DE2836018A1 - Pruefgeraet fuer ein ebenes testobjekt - Google Patents
Pruefgeraet fuer ein ebenes testobjektInfo
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Description
Beschreibung
Die Erfindung betrifft ein Prüfgerät, mittels -dessen
eine Vielzahl von Prüfkontakten in elektrischen Kontakt mit einem im allgemeinen ebenen Testobjekt bringbar ist.
Prüfgeräte für Schaltungskarten sind allgemein bekannt und arbeiten mit einer Betätigungsanordnung, um eine
Vielzahl elektrischer Prüfkontakte in elektrischen Kontakt mit der Schaltungskarte zu bringen, die Testpunkte
oder Kontaktpunkte besitzt.
Die Prüfkontakte besitzen eine längliche Gestalt mit einem Kontaktkopf am einen Ende zur Herstellung eines
elektrischen Kontakts mit einem Testpunkt auf der Schaltungskarte, sie sind am anderen Ende elektrisch
mit einer Prüfeinrichtung, z.B. einem Analysiergerätfür Schaltungskarten verbunden. Durch das Analysiergerät
werden Leitungsdurchgang oder Leitungsunterbrechung zwischen verschiedenen Testpunkten auf der Schaltungskarte
mittels der Prüfkontakte festgestellt, um zu prüfen, ob
die Schaltungskarte richtig arbeitet oder defekt ist.
Es sind verschiedene Versuche bekannt, um die Anordnung der Prüfkontakte in Berührung mit der zu prüfenden Schaltungskarte
zu bringen. Eine Klasse dieser Einrichtungen wird mittels Vakuum betrieben. Fig. 9 zeigt schematisch
einen Querschnitt einer derartigen Einrichtung, wobei die linke Seite der Einrichtung aus Vereinfachungsgründen
weggebrochen ist. Gemäß Fig. 9 ist eine Anordnung von Prüfkontakten in einer festen Stützplatte 302 teleskopartig
gelagert. Ein derartiger Prüfkontakt 306 ist bei-
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spielshalber gezeigt. Die feste Stützplatte 302 stellt eine allgemein rechteckförmige Platte dar, die innerhalb
eines rahmenförmigen Gehäuses 308 fest angeordnet ist.
Ein steifes Stützelement 312 mit im wesentlichen derselben
Gestalt wie die befestigte Stützplatte. 302 ist flexibel mittels einer Feder 314 über der festen Stützplatte
302 angeordnet. Eine Haut oder Dichtungselement 315 ist auf der Seite des steifen Stützelementes angeordnet,
die der festen Stützplatte abgewandt ist. Das Dichtungselement besitzt im allgemeinen eine rechteckförmige
Gestalt und ist im rahmenförmigen Gehäuse 308 längs der Kanten befestigt. Durch das Dichtungselement
315 und das steife Stützelement 312 ist fluchtend mit
jedem Prüfkontakt eine öffnung ausgeschnitten. Die zu
testende Schaltungskarte 318 ist bezüglich der Prüfkontakte
ausgerichtet. Eine schwenkbare Tür 320 besitzt eine Ausnehmung, in die sich die Schaltungsplatte 318 erstreckt,
wobei eine untere Dichtungskante 320a der Tür eine Dichtung mit dem Dichtungselement vollständig um die
Schaltungskarte herum bildet. Als Ergebnis wird eine Vakuumkammer 322 zwischen der Tür und der festen Stützplatte
und dem Gehäuse 308 gebildet. Bei Betrieb wird die Vakuumkammer 322 durch den sich durch das Gehäuse 308 erstreckenden
Auslaß 324 evakuiert, wodurch die Tür, das Dichtungselement, die Schaltungskarte und das steife Stützelement in Richtung
auf die Prüfkontakte gezogen werden, bis die Köpfe der Prüfkontakte einen elektrischen Kontakt mit den Testpunkten
auf der Schaltungskarte bilden.
