DE2151255C3 - Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von LeiterplattenInfo
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Description
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge- 30 dem einstellbaren niedrigen Widerstand soll, was aus
kennzeichnet, daß sie Schalter (S) für das wahlweise der DT-OS nicht eindeutig hervorgeht, offenbar an-Zu-
und Abschalten der Leiterbahnen und des zeigen, ob sich der Widerstand der zu prüfenden
Prüfstromes, und eine diese Schalter selbsttätig in Platte bei an sich vorhandenem Durchgang über oder
dem Prüfungsablauf entsprechend vorgegebener unterhalb eines zulässigen Widerstandes bewegt. Die
Reihenfolge betätigende Schalteinrichtung (21) 35 Belastbarkeit der zu prüfenden Leiterplatte kann nach
aufweist. dem Verfahren nach der DT-OS 20 57 948 dadurch
5. Vorrichtung nach den Ansprüchen 3 und 4, geprüft werden, daß vor der Durchgangsprüfung ein
dadurch gekennzeichnet, daß das Prüfgerät (1) als hoher Belastungsstrom auf die beiden Platten aufge-Justiereinrichtung
für die zu prüfende Leiterplatte bracht wird, der zu dünne Leiterbahnenbereiche durch-(7)
Anschläge und die Leiterplatte entsprechende 40 brennt. In der DT-OS 20 57 948 wird auch eine Vor-Ausnehmungen
(25) aufweist. richtung zum Durchführen dieses Verfahrens bean-
6. Vorrichtung nach wenigstens einem der An- spracht, die eine Halterang für die komplementäre
iprüche 1 bis 5 mit einem Gehäuse und einer die Leiterplatte aufweist, elektrische Anschlüsse für diese,
tu prüfende Leiterplatte und die Prüfplatte gegen- eine Einrichtung zum korrekten Ausrichten der zu
einander belastenden Andrückeinrichtung, da- 45 prüfenden Leitungsplatte auf der komplementären
durch gekennzeichnet, daß im Gehäuse (2) senk- Platte, eine Druckeinrichtung und eine Anzeigeeinrecht
zur Prüfplattenfläche ortsfeste Führungs- richtung für die Prüfungen. Diese Vorrichtung weist
»äulen (10), und eine in deren Längsrichtung daran nach dem gezeigten Ausführangsbeispiel ein Gehäuse
geführt pressenartig mittels einer Antriebseinrich- auf, an dem ein schließbarer Deckel das Anlegen eines
tung zum Andrücken auf die Leiterplatte (7) zu 50 Vakuums möglich macht und an dem Kontrollampen
bewegbare, zu dieser etwa parallel ausgedehnte anzeigen, ob der Widerstand der Platten im Bereich
Andrückplatte (14) angeordnet sind. unter, zwischen oder über den beiden vorgegebenen
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch ge- Widerständen liegt.
kennzeichnet, daß die Andrückplatte (14) eine Dieses bekannte Verfahren und die vorgesehene VorPolsterung
(15) aufweist. 55 richtung weisen eine Reihe von Nachteilen auf. Mit
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch ge- diesem Verfahren kann nur eine Seite einer Leiterkennzeichnet,
daß die Kontaktstifte (18) in der platte geprüft werden. Für zweiseitig bedruckte Leiter-Grundplatte
(12) federnd gelagert sind. platten, mit oder ohne durchkontaktierte Bohrungen,
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 und 8, dadurch muß eine doppelte Prüfung erfolgen, wobei entweder
gekennzeichnet, daß die Kontaktstifte (18) unter- 60 für jede Platte die komplementäre Platte ausgewechselt
halb der Grandplatte (12) auf einer federnden werden muß oder eine Serie von doppelseitigen Leiter-Unterlage
(9) abgestützt sind. platten erst insgesamt auf einer Seite, anschließend
10. Vorrichtung nach wenigstens einem der An- mit im Prüfgerät ausgewechselter Komplementärplatte
spräche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der auf der anderen Seite geprüft werden muß. Das erste
Andrückeinrichtung ein den Prüfstiomkreis nur in 65 Verfahren kostet unverhältnismäßig viel Zeit. Die
Andrückstellung schließender Sperrschalter zu- andere Möglichkeit bedeutet, daß alle auf einer Seite
geordnet ist. geprüften Leiterplatten gestapelt und nach Durchgang
der Serie sämtlich nochmals mit der anderen Seite
β,
geprüft werden müssen. Dabei ergibt sich zusätzlich läßt sich auf einfache Weise gegen- bzw. hintereineine
Fehiermöglichkeit dadurch, daß die Plattenseiten ander schalten. Die Prüfung kann somit rasch und
verwechselt werden können. Em weiterer, wesentlicher von angelernten Kräften durchgeführt werden. Auch
Nachteil ist darin zu sehen, daß dieses Verfahren es das Anordnen von Kontrolleinrichtungen ist auf einnicht
erlaubt, Leiterschlüsse zwischen den Leiter- 5 fache Weise möglich. Der Schaltungsablauf ist für alle
bahnen der zu prüfenden Platte zu erkennen. Im Gegen- Plattenserien der gleiche, kann also auf einfache Weise
teil, ein Leiterschluß verfälscht auch das Ergebnis der automatisiert werden. Das Erstellen eines Planes,
Durchgangsprüfung, da der Leiterschluß den Wider- welche Leiterbahnen zu einem Leiterzug zu vereinigen
stand der zu prüfenden Platte verkleinert Durch einen sind, ist nur ein einziges Mal für jede Serie auszu-Leiterschluß
können Unterbrechungen des Leiter- lo arbeiten. Es bedarf eines gewissen Mehraufwandes
zuges so überbrückt werden, daß sie bei der Durch- gegenüber dem Erstellen eines rein komplementären
gangsprüfung überhaupt nicht erkannt werden. Ein Schaltmusters, wie es bekannt ist. Dafür kann das
Verfahren, bei dem die Widerstände zweier in der erfindungsgemäße Schaltmuster ohne weiteres so aufgescbilderten
Weise aufeinandergedrückter Leiter- gebaut werden, daß es bei beidseitig mit Leiterbahnen
platten als Kriterium für den Durchgang benutzt l5 versehenen Leiterplatten möglichst viele durchkontakwerden,
kann keine einwandfreien Ergeonisse liefern. tierte Stellen erfaßt. Es werden somit in einem ein-Die
beim Herstellen gedruckter Leiterbahnen unver- zigen Prüfungsgang beide Seiten der Leiterplatten ermeidlichen
Höhenunterschiede, insbesondere im Be- faßt. Der hierdurch gesparte Arbeitsaufwand stellt ein
reich der Bahnenden führen beim Aufeinanderlegen hohes Vielfaches des bei der Planung benötigten Mehrzu
unterschiedlichen Übergangswiderständen der ein- ao aufwandes dar.
zelnen Kontaktstellen. Diese Übergangswiderstände Zur Prüfung auf Leitungsschluß kann vorteilhaft
sind von Platte zu Platte verschieden und fallen bei der Stromfluß jeweils zwischen zwei Leerzügen
der Größenordnung der zu vergleichenden Wider- unterbrochen werden. Es muß dann lediglich konstandsbereiche
erheblich ins Gewicht. Es muß für trolliert werden, ob trotzdem Strom fließt. Dies würde
jede Leiterplattenserie außerdem der untere Vergleichs- a5 einen Leitungsschluß zwischen zwei Leiterbahnen der
widerstand erst ermittelt werden. Dies wäre durch betreffenden Leiterzüge bedeuten,
eine Widerstandsmessung mit einer ersten, visuell ge- Die Erfindung schafft auch eine Vorrichtung zur
eine Widerstandsmessung mit einer ersten, visuell ge- Die Erfindung schafft auch eine Vorrichtung zur
prüften Leiterplatte und der erstellten Komplementär- Durchführung des Verfahrens mit einer für jede Serie
platte möglich. Aber bereits dieses Meßergebniis kann gleicher Leiterplatten einmal zu erstellenden Prüfauf
die geschilderte Weise verfälscht werden. Das be- 30 platte, die dadurch gekennzeichnet ist, daß die Prüfkannte
Verfahren ergibt also keinesfalls einwandfreie platte mit an ihren beiden Hauptflächen vorstehenden
