DE2057948A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen von gedruckten Schaltungsplatten - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen von gedruckten Schaltungsplatten

Info

Publication number
DE2057948A1
DE2057948A1 DE19702057948 DE2057948A DE2057948A1 DE 2057948 A1 DE2057948 A1 DE 2057948A1 DE 19702057948 DE19702057948 DE 19702057948 DE 2057948 A DE2057948 A DE 2057948A DE 2057948 A1 DE2057948 A1 DE 2057948A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit board
conductor
continuity
circuit
circuit boards
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19702057948
Other languages
English (en)
Inventor
Quincey Edwin Albert
Brett Christopher John
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Plessey Handel und Investments AG
Original Assignee
Plessey Handel und Investments AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Plessey Handel und Investments AG filed Critical Plessey Handel und Investments AG
Publication of DE2057948A1 publication Critical patent/DE2057948A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2805Bare printed circuit boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

PLESSEY HiEDEL UND INVESTMENTS AG
6300 Zug, Schweiz
Gartenstrasse 2
Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von gedruckten Schaltungcsplatten
Die Erfindung betrifft das Prüfen von mit Hilfe der Technik gedruckter Schaltungen hergestellten Schaltungsplatten, die dünne, auf einer isolierenden Platte festgeklebte Streifen aus leitendem Material enthalten können.
Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf das Prüfen des Durchgangs von elektrischem Strom bei solchen Schaltungsplatten. Bisher ist der Stromdurchgang unter Verwendung komplizierter und sehr teurer Prüfeinrichtungen von Hand oder automatisch durchgeführt worden.
Nach der Erfindung wird ein Verfahren geschaffen, bei dem der Stromdurchgang bei Scha1tungsplatteη dadurch geprüft wird, dass ein zu dem Leitermuster auf der Schalungsplatte komplementäres Leitungsmuster in engem Kontakt mit der Schaltungsplatte gebracht wird, so dass wenigstens ein vollständiger Stromkreis gebildet wird, wenn an den verschiedenen Leiterabschnitten der Schaltungsplatte ein Stromdurchgang vorliegt.
109823/1268
Zweckraässigerweise wird das komplementäre leiterrauster bei der Durchführung der Erfindung von gedruckten leitern auf einer isolierenden Platte gebildet, und die zwei Platten werden dann richtig in Deckung gebracht, übereinandergelegt und vorzugsweise mit Hilfe einer Umdruckvorrichtung in dieser Lage gehalten. Dadurch kann durch die gesamte auf Durchgang zu prüfende Schaltung Strom fliessen. Die Vakuumvorrichtung sorgt dabei für die Aufrechterhaltung eines gleichmässigen Drucks und daher für einen gleichmässigen Kontaktwiderstand zwischen den sich berührenden Leitern der zwei Platten.
Die Erfindung bezieht sich auch auf eine Vorrichtung zur Ausführung des oben beschriebenen Verfahrens.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt.Darin zeigen :
Fig.1 eine Skizze einer gedruckten S cha1tungsplat te und einer gedruckten komplementären Prüfplatte, die zur Bildung von zwei geschlossenen Stromkreisen mit der gedruckten Schaltungsplatte in Kontakt gebrauht werden kann, und
Pig.2 eine perspektivische Ansicht einer Vorrichtung zur Durchführung der vollständigen Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten auf Durchgang von elektrischem Strom.
Die in Pig.1 der Zeichnung dargestellte, auf Stromdurchgang durch die Leiterbahnen, wie die Leiterbahnen 2 und 3 zu prüfende gednuckte Schaltungsplatte 1 enthält durchplattierte Löcher, wie sie bei 4 und 5 dargestellt sind. Sie ist ferner so angeordnet, dass sie unter Druck in Kontakt mit einer gedruckten Schaltungsplatte 6 gebracht werden kann, die mit einem Leitermuster versehen ist, äaa komplementär zu dem von der Schaltungsplatte 1 gebildeten Leitermuster ist.
109823/1268
Wie man aus Fig.1 erkennen kann, bilden die zwei Leitermuster zusammen zwei Stromkreise 7 und 8, die miteinander verbunden werden können.
In Pig.2 ist die Prüfvorrichtung dargestellt, in der eine gedruckte SchaItungsplatte 9 in der richtigen Deckungslage über einer (nicht dargestellten) komplementären Platte angebracht ist, die auf dem Prüftisch 10 der Vorrichtung liegt und mit elektrischen Anschlüssen versehen ist, damit Strom durch die zwei Platten geleitet werden kann.
Wenn der an einem Scharnier befestigte Deckel 11 der Vorrichtung geschlossen wird, wird eine (nicht dargestellte) Vakuumpumpe in Betrieb gesetzt, so dass die zwei Platten in engen Druckkontakt miteinander gebracht werden, wobei der Druck über die zwei Platten gleichmässig verteilt wird, damit ein konstanter Kontaktwiderstand ersielt wird.
Wenn durch die geschlossenen Stromkreise Strom fliesst, dann besteht Kontinuität der Leitermuster. Es wird nun ein Parallelvergleich zwischen dem Widerstand der Schaltungsplatte und einem Standardwiderstand von 100 Ohm zusammen dt einem voreingestellten Widerstand zwischen 1 und 10 Ohm durchgeführt. Die Vorrichtung ist so ausgeführt, dass zwei Lampen, wie die Lampen 13 und 14 , aufleuchten, wenn der Widerstanäswert der Platten unter dem Voreingestellten Wert zwischen 1 und Ohm liegt. Wenn nur eine Lampe, etwa die Lampe 13 aufleuchtet, wird angezeigt, dass der Widerstandswert kleiner als 100 Ohm aber grosser als der voreingestellte Wert ist, während der Pail, dass keine Lampe aufleuchtet, einen Widerstaadswert von mehr als 100 Ohm anzeigt, was ein Kriterium für einen unterbrochenen Stromkreis oder eine Diskontinuität des Leitermusters ist.
109823/126 8
Die dritte Lampe 12 der Vorrichtung kann dann aufleuchten, wenn der Unterdruck in der Vorrichtung erreicht worden ist.
Ein weiteres Merkmal der Prüfvorrichtung besteht darin, dass die zu prüfende Platte vor der Durchführung der Durchgangsprüfung einem hohen Belastungsstrom (typischer Weise einem G-!eichstrom von 2 Ampere im Fall von gedruckten Schaltungen) ausgesetzt werden kann, damit unzureichende Verbindungen an Bereichen zu dünner Leiterbahnen durchbrennen, In der Testvorrichtung können Schalteinrichtungen angebracht sein, mit denen von der Quelle des hohen Belastungsstroms zur Plattendurchgangsprüfung umgeschaltet werden kann.
Aus der obigen Beschreibung lässt sich entnehmen, dass das hier beschriebene Verfahren zum Prüfen des Stromdurchgangs bei gedruckten Schaltungsplatten wesentlich schneller als die bisher angewendeten , von Hand durchgeführen Verfahren ausgeführt werden kann, und dass die Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens wesentlich billiger und einfacher als die bisher zur automatischen Prüfung von Schaltungsplatten verwendeten Vorrichtungen ausgeführt ist.
Patentansprüche
109823/1268

Claims (1)

  1. Patentansprüche
    M. /Verfahren zum Prüfen des Stromdurchgangs bei gedruckten Schaltungsplatten oder dergleichen, dadurch gekennzeichnet, dass ein zum Leitermuster auf der Schaltunjplatte komplementäres Leitermuster in engen Kontakt mit der SchaItungsplatte gebracht wird, so dass bei Vorliegen von Stromdurchgang durch die verschiedenen Leiterabschnitte der SchaItungsplatte wenigstens ein geschlossener Stromkreis entsteht, und dass an die miteinander verbundenen Leitermuster eine Stromquelle angelegt w ir d.
    2· Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Leitermuster von gedruckten Leiterbahnen auf einer isolierenden Platte gebildet wird, und dass die zwei Platten durch eine Unterdruckvorrichtung in Kontakt miteinander gehalten werden.
    3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass durch die zu prüfende Schaltungsplatte nach dem Herstellen des Kontakts zwischen den zwei Leitermustern, aber vor dem Prüfen auf Durchgang ein hoher Belastungsstrom geschickt wird, damit unzureichende Verbindungen oder Bereiche ungenügender Leiterdicke durchgebrannt werden.
    4. Vorrichtung zur Burchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch eine Einspannvorrichtung zur Aufnahme einer gedruckten Schaltungsplatte mit einem zum Leitermuster der zu prüfenden Schaltungsplatte komplementären Leitermuster, elektrische Anschlüsse an der Einspannvorrichtung zur Herstellung elektrischer Anschlüsse an die Schaltungsplatte mit den) komplementären Leitermuster, eine Einrichtung zum korrekten Ausrichten der zu prüfenden Schaltungsplatte auf die komplementäre Schaltungsplatte, eine Einrichtung, die die zwei SchaItungsρlatteη in engen Druckkontakt presst, Schaltungseinrichtungen zum Anschliessen einerStromquelle an
    109823/1268
    die Schalungsplatte in der Einspannvorrichtung und eine die Stromkreiskontinuität in der zu prüfenden Schaltungsplatte anzeigende Anzeigeeinrichtung.
    5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass eine die zwei Schaltungsplatten in engem Kontakt saugende Vakuumpumpe vorgesehen ist.
    6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Einspannvorrichtung auf einer Oberplatte eines Gehäuses der Vorrichtung angebracht ist und dass das Gehäuse einen an einem Scharnier befestigten Deckel besitzt, der beim Zuklappen auf die Oberplatte zum Evakuieren des die Schaltungsplatten enthaltenden Raums und zum Herstellen des engen Kontakts zwischen den Platten die Vakuumpumpe in Betrieb setzt.
    7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass eine Schalteinrichtung zum .umschalten zwischen einer Quelle hohen Belastungsstroms zum Durchbrennen unzureichender Verbindungen und einer Quelle des Stroms zur Durchgangsprüfung vorgesehen ist.
    β. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 7» dadurch gekennzeichnet, dass die Anzeigevorrichtung Lampen enthält, die abhängig vom elektrischen Widerstand der zu prüfenden Schaltungsplatte wahlweise aufleuchten oder nicht aufleuchten.
    109823/1268
DE19702057948 1969-11-27 1970-11-25 Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen von gedruckten Schaltungsplatten Pending DE2057948A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB5819169 1969-11-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2057948A1 true DE2057948A1 (de) 1971-06-03

Family

ID=10480990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19702057948 Pending DE2057948A1 (de) 1969-11-27 1970-11-25 Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen von gedruckten Schaltungsplatten

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE2057948A1 (de)
GB (1) GB1297377A (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2836018A1 (de) * 1977-11-16 1979-05-17 Everett Charles Inc Pruefgeraet fuer ein ebenes testobjekt
WO1990013821A1 (en) * 1989-05-11 1990-11-15 Vlsi Technology, Inc. A method and an apparatus for testing the assembly of a plurality of electrical components on a substrate
DE19700505A1 (de) * 1997-01-09 1998-07-16 Atg Test Systems Gmbh Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4012693A (en) * 1975-07-16 1977-03-15 Sullivan Donald F Printed circuit board testing
US4056773A (en) * 1976-08-25 1977-11-01 Sullivan Donald F Printed circuit board open circuit tester
GB2126736A (en) * 1982-09-01 1984-03-28 Nash Frazer Ltd Testing printed circuits or wiring strips
GB2157006A (en) * 1984-04-05 1985-10-16 Int Computers Ltd Testing printed circuit board assemblies
DK291184D0 (da) * 1984-06-13 1984-06-13 Boeegh Petersen Allan Fremgangsmaade og indretning til test af kredsloebsplader

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2836018A1 (de) * 1977-11-16 1979-05-17 Everett Charles Inc Pruefgeraet fuer ein ebenes testobjekt
WO1990013821A1 (en) * 1989-05-11 1990-11-15 Vlsi Technology, Inc. A method and an apparatus for testing the assembly of a plurality of electrical components on a substrate
US5220280A (en) * 1989-05-11 1993-06-15 Vlsi Technology, Inc. Method and an apparatus for testing the assembly of a plurality of electrical components on a substrate
DE19700505A1 (de) * 1997-01-09 1998-07-16 Atg Test Systems Gmbh Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten

Also Published As

Publication number Publication date
GB1297377A (de) 1972-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3812654C2 (de)
DE2617190A1 (de) Einrichtungen zum pruefen von elektrischen vorrichtungen
DE1665243A1 (de) Verfahren zur Herstellung elektrischer Verbindungen
DE2057948A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen von gedruckten Schaltungsplatten
EP0250620A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum elektrischen Prüfen von Leiterplatten
DE2546868C2 (de) Fehlerstromschutzschalter mit elektrischer Steckdose
EP0818684A3 (de) Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten
EP1251358B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Herstellen und Testen von Elektronik-Baugruppen
DE2633175A1 (de) Verfahren zur durchfuehrung von arbeitsschritten an mehreren schaltkreistraegern und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens
DE2051052A1 (de) Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten
DE3040304C2 (de)
EP0146782B1 (de) Adaptereinrichtung zur Herstellung einer lösbaren elektrischen Verbindung zwischen Kontaktelementen eines ersten elektrischen Bauteils und Kontaktelementen eines zweiten elektrischen Bauteils
DE2151255C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
DE3040340A1 (de) Pruefaufnahme fuer plattenfoermige baugruppen
DE2437673A1 (de) Vorrichtung zum pruefen von innenlagen mehrlagiger leiterplatten
DE2341977A1 (de) Vorrichtung zur rationellen selbstprogrammierung an einem verdrahtungspruefautomaten
DE2019493B2 (de) Vorrichtung zum auftrennen einer leiterbahn auf einer leiterplatte und zum anschliessen eines stromkreises an dieselbe
DE2263231A1 (de) Vorrichtung zur elektrodenverbindung
DE2019493C (de) Vorrichtung zum Auftrennen einer Leiterbahn auf einer Leiterplatte und zum Anschließen eines Stromkreises an dieselbe
DE3642587A1 (de) Vorrichtung zum voraltern von ic-baueinheiten
DE6607753U (de) Mechanische und elektrische verbindung von leiterplatten
EP0884937A2 (de) Verfahren zur Durchkontaktierung von Leiterplatten
DE2017994A1 (de) Klemmleiste für Zähler- oder Verteilertafeln
DE1151165B (de) Vorrichtung zum Abdecken von Kontakt-streifen beim Tauchloeten der Leiterzuege von isolierenden Platten
DE2441690A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum auffinden fehlerhafter elektrischer verbindungen