Die Prüfkontakte sind elektrisch durch Drähte mit je einem
Stift 307 aus einerGruppe von Zwischenkontaktstiften verbunden, die ihrerseits durch eine Schnittstellen-Anordnung
mit einem Datenverarbeitungsgerät zum Analysieren der elektrischen Verbindung der Schaltungskarte durch die
Prüfkontakte verbunden sind.
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Eine weitere bekannte Einrichtung arbeitet gemäß dem in Fig. 9 dargestellten Gerät, es ist dabei jedoch
die Tür eliminiert und das Gerät eignet sich besonders zum Prüfen von Schaltungskarten, die keine Bohrungen
oder Löcher aufweisen und ihre eigene Dichtung gegen das Dichtungselement bilden. Als Beispiel einer derartigen
Schaltungskarte kann eine Schaltungskarte betrachtet werden, bei der die Bohrungen oder Löcher durch die Anschlüsse der
Bauelemente und durch Lötzinn ausgefüllt sind.
Darüber hinaus wurden andere Anordnungen hergestellt, um eine Gruppe von Prüfkontakten für Prüfzwecke mit einer
Schaltungskarte zu verbinden. So wurde z.B. eine bewegliche Platte verwendet, um eine Schaltungskarte mit einer
Gruppe beabstandeter Prüfkontakte in elektrischen Kontakt zu bringen. Derartige Anordnungen sind jedoch im allgemeinen
langsam und teuer.
Gemäß einer weiteren bekannten Anordnung wird ein austauschbarer Prüfkopf verwendet, der in eine Halterung
einsetzbar ist. Der austauschbare Prüfkopf enthält eine
Stützplatte mit einer flexiblen Haut, die auf einer Seite der Stützplatte angeordnet ist. Eine Vielzahl von Prüfkontakten
sind in der flexiblen Haut angeordnet. Die Prüfkontakte besitzen alle an einem Ende einen Kontaktkopf, der an einer
Seite der flexiblen Haut hervortritt, und sie besitzen einen länglichen Teil, der sich durch die Haut und die
Stützplatte bis zu einem anderen hervortretenden Ende erstreckt, das durch eine Drahtanklemmung, -Anlötung etc.
mit weiteren Leitern verbunden ist. Die Halterung besitzt eine rechteckförmige Rahmenstruktur, und wenn der austauschbare
Prüfkopf in die Halterung eingesetzt ist, dichtet die rechteckförmige Rahmenstruktur gegen die Haut um den
Umfang der Testköpfe ab. Die Halterung enthält eine Tür, die schwenkbar in der Halterung gelagert ist, um die öffnung
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durch den Rahmen zu den Prüfköpfen zu öffnen oder zu
schließen. Die Tür enthält eine elastische Dichtung, die eine Dichtung zwischen der Tür und der Rahmenstruktur
bildet und dadurch eine Vakuumkammer erzeugt. Ein Auslaß erstreckt sich durch den Rahmen zur Kammer
und ermöglicht die Erzeugung eines Vakuums. Die Erzeugung
eines Vakuums in der Kammer bewirkt, daß die Haut und damit die Probenköpfe in Richtung auf die Tür gegen ein Testobjekt
gezogen werden,das zwischen der Tür und den Prüfköpfen
angeordnet ist. Obwohl dieser Aufbau gewisse Vorteile gegenüber den zuvor genannten bekannten Geräten
besitzt, besitzt die Anordnung aufgrund der Rahmenstruktur und der Konstruktion der Tür nicht ihre einfachste Form,
so daß die Kosten der Gesamtanordnung nicht minimal sind.
