JP2618952B2 - 差圧伝送器の校正装置 - Google Patents
差圧伝送器の校正装置Info
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- JP2618952B2 JP2618952B2 JP63035609A JP3560988A JP2618952B2 JP 2618952 B2 JP2618952 B2 JP 2618952B2 JP 63035609 A JP63035609 A JP 63035609A JP 3560988 A JP3560988 A JP 3560988A JP 2618952 B2 JP2618952 B2 JP 2618952B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、例えば原子力発電設備に配設されている各
プログラム配管の差圧を測定する差圧伝送器の校正装置
に関する。
プログラム配管の差圧を測定する差圧伝送器の校正装置
に関する。
（従来の技術） 原子力発電所においては蒸気や廃液等の各種流体が流
れる管が配設されている。このような各管の差圧を測定
することは原子力発電の運転の安全性向上を図るために
重要である。
れる管が配設されている。このような各管の差圧を測定
することは原子力発電の運転の安全性向上を図るために
重要である。
ところで、かかる差圧を測定するために差圧伝送器が
使用されるが、この差圧伝送器は例えば１年に２回の割
にその動作特性が正常であるか検査されて校正されてい
る。第３図は差圧伝送器の校正装置であって、各種流体
の流れる各プロセス配管1,2にはそれぞれラック元弁3,4
が設けられた各連通管5,6が接続されている。そして、
これら連通管5,6はそれぞれドレン弁7,8を通して共通接
続されている。さて、これら連通管5,6のうち連通管５
には第１校正用配管９が接続されるとともに連通管６に
は第２校正用配管10が接続されている。これら第１及び
第２校正用配管9,10には、それぞれ均圧弁11,12,13が接
続され、かつこれら第１及び第２校正用配管9,10の終端
にそれぞれテスト弁14,15が接続されている。なお、均
圧弁13は第１及び第２校正用配管9,10を連通する如く接
続されている。そして、第１及び第２校正用配管9,10の
間に差圧伝送器16が接続されている。ここで、第１校正
用配管９が差圧伝送器16の高圧側の導入口に接続され、
第２校正用配管10が差圧伝送器16の低圧側の導入口に接
続されている。
使用されるが、この差圧伝送器は例えば１年に２回の割
にその動作特性が正常であるか検査されて校正されてい
る。第３図は差圧伝送器の校正装置であって、各種流体
の流れる各プロセス配管1,2にはそれぞれラック元弁3,4
が設けられた各連通管5,6が接続されている。そして、
これら連通管5,6はそれぞれドレン弁7,8を通して共通接
続されている。さて、これら連通管5,6のうち連通管５
には第１校正用配管９が接続されるとともに連通管６に
は第２校正用配管10が接続されている。これら第１及び
第２校正用配管9,10には、それぞれ均圧弁11,12,13が接
続され、かつこれら第１及び第２校正用配管9,10の終端
にそれぞれテスト弁14,15が接続されている。なお、均
圧弁13は第１及び第２校正用配管9,10を連通する如く接
続されている。そして、第１及び第２校正用配管9,10の
間に差圧伝送器16が接続されている。ここで、第１校正
用配管９が差圧伝送器16の高圧側の導入口に接続され、
第２校正用配管10が差圧伝送器16の低圧側の導入口に接
続されている。
一方、17は校正装置であって、ディジタルボルトメー
タ18、窒素ボンベ19及び精密圧力計20が備えられてい
る。ディジタルボルトメータ18は差圧伝送器16は接続さ
れるものであり、又窒素ポンプ19は加圧弁21,継手22を
介してテスト弁14に連通させて接続されるものである。
なお、23は減圧弁である。
タ18、窒素ボンベ19及び精密圧力計20が備えられてい
る。ディジタルボルトメータ18は差圧伝送器16は接続さ
れるものであり、又窒素ポンプ19は加圧弁21,継手22を
介してテスト弁14に連通させて接続されるものである。
なお、23は減圧弁である。
かかる構成においてプロセス配管1,2の差圧を測定す
る場合は、各ラッチ弁3,4及び各均圧弁11,12を開放する
とともに均圧弁13,各ドレン弁7,8及び各テスト弁14,15
を閉じて行なわれる。
る場合は、各ラッチ弁3,4及び各均圧弁11,12を開放する
とともに均圧弁13,各ドレン弁7,8及び各テスト弁14,15
を閉じて行なわれる。
一方、校正を行う場合は、先ず各ラック弁3,4を閉じ
るとともに各ドレン弁7,8を開いて、各プロセス配管1,2
