CN206594061U - 自动漂移补偿的颗粒物检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种自动漂移补偿的颗粒物检测装置,具体的,增加补偿检测器来补偿装置由于各种原因所产生的漂移,并调整光线检测结构使其与补偿检测器可以配合使用,上述结构能够自动连续地补偿装置由于多种原因所产生的测量结果的漂移,使得数据更为准确可靠,极大地减轻了工作量,为科研、环保等领域的应用提供了科学、合理的装置。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置,尤其是一种自动漂移补偿的颗粒物检测装置。
背景技术
利用激光来检测气体或液体中的颗粒物是一种常用的手段,灵敏度高,使用方便,但在使用时,由于环境条件如温度、湿度、压力等等的变化、激光光源的变化、检测器随着使用时间和周围环境的变化和相关信号处理电路的变化,检测器本身的暗信号,等等众多的因素造成测量结果往往存在比较大的漂移,而该方法的仪器进行校准又是比较麻烦的事情,精确校准往往需要专业的粒子发生设备,体积大,价格昂贵,给实际工作造成很大的困扰。
发明内容
为了解决上述技术问题,实用新型提供了一种自动漂移补偿的颗粒物检测装置,增加补偿检测器来补偿装置由于各种原因所产生的漂移,并调整光线检测结构使其与补偿检测器可以配合使用,解决了现有技术中存在的由于较大漂移导致的检测不精确需要校准带来的设备体积大、价格昂贵且实际使用不方便的技术问题。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是:自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源和检测室,在检测室内部充有待检测的气体或者液体,其特征在于:所述的光源产生光线,经过光路上设置的光学处理装置进行处理,之后光路分为两路,一路传输到检测室外部设置的补偿检测器中,补偿检测器产生的补偿信号传输到信号处理装置I中,另一路进入检测室内部;
进入检测室内部的光信号,经过液体或者气体中颗粒物作用后,传输到设置在检测室内部的主检测器中,和/或光信号过液体或者气体中颗粒物作用后先通过光线处理镜处理再传输到设置在检测室外部的主检测器;主检测器将检测后的信号输出到信号处理装置II中进行分析处理;信号处理装置I输出的补偿信号输出到信号处理装置II中进行补偿。
所述的光线处理镜分别设置在光线的两侧,为凸透镜和/或凹面镜。
所述的检测室内部设置有光陷阱,光线经过检测室中的待测气体或者液体并检测结束后,进入光陷阱进行消光。
所述的光学处理装置处理后的光信号,经过光线处理镜处理后再进入检测室外部的主检测器时,主检测器安装在进入检测室的光线的垂直方向,与入射光线构成一个平面。
所述的主检测器与补偿检测器为同一型号,同一批次的检测器,并进行有效匹配。
所述的信号处理装置I和信号处理装置II具体为相同的电路结构,并设计在同一块电路板上,进行有效匹配。
所述的信号处理装置I和信号处理装置II采用同一个A/D转换装置和同一个数据处理装置,把检测器和补偿检测器中产生的模拟信号转化为数字信号,并进行处理。
本实用新型的有益效果在于:本实用新型提供了一种自动漂移补偿的颗粒物检测装置,增加补偿检测器来补偿装置由于各种原因所产生的漂移,并调整光线检测结构使其与补偿检测器可以配合使用,上述结构能够自动连续地补偿装置由于多种原因所产生的测量结果的漂移,使得数据更为准确可靠,极大地减轻了工作量,为科研、环保等领域的应用提供了科学、合理的装置。
附图说明
图1:为本实用新型外部结构示意图。
具体实施方式
自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源1和检测室5,在检测室5内部充有待检测的气体或者液体,结构为:所述的光源1产生光线,经过光路上设置的光学处理装置2进行处理,之后光路分为两路,一路传输到检测室5外部设置的补偿检测器3中,补偿检测器3产生的补偿信号传输到信号处理装置I4中,另一路进入检测室5内部;
进入检测室5内部的光信号,经过液体或者气体中颗粒物作用后,传输到设置在检测室内部的主检测器8中,和/或光信号过液体或者气体中颗粒物作用后先通过光线处理镜处理再传输到设置在检测室5外部的主检测器8;主检测器8将检测后的信号输出到信号处理装置II9中进行分析处理;信号处理装置I4输出的补偿信号输出到信号处理装置II9中进行补偿。
所述的光线处理镜分别设置在光线的两侧,为凸透镜6和/或凹面镜7。光线处理镜可对待检测液体或者气体中颗粒物所产生的的散射光进行处理,例如可以进行汇聚、滤光等处理并把处理后的光送入住检测器8中进行检测。凸透镜6可通过镀膜处理具有增透、单色等功能,凹面镜7和通过镀膜处理具有增反、单色等功能。此处可以根据需要选用不同的光学处理镜,不仅仅局限于凸透镜6和凹面镜7。
所述的检测室5内部设置有光陷阱10,光线经过检测室5中的待测气体或者液体并检测结束后,进入光陷阱10进行消光,以有效的减小杂散光,提高信噪比。
所述的光学处理装置2处理后的光信号,经过光线处理镜处理后再进入检测室5外部的主检测器8时,主检测器8安装在进入检测室5的光线的垂直方向,与入射光线构成一个平面。待测气体或液体从垂直该平面的方向上流过,其中的颗粒物产生的散射光线被凸透镜6和凹面镜7处理后进入所述主检测器8,所述主检测器8产生的信号由所述信号处理装置9所处理,并在后续数据处理步骤中用补偿检测器3的信号进行补偿处理。
所述的光学处理装置2处理后的光信号直接进入主检测器8时,主检测器8安装在如图所示的虚线表示位置处,此时主检测器8直接检测入射光线被待检测气体或液体中的颗粒物散射、吸收后的光强。
有选的,所述的主检测器8与补偿检测器3为同一型号,同一批次的检测器,并进行有效匹配。所述的信号处理装置I4和信号处理装置II9具体为相同的电路结构,并设计在同一块电路板上,进行有效匹配。具体的信号处理装置I4和信号处理装置II9采用同一个A/D转换装置和同一个数据处理装置,把检测器和补偿检测器中产生的模拟信号转化为数字信号,并进行处理。实际使用时,即使不采用此段限定的结构,也能实现很好的效果。如果采用此段限定的结构,会得到更好的使用效果。
Claims (7)
1.自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源(1)和检测室(5),在检测室(5)内部充有待检测的气体或者液体,其特征在于:所述的光源(1)产生光线,经过光路上设置的光学处理装置(2)进行处理,之后光路分为两路,一路传输到检测室(5)外部设置的补偿检测器(3)中,补偿检测器(3)产生的补偿信号传输到信号处理装置I(4)中,另一路进入检测室(5)内部;
进入检测室(5)内部的光信号,经过液体或者气体中颗粒物作用后,传输到设置在检测室(5)内部的主检测器(8)中,和/或光信号过液体或者气体中颗粒物作用后先通过光线处理镜处理再传输到设置在检测室(5)外部的主检测器(8);主检测器(8)将检测后的信号输出到信号处理装置II(9)中进行分析处理;信号处理装置I(4)输出的补偿信号输出到信号处理装置II(9)中进行补偿。
2.根据权利要求1所述的自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源(1)和检测室(5),在检测室(5)内部充有待检测的气体或者液体,其特征在于:所述的光线处理镜分别设置在光线的两侧,为凸透镜(6)和/或凹面镜(7)。
3.据权利要求1所述的自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源(1)和检测室(5),在检测室(5)内部充有待检测的气体或者液体,其特征在于:所述的检测室(5)内部设置有光陷阱(10),光线经过检测室(5)中的待测气体或者液体并检测结束后,进入光陷阱(10)进行消光。
4.据权利要求1所述的自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源(1)和检测室(5),在检测室(5)内部充有待检测的气体或者液体,其特征在于:所述的光学处理装置(2)处理后的光信号,经过光线处理镜处理后再进入检测室(5)外部的主检测器(8)时,主检测器(8)安装在进入检测室(5)的光线的垂直方向,与入射光线构成一个平面。
5.据权利要求1所述的自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源(1)和检测室(5),在检测室(5)内部充有待检测的气体或者液体,其特征在于:所述的主检测器(8)与补偿检测器(3)为同一型号,同一批次的检测器,并进行有效匹配。
6.据权利要求1所述的自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源(1)和检测室(5),在检测室(5)内部充有待检测的气体或者液体,其特征在于:所述的信号处理装置I(4)和信号处理装置II(9)具体为相同的电路结构,并设计在同一块电路板上,进行有效匹配。
7.据权利要求1所述的自动漂移补偿的颗粒物检测装置,包括有外部的光源(1)和检测室(5),在检测室(5)内部充有待检测的气体或者液体,其特征在于:所述的信号处理装置I(4)和信号处理装置II(9)采用同一个A/D转换装置和同一个数据处理装置,把检测器(8)和补偿检测器(3)中产生的模拟信号转化为数字信号,并进行处理。
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