Die Erfindung betrifft ein Prüfgerät für ein ebenes Testobjekt. Die erfindungsgemäße Testobjekt-Halterung besitzt
eine im wesentlichen ebene Stützfläche für das Testobjekt. Eine Tür ermöglicht einen Zugang zu der ebenen Testfläche
über der Stützfläche für das ebene Testobjekt. Die Tür enthält eine elastische Dichtung, die sich von der Tür zur
Stützfläche für das ebene Testobjekt vollständig um den Umfang der Testfläche herum erstreckt, wenn die Tür geschlossen
ist. Die Tür einschließlich der elastischen Dichtung und der Stützfläche für das ebene Testobjekt
bilden die Wände einer Vakuumkammer. Eine Vielzahl elektrischer Prüfkontakte sind in der Halterung angeordnet und erstrecken
sich durch die Halterung durch,und jeder Prüfkontakt enthält
einen elastisch vorgespannten Kontaktkopf, der an der ebenen Prüffläche hervortritt. Wenn das Vakuum in der
Vakuumkammer vorhanden ist, drückt die Tür das ebene Testobjekt, das in dem Testobjektbereich positioniert ist,
gegen die Vorspannung der Köpfe der Prüfkontakte, bis alle
Kontaktköpfe in elektrischen Kontakt mit einem derartigen ebenen Testobjekt sind. Die Tür enthält bevorzugt eine
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Platte und die elastische Dichtung ist auf der Türplatte angeordnet.
Die Halterung enthält bevorzugt ebenfalls eine Platte, und eine Oberfläche der Platte bildet die im wesentlichen
ebene Stützfläche für das ebene Testobjekt.
Bevorzugt sind Einrichtungen vorgesehen, um die Kammer zwischen den Prüfkontakten und der Halterung abzudichten.
Bevorzugt ist eine Bahn aus elastischem Material auf einer Seite der Stützplatte befestigt und dichtet den Umfang
jedes Prüfkontaktes dicht ab.
Bevorzugt ist die elastische Dichtung auf der Türplatte auswärts von der Kammer um den Umfang der Kammer herum
erweitert, so daß die elastische Dichtung, wenn Vakuum erzeugt wird, eine dichte Abdichtung gegen die ebene
Stützfläche für das Testobjekt bildet.
Bevorzugt sind Einsetzeinrichtungen vorgesehen, um eine Seite des ebenen Testobjekts in direkten Kontakt mit
den Köpfen der Prüfkontakte einzusetzen, wenn die Tür offen ist.
Die Tür mit der Türplatte ist bevorzugt schwenkbar in dem Prüfgerät angeordnet, so daß die Türplatte die
elastische Dichtung frei bezüglich der ebenen Oberfläche des Testobjekts orientieren kann. Gemäß einer bevorzugten
Ausführungsform der Erfindung erstreckt sich ein Vakuumauslaß durch die Halterung. Die elastische Dichtung befindet
sich bevorzugt in direktem Kontakt mit der Stützfläche für das Testobjekt, wenn die Tür geschlossen ist.
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Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines erfindungsgemäßen, mit Vakuum betätigten Prüfgeräts,
eine gedruckte Schaltungskarte ist am Testort in gebrochenen Linien dargestellt;
Fig. 2 eine Aufsicht auf die Tür für das mit Vakuum betätigbare Haltesystem der Fig. 1, wobei
die Stützarme entfernt sind;
Fig. 3 einen Querschnitt der Tür der Fig. 2 längs der Linien 3-3;
Fig. 3A eine vergrößerte Ansicht des linken Teils des Querschnitts der in Fig. 3 dargestellten Tür;
Fig. 4 eine Aufsicht auf die Halterung für einen austauschbaren Prüfkopf, der einen Teil des
mit Vakuum betätigbaren Haltesystems der Fig.1 bildet; eine gedruckte Schaltungskarte ist am
Testort auf der Halterung in gebrochenen Linien dargestellt;
Fig. 5 eine Ansicht der in Fig. 4 dargestellten Halterung, von der rechten Seite der Fig. 4, wobei
die Darstellung längs der Linie 5-5 gebrochen ist; zusätzlich ist ein Teil des Gehäuses,
das die Stützplatte umgibt, weggebrochen, um Kante der Platte zu zeigen;
Fig. 6 einen vergrößerten Querschnitt längs der Linie 6-6 der Fig. 5, der Einzelheiten eines Prüfkontakts
zeigt;
Fig. 7 eine Endansicht der Halterung mit geschlossener Tür nachdem ein Testobjekt auf denPrüfkontakten
angeordnet ist;die Halterung ist teilweise im Querschnitt ähnlich dem Querschnitt gemäß
Fig. 5 gezeigt, und die Tür ist im Querschnitt in ähnlicher Weise wie die Fig. 3 dargestellt;
Fig. 8 eine Endansicht der Halterung der Tür, die derjenigen der Fig. 7 entspricht, nachdem Vakuum
in der Kammer herrscht;
und
und
Fig. 9 eine teilweise schematische Querschnittsansicht eines Teils eines bekannten Prüfgeräts.
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Die Fig. 1-8 zeigen ein mittels Vakuum betätigbares Haltesystem oder Prüfgerät zum Herstellen eines
elektrischen Kontaktes mit Testpunkten auf einer Seite eines ebenen Testobjekts. Gemäß Fig. 1 enthält
das Prüfgerät eine Testobjekthalterung 2 mit einem Testplatz 4 für das Testobjekt, an dem das Testobjekt
zum Prüfen positioniert wird. Zu Erläuterungszwecken ist ein Testobjekt, z.B. eine gedruckte Schaltungskarte
in gestrichelten Linien am Testplatz angeordnet.
Eine Tür 6 ist mittels Scharniere 10 an einen Rahmen 8
angelenkt. Die Tür 6 ermöglicht in geöffneter Stellung einen Zugang zum Positionieren des Testobjekts 21 am
Testplatz 4, und wenn die Tür geschlossen ist, schließt sie den Zugang zum Testplatz.
Die Tür 6 und die Testobjekthalterung 2 sind derart
ausgebildet, daß sie eine im wesentlichen geschlossene Kammer 12 bilden, wenn die Tür geschlossen ist, vergleiche
dieFig. 7 und 8. Die Kammer 12 umschließt den Testplatz
Die Tür 6 und die Halterung 2 bilden eine von zwei sich gegenüberliegenden Wände der Kammer 12. Die Tür enthält
eine Türplatte 14, und die Halterung 2 enthält eine Kopfplatte 16, und wenn die Tür geschlossen ist, befinden
sich die Wände 12a und 12b in einer gegenüberliegenden
Stellung. Die Kopfplatte und die Halterungsplatte bestehen bevorzugt aus einem elektrisch isolierenden Material.
Beispielsweise besteht die Türplatte aus einem dünnen transparenten Kunststoffharz, und die Halterungsplatte
besteht aus einem Phenolharz auf Leinenbasis.
Die Wand 12a der Tür wird, wenn die Tür geschlossen ist, in einer Richtung senkrecht zur Wand 12b der Halterung
bewegt, wenn Vakuum in der Kammer 12 erzeugt wird.
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Eine Gruppe 17 relativ beabstandeter.elektrisch leitender
Prüfkontakte 18 sind in der Wand 12b der Halterung angeordnet
und erstrecken sich durch diese Wand hindurch. Die Prüfkontakte 18 sind in einer Anordnung angeordnet,
die den gewünschten Kontaktpunkten auf dem zu prüfenden Testobjekt anspricht. Nur vier Prüfkontakte sind aus
Vereinfachungsgründen in Fig. 1 dargestellt. Wie in den Figuren 5 und 6 gezeigt ist, enthält jeder Prüfkontakt
18 ein Ende 18b, das sich außerhalb der Kammer 12 befindet, und einem Kopf 18a, der elektrisch mit der gegenüberliegenden
Seite des Prüfkontaktes verbunden ist. Jeder Kopf 18a des Prüfkontaktes befindet sich in der
Kammer 12 (Fig. 7 und 8).