の圧力が各連通管5,6に加わらないようにするとともに
各連通管5,6内の流体を抜く。この状態にディジタルボ
ルトメータ18が差圧伝送器16に接続されるとともに窒素
ボンベ19が加圧弁21,継手22を介してテスト弁14に接続
され、かつ精密圧力計20が加圧弁21と継手22との間に接
続される。このとき、各テスト弁14,15は開放される。
従って、第２校正用配管10内は大気圧となる。
るとともに各ドレン弁7,8を開いて、各プロセス配管1,2
の圧力が各連通管5,6に加わらないようにするとともに
各連通管5,6内の流体を抜く。この状態にディジタルボ
ルトメータ18が差圧伝送器16に接続されるとともに窒素
ボンベ19が加圧弁21,継手22を介してテスト弁14に接続
され、かつ精密圧力計20が加圧弁21と継手22との間に接
続される。このとき、各テスト弁14,15は開放される。
従って、第２校正用配管10内は大気圧となる。
しかして、この状態に精密圧力計20に表示される圧力
値を監視しながら減圧弁23を閉じた状態で加圧弁21を徐
々に開いたり、あるいは加圧弁21を閉じた状態で減圧弁
23を徐々に開いて第１校正用配管９に各値の校正用圧力
を加える。そして、これら校正用圧力とこれら校正用圧
力を加えたときのディジタボルトメータ18に表示される
各差圧とを比較し、その差が所定範囲よりも大きけれ
ば、差圧伝送器16は、その測定差圧が精密圧力計20で表
示される圧力値に合わされて校正される。
値を監視しながら減圧弁23を閉じた状態で加圧弁21を徐
々に開いたり、あるいは加圧弁21を閉じた状態で減圧弁
23を徐々に開いて第１校正用配管９に各値の校正用圧力
を加える。そして、これら校正用圧力とこれら校正用圧
力を加えたときのディジタボルトメータ18に表示される
各差圧とを比較し、その差が所定範囲よりも大きけれ
ば、差圧伝送器16は、その測定差圧が精密圧力計20で表
示される圧力値に合わされて校正される。
しかしながら、このような校正装置17には次のような
問題がある。すなわち、校正を行うにあたってディジタ
ルボルトメータ18や窒素ボンベ19を差圧伝送器16の設定
位置まで運ばなければならずその運搬が大変であり、又
窒素ボンベ19を現場に備えることによってその設定スペ
ースを必要とする。さらに、ディジタルボルトメータ18
や精密圧力計20の表示を読み取る作業員の作業範囲が必
要となる。又、校正の前に各連通管5,6内の流体を抜き
取らなければならず、その作業に時間がかかる。なお、
校正が終了したのちに再び各連通管5,6に流体を張らな
ければならないのでこの作業にも時間がかかる。そのう
え、これら作業時に被曝の恐れがある。
問題がある。すなわち、校正を行うにあたってディジタ
ルボルトメータ18や窒素ボンベ19を差圧伝送器16の設定
位置まで運ばなければならずその運搬が大変であり、又
窒素ボンベ19を現場に備えることによってその設定スペ
ースを必要とする。さらに、ディジタルボルトメータ18
や精密圧力計20の表示を読み取る作業員の作業範囲が必
要となる。又、校正の前に各連通管5,6内の流体を抜き
取らなければならず、その作業に時間がかかる。なお、
校正が終了したのちに再び各連通管5,6に流体を張らな
ければならないのでこの作業にも時間がかかる。そのう
え、これら作業時に被曝の恐れがある。
一方、校正作業時には差圧伝送器16の一方の導入口は
大気圧としているので、実際のプロセス配管1,2の差圧
を測定する場合のような静圧における校正はできない。
さらに、校正用圧力を加えるのに加圧弁21及び減圧弁23
を手動で調節するので、校正用圧力の設定に手間がかか
り、そのうえ校正用圧力を加えたときにディジタルボル
トメータ18の表示圧力値から差圧伝送器16の評価を出す
までに時間がかかる。特に校正点が複数ある場合に時間
がかかる。又、各校正用配管9,10が垂直方向に配置され
ていると、精密圧力計20の設置位置における圧力と差圧
伝送器16の設置位置における圧力とが異なる場合があ
り、このような場合における補正が必要となる。
大気圧としているので、実際のプロセス配管1,2の差圧
を測定する場合のような静圧における校正はできない。
さらに、校正用圧力を加えるのに加圧弁21及び減圧弁23
を手動で調節するので、校正用圧力の設定に手間がかか
り、そのうえ校正用圧力を加えたときにディジタルボル
トメータ18の表示圧力値から差圧伝送器16の評価を出す
までに時間がかかる。特に校正点が複数ある場合に時間
がかかる。又、各校正用配管9,10が垂直方向に配置され
ていると、精密圧力計20の設置位置における圧力と差圧
伝送器16の設置位置における圧力とが異なる場合があ
り、このような場合における補正が必要となる。
（発明が解決しようとする課題） 以上のように校正作業に手間がかかるうえその校正作
業に要する時間が長くかかり、かつ実際のプロセスに即
した静圧での校正ができないものであった。
業に要する時間が長くかかり、かつ実際のプロセスに即
した静圧での校正ができないものであった。
そこで本発明は、校正作業を容易にしてその校正時間
を短縮し、かつ実際のプロセスに沿った静圧での校正が
精度高くできる差圧伝送器の校正装置を提供することを
目的とする。
を短縮し、かつ実際のプロセスに沿った静圧での校正が
精度高くできる差圧伝送器の校正装置を提供することを
目的とする。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は、各プロセス配管の差圧を測定する差圧伝送
器の校正装置において、差圧伝送器の一方の導入口と連
通する第１校正用配管に設けられた第１圧力調節弁と、
差圧伝送器の他方の導入口と連通する第２校正用配管に
設けられた第２圧力調節弁と、共通圧力調節弁が設けら
れた共通配管を介して第１及び第２校正用配管に接続さ
れた加圧装置と、第１及び第２校正用配管のいずれか一
方の配管に設けられた校正用圧力センサと、第１校正用
配管と第２校正用配管との間に設けられた校正用差圧力
センサと、差圧伝送器の各導入口に加える複数の校正用
圧力で形成した校正用圧力パターンを記憶する校正用圧
力パターン記憶手段と、共通圧力調節弁を開制御して第
１及び第２校正用配管に加圧装置から所定圧力を印加し
たのち、共通圧力調節弁を閉制御する圧力供給制御手段
と、所定圧力が供給された第１及び第２校正用配管の各
圧力が校正用圧力パターンの各校正用圧力に一致するよ
うに、校正圧力センサ及び校正用差圧力センサの各検出
圧力を参照しながら第１及び第２圧力調節弁の開度をそ
れぞれ制御する校正圧力制御手段と、校正圧力制御手段
により各校正用圧力が順次差圧伝送器の各導入口に加わ
ったときに差圧伝送器から出力される各差圧信号を受け
これら各差圧と校正用差圧力センサの各検出出力とを比
較して差圧伝送器の誤差を求める校正判定手段とを具備
して上記目的を達成しようとするものである。
器の校正装置において、差圧伝送器の一方の導入口と連
通する第１校正用配管に設けられた第１圧力調節弁と、
差圧伝送器の他方の導入口と連通する第２校正用配管に
設けられた第２圧力調節弁と、共通圧力調節弁が設けら
れた共通配管を介して第１及び第２校正用配管に接続さ
れた加圧装置と、第１及び第２校正用配管のいずれか一
方の配管に設けられた校正用圧力センサと、第１校正用
配管と第２校正用配管との間に設けられた校正用差圧力
センサと、差圧伝送器の各導入口に加える複数の校正用
圧力で形成した校正用圧力パターンを記憶する校正用圧
力パターン記憶手段と、共通圧力調節弁を開制御して第
１及び第２校正用配管に加圧装置から所定圧力を印加し
たのち、共通圧力調節弁を閉制御する圧力供給制御手段
と、所定圧力が供給された第１及び第２校正用配管の各
圧力が校正用圧力パターンの各校正用圧力に一致するよ
うに、校正圧力センサ及び校正用差圧力センサの各検出
圧力を参照しながら第１及び第２圧力調節弁の開度をそ
れぞれ制御する校正圧力制御手段と、校正圧力制御手段
により各校正用圧力が順次差圧伝送器の各導入口に加わ
ったときに差圧伝送器から出力される各差圧信号を受け
これら各差圧と校正用差圧力センサの各検出出力とを比
較して差圧伝送器の誤差を求める校正判定手段とを具備
して上記目的を達成しようとするものである。
（作用） このような手段を備えたことにより、校正圧力制御手
段は校正用圧力パターンに従って第１及び第２圧力制御
弁の開度をそれぞれ制御して校正用圧力パターンの校正
用圧力を第１及び第２校正用配管に加える。このとき、
校正判定手段御手段は差圧伝送器からの差圧を受けこの
差圧と校正用圧力とを比較して差圧伝送器の誤差を求め
る。
段は校正用圧力パターンに従って第１及び第２圧力制御
弁の開度をそれぞれ制御して校正用圧力パターンの校正
用圧力を第１及び第２校正用配管に加える。このとき、
校正判定手段御手段は差圧伝送器からの差圧を受けこの
差圧と校正用圧力とを比較して差圧伝送器の誤差を求め
る。
（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明
する。なお、第３図と同一部分には同一符号を付してそ
の詳しい説明は省略する。
する。なお、第３図と同一部分には同一符号を付してそ
の詳しい説明は省略する。
第１図は差圧伝送器の校正装置の全体構成図である。
第１及び第２校正用配管９、10は共に調圧装置30に導か
れて共通接続され、さらにこの共通管31が調圧装置30か
ら出されて加圧装置32に導かれている。この加圧装置32
は第１及び第２校正用配管9,10に圧力を加えるもので、
圧力レギュレータ33及びブースタポンプ34から構成され
ている。なお、35は入口側の管である。
