JPS6197552A - ウランの濃縮度測定方法 - Google Patents

ウランの濃縮度測定方法

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JPS6197552A
JPS6197552A JP59219444A JP21944484A JPS6197552A JP S6197552 A JPS6197552 A JP S6197552A JP 59219444 A JP59219444 A JP 59219444A JP 21944484 A JP21944484 A JP 21944484A JP S6197552 A JPS6197552 A JP S6197552A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
laser light
uranium
isotope
pipe
Prior art date
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Pending
Application number
JP59219444A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Doi
土井 孝一
Yasuo Kida
木田 康夫
Yoshio Araki
義雄 荒木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP59219444A priority Critical patent/JPS6197552A/ja
Publication of JPS6197552A publication Critical patent/JPS6197552A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/39Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は容器または配管内に流通または存在する六フッ
化ウラン(以下LJF6ガスと記す)のウラン濃縮度を
それらからサンプリングすることなく、オンラインで測
定することができるウランの濃縮度測定方法に関する。
[発明の技術的背景とその問題点] 通常、容器または配管(以下配管と記す)内に流通また
は存在しているLIFsガスのウラン濃縮度を測定する
には配管内からUFsをサンプリングし、質量分析装置
に導入してその濃度を測定する方法と、配管の外面に放
射線検出器を設けてγ線を計測する方法とが採用されて
いる。
しかしながら、前者の質量分析装置を使用する方法では
全体の装置が大形でかつ高価となり、加えてサンプリン
グ装置を必要とすることから、その保守点検などが複雑
になる問題点があった。一方後者の配管の外面に設けた
γ線検出器による測定方法は非破壊測定手段として近年
よ(用いられている。しかしながらγ線による濃縮度測
定では、低圧のLJF6ガスを測定対象とする場合必要
な精度を得るには長時間測定しなければならない。また
、配管に対して正確にγ線検出器を設定しなければ再現
性が悪化する。さらに不要なγ線の遮蔽のために鉛遮蔽
体を配管およびγ線検出器の周囲に設置しなければなら
ない等取扱い上からも種々問題点がある。
[発明の目的] 本発明の目的は上記問題点を解決するためになされたも
ので、配管内のUFsガスの濃縮度をサンプリングする
ことなく非破壊でかつ短時間に、小型軽量な装置で測定
可能なウランの濃縮度測定方法を提供することにする。
[発明の概要] 本発明によるウランの濃縮度測定方法は配管内に流通ま
たは存在するUF6ガスにレーザ光を照射し、レーザ発
光体と対向して取付けられた受光体でその強度を測定し
、UFsガスにおけるレーザ光の吸収率を算出し、また
LIFsガスの圧力温度の測定結果からその条件におけ
るUF6の同位体テアル”’ U F 6 、”’ U
 F s (D L/−ザ光の吸収率を補正算出し、こ
れらから演算で最終的にUF6ガスの濃縮度を算出する
ことを特徴とするものである。
[発明の実施例] 以下、本発明に係るウランの濃縮度測定方法の一実施例
を説明するが、そのまえに本発明方法を実施するために
°使用する測定装置を第1図について説明する。
第1図において、UFsガスは、配管1を通して1万か
ら他方の装置へ移送される。この配管1には、圧力計2
および温度計3が設置されており、また配管1内・には
レーザ光の発光体4および受光体5が対向するよう設け
られている。レーザ光の発光体4および受光体らはそれ
ぞれ配管内に取付は治具を介しあるいは、ガラスなどの
レーザ光を透過する媒体を介在させて配管の外に取付け
る。
第1図では、配管1内に設置した例を示している。
また圧力計2および温度計3は配管1内を通るUF6ガ
スの圧力および温度を検出するものである。
シー11光の発光体4と受光体は5は発光体4の発光す
るレーザ光を受光体4で測定することにより、配管1内
を流れるUF6ガスのレーザ光の吸収率を求めるもので
ある。
そして、圧力計2、温度計3、レーザ光の発光体4、受
光体5それぞれ演算装置6に接続されている。この演算
装置6は圧力測定値、温度測定値およびレーザ光の受光
強度測定値からUFsガスの濃縮度を算出するものであ
る。
さて第1図の装置を用いてその測定方法と演算手順を説
明する前にまずUFeガスのレーザ光の吸収率と濃縮度
の関係を説明する。
UF6ガスでは、赤外線領域での吸収率が同位体により
太き(異なる波長領域がある。以下作用の説明は同位体
として235 Ull:6と236 U F6について
説明する。第2図では235 U F5と236 UF
6の赤外領AI!(例えば波長16μm)での吸収率を
示す特性図である。なお、図中、実線は2351J 1
1:6で、破線は236 U F6を示している。この
吸収率はUF6ガスの温度・圧力により変化する。いま
赤外領域の展U F 6の吸収率a2jと、”UF61
7)吸収率a淘とUFsガス全体の吸収率aは、7!S
 IJ lr6の濃縮度をXとすれば次式で表わされる
a = X−82s + (1−X ) ” a 23
!すなわち、a zis、ax3θは既知であるので、
aが測定されれば濃縮度は下記(1)式の関係がある。
X= (a  a 23a/’a 2!s−a 236
)    −(1)そこで(1)式の関係を利用した本
発明による測定方法を第1図を参照して説明する。
レーザ光の受光体5は発光体4の発光するレーザ光を受
けるように設置されている。レーザ光の波長は、第2図
に示すように、n5(J F 6.231jJ F6の
吸収率が大きく異なる領域の単色波長が選ばれる。
まず、最初に配管1内にUF6ガスが存在しない状態で
発光体4からのレーザ光を受光体5で測定し、その強度
を演算装置に記憶しておく。
すなわち、演算装置は吸収のない場合の受光強度を得る
。これをIOとおいて説明する。また演算装置には、測
定におけるUFsガスの温度・圧力標準状態〈たとえば
その配管における設計圧力温度)での発光体のレーザ光
の波長と受光体との距離における吸収率a、5、a、あ
と、それらの吸収率と温度の関係を記憶させておく。こ
こではその関係式をそれぞれ a x3s=f  (T、 P)     −−・”・
・・(2)a 2ss=g (TlP)     −”
”−(3)とする。
UF6ガスが流れている状態で圧力計2、温度計3はそ
れぞれ配管1内のUF6ガスの圧力、温度を検出し、そ
の測定信号は演算装@6で(2)、(3)の関係式から
” LI F 8 % ”llU F sそれぞれのそ
の条件で吸収率を算出することができる。
また演算装置には、レーザ発光体3からのレーザ光を受
光体で測定した強度信号■が入力されており、演算装置
ではUFsガス全体の吸収率aを下記(4)式から算出
する。
a−<Io−1/Io)   ・”−”(4)したがっ
て演算装置には、UF6ガスの吸収率a、その条件にお
ける235 U F 6.256 UF 6ガスの吸収
率a716、a 2sBが既知の値であるので、(1)
の関係式から演算により、濃縮度を求めることが出来る
以上実施例について説明したように配管内のりF6ガス
の濃縮度を、単泡レーザの発光体、受光体と圧力計・温
度計などの装置だけで、特にサンプリングなどを行なう
ことなく容易に測定することが出°来る。
本発明は以上詳述した配管に限られるものでなく測定対
象が容器状の場合も同様な効果が得られる。また、本実
施例では、レーザの発光体、受光体を配管内に設置した
場合を説明したが、配管の正対向する位置にレーザ光を
透過させるたとえば耐LJFs性のガラス板を取り付け
、配管外部からレーザ光を発光させ、ガラス板・配管を
透過してくるレーザ光を同様に配管外部で受光するよう
構成し、LIFsガスの吸収率を求める演算を行なう際
にガラス板での吸収を補正することにより、前    
“期実施例同様の効果を得ることが出来る。なお、UF
sガス圧力と温度が一定で運転されている状態であれば
、圧力計と温度計は不要となる。
[発明の効果] 以上詳述したように本発明によれば、配管内のUF6ガ
スの濃縮度を、それらから試料採取することなく、非破
壊でかつオンラインで短時間に測定することができ、ま
たレーザ発光、受光体と圧力・温度計などの小型軽量な
ものを使用でき、測定装置を小型軽ω化できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法を説明するための装置の概要を示す
系統図、第2図はLIF6ガスのレーザ光の吸収率が同
位体により異なることを示す特性図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)六フッ化ウランガスが存在する配管内に単色レー
    ザ発光体と受光体とを対向するよう1対のみ設置するか
    、またはガラス等のレーザ光の透過体を通じて配管の外
    部に発光体と受光体とを対向するよう設置するとともに
    該配管に圧力計および温度計を設置し、さらにこれら圧
    力および温度の測定信号を受けて、演算する演算装置を
    備えており、六フッ化ウランガスの濃度および圧力を測
    定することにより、既知である六フッ化ウランガスの同
    位体のレーザ光吸収率を補正し、発光体から受光体に達
    したレーザ光の強度測定結果から六フッ化ウランガスに
    よる吸収率を演算により求め、これと該波長での六フッ
    化ウランの同位体の各々の先に補正した吸収率とから演
    算により六フッ化ウランガスの同位体の濃縮度を測定す
    ることを特徴とするウランの濃縮度測定方法。
JP59219444A 1984-10-19 1984-10-19 ウランの濃縮度測定方法 Pending JPS6197552A (ja)

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