DE2834344A1 - Verfahren zur herstellung einer optoelektronischen integrierten struktur und eine solche enthaltender optoelektronischer bauteil - Google Patents
Verfahren zur herstellung einer optoelektronischen integrierten struktur und eine solche enthaltender optoelektronischer bauteilInfo
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Description
Paten Lan walte
Dipl.-Ing Dipl -Chem Dipl.-Ing
E. Prinz - Dr. G. Hauser - G. Leiser
Er nsbergerst rasse 19
8 München 60
THOMSON - CSF 4. August 1978
173, Bd. Haussmann
75008 Paris / Frankreich
75008 Paris / Frankreich
Verfahren zur Herstellung einer optoelektronischen integrierten Struktur und eine solche enthaltender optoelektronischer
Bauteil
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung' einer festen integrierten optischen Struktur, deren
Betrieb die Anwendung eines elektrischen Feldes erfordert, sowie einen diese Struktur verwendenden optoelektronischen Bauteil. Es handelt sich insbesondere
um optoelektronische Strukturen mit einem Grundmaterial (z.B. Li Nb 0,, Li Ta 0,) mit den folgenden Eigenschaften:
- gute Lichtleitung;
- die Möglichkeit einer Modifizierung des Brechungsindex
in einem gegebenen Bereich des Materials mittels einer geeigneten und lokalisierten Dotierung dieses Materials?
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Dr.Ha/Ma
Dr.Ha/Ma
- merkliche elektrooptische Effekte, gegebenenfalls akustooptische;
- Umwandlung in einen mehr oder weniger transparenten
und mehr oder weniger elektrisch leitenden Körper unter der^ Einwirkung einer physiochemischen Behandlung,
z.B. der Reduktion des Materials (totale oder partielle Entfernung des Sauerstoffs aus der Zusammensetzung
des Materials).
In den integrierten optischen Strukturen stellt das Basismaterial ein Substrat dar, in welchem man durch lokalisierte
Dotierung einen oder mehrere Lichtleiter bildet. Ein solches Substrat besitzt eine Dicke in der Größenordnung von 2 mm
oder mehr, um so das Gebilde gegen Bruchgefahr während der
verschiedenen Herstellungsstufen des optoelektronischen Bauteils zu sichern. In den elektrooptischen Deflektoren,
Modulatoren, Kommutatoren verwendet man zur Anlegung eines elektrischen Feldes in dem oder den Lichtleitern auf ein
und derselben Substratfläche abgeschiedene Elektroden,
wobei diese Substratfläche die den Lichtleitern am nächsten befindliche ist. Diese coplanare Anbringung ist jedoch
häufig für einen guten Betrieb des optoelektronischen
Bauteils ungünstiger als eine Anordnung der Elektroden auf entgegengesetzten Seiten des Substrats. Eine Lösung
könnte darin bestehen, daß man eine Masseebene auf der
Seite aufbringt, welche der den Lichtleitern zunächst befindlichen Fläche gegenüberliegt; wegen der geringen
Tiefe dieser Leiter (einige -zig Mikrometer höchstens) im Vergleich zu der relativ großen Dicke des Substrats
(2 mm) gibt diese Lösung jedoch keine guten Resultate.
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Die Erfindung ermöglicht die Beseitigung dieser letzteren Schwierigkeit und bietet im übrigen die folgenden Vorteile:
- gegebenenfalls eine Verringerung der Gesamtanzahl von
Elektroden;
- eine eventuelle Erhöhung des tatsächlich angewendeten elektrischen Feldes, wie man an einer besonderen Struktur
sehen wird;
- Bildung einer Masseebene, was zur Verbesserung der Leistungen des elektrooptischen Bauteils bei sehr hoher
Frequenz wichtig sein kann;
- schließlich Herstellung der Elektroden bei niedriger Temperatur, was einen Schutz der Lichtleiter vor möglichen
Wärmeangriffen erlaubt.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist durch mindestens die drei folgenden Stufen gekennzeichnet:
- vollständige Reduktion eines an Sauerstoff gesättigten Basismaterials, das eine integrierte optoelektronische
Struktur darstellt;
- Herstellung einer Schutzmaske über dem Hauptteil der äußeren Oberfläche dieses Materials;
- Oxidation dieses Materials durch Eindringen von Sauerstoff durch den nicht von der Maske geschützten Teil
der Oberfläche der Struktur.
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Die Erfindung wird anhand der folgenden Beschreibung
unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert.