第１及び第２校正用配管９、10は共に調圧装置30に導か
れて共通接続され、さらにこの共通管31が調圧装置30か
ら出されて加圧装置32に導かれている。この加圧装置32
は第１及び第２校正用配管9,10に圧力を加えるもので、
圧力レギュレータ33及びブースタポンプ34から構成され
ている。なお、35は入口側の管である。
さて、調圧装置30内における共通管31には共通圧力調
節弁としてのノズルフラッパ形サーボ弁（以下，サーボ
弁と省略する）36が設けられ、かつ第１校正用配管９に
は第１圧力調節弁としての同形のサーボ弁37が設けられ
るとともに第２校正用配管10には第２圧力調節弁として
の同形のサーボ弁38が設けられている。さらに、第１校
正用配管９と第２校正用配管10との間にはこれら管9,10
を連通する如く電磁弁39が設けられている。又、第１校
正用配管９には校正用圧力センサ40が設けられるととも
に第１校正用配管９と第２校正用配管10との間には校正
用差圧センサ41が設けられている。なお、第１及び第２
校正用配管9,10にはそれぞれアキュームレータ42,43が
設けられて各管9,10内の圧力を安定化させている。
節弁としてのノズルフラッパ形サーボ弁（以下，サーボ
弁と省略する）36が設けられ、かつ第１校正用配管９に
は第１圧力調節弁としての同形のサーボ弁37が設けられ
るとともに第２校正用配管10には第２圧力調節弁として
の同形のサーボ弁38が設けられている。さらに、第１校
正用配管９と第２校正用配管10との間にはこれら管9,10
を連通する如く電磁弁39が設けられている。又、第１校
正用配管９には校正用圧力センサ40が設けられるととも
に第１校正用配管９と第２校正用配管10との間には校正
用差圧センサ41が設けられている。なお、第１及び第２
校正用配管9,10にはそれぞれアキュームレータ42,43が
設けられて各管9,10内の圧力を安定化させている。
一方、44は圧力コントローラであって、これはCPU
（中央処理装置）やメモリ等から構成されるもので校正
圧力制御手段45と校正判定手段46との機能を有してい
る。校正圧力制御手段45は差圧伝送器16の各導入口に加
える複数の校正用圧力（校正点）で形成した校正用圧力
パターンが予め記憶部に設定されこの校正用圧力パター
ンに従って各サーボ弁37,38の開度を示す各圧力制御信
号SV2,SV3を送出する機能を持ったものであり、又校正
判定手段46は校正用圧力パターンの各校正用圧力が差圧
伝送器16の各導入口に加わっているときにそれぞれ出力
される差圧伝送器からの差圧検出信号PV3を受け，この
検出差圧PV3と校正用差圧センサ41で検出した校正用圧
力PV1とを比較して差圧伝送器16の動作誤差を求める機
能を持ったものである。なお、圧力コントローラ44は、
これら機能の他にサーボ弁36に圧力制御信号SV1を送出
し、かつ校正用圧力センサ40からの圧力検出信号PV1を
受けて第１及び第２校正用配管9,10内に圧力を所定値に
制御する機能を有している。なお、47はサーボアンプで
あって、これは各圧力制御信号SV1,SV2及びSV3を受けて
各サーボ弁36,37,38を駆動させる信号に変換して送出す
るものである。
（中央処理装置）やメモリ等から構成されるもので校正
圧力制御手段45と校正判定手段46との機能を有してい
る。校正圧力制御手段45は差圧伝送器16の各導入口に加
える複数の校正用圧力（校正点）で形成した校正用圧力
パターンが予め記憶部に設定されこの校正用圧力パター
ンに従って各サーボ弁37,38の開度を示す各圧力制御信
号SV2,SV3を送出する機能を持ったものであり、又校正
判定手段46は校正用圧力パターンの各校正用圧力が差圧
伝送器16の各導入口に加わっているときにそれぞれ出力
される差圧伝送器からの差圧検出信号PV3を受け，この
検出差圧PV3と校正用差圧センサ41で検出した校正用圧
力PV1とを比較して差圧伝送器16の動作誤差を求める機
能を持ったものである。なお、圧力コントローラ44は、
これら機能の他にサーボ弁36に圧力制御信号SV1を送出
し、かつ校正用圧力センサ40からの圧力検出信号PV1を
受けて第１及び第２校正用配管9,10内に圧力を所定値に
制御する機能を有している。なお、47はサーボアンプで
あって、これは各圧力制御信号SV1,SV2及びSV3を受けて
各サーボ弁36,37,38を駆動させる信号に変換して送出す
るものである。
次に上記の如く構成された装置での校正作用について
第２図に示す校正フローチャートに従って説明する。先
ず各ラック元弁3,4が閉じられるとともに各ドレン弁7,8
（第１図では不図示）が開かれて、各プロセス配管1,2
の圧力が各連通管5,6に加わらないようにするとともに
各連通管5,6内の流体が抜かれる。この後、各均圧弁11,
