JPH0263175B2 - - Google Patents

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JPH0263175B2
JPH0263175B2 JP60151264A JP15126485A JPH0263175B2 JP H0263175 B2 JPH0263175 B2 JP H0263175B2 JP 60151264 A JP60151264 A JP 60151264A JP 15126485 A JP15126485 A JP 15126485A JP H0263175 B2 JPH0263175 B2 JP H0263175B2
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JP
Japan
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pressure
water
valve
test
workpiece
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Application number
JP60151264A
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English (en)
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JPS6214033A (ja
Inventor
Shoji Mizoguchi
Yasuo Kunii
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Rinnai Corp
Original Assignee
Rinnai Corp
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Publication date
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Priority to KR1019860002653A priority patent/KR890004368B1/ko
Publication of JPS6214033A publication Critical patent/JPS6214033A/ja
Publication of JPH0263175B2 publication Critical patent/JPH0263175B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はワークに対して低圧と高圧の2種の水
漏れ試験を行なうことのできる装置に関する。
(従来の技術) 湯沸器その他のワークは低圧と高圧の2種の水
漏れ試験を要求される場合がしばしばあり、これ
を行なう場合、低圧、高圧の順で行なうを一般と
する。
従来の低圧水漏れ試験は、第4図Aに示すよう
に、水を圧送するポンプaとワークbとを接続す
る管路cに第1開閉弁dを介設し、該管路cの該
ワークbと該第1開閉弁dとの間に低圧試験用の
圧力計eを接続して、先ず該ワークbの先止式の
止水弁fと該第1開閉弁dとを開弁状態にし、該
ポンプaによりタンクg内の水をストレーナh、
低圧試験用調圧するがバナi、該ワークbを順に
介して循環させる。次いで該ワークbの止水弁f
を閉弁し、該ワークb内に流入され充満される水
の圧力が低圧の所定の試験圧に達するのを該圧力
計eにより確認した後、該第1開閉弁dを閉弁す
る。そして一定時間後、該圧力計eの値を肉眼で
続み取り、その値と該試験圧との差からワークb
の良・不良を決定して終了する。
また、従来の高圧水漏れ試験は、上記低圧試験
において良品であると決定されたワークbについ
て行なうもので、上記低圧試験の終了後、その装
置から圧力計eを外し、第4図Bに示すように、
管路cの第1開閉弁dとガバナiとの間に第2開
閉弁jを介設し、該第1開閉弁dと該第2開閉弁
jとの間に高圧発生用の水圧発生器kを接続し、
ワークbと該第1開閉弁dとの間に高圧試験用の
圧力計lを接続して、先ず、該ワークbの止水弁
fを閉弁し、該第1・第2開閉弁d,fを開弁し
た状態で、ポンプaによりタンクg内の水を該ワ
ークb内に流入させる。次いで、該第2開閉弁j
を閉弁し、該水圧発生器kを作動させて該ワーク
bの充満された水の圧力が高圧の所定の試験圧に
達するのを該圧力計lにより確認する。確認後直
ちに該第1開閉弁dを閉弁し、一定時間経過後に
該圧力計の値を続み取り、その値と該試験圧との
差からワークbの良・不良を決定して終了する。
(発明が解決しようとする問題点) 上記従来の水漏れ試験においては、高圧試験を
行なう際、試験装置を低圧試験用から高圧試験用
に組み変えなければならず、その作業に時間がか
かり、またワークに充満された水の圧力を所定の
試験圧に正しく調整することが実際上困難である
ため測定が不正確になる等の不都合を伴う。
(問題点を解決するための手段) 本発明は上記点に鑑み、低圧試験と高圧試験と
の間に組み変え作業を伴なうことなく、直ちに高
圧試験を行なうことができ、しかもワークに充満
された水の圧力を前記従来試験のように所定の試
