JPS58135974A - 検出針を用いたプリント基板試験装置 - Google Patents
検出針を用いたプリント基板試験装置Info
- Publication number
- JPS58135974A JPS58135974A JP57019386A JP1938682A JPS58135974A JP S58135974 A JPS58135974 A JP S58135974A JP 57019386 A JP57019386 A JP 57019386A JP 1938682 A JP1938682 A JP 1938682A JP S58135974 A JPS58135974 A JP S58135974A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- circuit board
- vacuum
- detection needle
- testing device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検出針を用いたプリント基板試験装置に係る。
従来、プリント基板の不良回路を検出する方法として、
プリント基板を検出針の上に置き、プリント基板上を加
圧板で加圧することにより、検出針でプリント基板裏面
に塗布されたハンダ促進剤又は酸化防止被膜をつき破り
、検出針と回路の接触を行い、別に用意された測定装置
で１路の良不良を検出する方法が行われている（加圧式
）。この方法によると、平均的加圧が困難であり、検出
針の接触不良が生じまた、基板にひずみが生じる虞れが
あり、検出針を一定する針ホルダー板の加圧に耐える強
度が請求され、形状が大きくなり、従って装置全体か大
きくなって、コストも高くなる欠点がある。従来の他の
方決として、真空式がある。この方法は本発明の構成の
中で説明されるが、要するに、検出針上に置かれたプリ
ント基板を、プロアにより空気を抜き取ることにより、
プリント基板を検出針上に引き込み、検出針上に圧接さ
せ、プリント基板と検出針を接触させ、測定装置で（ロ
）路不良を検出するようにしたものである。この方法に
よると、プリント基板に設けられている無数の／ｊ１孔
から空気もれが生じ、十分にプリント基板を検出針上に
引き付けられない欠点があり、また、プリント基板のひ
ずみによる反りがある場合、プリント基板の検出個所に
検出針が正しくセットされず、接触不良を生じる虞れが
ある。
プリント基板を検出針の上に置き、プリント基板上を加
圧板で加圧することにより、検出針でプリント基板裏面
に塗布されたハンダ促進剤又は酸化防止被膜をつき破り
、検出針と回路の接触を行い、別に用意された測定装置
で１路の良不良を検出する方法が行われている（加圧式
）。この方法によると、平均的加圧が困難であり、検出
針の接触不良が生じまた、基板にひずみが生じる虞れが
あり、検出針を一定する針ホルダー板の加圧に耐える強
度が請求され、形状が大きくなり、従って装置全体か大
きくなって、コストも高くなる欠点がある。従来の他の
方決として、真空式がある。この方法は本発明の構成の
中で説明されるが、要するに、検出針上に置かれたプリ
ント基板を、プロアにより空気を抜き取ることにより、
プリント基板を検出針上に引き込み、検出針上に圧接さ
せ、プリント基板と検出針を接触させ、測定装置で（ロ
）路不良を検出するようにしたものである。この方法に
よると、プリント基板に設けられている無数の／ｊ１孔
から空気もれが生じ、十分にプリント基板を検出針上に
引き付けられない欠点があり、また、プリント基板のひ
ずみによる反りがある場合、プリント基板の検出個所に
検出針が正しくセットされず、接触不良を生じる虞れが
ある。
本発明の検出針を用いたプリント基板試験装置は、餉記
真空式試験装置の改良に係るものであり、プリント基板
を検出針上に平均的に加圧でき、検出針と検出個所の接
触を良好にし、検出針のバネの強弱による接触不良を解
消し、ハンダ熱によるプリント基板の反りを矯正するこ
とにより、前記従来の試験装置の欠点を排除することを