12が閉じられるとともに均圧弁13、各テスト弁14,15、
電磁弁39が開放される。なお、このとき各サーボ弁37,3
8は開放状態にある。そして、ステップs1において圧力
コントローラ44に差圧伝送器16のレンジや耐圧値及び校
正用圧力パターンが入力される。
第２図に示す校正フローチャートに従って説明する。先
ず各ラック元弁3,4が閉じられるとともに各ドレン弁7,8
（第１図では不図示）が開かれて、各プロセス配管1,2
の圧力が各連通管5,6に加わらないようにするとともに
各連通管5,6内の流体が抜かれる。この後、各均圧弁11,
12が閉じられるとともに均圧弁13、各テスト弁14,15、
電磁弁39が開放される。なお、このとき各サーボ弁37,3
8は開放状態にある。そして、ステップs1において圧力
コントローラ44に差圧伝送器16のレンジや耐圧値及び校
正用圧力パターンが入力される。
ここで、校正用圧力パターンについて説明すると、プ
ロセス配管1,2の差圧測定を行うときに実際に差圧伝送
器16に加わる静圧が、第１校正用配管９の接続される一
方の導入口で例えば70Kg,第２校正用配管10の接続され
る他方の導入口で例えば60Kgであれば、校正用圧力パタ
ーンは例えば第１校正用配管９に加わる圧力を70Kgで一
定とし、第２校正用配管10に加わる圧力を例えば60,61,
62,…70Kgの校正点とするものとなる。そして、このよ
うな校正用圧力パターンは各差圧伝送器16ごとのものが
多数圧力コントローラ44に記憶される。
ロセス配管1,2の差圧測定を行うときに実際に差圧伝送
器16に加わる静圧が、第１校正用配管９の接続される一
方の導入口で例えば70Kg,第２校正用配管10の接続され
る他方の導入口で例えば60Kgであれば、校正用圧力パタ
ーンは例えば第１校正用配管９に加わる圧力を70Kgで一
定とし、第２校正用配管10に加わる圧力を例えば60,61,
62,…70Kgの校正点とするものとなる。そして、このよ
うな校正用圧力パターンは各差圧伝送器16ごとのものが
多数圧力コントローラ44に記憶される。
従って、次のステップs2において圧力コントローラ44
は、差圧伝送器16に対応した校正用圧力パターンを選択
し、次のステップs3においてサーボ弁36に対して第１及
び第２校正用配管9,10内の圧力を例えば校正用圧力80Kg
とする圧力制御信号SV1を送出する。これにより、圧力
制御信号SV1はサーボアンプ47を通ってサーボ弁36に加
えられ、このサーボ弁36はその開度が制御される。従っ
て、このとき加圧装置32からは液体，例えば水が高圧力
で共通管31を通って第１及び第２校正用配管9,10に加え
られているので、第１及び第２校正用配管9,10内の圧力
はサーボ弁36で制御される。そして、これら管9,10内の
圧力が校正用圧力センサ40で検出され、その圧力検出信
号PV1が圧力コントローラ44に送られる。この圧力コン
トローラ44はステップs4において圧力検出信号PV1を取
り込んでステップs5において第１及び第２校正用配管9,
10内の圧力が80Kgに達したかを判断する。この判断にお
いて第１及び第２校正用配管9,10内の圧力が80±αKgの
範囲内に在れば80Kgの校正用圧力に到達したと判断す
る。そして、この校正用圧力に到達したと判断すると、
圧力コントローラ44はステップs6に移って電磁弁39に対
して全閉の制御信号を送出する。
は、差圧伝送器16に対応した校正用圧力パターンを選択
し、次のステップs3においてサーボ弁36に対して第１及
び第２校正用配管9,10内の圧力を例えば校正用圧力80Kg
とする圧力制御信号SV1を送出する。これにより、圧力
制御信号SV1はサーボアンプ47を通ってサーボ弁36に加
えられ、このサーボ弁36はその開度が制御される。従っ
て、このとき加圧装置32からは液体，例えば水が高圧力
で共通管31を通って第１及び第２校正用配管9,10に加え
られているので、第１及び第２校正用配管9,10内の圧力
はサーボ弁36で制御される。そして、これら管9,10内の
圧力が校正用圧力センサ40で検出され、その圧力検出信
号PV1が圧力コントローラ44に送られる。この圧力コン
トローラ44はステップs4において圧力検出信号PV1を取
り込んでステップs5において第１及び第２校正用配管9,
10内の圧力が80Kgに達したかを判断する。この判断にお
いて第１及び第２校正用配管9,10内の圧力が80±αKgの
範囲内に在れば80Kgの校正用圧力に到達したと判断す
る。そして、この校正用圧力に到達したと判断すると、
圧力コントローラ44はステップs6に移って電磁弁39に対
して全閉の制御信号を送出する。
次に圧力コントローラ44では校正圧力制御手段45が作
動してステップs7〜s9とステップs10〜s12が並列処理さ
れる。すなわち、校正圧力制御手段45はステップs7にお
いてサーボ弁37に対して第１校正用配管９内の圧力を校
正用圧力70Kgとする圧力制御信号SV2を送出するととも
にステップs10においてサーボ弁38に対して第２校正用
配管10内を校正用圧力60Kgとする圧力制御信号SV3を送
出する。そして、校正圧力制御手段45はステップs8,s9
において校正用圧力センサ40からの圧力検出信号PV1を
取り込んで第１校正用配管９内が校正用圧力70Kgに達し
たかを判断し、同時にステップs11,,s12において校正用
差圧センサ41からの校正の差圧検出信号PV2を取り込ん
でこの校正差圧が各出力制御信号SV2,SV3との差つまり1
0Kgに許容圧力αを加えた範囲内にあるかを判断する。
このようにして第１校正用配管９内の圧力が70Kgに到達
するとともに第２校正用配管10内の圧力が60Kgに到達し
て校正差圧が10Kgになったと判断すると、ステップs13
に移って校正判定手段46は差圧伝送器16からの差圧検出
信号PV3を取り込む。そして、校正判定手段46は校正用
差圧センサ41からの差圧検出信号PV2と差圧伝送器16か
らの差圧検出信号PV3とを対応させてメモリの記憶し、
さらにこれら検出信号PV2、PV3から校正差圧に対する差
圧伝送器16の測定差圧の誤差を演算し求める。次にステ
ップs15において校正用圧力パターンにおける各校正点
の校正用圧力に対する測定が終了したかを判断し、終了
しなければ再びステップs7,s10に戻って校正圧力制御手
段45はサーボ弁37に対して第１校正用配管９内の圧力を
校正用圧力70Kgとする圧力制御信号SV2を送出し続ける
とともにサーボ弁38に対して第２校正用配管10内の圧力
を次の校正点の校正用圧力61Kgとする圧力制御信号SV2
を送出する。しかして、上記と同様にして校正判定手段
46は校正用差圧センサ41からの差圧検出信号PV2と差圧
伝送器16からの差圧検出信号PV3とを対応させてメモリ
に記憶し、さらにこれら検出信号PV2,PV3から校正差圧
に対する差圧伝送器16の測定差圧の誤差を演算し求め
る。
動してステップs7〜s9とステップs10〜s12が並列処理さ
れる。すなわち、校正圧力制御手段45はステップs7にお
いてサーボ弁37に対して第１校正用配管９内の圧力を校
正用圧力70Kgとする圧力制御信号SV2を送出するととも
にステップs10においてサーボ弁38に対して第２校正用
配管10内を校正用圧力60Kgとする圧力制御信号SV3を送
出する。そして、校正圧力制御手段45はステップs8,s9
において校正用圧力センサ40からの圧力検出信号PV1を
取り込んで第１校正用配管９内が校正用圧力70Kgに達し
たかを判断し、同時にステップs11,,s12において校正用
差圧センサ41からの校正の差圧検出信号PV2を取り込ん
でこの校正差圧が各出力制御信号SV2,SV3との差つまり1
0Kgに許容圧力αを加えた範囲内にあるかを判断する。
このようにして第１校正用配管９内の圧力が70Kgに到達
するとともに第２校正用配管10内の圧力が60Kgに到達し
て校正差圧が10Kgになったと判断すると、ステップs13
に移って校正判定手段46は差圧伝送器16からの差圧検出
信号PV3を取り込む。そして、校正判定手段46は校正用
差圧センサ41からの差圧検出信号PV2と差圧伝送器16か
らの差圧検出信号PV3とを対応させてメモリの記憶し、
さらにこれら検出信号PV2、PV3から校正差圧に対する差
圧伝送器16の測定差圧の誤差を演算し求める。次にステ
ップs15において校正用圧力パターンにおける各校正点
の校正用圧力に対する測定が終了したかを判断し、終了
しなければ再びステップs7,s10に戻って校正圧力制御手
段45はサーボ弁37に対して第１校正用配管９内の圧力を
校正用圧力70Kgとする圧力制御信号SV2を送出し続ける
とともにサーボ弁38に対して第２校正用配管10内の圧力
を次の校正点の校正用圧力61Kgとする圧力制御信号SV2
を送出する。しかして、上記と同様にして校正判定手段
46は校正用差圧センサ41からの差圧検出信号PV2と差圧
伝送器16からの差圧検出信号PV3とを対応させてメモリ
に記憶し、さらにこれら検出信号PV2,PV3から校正差圧
に対する差圧伝送器16の測定差圧の誤差を演算し求め
る。
このようにして全ての校正点に対する測定が終了する
と、圧力コントローラ44は各校正点で求めた各誤差から
差圧伝送器16の補正値を作成する。そして、差圧伝送器
16が各プロセス配管1,2間の差圧を測定するとき、圧力
コントローラ44は校正時に求めた補正値によって測定差
圧を補正する。
と、圧力コントローラ44は各校正点で求めた各誤差から
差圧伝送器16の補正値を作成する。そして、差圧伝送器
16が各プロセス配管1,2間の差圧を測定するとき、圧力
コントローラ44は校正時に求めた補正値によって測定差
圧を補正する。
このように上記一実施例においては、校正用圧力パタ
ーンに従って各サーボ弁37,38の開度をそれぞれ制御し
て各校正用圧力を第１及び第２校正用配管9,10に加え、
このとき差圧伝送器16からの差圧検出信号PV3を受けて
この差圧と校正差圧とを比較して差圧伝送器16の誤差を
求めるようにしたので、調圧装置30が軽量となって運搬
が容易となる。さらに、静圧下において差圧を測定でき
て実際のプロセス配管1,2間の差圧を測定する場合と同
一条件で校正ができる。そして、この校正時においては
自動で正確な校正用圧力を第１及び第２校正用配管9,1
に加えることができるので高精度な校正ができる。又、
自動的により校正作業の作業性を向上できるとともにそ
の作業時間を短縮でき、かつ被曝の恐れが無くなる。特
にノズルスラッパ形サーボ弁を使用しているので液体を
抜き取る作業が無くなる。
ーンに従って各サーボ弁37,38の開度をそれぞれ制御し
て各校正用圧力を第１及び第２校正用配管9,10に加え、
このとき差圧伝送器16からの差圧検出信号PV3を受けて
この差圧と校正差圧とを比較して差圧伝送器16の誤差を
求めるようにしたので、調圧装置30が軽量となって運搬
が容易となる。さらに、静圧下において差圧を測定でき
て実際のプロセス配管1,2間の差圧を測定する場合と同
一条件で校正ができる。そして、この校正時においては
自動で正確な校正用圧力を第１及び第２校正用配管9,1
に加えることができるので高精度な校正ができる。又、
自動的により校正作業の作業性を向上できるとともにそ
の作業時間を短縮でき、かつ被曝の恐れが無くなる。特
にノズルスラッパ形サーボ弁を使用しているので液体を
抜き取る作業が無くなる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなく
その主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、
共通管31を使用せずに第１及び第２校正用配管9,10に対
してそれぞれ直接加圧装置を接続するようにしてもよ
い。又、ノズルスラッパ形サーボ弁に限らず液体にも適
用できる弁であればよい。
その主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、
共通管31を使用せずに第１及び第２校正用配管9,10に対
してそれぞれ直接加圧装置を接続するようにしてもよ
い。又、ノズルスラッパ形サーボ弁に限らず液体にも適
用できる弁であればよい。
［発明の効果］ このように本発明によれば、校正作業を容易にしてそ
の校正時間を短縮し、かつ実際のプロセスに沿った静圧
での校正が精度高くできる差圧伝送器の校正装置を提供
できる。さらに、第1,第２校正用配管に対して共通配管
を介して１台の加圧装置から校正に必要な各圧力を供給
しているので、装置全体が従来装置に比較して格別にに
大型化することはない。
の校正時間を短縮し、かつ実際のプロセスに沿った静圧
での校正が精度高くできる差圧伝送器の校正装置を提供
できる。さらに、第1,第２校正用配管に対して共通配管
を介して１台の加圧装置から校正に必要な各圧力を供給
しているので、装置全体が従来装置に比較して格別にに
大型化することはない。
第１図は本発明に係わる差圧伝送器の校正装置の一実施
例を示す全体構成図、第２図は同装置の校正フローチャ
ート、第３図は従来の校正装置の構成図である。 1,2……プロセス配管、3,4……ラック元弁、5,6……連
通管、９……第１校正用配管、10……第２校正用配管、
11,12,13……均圧弁、14,15……テスト弁、16……差圧
伝送器、30……調圧装置、31……共通管、32……加圧装
置、36,37,38……サーボ弁、39……電磁弁、40……校正
用センサ、41……校正用差圧センサ、42,43……アキュ
ームレータ、44……圧力コントローラ、45……校正圧力
制御手段、46……校正判定手段、47……サーボアンプ。
例を示す全体構成図、第２図は同装置の校正フローチャ
ート、第３図は従来の校正装置の構成図である。 1,2……プロセス配管、3,4……ラック元弁、5,6……連
通管、９……第１校正用配管、10……第２校正用配管、
11,12,13……均圧弁、14,15……テスト弁、16……差圧
伝送器、30……調圧装置、31……共通管、32……加圧装
置、36,37,38……サーボ弁、39……電磁弁、40……校正
用センサ、41……校正用差圧センサ、42,43……アキュ
ームレータ、44……圧力コントローラ、45……校正圧力
制御手段、46……校正判定手段、47……サーボアンプ。
Claims (1)
- 【請求項１】各プロセス配管の差圧を測定する差圧伝送
器の校正装置において、 前記差圧伝送器の一方の導入口と連通する第１校正用配
管に設けられた第１圧力調節弁と、 前記差圧伝送器の他方の導入口と連通する第２校正用配
管に設けられた第２圧力調節弁と、 共通圧力調節弁が設けられた共通配管を介して前記第１
及び第２校正用配管に接続された加圧装置と、 前記第１及び第２校正用配管のいずれか一方の配管に設
けられた校正用圧力センサと、 前記第１校正用配管と第２校正用配管との間に設けられ
た校正用差圧力センサと、 前記差圧伝送器の各導入口に加える複数の校正用圧力で
形成した校正用圧力パターンを記憶する校正用圧力パタ
ーン記憶手段と、 前記共通圧力調節弁を開制御して前記第１及び第２校正
用配管に前記加圧装置から所定圧力を印加したのち、前
記共通圧力調節弁を閉制御する圧力供給制御手段と、 前記所定圧力が供給された第１及び第２校正用配管の各
圧力が前記校正用圧力パターンの各校正用圧力に一致す
るように、前記校正圧力センサ及び校正用差圧力センサ
の各検出圧力を参照しながら前記第１及び第２圧力調節
弁の開度をそれぞれ制御する校正圧力制御手段と、 この校正圧力制御手段により各校正用圧力が順次前記差
圧伝送器の導入口に加わったときに前記差圧伝送器から
出力される各差圧信号を受けこられ各差圧と前記校正用
差圧力センサの各検出圧力とを比較して前記差圧伝送器
の誤差を求める校正判定手段と を具備したことを特徴とする差圧伝送器の校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63035609A JP2618952B2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 差圧伝送器の校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63035609A JP2618952B2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 差圧伝送器の校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01210835A JPH01210835A (ja) | 1989-08-24 |
| JP2618952B2 true JP2618952B2 (ja) | 1997-06-11 |
Family
ID=12446579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63035609A Expired - Fee Related JP2618952B2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 差圧伝送器の校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2618952B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE9900077D0 (sv) * | 1999-01-14 | 1999-01-14 | Gambro Ab | Verfahren und Vorrichtung zum Uberprüfen von Sensoren |
| WO2012034183A1 (en) * | 2010-09-17 | 2012-03-22 | Goyen Controls Co Pty Ltd | Testing of flow meters |
| CN106092440B (zh) * | 2016-08-09 | 2019-03-05 | 江苏方天电力技术有限公司 | 一种用于差压变送器的检测装置 |
| CN112097992B (zh) * | 2020-09-04 | 2021-10-08 | 苏州半山智能科技有限公司 | 双隔离膜片式卫生型自检定压力传感器 |
| TWI753722B (zh) * | 2020-12-25 | 2022-01-21 | 財團法人工業技術研究院 | 壓力感測器校正系統 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59144428U (ja) * | 1983-03-09 | 1984-09-27 | 株式会社東芝 | 計器校正装置 |
-
1988
- 1988-02-18 JP JP63035609A patent/JP2618952B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01210835A (ja) | 1989-08-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |