS60159624 A JP S60159624A
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- Japan
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- pressure
- calibration
- transmitter
- measuring device
- pressure transmitter
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L27/00—Testing or calibrating of apparatus for measuring fluid pressure
- G01L27/002—Calibrating, i.e. establishing true relation between transducer output value and value to be measured, zeroing, linearising or span error determination
- G01L27/005—Apparatus for calibrating pressure sensors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、圧力測定装置、詳しくは、配管内の流体圧力
を測定する圧力測定装置を自動的に校正する装置に関づ
“る。
を測定する圧力測定装置を自動的に校正する装置に関づ
“る。
[発明の技術的背景コ
例えば原子力発電所において、廃液などの各種流体が流
れる配管内の流体圧力を測定する圧力測定装置の校正装
置として、従来、第1図に示り−ような校正装置が使用
されている。
れる配管内の流体圧力を測定する圧力測定装置の校正装
置として、従来、第1図に示り−ような校正装置が使用
されている。
この第1図に示す装置においては、プロセス配管1内に
流れる各種流体の圧力を測定するために、プロセス配管
1が連結管3′、計器元弁5および連結管3を介して圧
力測定装置である圧力伝送器7に連結されている。また
、連結管3には、校正用に使用するテスト弁9も連結さ
れている。そして、テスト弁9および圧力伝送器7を介
してそれぞれ点線13.27で示すように、校正装置1
1が接続される。この校正装置11は、点線13で示づ
ようにテスト弁9に接続される継手15と、この継手1
5にテスト用配管17を介し−Cそれぞれ接続された精
密圧力計25、加圧弁21および減圧弁23と、前記加
圧弁21に接続された加圧源である窒素(N2)ボンベ
19と、更に点線27で示jように圧力伝送器7に接続
されたディジタルポルトメータ29とから構成される装
置前記ディジタルポルトメータ29は、圧力伝送器7で
測定した圧力の電気信号に変換されたものを受信しディ
ジタル的に表示舊るものである。
流れる各種流体の圧力を測定するために、プロセス配管
1が連結管3′、計器元弁5および連結管3を介して圧
力測定装置である圧力伝送器7に連結されている。また
、連結管3には、校正用に使用するテスト弁9も連結さ
れている。そして、テスト弁9および圧力伝送器7を介
してそれぞれ点線13.27で示すように、校正装置1
1が接続される。この校正装置11は、点線13で示づ
ようにテスト弁9に接続される継手15と、この継手1
5にテスト用配管17を介し−Cそれぞれ接続された精
密圧力計25、加圧弁21および減圧弁23と、前記加
圧弁21に接続された加圧源である窒素(N2)ボンベ
19と、更に点線27で示jように圧力伝送器7に接続
されたディジタルポルトメータ29とから構成される装
置前記ディジタルポルトメータ29は、圧力伝送器7で
測定した圧力の電気信号に変換されたものを受信しディ
ジタル的に表示舊るものである。
このように構成されたものにおいて、通常、圧ツノ伝送
器7でプロセス配管1内の流体圧力を測定リ−る場合に
は、計器元弁5を開き、テスト弁9を閉じて、プロセス
配管1内の流体圧力のみが圧ノコ伝送器7に印加される
ようにしている。
器7でプロセス配管1内の流体圧力を測定リ−る場合に
は、計器元弁5を開き、テスト弁9を閉じて、プロセス
配管1内の流体圧力のみが圧ノコ伝送器7に印加される
ようにしている。