Prüfergebnisse. Darüber hinaus ist das Prüfgerät auf- Kontaktstiften bestückt und diese an einer Seite zu
wendig, da es eine Vakuumeinrichtung benötigt, die Überbrückungskontakten und Anschlußleitungen verbei
jeder Prüfung den gleichen, gleichmäßigen Unter- drahtet sind und über der anderen Hauptfläche in
druck erzeugen muß, wenn die Meßergebnisse nicht 35 einer zur Prüfplatte parallelen Ebene enden. Mit
noch mehr verfälscht werden sollen. diesen Enden der Kontaktstifte kommt die jeweils zu
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren der prüfende Leiterplatte in Berührung. Es handelt sich
eingangs beschriebenen Art und eine Vorrichtung also um punktförmige Kontakte, nicht um Flächendazu
zu schaffen, die auf einfache und wirtschaftliche berührungen, die immer die Gefahr von Ungleich-Weise
das exakte Prüfen von Leiterplatten auf Beiast- 40 mäßigkeiten mit sich bringen. Der plattenförmige
barkeit, Durchgang und Leiterschluß ermöglicht. Diese Körper der Grundplatte dient lediglich als Stütze und
Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß Justierung der Kontaktstifte. Eine Aufnahme mit
zunächst eine Prüfung auf Leitungsschluß vorge- Justiereinrichtungen für die zu prüfende Leiterplatte
nommen wird durch Bilden wenigstens zweier elek- gewährleistet auf einfache Weise die jeweils exakte
trisch gegeneinander zu prüfender Leiterzüge aus je- 45 Zuordnung der zu prüfenden Leiterplatte zur Grundweils
mehreren, einander nicht benachbarten Leiter- platte, wodurch auch bei raschem Plattenwechsel
bahnen, und daß die Leiterzüge zur weiteren Prüfung falsches Einlegen vermieden wird,
zu einem einzigen Stromweg zusammengeschlossen Bei einer Vorrichtung mit einer die zu prüfenden
zu einem einzigen Stromweg zusammengeschlossen Bei einer Vorrichtung mit einer die zu prüfenden
werden. Leiterplatte und die Prüfplatte gegeneinander be-
Leitungsschluß, d. h. ein ungewollter Übergang 50 lastenden Andrückeinrichtung weist die Vorrichtung
zwischen zwei Leiterbahnen, ist nur bei einander auf vorteilhaft in ihrem Gehäuse senkrecht zur Prüfder
Leiterplatte benachbarten Leiterbahnen möglich. plattenfläche ortsfeste Führungssäulen und eine in
Solche Leiterbahnen werden nach dem erfindungs- deren Längsrichtung daran geführt pressenartig mittels
gemäßen Verfahren in verschiedenen Leiterzügen er- einer Antriebseinrichtung zum Andrücken auf die
faßt. Eine Prüfung; der Leiterzüge untereinander er- 55 Leiterplatte zu bewegbare, zu dieser etwa parallel auslaubt
es somit jeden Leiturigsschluß zu erkennen. Die gedehnte Andrückplatte. Mit geringem Aufwand wird
Prüfung auf Leitungsschluß gibt auCer der Sicherheit, dadurch eine sichere Anlage der Leiterplatte an den
daß ein solcher Fehler nicht vorliegt, außerdem die Kontaktstiften gewährleistet. Die Andrückplatte kann
Gewähr, daß auch die anschließende Belastbarkeit- eine Polsterung aufweisen. Vorteilhaft ist der Andrück·
und insbesondere die Durchgangsprüfung rin ein- 60 einrichtung ein den Prüfstromkreis nur in Angriffswandfreies
Prüfungsergebiiis zeigen, da keine Leiter- stellung schließender Sperrschalter zugeordnet, dei
zugteile durch einen Leiterschluß überbrückt, also von verhindert, daß sich die Kontaktstifte und die Leiterder
Prüfung nicht erfaßt werden. Die dadurch ge- platte schon unter Spannung nähern. Sonst besteht
wonnene Sicherheit erlaubt es, die Durchgangsprüfung die Gefahr von Funkenbildung, die zu Schaden ar
auf einfache Weise so durchzuführen, daß ein relativ 65 der Leiterplatte führen kann.
schwacher Strom durch die Leiterzüge geschickt wird. Um einerseits eine gute Anlage der Kontakte an dei
Ein Messen oder Vergleichen des Widerstandes ist Leiterplatte zu erzielen, andererseits Beschädigunger
überflüssig. Eine begrenzte Anzahl von Leiterzügen der Leiterbahnen durch die Kontakte auszuschließen
können die Kontakte vorteilhaft federnd an der Grundplatte gelagert oder, in deren Bohrungen verschieblich,
auf einer federnden Unterlage der Vorrichtung abgestützt sein.
Ein Ablauf eines erfindungsgemäßen Prüfungsverfahrens wird anschließend an Hand einer Ausführungsform
einer in den Zeichnungen dargestellten Vorrichtung beschrieben.
Es zeigt
F i g. 1 einen Teil eines Prüfgerätes für Leiterplatten,
F i g. 2 einen schematisierten Schnitt durch einen Teil des Prüfgerätes,
F i g. 3 eine schematisierte Draufsicht auf eine Leiterplatte,
F i g. 4 einen Schaltplan für das Prüfgerät und
F i g. 5 eine andere Ausführungsform eines Schaltplanes für das Prüfgerät.
Das als Ganzes mit 1 bezeichnete Prüfgerät weist ein Gehäuse 2 auf, das in F i g. 1 nur bruchstückweise
dargestellt ist. An seiner Außenseite ist ein Einschalter 3 sowie mehrere Kontrollampen 4 angeordnet.
Mittels eines Schuko-Steckers 5 ist das Gerät elektrisch anschließbar. Es weist eine Einschiebeöffnung 6 für
eine zu prüfende Leiterplatte 7 auf.
Im Gehäuse 1 sind ortsfest eine Bodenplatte 8 mit einem Schaumgummibelag 9 und zwei diese durchsetzende
Führungssäulen 10, von denen in Fig. 1 nur eine sichtbar ist, angeordnet. An den Führungssäulen
10 ist eine Stützfläche 11 für eine auswechselbare Grundplatte 12 angebracht. Die Grundplatte 12
ist mit Aussparungen 13 für diie Führungssäulen 10 versehen. An den Führungssäulen 10 ist eine Andrückplatte
14, die an ihrer der Prüfplatte zugekehrten Seite eine Polsterung 15 aufweist, höhenverschieblich gelagert,
wie durch einen Doppelpfeil angedeutet ist. Die Betätigung erfolgt durch eine im Gehäuse 1 angeordnete,
nicht sichtbare Hydraulikeinrichtung. An der Andrückplatte 14 ist eine Nase 16 angebracht
zum Betätigen eines nicht gezeichneten Mikroschalters, der im Gehäuse 1 ortsfest so angeordnet ist, daß
ihn die Nase 16 in der Andrückstellung der Andrückplatte 14 beaufschlagt. Die Leiterplatte 7 ist durch die
Einschiebeöffnung 6 zwischen die Prüfplatte 12 und die Polsterung 15 det Andrückplatte 14 einscbieb-
Die Prüfplatte 12 weist eine Anordnung von Bohrangen 17 auf, in die Kontaktstifte 18 einsetzbar sind.
Diese sind so lang, daß sie beidseitig aus der Grundplatte herausragen. Ihre unteren Enden stützen sich
auf den &haumgummibelag 9 derart ab, daß ihre
oberen Enden sich alle in einer ldedten Ebene befinden,
die zur Grnndpfattenrfttrfgche parallel ist. Die unterenEndnider Kontaktstoffe!sind mittels Schalthtzen
19 entweder paarweise zu Oberbrüdcui«skontakten
zusammengeschlossen oder not AnscUußleitiragen 20
verbunden, die zn einer im Gehäuse eingebauten Schdtehmchtung21 «WDieSchatemrichtung21
und 5 durch Ausführungsbeispiele ihier Schaltpläne
Die Leiterpbtte 7, wn der Fifr 3«ne Draufsicht
Leiterbahnen 22 auf. D« Leiterplatte nach Fig. 3
Leiterbahnen 226 der Unterseite über durchkontaktierte
Bohrungen 23 in Verbindung. Dies ist deutlich auch aus der schematischen Schnittdarstellung F i g. 2
ersichtlich. Die Leiterplatte 7 waist im Bereich einer Kante zwei Ausnehmungen 25 auf, die mit entsprechenden,
nichtgezeichneten Anschlägen im Gehäuse 1 als Justiereinrichtung für die eingeschobene Leiterplatte 7
zusammenwirken.
Das mit der geschilderten Vorrichtung durchführ-
Das mit der geschilderten Vorrichtung durchführ-
jo bare Verfahren beruht darauf, mittels der zu Kontaktbrücken
verbundenen Kontaktstilt-Paare die einzelnen Leiterbahnen zu Leiterzügen zusammenzuschließen,
wobei jeder Leiterzug nur Leiterbahnen enthält, die einander auf der Leiterplatte nicht unmittelbar benachbart
sind. Für jede Leiterplattenserie muß eine Grundplatte entsprechend mit Kontaktstiften bestückt
werden. Ein Beispiel zeigt das Schema F i g. 3: Die Leiterbahnen sind zu zwei Leiterzügen A-A, B-B
zusammengefaßt, wobei die Überbrückungskontakte
»o des Leiterzuges A durch strichpunktierte Linien, die
des Leiterzuges B durch Strichpiinktpunkt-Linien angezeigt
sind. Einander auf der Ober- bzw. auf der Unterseite benachbarte Leiterbahnen sind jeweils in
versichiedenen Leiterzügen enthalten. Die Über-
»5 brückungskontakte greifen jeweils an den durchkontaktierten
Bohrungen zwischen ojieren und unteren
Leiterbahnen an.
Wie der Kontakt zwischen den Kontaktstiften und den Leiterbahnen, bzw. den durchkontaktierten Bohrangen
aussieht, zeigt F i g. 2. Zwei Leiterbahnen /41
und Al verlaufen teilweise an der Ober-, teilweise an der Unterseite der Leiterplatte, wobei die Übergänge
jeweils an durchkontaktierten Bohrungen 23 erfolgen. Auch am Anfang und am Ende der Leiterbahnen liegen
jeweils durchkontaktierte Bohrungen. An der durchkontaktierten
Bohrung am Ende der Leiterbahn Al und an der durchkontaktierten Bohrung am Beginn
der Leiterbahn Al liegen jeweils die Enden eines Kontaktstiftes 18 an, und die beiden Kontaktstifte
sind durch eine Schaltlitze 19 verbunden. An der durchkontaktierten Bohrung am anderen Ende der
Leiterbahn Al liegt das obere Ende eines weiteren Kontaktstiftes 18 an, der an seinum unteren Ende mit
einer Anschlußleitung verbunder ist. Diese führt zur
Schalteinrichtung 21. Ebenso ist das zweite Ende des
Leerzuges A mit der Schalteinrichtung verbunden
(nicht gezeichnet).
E>as Prüfen einer Leiterplatte im Prüfgerät 1 geht folgendermaßen vor sich: Die I-eiterplatte7 wird in
das elektrisch angeschlossene Prüfgerät 1 eingeschoben.
Die Andrückplatte 14 senkt sich ab und drückt die Leiterplatte 7 gegen die Kontakte 18 der Prüfplatte 12.
Sobald die Andrückplatte 14 in ihrer unteren Endstelllung
angelangt ist, beätigt die Nase 16 einen Mikro-
schalter, der den Prüfungsablauf freigibt Eine Steuernchtung
löst Schaltvorgänge aas, die in zeitlicher Reihenfolge die Leiterzüge gegeneinander auf Leiterschluß,
anschließend auf Belastbi<rkeit und zuletzt auf
Durchgang prüfen.
E>iese Schaltungen laufen mit einer Schalteinrichtung
entsprechend dem Schaltplar, F i g. 4 in folgender weise ab: Die Schaltanordnung ist zum
vier Leiterzügen A, B, C, ~
liegen hintereinander ii
vier Leiterzügen A, B, C, ~
liegen hintereinander ii
mit
die Leiterbahnen 22*
der Oberserte stehen mit and jeweils eine mit den
ter iiv mit dazu parallel geschalteter Kontrollampe 4pr
Prüfung Leiterzug α
Leitungsschiuß:
S1 α zu
Sj α öffnet
Sj α öffnet
S1 b bis / bleiben offen,
5g b bis / bleiben zu,
S, bleibt offen.
5g b bis / bleiben zu,
S, bleibt offen.
Im Leitungsschlußfall fließt über L α kein Strom. La bleibt dunkel. Besteht kein Leitungsschluß,
leuchtet Kontrollampe La. Strom wird durch L α begrenzt.
IO
befindet sich zwischen einem Pol der Stromquelle und dem Leiterzug D.
Schaltungen zu Leiterschlußprüfung:
Si offen, übrige Schalter geschlossen: Kontrolllampe
4i leuchtet, wenn kein Leiterschluß zwischen A
einerseits und B-D andererseits;
Sh offen, übrige Schalter geschlossen: Kontrolllampe 4n leuchtet, wenn kein Leiterschluß zwischen A,
B einerseits und C, D andererseits;
Sm offen, übrige Schalter geschlossen: Kontrolllampe 4in leuchtet, wenn kein Leiterschluß zwischen A,
C einerseits und D andererseits;
Belastungsprüfung: alle Schalter geschlossen. Durch
Wahl der Spannungshöhe wird der Belastungsstrom geregelt. Keine Anzeige;
Durchgangsprüfung: Siv offen, übrige Schalter geschlossen:
Kontrollampe 4iv leuchtet, wenn überall Durchgang besteht. Bei der Belastungsprüfung ausgefallene
Leiterzüge werden erkannt.
Nach dem Schaltplan F i g. 5 verläuft der Schaltablauf folgendermaßen: alle Schalter S1 α bis / sowie
S2 α bis / werden einzeln und nach Programm von
einem Programmschaltwerk betätigt.
Belastung:
S1 b bis / offen,
S1 α zu
Si α bis / zu
S3 zu
Alle Kontrollampen sind durch Schalter kurzgeschlossen. Der Belastungsstrom wird durch
R1 begrenzt.
(R1 ist niederohmig, deshalb leuchten die Kontrollampen
bei geöllneten Schaltern trotz dieses Serienwiderstandes.)
Durchgang:
S1 α schließt
51 b bis / bleiben offen,
52 α bis / bleiben zu,
53 bleibt offen.
Es fließt Strom über Leiterzug α der durct
Kontrollampe L angezeigt wird. Bei Unterbrechung leuchtet L nicht. Strom wird durch L
begrenzt.
Prüfung Leiterzug b
Leitungsschluß:
Leitungsschluß:
5, b gschlossen S1 α und S1 c bis / offen,
S1 α und S2 c bis / zu,
S1 α und S2 c bis / zu,
51 b schließt S1 c bis / offen,
52 α bis / zu,
J2 b öffnet
S3 offen.
S3 offen.
Belastung:
51 α öffnet
52 b schließt
53 schließt.
Durchgang:
51 α öffnet S1 b schließt S1 c bis / bleiben
52 α bis / bleiben zu offen,
S3 öffnet
S3 öffnet
und so weiter bis /.
Nach Ablauf des Schaltprogramms und Anheben der Andrückplatte wird die Leiterplatte dem Prüfgerät
entnommen und die nächste eingelegt, worauf sofort ein neuer Prüfvorgang ablaufen kann.
Im Rahmen der Erfindung sind auch andere Ausführungsformen
des Prüfgerätes möglich. So kann die Prüfplatte über der Leiterplatte zu Legen kommen, es
ist auch möglich Prüf- und Leiterplatte stehend zu prüfen, wenn entsprechende Halterungen und eine
geeignete Andrückvorrichtung vorhanden sind. Die Ausbildung der Prüfplatte, insbesondere die Befestigung
der Kontaktstifte, kann ebenfalls in weitem Rahmen variieren.
Für Leiterplatten, deren Leiterbahnen Verzweigungen aufweisen, ist beim Erstellen der Prüfplatte
zu überlegen, wieweit ein Erfassen dieser Abzweigungen erforderlich erscheint. In diesem Falle müssen
die Verzweigungen getrennt von den Hauptleiterbahnen in einem eigenen Leiterzug erfaßt und nach
Art des Schaltplanes 5 durchgeprüft werden. Dies erfordert nur einige zusätzliche Kontaktstifte und einen
weiteren Schaltungsablauf, der keine nennenswerte Belastung des Prüfungsablaufes darstellt
Hierzu S Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten mit Leiterbahnen zu geschlossenen Leiterzügen hintereneiner
Mehrzahl von Leiterbahnen auf Belastbarkeit 5 andergeschaltet werden.
und Durchgang, in dem die Leiterbahnen zu ge- Ein derartiges Verfahren ist aus der DT-OS 205794?
schlossenen Leiterzügen hintereinander geschaltet bekannt. Dort wird ein geschlossener Leiterzug da·
werden, dadurch gekennzeichnet, daß durch erreicht, daß ein zu dem Muster der Leiter·
zunächst eine Prüfung auf Leitungsschluß vorge- bahnen auf der zu prüfenden Platte komplementäre!
nommen wird durch Bilden wenigstens zweier 10 Leiterbahnenmuster erstellt und in engen Kontakt mn
elektrisch gegeneinander zu prüfender Leiterzüge der zu prüfenden Platte gebracht wird. Auf diese
aus jeweils mehreren, einander nicht benachbarten Weise entsteht ein geschlossener Leiterzug, durch der
Leiterbahnen, und daß die Leiterzüge zur weiteren ein Prüf strom geschickt werden kann. Das komplemen·
Prüfung zu einem einzigen Stromweg zusammen- täre Leiterbahnenmuster wird durch gedruckte Leitergeschlossen
werden. i5 bahnen auf einer isolierenden Platte gebildet, aul
2. Verfahren nach Ansprach 1, dadurch ge- welche die zu prüfende Leiterplatte so aufgelegt wird,
kennzeichnet, daß zur Prüfung auf Leitungsschluß daß sich die beiderseitigen Leiterbahnenmuster erder
Stromfluß jeweils zwischen zwei Leiterzügen ganzen. Die dabei entstehenden geschlossenen Leiterunterbrochen
wird. züge bzw. der Leiterzug beginnt und endet auf der
3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens 20 komplementären Platte und ist von dort an eine
nach Ansprach 1 und 2 mit einer für jede Serie Stromquelle anschließbar. Um die beiden Platten wird
gleicher Leiterplatten einmal zu erstellenden Prüf- ein Unterdruck erzeug, der ihren guten Zusammenplatte,
dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfplatte halt gewährleisten soll. Zur Durchgangsprüfung wird
(12) mit an ihren beiden Hauptflächen vorstehenden der Widerstand des Leiterzuges bzw. der Leiterzüge
Kontaktstiften (18) bestückt und diese an einer 25 mit zwei vorgegebenen Widerständen unterschied-Seite
zu Überbrückungskontakten und Anschluß- lichnr Höhe verglichen. Wird der höhere Widerstand,
leitungen verdrahtet sind, und über der anderen im Ausführangsbeispiel mit 100 Ohm angegeben,
Hauptfläche in einer zur Prüfplatte parallelen überschritten, so zeigt dies einen unterbrochenen oder
Ebene enden. diskontinuierlichen Leiterzug an. Der Vergleich mit
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712151255 DE2151255C3 (de) | 1971-10-14 | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712151255 DE2151255C3 (de) | 1971-10-14 | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2151255A1 DE2151255A1 (de) | 1973-04-19 |
DE2151255B2 DE2151255B2 (de) | 1975-10-23 |
DE2151255C3 true DE2151255C3 (de) | 1976-08-12 |
Family
ID=
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