Die Köpfe 18a der Prüfkontakte sind elastisch von der
Stützwand auf eine im wesentlichen gemeinsame Ebene weg gespannt. Die Köpfe die Prüfkontakte sind bevorzugte
derart angeordnet, daß sie eine Seite eines Testobjekts direkt kontaktieren, wenn sich das Testobjekt im Testplatz 4 befindet und die Tür 6 offen ist. Als Beispiel
ist am Testplatz 5 der Fig. 4 ein im wesentlichen rechteckförmiges
und ebenes Testobjekt 21 bei geöffneter Tür dargestellt. Die Köpfe 18a der Prüfkontakte sind unter
Druck gegen die Wand 12b der Halterung bewegbar.
Vier Einsetzstifte 20 bilden Einsetzmittel auf der Halterung
2, um eine Seite des Testobjekts 21 in direktem Kontakt mit den freien Köpfen 18a zu positionieren, wenn die Tür
offen ist. Die Einsetzstifte 20 erstrecken sich senkrecht von der Kopfplatte 16 weg. Testobjekte, wie gedruckte
Schaltungskarten, sind üblicherweise mit Einsetzöffnungen versehen, die mit den Einsetzstiften fluchten und sich um
diese herum erstrecken. Als Ergebnis stellen die Einsetzstifte Führungsmittel zum Führen der auf die Einsetzstifte
gesetzten Testobjekte dar, in Richtung auf die Stützwand bzw. von dieser weg, um eine Bewegung der Testobjekte quer
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zu den Prüfkontakten zu verhindern, wodurch die Testpunkte
auf den Testobjekten bezüglich der Anordnung der Prüfkontakte genau ausgerichtet werden. Obwohl vier
Einsetzstifte beispielshalber gezeigt sind, können auch weniger als vier Stifte verwendet werden. Es lassen sich
auch andere Einsetzmittel verwenden, um das Testobjekt an festen xy-Koordinaten bzw. der Stützplatte anzuordnen,
wie bekannt ist. Die Einsetzmittel, wie z.B. die Stifte 20, dürfen der Bewegung der Tür nicht hinderlich sein.
Die Tür 6 enthält eine elastische Dichtung 22, vergleiche die Fig. 1,2,3 und 3A. Die Dichtung 22 stellt eine Vakuumdichtung
für die Kammer 12 dar, die sich vollständig um den Umfang der Kammer zwischen der Wand der Tür und
der Halterung erstreckt, wenn die Tür geschlossen ist.
Vakuum-Ein- und-Auslässe 24 erstrecken sich durch die
Halterung zur Kammer 12, und ermöglichen, daß in der Kammer ein Vakuum erzeugt wird. An der Halterung ist eine
Vakuum-Vorrichtung, nicht dargestellt, angeordnet und mit den Ein- und Auslässen außerhalb der Kammer verbunden,
um Vakuum zu erzeugen.
Die Dichtung 22 ist an der Türplatte befestigt und bildet eine elastische Lagerung für die Türplatte 14 auf der
Halterung, wenn die Tür geschlossen ist. Als Ergebnis bewirkt die Türplatte 14 in Abhängigkeit von dem in der
Kammer erzeugten Vakuum eine Deformation der Dichtung 22, so daß sich die Türplatte in Richtung auf die Halterung
bewegt und dabei einen im wesentlichen gleichförmigen Druck gegen eine Seite des Testobjekts ausübt, das durch
die Einsetzstifte 20 positioniert ist. Die federnd vorgespannten Köpfe der Prüfkontakte bewegen sich als Ergebnis
des Andrucks des Testobjekts abwärts, bis alle Köpfe der Prüfkontakte einen elektrischen Kontakt mit dem
Testobjekt gemäß Fig. 8 bilden.
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Gemäß Fig.6 erstrecken sich die Prüfkontakte 18 durch
öffnungen 26, die durch die Kopfplatte 16 verlaufen. Eine spiralförmige Druckfeder 28 verläuft zwischen einer
Schulter der Kopfplatte und einer gegenüberliegenden Schulter an dem Prüfkontakt 18, wodurch eine elastische Vorspannung
des Prüfkontaktes und damit des Kopfs 18a des Prüfkontakts
verwirklicht wird. Ein Schulterring 18c ist auf den Prüfkontakt 18 angeordnet und begrenzt den Weg des Prüfkontakte
unter dem Druck der Feder 28.
Aufgrund eines Spiels zwischen den Prüfkontakten 18 und
den Bohrungen 26 kann eine beachtliche Menge an Luft durch die Kopfplatte 16 hindurchwandern, wenn Vakuum erzeugt
wird, und es ist wichtig, das Entweichen der Luft zu verhindern. Folglich sind Dichtungseinrichtungen
vorgesehen, um die Kammern um jeden Prüfkontakt abzudichten. Zu diesem Zweck ist eine Bahn aus elastischem
Material 30 bevorzugt Gummi, auf der Unterseite der Kopfplatte 16 befestigt,und die Prüfkontakte 1.8 erstrecken
sich durch das elastische Material. Das elastische Material bildet eine Dichtung um den Umfang jedes Prüfkontakte 18,
wie in Fig. 6 dargestellt ist. Um die Prüfkontakte auf der Stützplatte zu montieren, und um eine dichte Dichtung
zwischen dem elastischen Material 30 und den Prüfkontakten sicherzustellen, werden die Prüfkontakte durch die öffnungen
26 hindurchgedrückt und durchstoßen dann die Gummibahn während die Gummibahn auf einer Schicht aus festem
permeablen Material ruht.
Obwohl die Bahn aus elastischem Material 30 auf vielerlei bekannte Weisen an der Kopfplatte 16 befestigt werden kann,
erstreckt sich bevorzugt ein Streifen aus doppelseitigem Klebeband 32 zwischen der unteren Seite der Kopfplatte 16
und dem elastischem Material 30 um den äußeren Umfang des elastischem Materials 30 herum, um das elastische Material
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an der unteren Seite der Kopfplatte 16 zu befestigen.
Das doppelseitig beschichtete Klebeband 32 ist zwischen gestrichelten Linien in Fig. 4 dargestellt.
Es wird nun genauer auf die Tür gemäß den Fig. 1,2,3 und
3A Bezug genommen. Die Türplatte 14 besitzt im wesentlichen eine rechteckförmige Gestalt, obwohl auch andere Formen
im Rahmen der Erfindung liegen. Die Dichtung 22 ist an der Türplatte 14 befestigt und um den Umfang der Türplatte
angedichtet, und wenn die Tür geschlossen ist, erstreckt sich diese Dichtung um den Umfang des Testplatzes 4. Zu
diesem Zweck ist die elastische Dichtung 22 mit der oberen Oberfläche der Kopfplatte 16 verbunden und wird von einem
rechteckförmigen Stützrahmen 34, der die Form eines Bilderrahmens besitzt und sich um den Umfang der Türplatte 14
erstreckt, an seinem Ort gehalten.
Erfindungsgemäß erstreckt sich die elastische Dichtung 22 von der Türplatte 14 nach außen und, wenn die Tür
geschlossen ist, in Richtung auf die Kopfplatte 16. Die elastische Dichtung 22 stützt als Ergebnis die Türplatte
elastisch auf der Kopfplatte 16 ab. Die Dichtung dichtet
daher bevorzugt nicht nur die Kammer ab, sondern stützt die Türplatte elastisch gegen die Kopfplatte.
Um sicherzustellen, daß die Tür 6 so frei ist, daß sie die Dichtung 22 auf der Kopfplatte 16 gleichmäßig um den
Umfang der Kammer aufsetzen und orientieren kann, erstrecken sich Arme 36 und 38 von den Scharnieren 10,und die Tür ist
an die Arme 36 bzw. 38 mittels Drehlager 40 und 42 drehbar angelenkt.
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-χ-
AS
Beim Betrieb wird die Tür 6 in die in Fig. 1 dargestellte
Position geöffnet, und es wird ein ebenes Testobjekt, z.B. eine gedruckte Schaltungskarte, mit ihren Einsetzöffnungen
über die Einsetzstifte 20 in direkten Kontakt mit den Köpfen 18 der Prüfkontakte positioniert, vergleiche
Fig. 5, und anschließend wird die Tür gemäß Fig. 7 geschlossen. Das Testobjekt ist dann über den Köpfen der
Prüfkontakte positioniert und befindet sich in direktem elektrischen Kontakt mit den Prüfkontakten, und die elastische
Dichtung 22 befindet sich in unmittelbarem Kontakt mit der Kopfplatte 16 der Halterung 2 und bildet eine vollständige
Abdichtung um den Umfang der Kammer. Die elastische Dichtung 22 hält die Türplatte 14 vom Testobjekt entfernt.
Ferner verläuft auch der Umfang der Tür und der Dichtung um die Außenseite der Ein- und Auslässe 24 und um das
Testobjekt, wie durch die gebrochenen Linien 22 in Fig.4 dargestellt ist.
Es wird dann in der Kammer durch die Ein- und Auslässe 24 Vakuum erzeugt, wobei die Türplatte 14 gegen die Kopfplatte
16 angezogen wird; dadurch deformiert sich die elastische Dichtung 22 und kollabiert und ermöglicht es
der Türplatte 14, gleichförmig Druck über die benachbarte
Seite des Testobjekt auszuüben, worauf das Testobjekt einerseits Druck gegen die elastisch vorgespannten Köpfe der
Prüfkontakte ausübt, bis die Köpfe der Prüfkontakte angedrückt
sind. Die Türplatte 14 kann sich aufgrund von Unregelmäßigkeiten in der Oberfläche des Testobjekts
in gewissem Umfang deformieren. Der Druck reicht aus, daß alle oder mindestens ein Teil der Köpfe der Prüfkontakte
sich gegen die Kopfplatte 16 abstützen. Dieser Zustand ist in Fig. 8 dargestellt.
Es sei bemerkt, daß an denjenigen Stellen, an denen keine
Schaltungskarte vorhanden ist, oder an den Bereichen der
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/Ib
naokqereicht|
Schaltungskarte, an denen keine Prüfkontakte angeordnet
sind, Kissen aus Gummi oder einem anderen geeigneten Material verwendet werden können, um akzeptable Nennwerte
der Deformation des Lides einzuhalten, und um Strömungspfade durch die gesamte Kammer hindurch zu verwirklichen,
um eine richtige Evakuierung sicherzustellen.
Die Testobjekt-Halterung 2 bildet einen austauschbaren
Prüfkopf, der aus dem Rahmen 8 entfernt bzw. in diesen
Rahmen eingesetzt werden kann. Die Fig. 4 und 5 geben die Situation wieder, bei der der austauschbare Testkopf
oder die Halterung vom Rahmen entfernt sind. Zu diesem Zweck ist der Rahmen 8 zwischen der Front 8a und
der Rückseite 8b erweiterbar (durch nicht dargestellte Mittel), so daß der austauschbare Testkopf herausgehoben
und aus dem Rahmen entfernt werden kann. Ferner ist jeder Prüfkontakt 18 mit einem separaten eigenen Anschlußstift
einer Gruppe von Anschlußstiften 4^: verbunden, die
ihrerseits (durch nicht dargestellte Einrichtungen) an eine Schaltungstesteinrichtung (ebenfalls nicht dargestellt)
angeschlossen sind. Aus Darstellungsgründen ist in Fig.5 lediglich ein Prüf kontakt 18 über einen Leiter "Sffmit
einem Anschlußstift sfcö>
verbunden, und es sind lediglich zwei Anschlußstifte gezeigt, die anderen Anschlußstifte
sind durch gebrochene Linien angedeutet.
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Claims (10)
- EVERETT/CHARLES, INC: eine Gesellschaft nach den Gesetzen des Staates Kalifornien, 2806 Metropolitan Place, Pomona, Kalifornien 91767, V. St. A.Prüfgerät für ein ebenes TestobjektAnsprüche1 ./Prüfgerät für ein ebenes Testobjekt, mit einer Testobjekt-Halterung, die eine im wesentlichen ebene Stützfläche für das Testobjekt aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß eine Tür (6) Zugang zu einem ebenen Testbereich über der ebenen Stützfläche für das Testobjekt (21) freigibt, daß die Tür (6) eine elastische Dichtung (22) besitzt, " die sich von der Tür (6) in Richtung auf die ebene Stützfläche für das Testobjekt vollständig um den Umfang des Testbereichs erstreckt, wenn die Tür geschlossen ist, daß die Tür (6) zusammen mit der elastischen Dichtung (22) und der ebenen Stützfläche für das Testobjekt die Wände für eine Vakuumkammer (12) bildet, daß eine Vielzahl elektrischer Prüfkontakte (18) in der Halterung (16) angeordnet ist und sich hierdurch erstreckt, daß jeder Prüfkontakt (18) einen elastisch vorgespannten Kopf (18a)909820/0548WR/qsD 2B00 BREMEN 1 ·28360enthält, der auf den ebenen Testbereich gerichtet ist, daß die Tür (6), wenn Vakuum in der Vakuumkammer (12) erzeugt ist, das ebene Testobjekt (21), welches im Testobjektbereich positioniert ist, gegen die Vorspannung der Köpfe (18a) der Prüfkontakte (18) drückt, bis alle Köpfe (18a) der Prüfkontakte (18) in elektrischem Kontakt mit dem ebenen Testobjekt stehen.
- 2. Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Tür (6) eine Platte (14) enthält, und daß die elastische Dichtung (22) an der Türplatte (14) befestigt ist.
- 3. Prüfgerät nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Halterung (2) eine Platte (16) enthält, deren eine Oberfläche die im wesentlichen ebene Stützfläche für das Testobjekt bildet.
- 4. Prüfgerät nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen (30) zum Abdichten der Kammer (12) zwischen den Prüfkontakten (18) und der Halterung (2) vorgesehen sind.
- 5. Prüfgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine Bahn aus elastischem Material (30) auf einer Seite der Stützplatte (16) befestigt ist und den Umfang jedes Prüfkontakts ( 18) eng abdichtet.
- 6. Prüfgerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die elastische Dichtung (22) sich am Umfang der Kammer (12) von der Kammer (12) auswärts erweitert, so daß, wenn Vakuum in der Kanuner (12) erzeugt wird, die elastische Dichtung (22) sich abdichtend gegen die ebene Stützfläche für das Testobjekt anschmiegt.909820/0548
- 7. Prüfgerät nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß Einsetzinittel (20) zinn Einsetzen des Testobjekts vorgesehen sind, derart, daß eine Seite des ebenen Testobjekts in unmittelbarem Kontakt mit den Köpfen (18a) der Prüfkontakte (18) liegt, wenn die Tür offen ist.
- 8. Prüfgerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen (36,38,40,42) vorgesehen sind, um die Türplatte (16) des Prüfgeräts schwenkbar derart zu lagern, daß die Türplatte frei die Ausrichtung der elastischen Dichtung (22) bezüglich der.ebenen Stützfläche für das Testobjekt ermöglicht.
- 9. Prüfgerät nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Vakuum-Einlaß und -Auslaß (24) durch die Halterung (2) hindurch zur Kammer (12) verläuft.
- 10. Prüfgerät nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die elastische Dichtung(22) in direktem Kontakt mit der Stützfläche für das Testobjekt liegt, wenn die Tür geschlossen ist.909820/0548
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- 1978-08-17 DE DE2836018A patent/DE2836018C2/de not_active Expired
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Patent Citations (1)
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---|---|---|---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2921007A1 (de) * | 1979-05-23 | 1980-11-27 | Siemens Ag | Vorrichtung zum pruefen einer elektrischen leiterplatte |
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