目的とする。
真空式試験装置の改良に係るものであり、プリント基板
を検出針上に平均的に加圧でき、検出針と検出個所の接
触を良好にし、検出針のバネの強弱による接触不良を解
消し、ハンダ熱によるプリント基板の反りを矯正するこ
とにより、前記従来の試験装置の欠点を排除することを
目的とする。
以Ｆ１図面の実施例に従い詳細に説明する。
第１図は、本発明の検出針を用いたプリント基板試験装
置１１である。試験装置１は試験装置本体２と真空蓋３
よりなる。試験装置本体２は検出針支持枠４とプリント
基板載置板５と接続板６とブロアマとよりなる・検出針
支持枠４は箱状をなし、その中に多数の検出針８が圧入
（ロ）定すしている。検出針８はスリーブ部分ａが支持
枠内から下方外へ突出する状１で固定され、針すはスプ
リングＣを介して上下動する。検出針８の下端はコード
ｅにより接続板６と接続されている。接続板６は更に測
定装置（図示せず）へ接続されている。支持枠４の内部
にはａｆｌｌｋ板６を支持するｉｌ＆のスプリングｆが
設けられ、その内部隅に排気孔ｇを有する。排気孔ｇは
パイプｈを介してブロア７へ延びている。プリント基板
載置板５は第２図に示す通り、プリント基板ｐを頂度嵌
合させ、針す上にｆ＃ｃ置板５と同一レベルで安定する
ようにした切欠Ｑｔ有し、切欠Ｑの周１は軟質ゴム７レ
ームＲで縁取りされている。載置板５は支持枠４内にお
いて、上下動自在にスプリングｆ上で支持されており、
載置板すと支持枠４は薄手のスポンジゴムシート９によ
り切欠ｑを除いて一体的に曹ゎれ、フレーム１０により
シート９が＝２されている。従って、切欠Ｑに適合する
形状のプリント基板ｐを載置板５に嵌合すると、密蔦状
の空間Ｓが得られる。この際、ブロア７で空ｒＩ４１Ｓ
の空気を排出すると ａｍ板す内で針す上に安定してい
るプリント基板は、真空作用により引きつけられ針す上
に圧接される。この圧接作用により針すはプリント基板
のハンダ促進剤又は酸化防止被膜をつき破り、−路と接
触する。しかしながら、プリント基板には多数の配線接
続用の小孔が設けられており、部品が組込まれたプリン
ト基板にも不要の小孔が残されているのが普通である。
置１１である。試験装置１は試験装置本体２と真空蓋３
よりなる。試験装置本体２は検出針支持枠４とプリント
基板載置板５と接続板６とブロアマとよりなる・検出針
支持枠４は箱状をなし、その中に多数の検出針８が圧入
（ロ）定すしている。検出針８はスリーブ部分ａが支持
枠内から下方外へ突出する状１で固定され、針すはスプ
リングＣを介して上下動する。検出針８の下端はコード
ｅにより接続板６と接続されている。接続板６は更に測
定装置（図示せず）へ接続されている。支持枠４の内部
にはａｆｌｌｋ板６を支持するｉｌ＆のスプリングｆが
設けられ、その内部隅に排気孔ｇを有する。排気孔ｇは
パイプｈを介してブロア７へ延びている。プリント基板
載置板５は第２図に示す通り、プリント基板ｐを頂度嵌
合させ、針す上にｆ＃ｃ置板５と同一レベルで安定する
ようにした切欠Ｑｔ有し、切欠Ｑの周１は軟質ゴム７レ
ームＲで縁取りされている。載置板５は支持枠４内にお
いて、上下動自在にスプリングｆ上で支持されており、
載置板すと支持枠４は薄手のスポンジゴムシート９によ
り切欠ｑを除いて一体的に曹ゎれ、フレーム１０により
シート９が＝２されている。従って、切欠Ｑに適合する
形状のプリント基板ｐを載置板５に嵌合すると、密蔦状
の空間Ｓが得られる。この際、ブロア７で空ｒＩ４１Ｓ
の空気を排出すると ａｍ板す内で針す上に安定してい
るプリント基板は、真空作用により引きつけられ針す上
に圧接される。この圧接作用により針すはプリント基板
のハンダ促進剤又は酸化防止被膜をつき破り、−路と接
触する。しかしながら、プリント基板には多数の配線接
続用の小孔が設けられており、部品が組込まれたプリン
ト基板にも不要の小孔が残されているのが普通である。
また部品をプリント基板上に組込む際のハンダ熱により
、プリント基板に反り途生じている場合が多い。このた
め、ブロアで排気する際、前記小孔又は基板の反りのた
め、空気もれが生じ、プリント基板が針上に十分に引き