験圧に正しく調整することなくその近傍の圧力に
調整することにより正確な水漏れ試験を行なうこ
とのできる装置を提供しようとするものであつ
て、湯沸器その他のワークを水を圧送するポンプ
に接続する管路に、第1開閉弁とその上流側の第
2開閉弁を介設し、該管路の該第1・第2開閉弁
間に水圧発生器を接続すると共に、該管路の該ワ
ークと該第1開閉弁との間に、高圧用の第1圧力
計と第3開閉弁を介した低圧用の第2圧力計とを
互いに並列に接続し、さらに該第1・第2・第3
開閉弁を開閉制御し且つ該第1・第2圧力計の実
測値を一定時間続み込み、該一定時間内の圧力減
少値を内部で設定された低圧試験時の圧力減少値
及び高圧試験時の圧力減少値と比較して該ワーク
の良・不良を判定する判定器を設けたことを特徴
とする。
(実施例) 次に本発明を図示の実施例にに基づいて説明す
る。
第1図において、1はタンク2内の水をポンプ
3により管路4を介して循環させる循環系を示
し、該管路4にはポンプ3から遠い順にワークた
る止水弁5付湯沸器6、第1開閉弁7、第2開閉
弁8、低圧試験用に調圧するガバナ9、ストレー
ナ10が介設される。
該管路4は該湯沸器6と該第1開閉弁7との間
で分岐され、第1分岐管11には、その先端に高
圧用の第1圧力計12が接続され、第2分岐管1
3には、その中間に第3開閉弁14が介設され、
その先端に低圧用の第2圧力計15が接続され
る。
さらに、該管路4は該第1開閉弁7と該第2開
閉弁8との間で分岐され、第3分岐管16には、
その先端に高圧発生用の水圧発生器17が接続さ
れる。
該水圧発生器17としは、従来公知の例えばエ
アーシリンダ式のものを用いる。
18は判定器を示し、該判定器18は第1・第
2・第3開閉弁7,8,14を開閉制御すると共
に、第1・第2・第3圧力計12,15の実測値
を続み込み、低圧及び高圧水漏れ試験において前
記湯沸器6が良品が否かを判定するものである。
第2図は、該判定器の内容ブロツクで示したも
ので、19はワークたる湯沸器6の通水路に設け
られ、水圧を検知する圧力センサを示し、該圧力
センサ19からのアナグロ出力は補正回路20
と、A/Dコンバータ21とを介してデイジタル
出力としてバツフア・レジスタ22に刻々送られ
る。
23はメモリ・レジスタを示し、該メモリ・レ
ジスタ23はホールド信号発生時の該バツフア・
レジスタ22の水圧値Msを一定時間記憶保持す
る。
24は比較回路を示し、該比較回路24は該メ
モリ・レジスタ23の水圧値MSと、該バツフ
ア・レジスタ22に送られてくる該メモリ・レジ
スタ23の一定時間終了時の水圧値MEとの差
(MS−ME)を、内部の上下限設定値N1、N2と比
較して、差(MS−MS)が上下限設定値N1、N2
内に収まるときは良品信号を、上限設定値N1
越えたときは不良品信号を、下限設定値N2未満
のときは試験不良信号を出力する。25は低圧試
験用の上限設定値N1Lをセツトする上限設定器、
26は低圧試験用の下限設定値N2Lをセツトする
下限設定器、27は高圧試験用の上限設定値N1H
をセツトする上限設定器、28は低高試験用の下
限設定値N2Hをセツトする下限設定器、29は低
圧と高圧の設定値切換器を夫々示す。
図中、30はバツフア・レジスタ22の値を
刻々表示する表示器、31はメモリ・レジスタ2
3の値MSを表示する表示器、32は第1・第
2・第3開閉弁7,8,14を開閉制御する開閉
弁制御回路を夫々示す。
(作用) 次いでその作動を第3図と共に説明すると、先
ず、判定器18内の開閉制御回路32により第
1・第2・第3開閉弁7,8,14を開弁すると
共にワークたる先止式湯沸器6の止水弁5を開弁
し、且つポンプ3を作動させて、タンク2内に水
を5乃至6秒間管路4を介して循環させる。次い
で該止水弁5を閉弁し、該湯沸器6内に充満され
る水の圧力が低圧の所定の試験圧に達するまで
1.5乃至2秒間待つ。そして試験圧に達したこと
を第2圧力計15により確認したとき、該開閉制
御回路32により第1開閉弁7を閉弁し、該湯沸
器6内の水圧が該試験圧の近傍の検査圧に落ち付
くまで5秒間待つ。
この5秒間の経過後、直ちにホールド信号が発
生され、メモリ・レジスタ23に安定した検査圧
MSLが一定時間ここでは5秒間記憶される。
この検査圧MSLが記憶されている間にも、第2
圧力計15により検出された湯沸器6内の水圧は
時時刻刻バツフア・レジスタ22に送られてく
る。
そして、該メモリ・レジスタ23の記憶時間の
終了時において、該メモリ・レジスタ23の検査
圧MSLと該バツフア・レジスタ22の実測値MEL
とが比較回路24に入力され、両者のMSL−MEL
と低圧の上下限設定値N1L、N2Lとが比較されて
該比較回路24からは、N2L≦(MSL-MEL≦N1L
ときは良品信号が出力され、(MSL−MEL)>N1L
のときは不良品信号が出力され、(MSL−MEL)<
N2Lのときは試験不良品信号が出力され、湯沸器
6の低圧の水漏れ試験は終了する。
上記低圧試験が終了すると、直ちに高圧試験が
開始され、先ず、開閉弁制御回路32により第1
開閉弁7を開弁すると共に第2開閉弁・第3開閉
弁8,14を閉弁する。次いで水圧発生器17を
作動させて、湯沸器6内の水圧を上昇させ、その
圧力が高圧の所定の試験圧に達するまで6乃至12
秒間待つ。
そして試験圧に達したことを第1圧力計12に
より確認したとき、該開閉制御回路32により該
第1開閉弁7を閉弁し、該湯沸器6内の水圧が該
試験圧の近傍の検査圧に落ち付くまで5秒間待
つ。
その後の試験過程は、前記低圧試験の場合と特
に異なることなく、比較回路24からは、N2H
(MSH−MEH)≦N1Hのときは良品信号が出力され
(MSH−MEH)<N2Hのときは試験不良品信号が出
力され、湯沸器6の低圧の水漏れ試験は終了す
る。
(発明の効果) このように本発明によるときは、試験装置に、
第1・第2・第3開閉弁を開閉制御し且つ第1・
第2圧力計の値を続み込み、その値が一定値に落
ちついた時ワークの良・不良を判定する判定器を
備えて、低圧試験用にも高圧試験用にも直ちに使
用できるようにしたので、高圧試験を行なう際、
前記従来の試験装置のように低圧試験用から高圧
試験用に組み変える必要がなくなり、試験の能率
が向上する効果を有する。
また、本発明によるときは、水漏れ試験の際、
前記従来装置のように、ワーク内の水圧を所定の
試験圧に正確に調整しなくても、その近傍の検査
圧に落ち付いたことを確認しえするば正確な試験
を行なうことができる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の実施の1例を示す説明線
図、第2図は本発明装置の判定器の実施の1例を
示すブロツク図、第3図は本発明装置の作動の1
例を示す説明図、第4図は従来装置の説明線図で
ある。 3……ポンプ、4……管路、6……湯沸器(ワ
ーク)、7……第1開閉弁、8……第2開閉弁、
12……第1圧力計、14……第3開閉弁、15
……第2圧力計、17……水圧発生器、18……
判定器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 湯沸器その他のワークを水を圧送するポンプ
    に接続する管路に、第1開閉弁とその上流側の第
    2開閉弁とを介設し、該管路の該第1・第2開閉
    弁間に水圧発生器を接続すると共に、該管路の該
    ワークと該第1開閉弁との間に、高圧用の第1圧
    力計と第3開閉弁を介した低圧用の第2圧力計と
    を互いに並列に接続し、さらに該第1・第2・第
    3開閉弁を開閉制御し且つ該第1・第2圧力計の
    実測値を一定時間読み込み、該一定時間内の圧力
    減少値を内部で設定された低圧試験時の圧力減少
    値及び高圧試験時の圧力減少値と比較して該ワー
    クの良・不良を判定する判定器を設けたことを特
    徴とする水漏れ試験装置。
JP60151264A 1985-07-11 1985-07-11 水漏れ試験装置 Granted JPS6214033A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60151264A JPS6214033A (ja) 1985-07-11 1985-07-11 水漏れ試験装置
KR1019860002653A KR890004368B1 (ko) 1985-07-11 1986-04-08 누수 시험장치

Applications Claiming Priority (1)

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JP60151264A JPS6214033A (ja) 1985-07-11 1985-07-11 水漏れ試験装置

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Publication Number Publication Date
JPS6214033A JPS6214033A (ja) 1987-01-22
JPH0263175B2 true JPH0263175B2 (ja) 1990-12-27

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JP60151264A Granted JPS6214033A (ja) 1985-07-11 1985-07-11 水漏れ試験装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01184281A (ja) * 1988-01-14 1989-07-21 Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk ヨウ素による化学エッチング方法
JPH0676947B2 (ja) * 1988-04-01 1994-09-28 高千穂精機株式会社 パッケージのリーク測定装置
JP3255960B2 (ja) * 1991-09-30 2002-02-12 株式会社神戸製鋼所 冷陰極エミッタ素子

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KR870001462A (ko) 1987-03-13
JPS6214033A (ja) 1987-01-22
KR890004368B1 (ko) 1989-10-31

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