一方、この圧力伝送器7を校正する場合には、4器元弁
5を閉じて、プロセス配管1内の流体圧力が圧り伝送器
7に与えられないようにするとともに、テスト弁9に継
手15を接続し、かつテスト弁9を開き、連結管3、テ
スト弁9、継手15、デスト用配管17を介して圧力伝
送器7を精密圧力計25、)III圧弁21、減圧弁2
3に接続し、更に加圧弁21を介してN2ボンベ19に
接続Jる。
5を閉じて、プロセス配管1内の流体圧力が圧り伝送器
7に与えられないようにするとともに、テスト弁9に継
手15を接続し、かつテスト弁9を開き、連結管3、テ
スト弁9、継手15、デスト用配管17を介して圧力伝
送器7を精密圧力計25、)III圧弁21、減圧弁2
3に接続し、更に加圧弁21を介してN2ボンベ19に
接続Jる。
そして、校正に当っては、減圧弁23を閉じた状態で精
密圧ツノ計25を監視しながら加圧弁21を徐々に開い
て圧力伝送器7に圧力を供給して加圧したり、あるいは
加圧弁21を閉じ減圧弁23を徐々に開いて減圧したり
して、各時点における精密圧力計25で表示される基準
の圧ツノ値と圧力伝送器7で測定されディジタルポルト
メータ29で表示された圧力値とを比較し、比較の結果
、両者に差がある場合には、圧力伝送器7を精密圧力計
25に合わせるように校正する。
密圧ツノ計25を監視しながら加圧弁21を徐々に開い
て圧力伝送器7に圧力を供給して加圧したり、あるいは
加圧弁21を閉じ減圧弁23を徐々に開いて減圧したり
して、各時点における精密圧力計25で表示される基準
の圧ツノ値と圧力伝送器7で測定されディジタルポルト
メータ29で表示された圧力値とを比較し、比較の結果
、両者に差がある場合には、圧力伝送器7を精密圧力計
25に合わせるように校正する。
[背景技術の問題点コ
ところで、前述した従来の校正方法は、圧力伝送器7へ
の圧力を増減して、いくつかの基準圧力11ムにおいて
行なう点校正である。そして、この校正点としては、圧
力伝送器7のフルスケールに対する、例えば0%、25
%、50%、75%。
の圧力を増減して、いくつかの基準圧力11ムにおいて
行なう点校正である。そして、この校正点としては、圧
力伝送器7のフルスケールに対する、例えば0%、25
%、50%、75%。
100%、75%、50%、25%、0%などの各点が
選ばれ、校正時には、これらの各校正点に合わせるよう
に精密圧力計25を監視しながら加圧弁21または減圧
弁23をマニュ)ノルによっ°C間度調整している。し
かしながら、この各校正点における圧ツノ値は、校正に
際しての基準となるものであるため、正確に設定する必
要があり、この結果、各校正点に合わせるのに弁囲度の
微小調整が必要となるが、従来はこの微小調整をマニュ
アルで行なわれなりればならないため校正に多大の時間
がかかるという問題がある。このことは、圧力伝送器7
が現場設置の状態で校正するものである1=め、校正時
間が長いと、原子力発電所の廃液を処理り−るJ、うな
配管の場□合には、作業員の安全レベルを越える被爆を
受けることになる。加えて、各校正点における圧力設定
状況は、校正者が精密圧力計25を読み取るこによって
行なっているため、個人差が生じ、正確な校正圧力の設
定ができないおそれがある。このことは、特に原子カプ
ラントのブ[1セス測定機器の精度が一般に±0.4%
という高精度を有するものであって、校正作業も念入す
なものを必要とづ°るので、従来のような人手による)
)法では、十分にその精度を満足できないという問題に
つながる。
選ばれ、校正時には、これらの各校正点に合わせるよう
に精密圧力計25を監視しながら加圧弁21または減圧
弁23をマニュ)ノルによっ°C間度調整している。し
かしながら、この各校正点における圧ツノ値は、校正に
際しての基準となるものであるため、正確に設定する必
要があり、この結果、各校正点に合わせるのに弁囲度の
微小調整が必要となるが、従来はこの微小調整をマニュ
アルで行なわれなりればならないため校正に多大の時間
がかかるという問題がある。このことは、圧力伝送器7
が現場設置の状態で校正するものである1=め、校正時
間が長いと、原子力発電所の廃液を処理り−るJ、うな
配管の場□合には、作業員の安全レベルを越える被爆を
受けることになる。加えて、各校正点における圧力設定
状況は、校正者が精密圧力計25を読み取るこによって
行なっているため、個人差が生じ、正確な校正圧力の設
定ができないおそれがある。このことは、特に原子カプ
ラントのブ[1セス測定機器の精度が一般に±0.4%
という高精度を有するものであって、校正作業も念入す
なものを必要とづ°るので、従来のような人手による)
)法では、十分にその精度を満足できないという問題に
つながる。
[発明の目的]
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的とし
ては、校正作業を迅速かつ正確に行なうことができる圧
力測定装置の校正装置を提供づることにある。
ては、校正作業を迅速かつ正確に行なうことができる圧
力測定装置の校正装置を提供づることにある。
[発明の概要]
上記目的を達成するために、本発明は、配管から連結管
を介して伝達される当該配管内の流体の圧力を測定゛す
る圧力測定装置を校正する装置であって、所定のパター
ンで圧力値を逐次設定する校正用圧力バターン設定手段
と、前記圧力測定装置に校正用圧力バターン設定手段で
逐次設定されて行く圧力値を印加制御する圧力制御手段
と、前記圧ツノ設定装置で測定された圧力と前記圧力制
御手段によって印加された圧力とを比較し前記圧力測定
装置の計器誤差をめる演算手段とを有り−る構成とした
ことを要旨とする。
を介して伝達される当該配管内の流体の圧力を測定゛す
る圧力測定装置を校正する装置であって、所定のパター
ンで圧力値を逐次設定する校正用圧力バターン設定手段
と、前記圧力測定装置に校正用圧力バターン設定手段で
逐次設定されて行く圧力値を印加制御する圧力制御手段
と、前記圧ツノ設定装置で測定された圧力と前記圧力制
御手段によって印加された圧力とを比較し前記圧力測定
装置の計器誤差をめる演算手段とを有り−る構成とした
ことを要旨とする。
[発明の実施例]
以下、本弁明を図示の実施例により説明−りる。
第2図は、本発明の一実施例に係る圧ツノ測定装置の校
正装置を示Jものである。同図において、プロセス配管
1から圧力伝送器7およびデスト弁9に至るまでの圧力
測定装置側の(14成は、第1図の構成と同じである。
正装置を示Jものである。同図において、プロセス配管
1から圧力伝送器7およびデスト弁9に至るまでの圧力
測定装置側の(14成は、第1図の構成と同じである。
そして、このように構成された圧力8(1j定装置側に
対してテスト弁9に接続された継手15および点線27
で示づように圧ノコ伝送器7を介して校正装@31が接
続されている。
対してテスト弁9に接続された継手15および点線27
で示づように圧ノコ伝送器7を介して校正装@31が接
続されている。
校正装@31は、サーボ弁33.精密圧力ドランスミッ
タ35.演算回路37.比較演算回路39゜圧力設定回
路41.調整回路43を有する。
タ35.演算回路37.比較演算回路39゜圧力設定回
路41.調整回路43を有する。
サーボ弁33は、入力が圧力配管47および元弁21を
介して窒素(N2)ボンベ19に接続され、出力がデス
ト用配管17.継手15.デスト弁9.導圧管3を介し
て圧力伝送器7に接続され−(おり、N2ボンベ19か
らの窒素圧力を弁の開度調整によって制御して圧力伝送
器7に伝達4るものである。また、サーボ弁33は、出
力がデスト用配管17を介して精密J土カドランスミッ
タ35にも接続されており、弁の開度調整によっC制御
している圧力伝送器7への伝達圧力を当該精密圧力ドラ
ンスミッタ35にも出力している。このサーボ弁33に
おける弁の開度調整は、後述する調整回路43からの開
度調整信号に応じて行なわれる。一方、サーボ弁33は
、大気開放の排気ライン49を有しており、当該排気ラ
インを介して前記デスト用配管17から圧)j伝送器7
に至る配管中の圧力を減圧し得るようになっている。な
お、本実施例の校正装置31では、N2ボンベを加圧源
として用いた場合については説明しているが、N2ボン
ベに限るものでなく、例えば被校正用計器である圧力伝
送器の傍に計装用空気があれば、これを加圧源として利
用することも右゛効である。
介して窒素(N2)ボンベ19に接続され、出力がデス
ト用配管17.継手15.デスト弁9.導圧管3を介し
て圧力伝送器7に接続され−(おり、N2ボンベ19か
らの窒素圧力を弁の開度調整によって制御して圧力伝送
器7に伝達4るものである。また、サーボ弁33は、出
力がデスト用配管17を介して精密J土カドランスミッ
タ35にも接続されており、弁の開度調整によっC制御
している圧力伝送器7への伝達圧力を当該精密圧力ドラ
ンスミッタ35にも出力している。このサーボ弁33に
おける弁の開度調整は、後述する調整回路43からの開
度調整信号に応じて行なわれる。一方、サーボ弁33は
、大気開放の排気ライン49を有しており、当該排気ラ
インを介して前記デスト用配管17から圧)j伝送器7
に至る配管中の圧力を減圧し得るようになっている。な
お、本実施例の校正装置31では、N2ボンベを加圧源
として用いた場合については説明しているが、N2ボン
ベに限るものでなく、例えば被校正用計器である圧力伝
送器の傍に計装用空気があれば、これを加圧源として利
用することも右゛効である。
精密圧力ドランスミッタ35は、サーボ弁33から伝達
される圧力、ずなわら圧力伝送器7に加わっている圧力
を電気信号に変換して演算回路37および比較演算回路
39に出力する。
される圧力、ずなわら圧力伝送器7に加わっている圧力
を電気信号に変換して演算回路37および比較演算回路
39に出力する。
比較演算回路39は、前)ホした精密圧ツノ1ヘランス
ミツタ35の出力信号と圧力設定回路41の出力信号と
を入力として比較し、両名の差を演算して出力として調
整回路43に印加するものである。
ミツタ35の出力信号と圧力設定回路41の出力信号と
を入力として比較し、両名の差を演算して出力として調
整回路43に印加するものである。
圧力設定回路41は、所定のパターンで圧力値を逐次設
定する機能を有する。したがって、比較演算回路39は
、圧力設定回路41から時間経過に伴い設定圧力に応じ
た信号が逐次入力されるので、各時刻にお(プる設定圧
力と精密圧ツノトランスミッタ35からの圧力信号、す
なわら圧力伝送器7に伝達されている圧力との差を調整
回路43に出力づる。なお、圧力設定回路41におI:
Iる圧力設定パターンは校正員が任意に設定可能でその
パターン例としては、第3図およびN’i 4図に承り
ようなものがある。第3図に示(パターンは、圧ツノ設
定パターンが実線5)1でシjりされており、圧力が時
間経過に伴つC圧力伝送器7のフルスケールに3・1シ
て0%、25%、50%、7E5%、100%。
定する機能を有する。したがって、比較演算回路39は
、圧力設定回路41から時間経過に伴い設定圧力に応じ
た信号が逐次入力されるので、各時刻にお(プる設定圧
力と精密圧ツノトランスミッタ35からの圧力信号、す
なわら圧力伝送器7に伝達されている圧力との差を調整
回路43に出力づる。なお、圧力設定回路41におI:
Iる圧力設定パターンは校正員が任意に設定可能でその
パターン例としては、第3図およびN’i 4図に承り
ようなものがある。第3図に示(パターンは、圧ツノ設
定パターンが実線5)1でシjりされており、圧力が時
間経過に伴つC圧力伝送器7のフルスケールに3・1シ
て0%、25%、50%、7E5%、100%。
75%、50%、25%、0%の点で逐次段階的に変化
りるものである。第4図に示すパターンは、圧力がラン
プ状になめらかに変化しながら1井し、下降時には階段
状に変化−りるムのである。このように校正用の仕方設
定パターンは、作業員が校正時任意に設定可能なように
X軸を時間、Y軸を圧ノJ設定値としたx−yim指定
の折線プログラムとすると便利である。
りるものである。第4図に示すパターンは、圧力がラン
プ状になめらかに変化しながら1井し、下降時には階段
状に変化−りるムのである。このように校正用の仕方設
定パターンは、作業員が校正時任意に設定可能なように
X軸を時間、Y軸を圧ノJ設定値としたx−yim指定
の折線プログラムとすると便利である。
調整回路43は、比較演算回路39からの圧力差信号を
入力して、当該圧力差をなくずような方向、すなわら圧
力設定回路41で設定された圧力と圧力伝送器7に伝達
されている圧力とが等しくなるようにサーボ弁33の開
度を制御りる開度調整信号をサーボ弁33に出力するも
のである。詳細には、調整回路43では前記圧力差に基
づぎ例えばP1演算を行ない、この演膣結果に応じてサ
ーボ弁33の開度を調整する。
入力して、当該圧力差をなくずような方向、すなわら圧
力設定回路41で設定された圧力と圧力伝送器7に伝達
されている圧力とが等しくなるようにサーボ弁33の開
度を制御りる開度調整信号をサーボ弁33に出力するも
のである。詳細には、調整回路43では前記圧力差に基
づぎ例えばP1演算を行ない、この演膣結果に応じてサ
ーボ弁33の開度を調整する。
したがって、校正装置31にJ5いて4.L、ザー・ボ
弁33.精密圧力ドランスミッタ35、比較演算回路3
9、調整回路43で実質的に閉ループが形成され、校正
時には圧力伝送器7に印加りる圧力を圧ツノ設定回路4
1による設定11力に常に等しくなるように制御覆る機
能を有している。
弁33.精密圧力ドランスミッタ35、比較演算回路3
9、調整回路43で実質的に閉ループが形成され、校正
時には圧力伝送器7に印加りる圧力を圧ツノ設定回路4
1による設定11力に常に等しくなるように制御覆る機
能を有している。
一方、演算回路37は、圧力伝送器7からの測定圧力信
号と精密11力I−ランスミッタ335)から出ノJさ
れる圧力伝送器7に印加されている圧力イー号とを入力
し、両者の圧力差を演算して、この圧力差を記録づ−ベ
く図示しないプリンタ等の記録手段に当該圧力差を応じ
た信号を出力するものである。
号と精密11力I−ランスミッタ335)から出ノJさ
れる圧力伝送器7に印加されている圧力イー号とを入力
し、両者の圧力差を演算して、この圧力差を記録づ−ベ
く図示しないプリンタ等の記録手段に当該圧力差を応じ
た信号を出力するものである。
演算回路37で演節される圧力差は被校正計器である圧
力伝送器7の計器誤差であり、演算回路37は当該割型
誤差を次式で算出する。
力伝送器7の計器誤差であり、演算回路37は当該割型
誤差を次式で算出する。
校正圧力値−測定圧力値
誤差−’ xioo(%)
測定範囲
なお、演算回路37は、圧力伝送器7 J>よび精密圧
力ドランスミッタ35からの信号の入ノJを、前記圧力
設定回路41が所定の校正時間間隔t、y で出ノjす
“る信号の入力時に行なう。この校正時間間隔tvJ
は、校正前に予めマニュアル設定される。
力ドランスミッタ35からの信号の入ノJを、前記圧力
設定回路41が所定の校正時間間隔t、y で出ノjす
“る信号の入力時に行なう。この校正時間間隔tvJ
は、校正前に予めマニュアル設定される。
以上のように、本発明の一実施例である圧ツノ測定装置
の校正装置は4j、i成されている。次にその作用につ
いて第3図を用いて説明する。なa3、第3図において
、一点鎖線53は圧力伝送器7にJζる圧力の測定値変
化を示ψ。圧力伝送器7がプロレス配管1内の流体圧力
を測定している時・には、デスト弁9は閉じ、h1器元
弁5が開放し、プロレス配管1内の流体圧力が圧ノj伝
送器7に印加され、校正量@31は、停止状態にある、
1 圧ノJ伝送器7を校正づる場合には、まず計器元弁5を
閉じプロセス配管1内の流体圧力が圧ツノ伝送器7に影
響しないようにし、次にテスト弁9を開放する。それか
ら元弁21.を間き、N2ボンベ19からの圧縮窒素を
サーボ弁33、テスト用配管17、テスト弁9を介して
圧力伝送器7に供給し得るようにする。なお、元弁21
を開く前には、テスト用配管17から圧力伝送器7に至
る配管内の圧力を排気ライン49を介して一度人気開放
状態にして減圧する作業を行ない、圧力伝送器7には圧
力がかからないようにしておく。これらの作業が終了り
ると、校正装置31を駆動開始させる。
の校正装置は4j、i成されている。次にその作用につ
いて第3図を用いて説明する。なa3、第3図において
、一点鎖線53は圧力伝送器7にJζる圧力の測定値変
化を示ψ。圧力伝送器7がプロレス配管1内の流体圧力
を測定している時・には、デスト弁9は閉じ、h1器元
弁5が開放し、プロレス配管1内の流体圧力が圧ノj伝
送器7に印加され、校正量@31は、停止状態にある、
1 圧ノJ伝送器7を校正づる場合には、まず計器元弁5を
閉じプロセス配管1内の流体圧力が圧ツノ伝送器7に影
響しないようにし、次にテスト弁9を開放する。それか
ら元弁21.を間き、N2ボンベ19からの圧縮窒素を
サーボ弁33、テスト用配管17、テスト弁9を介して
圧力伝送器7に供給し得るようにする。なお、元弁21
を開く前には、テスト用配管17から圧力伝送器7に至
る配管内の圧力を排気ライン49を介して一度人気開放
状態にして減圧する作業を行ない、圧力伝送器7には圧
力がかからないようにしておく。これらの作業が終了り
ると、校正装置31を駆動開始させる。
校正装置31は、圧力設定回路41が設定す゛る第3図
の実線51に示りごとさ所定の圧力変化パターンに応じ
てサーボ弁33を介して圧力伝送器7に圧力を印加して
行くと共に、予め設定された校正時間間隔[W の瓜(
時刻to、t、、t2゜・・・、tn)に演算回路37
において圧力伝送器7による第5図の一点鎖線53に示
す如き測定圧力値を入力し−C’!J4該圧力伝送器7
の計器誤差を演算してブリントアウトシてi)<。
の実線51に示りごとさ所定の圧力変化パターンに応じ
てサーボ弁33を介して圧力伝送器7に圧力を印加して
行くと共に、予め設定された校正時間間隔[W の瓜(
時刻to、t、、t2゜・・・、tn)に演算回路37
において圧力伝送器7による第5図の一点鎖線53に示
す如き測定圧力値を入力し−C’!J4該圧力伝送器7
の計器誤差を演算してブリントアウトシてi)<。
そして、前記圧力変化パターンに応じた圧力変化に伴っ
−C演粋した計器誤差のプリン1〜アウト終了後に、校
正者は、このプリン]・アウトされた計器誤差データに
基づき圧力伝送器7を校正する。
−C演粋した計器誤差のプリン1〜アウト終了後に、校
正者は、このプリン]・アウトされた計器誤差データに
基づき圧力伝送器7を校正する。
なJ3、前述した実施例においては、演算回路37、比
較演掠回路39、圧力設定回路41、調整回路43がワ
イ\フードロジックにより設計され−Cいる場合のもの
であるが、これらは中火処理装置(CPU)、記憶装置
、人出力インターフ1−スからなる」ンビュータ、特に
マイクロコンピュータd−31、びラフ1〜ウエアにJ
、る各機能に対応する1幾重実現手段によつ−Cも同様
に達成し得るものであり、この−例を第5図のフローチ
ャートを用いC説明Jる。
較演掠回路39、圧力設定回路41、調整回路43がワ
イ\フードロジックにより設計され−Cいる場合のもの
であるが、これらは中火処理装置(CPU)、記憶装置
、人出力インターフ1−スからなる」ンビュータ、特に
マイクロコンピュータd−31、びラフ1〜ウエアにJ
、る各機能に対応する1幾重実現手段によつ−Cも同様
に達成し得るものであり、この−例を第5図のフローチ
ャートを用いC説明Jる。
CP Uは、校正量1rIに際して、まず校正用の圧力
変化パターンおよび設h1誤差を演算J−る校正時間間
隔t、A/ を図示しない入力手段から読込み、その後
校正を開始りる(ステップ110.120>。
変化パターンおよび設h1誤差を演算J−る校正時間間
隔t、A/ を図示しない入力手段から読込み、その後
校正を開始りる(ステップ110.120>。
CPUば、校正fil始と共に読込んだ圧力変化パター
ンに応じてサーボ弁33の聞瓜を制御し“C圧力伝送器
7に印加−りる圧力を変化さして行く。CPUは、この
圧力変化に伴い、校正開始峙から先に読込んだ校正時1
’i!lr!!]隔tW 毎に精畜圧ツノ1−ランスミ
ッタ35および圧力伝送器7からの圧ツノ値を読み込ん
で、計器誤差を演算すると只に記憶しC行く(ステップ
130〜160)。そして、CI−’ Uは、前記所定
の圧力変化パターンの終了を検出Jると、記憶した圧力
伝送器7にJ、る測定圧力値、精密トランスミッタ35
による圧ツノ値、口器誤差をプリントアラトリーる(テ
ップ180)。
ンに応じてサーボ弁33の聞瓜を制御し“C圧力伝送器
7に印加−りる圧力を変化さして行く。CPUは、この
圧力変化に伴い、校正開始峙から先に読込んだ校正時1
’i!lr!!]隔tW 毎に精畜圧ツノ1−ランスミ
ッタ35および圧力伝送器7からの圧ツノ値を読み込ん
で、計器誤差を演算すると只に記憶しC行く(ステップ
130〜160)。そして、CI−’ Uは、前記所定
の圧力変化パターンの終了を検出Jると、記憶した圧力
伝送器7にJ、る測定圧力値、精密トランスミッタ35
による圧ツノ値、口器誤差をプリントアラトリーる(テ
ップ180)。
そして、校正者は、このプリン1〜アウトされたデータ
に基づき圧力伝送器7を校正りる。
に基づき圧力伝送器7を校正りる。
なお、校正用圧力を段階状に設定し、同一圧力の設定を
長くして、従来のような点校正を(′jなう場合にも本
発明の校正装置は適用し?H7るbのCある。この場合
は、被校正計器の出力信号が安定したことを校正圧力と
の差で検出し、この検出後に次の圧力校正点に自動的に
移行してもよい。
長くして、従来のような点校正を(′jなう場合にも本
発明の校正装置は適用し?H7るbのCある。この場合
は、被校正計器の出力信号が安定したことを校正圧力と
の差で検出し、この検出後に次の圧力校正点に自動的に
移行してもよい。
また史に、同一のプロレスラインを多くの計器で測定し
Cいる場合、1台の校正装置で複数の61器を校正でき
るように校正用圧力設定値を多チャンネルにすることが
できる。
Cいる場合、1台の校正装置で複数の61器を校正でき
るように校正用圧力設定値を多チャンネルにすることが
できる。
「発明の効果」
以上説明したように、本発明によれば、所定パターンの
校正用圧力が逐次設定され、この校正用圧力に従って連
続的かつ自動的に圧力測定装置の測定誤差をめているの
ぐ、従来のように人手による校正用圧力の設定等の調整
を必要とゼず作業員による読み取り誤差などがなく、圧
力測定装置をぞの全測定範囲にわたって正確かつ迅速に
校正づることができる。また、本発明では、校正装置仝
イホが−Lニツ1へ化し1!7るため、従来のように現
場で各部品や校正計器類をヒラ1〜アツプする時間が節
約でき、前記効果をより実効あらしめている。
校正用圧力が逐次設定され、この校正用圧力に従って連
続的かつ自動的に圧力測定装置の測定誤差をめているの
ぐ、従来のように人手による校正用圧力の設定等の調整
を必要とゼず作業員による読み取り誤差などがなく、圧
力測定装置をぞの全測定範囲にわたって正確かつ迅速に
校正づることができる。また、本発明では、校正装置仝
イホが−Lニツ1へ化し1!7るため、従来のように現
場で各部品や校正計器類をヒラ1〜アツプする時間が節
約でき、前記効果をより実効あらしめている。
また、校正時間の短縮により、原子力発電所の廃液処理
に使用されるものであって−b1校正者の被爆低減を図
ることかできる。
に使用されるものであって−b1校正者の被爆低減を図
ることかできる。
第1図は従来の圧力測定装置の校正装置の一例を示す図
、F 2図は本発明の一実施例に係る圧力測定装置の校
正装置を示4図、第3図おJ、び第4図は第2図の圧力
測定装置の校正装置に使用する校正用の設定圧力バター
ンを示す図、第5図は第2図の圧ツノ測定装置の校正装
置の制御部の一部をコンピュータで実現した場合のフロ
ーチt?−1〜を示す図である。 1・・・ブ自セス配管 5・・・61器元弁7・・・ノ
■力伝送器 19・・・N2ボンベ33・・・サーボ弁 35・・・精密圧力ドランスミッタ 37・・・演粋回路 39・・・比較演算回路41・・
・圧力設定回路 43・・・調整回路第1図 第3図 第4図 a)向
、F 2図は本発明の一実施例に係る圧力測定装置の校
正装置を示4図、第3図おJ、び第4図は第2図の圧力
測定装置の校正装置に使用する校正用の設定圧力バター
ンを示す図、第5図は第2図の圧ツノ測定装置の校正装
置の制御部の一部をコンピュータで実現した場合のフロ
ーチt?−1〜を示す図である。 1・・・ブ自セス配管 5・・・61器元弁7・・・ノ
■力伝送器 19・・・N2ボンベ33・・・サーボ弁 35・・・精密圧力ドランスミッタ 37・・・演粋回路 39・・・比較演算回路41・・
・圧力設定回路 43・・・調整回路第1図 第3図 第4図 a)向
Claims (1)
- 流体の圧力を測定する圧力測定!ii置を校正する装置
であって、所定のパターンで圧力値を逐次設定する校正
用圧力バターン設定手段と、流体が遮断された校正時の
前記圧力測定装置に校正用圧力バターン設定手段で逐次
設定されC行く圧力値を印加制御する圧力制御手段と、
前記圧力測定装置で測定された圧ノjと前記圧ノコ制御
手段によって印加された圧力とを比較し前記圧力測定装
置の計器誤差をめる演埠手段とを有することを特徴とす
る圧力測定装置の校正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1430384A JPS60159624A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 圧力測定装置の校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1430384A JPS60159624A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 圧力測定装置の校正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60159624A true JPS60159624A (ja) | 1985-08-21 |
Family
ID=11857328
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1430384A Pending JPS60159624A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 圧力測定装置の校正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60159624A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02281120A (ja) * | 1989-04-24 | 1990-11-16 | Chubu Electric Power Co Inc | 圧力計器校正装置 |
JP2009172097A (ja) * | 2008-01-23 | 2009-08-06 | Omron Healthcare Co Ltd | 血圧計および血圧計の測定精度確認システム |
CN103439050A (zh) * | 2013-08-30 | 2013-12-11 | 国家电网公司 | 一种校验真空的液柱式简易测量装置 |
CN113504005A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-10-15 | 武汉飞恩微电子有限公司 | 压力传感器的校准方法、装置、设备及存储介质 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56107142A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-25 | Toshiba Corp | Property evaluation device for semiconductor pressure detection element |
JPS5716842B2 (ja) * | 1978-03-24 | 1982-04-07 |
-
1984
- 1984-01-31 JP JP1430384A patent/JPS60159624A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5716842B2 (ja) * | 1978-03-24 | 1982-04-07 | ||
JPS56107142A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-25 | Toshiba Corp | Property evaluation device for semiconductor pressure detection element |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02281120A (ja) * | 1989-04-24 | 1990-11-16 | Chubu Electric Power Co Inc | 圧力計器校正装置 |
JP2009172097A (ja) * | 2008-01-23 | 2009-08-06 | Omron Healthcare Co Ltd | 血圧計および血圧計の測定精度確認システム |
CN103439050A (zh) * | 2013-08-30 | 2013-12-11 | 国家电网公司 | 一种校验真空的液柱式简易测量装置 |
CN113504005A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-10-15 | 武汉飞恩微电子有限公司 | 压力传感器的校准方法、装置、设备及存储介质 |
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