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 und Fig. 3 in schematischer perspektivischer
Darstellung zwei Ausführungsbeispiele bekannter Strukturen von optoelektronischen
Bauteilen,
Fig. 2 und Fig. 4 in schematischer perspektivischer
Darstellung zwei den vorstehenden analoge Beispiele von Strukturen
elektrooptischer Bauteile, die jedoch nach einem erfindungsgemäßen Verfahren
hergestellt wurden, und
Fig. 5 verschiedene Stufen eines erfindungsgemäßen Verfahrens.
In einem Phasenmodulator (Fig. 1) und in einem Kommutator mit zwei Lichtleitern (Fig. 3) sieht man bei einer bekannten
Ausführung zwei Elektroden (1 und 2 in Fig. 1; 31 und 31 in Fig. 3i die parallel auf der Hauptfläche des Substrats 10,
die sich dem (oder den) Lichtleiter(n) (3, Fig. 1; 33 und in Fig. 3) zunächst befindet, angeordnet sind.
Bei einer erfindungsgemäßen Ausführungsform eines analogen
Phasenmodulators wurde ein Substrat 10 aus Lithiumniobat
durch eine nachstehend näher angegebene Behandlung über den Hauptteil seiner Dicke reduziert. Man erzielte dabei eine
undurchsichtige und elektrisch leitende Schicht 11, die in gewisser Weise ein neues Substrat darstellt, das gleichzeitig
die Rolle einer Masseebene spielt. Den Rest des
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Substrats bildet eine Schicht 12 aus stöchiometrischem Lithiumniobat (Li Nb CU), in welcher durch Eindiffusion
von Titan ein Lichtleiter 3 gebildet wurde, dessen Brechungsindex höher ist als der des reinen Niobats.
Auf der Hauptfläche 120 des Substrats wurde eine Elektrode 20 abgeschieden, welche den Lichtleiter in der Breite
überdeckt. Eine von einer Quelle 23 stammende Potentialdifferenz wird mittels der Anschlüsse 21 und 22 an an
die Elektrode 20 bzw. das Substrat 10 in seinem Teil 11 angeschweißte Klemmen 210 und 220 angelegt.
Die Berechnung zeigt und die Erfahrung bestätigt, daß die Anordnung der Kraftlinien des elektrischen Feldes in der
erfindungsgemäßen Struktur günstiger ist.
Bei einer anderen erfindungsgemäßen Ausführungsform eines
Kommutators mit zwei Lichtleitern 43 und 44 (Fig. 4) werden zwei Elektroden 41 und 42 auf einem dem Substrat von Fig.
analogen Substrat 10 angebracht. Zwei Anschlüsse 45 und ermöglichen die Anlegung abwechselnd positiver und negativer
Potentiale in bezug auf das Potential einer Masseklemme um die optische Kommutierung zu gewährleisten.
Die Leistungen eines solchen Kommutators sind denjenigen des in Fig. 2 dargestellten bekannten Kommutators überlegen,
was insbesondere auf die neue Konfiguration der Kraftlinien des elektrischen Feldes zurückzuführen ist.
Nachstehend wird ein Beispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens beschrieben.
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Fig. 5 zeigt die Ergebnisse der jeweiligen Stufen:
(a) am Ende einer Vorstufe der Bildung von Lichtleitern;
(b) bzw. (c) nach einer ersten und einer zweiten Stufe;
(d) nach einer dritten Stufe;
(e) nach einer zusätzlichen Stufe vor dem Anschweißen der
elektrischen Anschlüsse.
Bei der Vorstufe geht man von einem Plättchen 10 aus einkristallinem Lithiumniobat aus und man diffundiert
Titan in zwei Zonen 43 und 44 ein, welche zwei parallele, an die Oberfläche 120 des Plättchens 10 angrenzende
Lichtleiter bilden sollen. Eine solche Diffusion ist in der Technologie der integrierten Optik bekannt und bedient
sich mikrolithographischer Methoden. Die so erhaltenen Leiter besitzen einen halbkreisförmigen Querschnitt, dessen
Durchmesser von einigen Mikron bis zu mehreren -zig Mikron gehen kann.
Während der ersten für das erfindungsgemäße Verfahren
charakteristischen Stufe reduziert man das das Plättchen 10 bildende Material bei einer relativ niedrigen Temperatur
von z.B. 4000C. Zu diesem Zweck bringt man das Plättchen
in einen Vakuumbehälter, wo Mittel zum Auspumpen der Gase einen Druck von 0,1 Torr trotz andauernder Einleitung von
Wasserstoff aufrechterhalten. In dem Behälter wird mittels eines hochfrequenten elektromagnetischen Feldes ein Wasserstoffplasma
erzeugt und die Erhitzung des Materials wird durch Infrarotbestrahlung durch die durchsichtigen Wände
des Behälters erzielt.