つけられない場合があり、測ｉｔスを生じることがある
。この不都合を解消する手段として真空蓋３が用いられ
る。真空＠Ｓは第１図及び第２図に示す通り、輪状をな
し、蓋の天井から下方へ延びる押圧棒１１を有する。押
圧棒１１はＩｋ数本設けられており、壷の天井で固定さ
れている。実施例においては、押圧棒１１は硬質のプラ
スチック俸を面の天井でねじ止めしであるが、材賀或い
は形状及び固定方法は他の手段を用いてもよい。押圧棒
１１の長さは１ｊｉ３をかぶせ、載置板５上に嵌合され
たプリント基板に当接する長さを有し、その取付位置は
゛、例えは部品が組込まれたプリン）基板の場合、押圧
棒１１が部品に当たらない位置に来るよう配慮される。
、プリント基板に反り途生じている場合が多い。このた
め、ブロアで排気する際、前記小孔又は基板の反りのた
め、空気もれが生じ、プリント基板が針上に十分に引き
つけられない場合があり、測ｉｔスを生じることがある
。この不都合を解消する手段として真空蓋３が用いられ
る。真空＠Ｓは第１図及び第２図に示す通り、輪状をな
し、蓋の天井から下方へ延びる押圧棒１１を有する。押
圧棒１１はＩｋ数本設けられており、壷の天井で固定さ
れている。実施例においては、押圧棒１１は硬質のプラ
スチック俸を面の天井でねじ止めしであるが、材賀或い
は形状及び固定方法は他の手段を用いてもよい。押圧棒
１１の長さは１ｊｉ３をかぶせ、載置板５上に嵌合され
たプリント基板に当接する長さを有し、その取付位置は
゛、例えは部品が組込まれたプリン）基板の場合、押圧
棒１１が部品に当たらない位置に来るよう配慮される。
回路板のみの場合は、平均的に抑圧可能な位置に当接す
るよう押圧棒１１が取付けられる。真空蓋３は、フレー
ム１０間に嵌合する大きさが良い。真空★３をスポンジ
ゴムシート９上にかぶせ、ブロアで排気すると、空間Ｓ
が真空状態になると同時に、基板の小孔及び基板のひず
み間を通して、ｌｋ３内の空気が空間Ｓを通って排出さ
れ、蓋３内は真空状態となり、蓋３はスポンジゴムシー
ト９を介して載置板上にすい付けられ圧接する。この際
、蓋３は空間Ｓを完全な真空状態とし、これによりプリ
ント基板は十分に針す上に圧接されると共に、押圧棒１
１が更にプリント基板上を平均的に押えるので、プリン
ト基板の反りを、矯正して、均等に針すと接触すること
が可能となった。押圧棒１１の押圧作用は、検出針８の
スプリングＯの不均等な反発力による接触不良をも解消
する効果がある。真空蓋３を例えばアクリル板で形成し
、透明体とすれば、プリント基板の試験時の状態を一詔
でき、作業上極めて便利である。
るよう押圧棒１１が取付けられる。真空蓋３は、フレー
ム１０間に嵌合する大きさが良い。真空★３をスポンジ
ゴムシート９上にかぶせ、ブロアで排気すると、空間Ｓ
が真空状態になると同時に、基板の小孔及び基板のひず
み間を通して、ｌｋ３内の空気が空間Ｓを通って排出さ
れ、蓋３内は真空状態となり、蓋３はスポンジゴムシー
ト９を介して載置板上にすい付けられ圧接する。この際
、蓋３は空間Ｓを完全な真空状態とし、これによりプリ
ント基板は十分に針す上に圧接されると共に、押圧棒１
１が更にプリント基板上を平均的に押えるので、プリン
ト基板の反りを、矯正して、均等に針すと接触すること
が可能となった。押圧棒１１の押圧作用は、検出針８の
スプリングＯの不均等な反発力による接触不良をも解消
する効果がある。真空蓋３を例えばアクリル板で形成し
、透明体とすれば、プリント基板の試験時の状態を一詔
でき、作業上極めて便利である。
第１図は本発明の検出針を用いたプリント基板試験装置
の構造を示す断面図、第２図は第１図の分解部分説明図
である。 １０００本発明の検出針を用いたプリント基板試験装置 ２９１．試験装置本体 ３０１．真空蓋 第２図 旧 手続補正書（自発） 昭和１１年３８１ｇ日 一許庁長璽 島田春樹殿 事件の表示 昭和ＳＶ 年 轡許願第１９３畠６ 号補正をする
者 事件との関係 轡許出願人 １ｍ：”心 東京都ｔａ＋谷区雪田＠−１丁厘２２
番１号氏 名（名称） 古 賀 明（外１４）
代 理 人 肩暑のとお９
の構造を示す断面図、第２図は第１図の分解部分説明図
である。 １０００本発明の検出針を用いたプリント基板試験装置 ２９１．試験装置本体 ３０１．真空蓋 第２図 旧 手続補正書（自発） 昭和１１年３８１ｇ日 一許庁長璽 島田春樹殿 事件の表示 昭和ＳＶ 年 轡許願第１９３畠６ 号補正をする
者 事件との関係 轡許出願人 １ｍ：”心 東京都ｔａ＋谷区雪田＠−１丁厘２２
番１号氏 名（名称） 古 賀 明（外１４）
代 理 人 肩暑のとお９
Claims (1)
- （１）プリント基板試験装置本体１のプリント基板職置
板す上にプリント基板上を押さえるに足る複数の押圧棒
１１を有する真空蓋３をかぶせ、プロアにより載置板６
と検出針支持枠番間の空気及び真空１ｉｉ３内の空気を
抜き、真空状態下において、真空ｌｉ３を載置板５上に
圧接させ、真空蓋３の押圧棒１１によりプリント基板を
検出針８上に均等に加圧させ、検出針とプリント基板の
良好な接触が得られるようにしたことを特徴とする検出
針を用いたプリント基板試験装置（２）真空１ｉｉ２は
透明な材質よりなることを特徴とする特許請求の範Ｈ隼
ＩＪＪＩに記載の検出針を用いたプリント基板試験装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57019386A JPS58135974A (ja) | 1982-02-09 | 1982-02-09 | 検出針を用いたプリント基板試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57019386A JPS58135974A (ja) | 1982-02-09 | 1982-02-09 | 検出針を用いたプリント基板試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58135974A true JPS58135974A (ja) | 1983-08-12 |
Family
ID=11997850
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57019386A Pending JPS58135974A (ja) | 1982-02-09 | 1982-02-09 | 検出針を用いたプリント基板試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58135974A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0365988U (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-26 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5473278A (en) * | 1977-11-16 | 1979-06-12 | Everett Charles Inc | Tester |
| JPS5530868B2 (ja) * | 1976-03-27 | 1980-08-14 |
-
1982
- 1982-02-09 JP JP57019386A patent/JPS58135974A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5530868B2 (ja) * | 1976-03-27 | 1980-08-14 | ||
| JPS5473278A (en) * | 1977-11-16 | 1979-06-12 | Everett Charles Inc | Tester |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0365988U (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-26 |
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