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Während der zweiten, für das erfindungsgemäße Verfahren charakteristischen Stufe scheidet man eine einige 100 Ä
dicke Schicht 50 ab, die in (c) von Fig. 5 dargestellt ist. Diese Schicht soll die Oxidation das Materials durch
die Unterseite und die Seitenflächen verhindern. Sie kann z.B. durch Aufdampfen eines Metalls wie Aluminium gebildet
werden. Man kann auch nach anderen bekannten Methoden eine Schicht aus Siliciumnitrid Si^ N. abscheiden.
Während der dritten erfindungsgemäßen Stufe oxidiert man das Material, indem man das Plättchen von der Oberseite
aus angreift. Die Oxidation kann unter analogen Bedingungen wie in der zweiten Stufe stattfinden, indem man den Wasserstoff
durch Sauerstoff ersetzt. Die Oxidationsdauer wird durch Probenahmen gesteuert, um nicht die gewünschte Dicke
des regenerierten Materials zu übersteigen. Man erhält das bei (d) von Fig. 5 dargestellte Ergebnis, d.h. eine Schicht
12 aus regeneriertem Material, welche den aus einer Schicht 11 aus elektrisch leitendem Material bestehenden Rest des
Plättchens bedeckt. Diese Schicht nimmt mehr als 9/10 des Plättchenvolumens ein. Sie soll in dem fertigen elektrooptischen
Bauteil als Masseebene dienen.
In einer zusätzlichen Verfahrensstufe scheidet man Elektroden
41 und 42 auf der Oberseite des Plättchens an der Stelle der Lichtleiter 43 und 44 ab. Wenn die Schicht 50
isolierend ist, öffnet man auf einer der Plättchenseiten durch selektiven chemischen Angriff ein Fenster 501, um
dort einen elektrischen Anschluß anschweißen zu können.
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Claims (1)
- Dipl.-lng.E. PrinzPatentanwälteDipl.-Chem.Dr. G. HauserE r η s b e r g e r s t r a S s e8 München 60Dipl.-lng.G. LeiserTHOMSON - CSF
173, Bd. Haussmann 75008 Paris / Frankreich4. August 1978Unser Zeichen: T 3140Patentansprüche'Verfahren zur Herstellung einer integrierten festen optischen Struktur, deren Betrieb die Anlegung eines elektrischen Feldes erfordert, gekennzeichnet durch mindestens die folgenden Stufen:- vollständige Reduktion eines an Sauerstoff gesättigten, die Struktur bildenden Basismaterials;- Herstellung einer den Hauptteil der Oberfläche des Materials bedeckenden Schutzmaske;- Oxidation des Materials durch Eindringen von Sauerstoff durch den nicht durch Maske geschützten Teil der Oberfläche.Dr.Ha/Ma909807/ 1ORIGINAL INSPECTED2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Basismaterial aus einem Stoff besteht, der durch physikochemische Behandlung aus einem durchsichtigen und elektrisch isolierenden Zustand in einen undurchsichtigen, elektrisch leitenden Zustand übergehen kann und umgekehrt.3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,daß das Basismaterial Lithiumniobat oder Lithiumtantalat ist.4. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch die folgenden Verfahrensstufen:a) Bildung mindestens eines Lichtleiters durch lokalisierte Dotierung eines Plättchens aus Basismaterial;b) Reduktion des Materials durch Wärmebehandlung in einem Wasserstoffplasma;c) Abscheidung einer für Sauerstoff undurchlässigen Schutzschicht auf allen Flächen des Plättchens, außer einer;d) Oxidation des Plättchens durch Eindringen von Sauerstoff durch die nicht geschützte Fläche des Plättchens;e) Abscheidung von Elektroden auf der nicht geschützten Fläche, während der Rest des in der vorhergehenden Stufe nicht oxidierten Materials als Masseelektrode der Struktur dient.909807/10055. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß in Stufe c) die Schutzschicht aus Aluminium besteht.6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß in Stufe c) die Schutzschicht aus Siliciumnitrid besteht.7. Optoelektronischer Bauteil, dadurch gekennzeichnet, daß er eine nach einem Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche erhaltene Struktur enthält.8. Optoelektronischer Bauteil nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß er einen Phasenmodulator mit einer in der Struktur integrierten Lichtleitung darstellt, wobei auf dem Leiter eine Elektrode abgeschieden ist und ein reduzierter Teil des Basismaterials eine Masseebene bildet.9. Optoelektronischer Bauteil nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß er einen Kommutator mit zwei in der Struktur integrierten Lichtleitern, zwei auf jeweils einem Lichtleiter abgeschiedenen Elektroden und einer aus einem reduzierten Teil des Basismaterials bestehenden Masseebene darstellt.9098 07/1005
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |