DE2736960C3 - Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse - Google Patents

Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse

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DE2736960C3 DE2736960A DE2736960A DE2736960C3 DE 2736960 C3 DE2736960 C3 DE 2736960C3 DE 2736960 A DE2736960 A DE 2736960A DE 2736960 A DE2736960 A DE 2736960A DE 2736960 C3 DE2736960 C3 DE 2736960C3
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Description

Die Haube 6, die auch eine Schutzgasfüllung (Helium oder dergl.) aufnehmen kann, stützt sich an ihrem unteren Rand dichtend auf einer Grundplatte 9 ab. Zur Vakuumerzeugung oder zum Einfüllen eines Schutzgases dient der in der Haube 6 vorgesehene Anschluß 7. Die Grundplatte 9 ist mit Justierschrauben 8 für die Einstellung der Meßebene auf einem Sockel 11 gelagert, der ebenfalls, wie angedeutet, mit höhenverstellbaren Füßen 10 versehen sein kann.
Seitlich in der Haube 6 befindet sich ein Eintrittsfenster 18 ass Beryllium. Vor dieses Fenster 18 kann eine äußere Röntgenstrahlenqueile 16 gesetzt werden, bei der es sich beispielsweise um eine Röntgenröhre oder um ein Sekundärtarget handelt. Das Berylliumfenster 18 sorgt dafür, daß die anregende Röntgenstrahlung möglichst wenig geschwächt wird. Die Röntgenstrahlenqueile 16 ist im Sockel 11 mit einer Justiervorrichtung 15 versehen, welche die Möglichkeit gibt, die vertikale Achse X der Röntgenröhre zu verschwenken. Eine weitere Justiervorrichtung 17 an einem Ständer gibt die Möglichkeit, die Röntgenröhre 16 böhenmäßig und bezüglich der horizontalen Achse Y auszurichten.
Innerhalb der Haube 6 befindet sich auf der Grundplatte 9 eine Positioniereinrichtung 12 für das die Probenträger 4 enthaltende Magazin 5. Die Positioniereinrichtung 12 bzw. der Probenwechsler enthält eine karussellartig um die Achse Z drehbare Platte, die das Probenmagazin 5 aufnehmen kann. Diese Positioniereinrichtung kann mit Hilfe eines von außen bedienbaren Antriebes so gedreht werden, daß die im Probenmagazin 5 enthaltenen Probenträgerplatten 4 der Reihe nach auf die Detektorachse D ausgerichtet werden. Wie die Zeichnung erkennen läßt, liegen die einzelnen Probenträgerplatten 4 mit geringem Spiel in Ausnehmungen des Probenmagazins 5. Neben der Positioniereinrichtung 12 befindet sich eine Andrückvorrichtung 13, die ebenfalls genau wie die Positioniereinrichtung 12 mit einem von außen bedienbaren Antrieb bewegt werden kann. Bei der Aktivierung der Andrückvorrichtung 13 drückt ein Stempel von unten durch die Karussellplatte hindurch und bewegt dann die Probenträgerplatte 4 in die Meßstellung.
Neben der Andrückvorrichtung 13 befindet sich ein vertikal nach oben ragender Lagerblock 14, der an seinem oberen Ende die erfindungsgemäß vorgesehene Reflektorplatte 3 trägt Diese Reflektorptette 3 ist, wie die F i g. 3 und 4 zeigen, durchbohrt. Die Bohrung der Reflektorplatte 3 nimmt das vordere Ende des Detektors 1 auf. Dabei ist der Detektor 1 so in der Reflektorplatte 3 gelagert, daß dessen Aperturblende 19 im wesentlichen coplanar zur Reflektorvorderfläche ausgerichtet ist Auf der Unterseite der Reflektorplatte 3 befinden sich drei kleine noppenartige Widerlager 20, an denen der Probenträger 4 zur Anlage kommen kann, wenn er mit der Andrückvorrichtung in die Arbeitsstellung angehoben wird.
Wenn mit der erfindungsgemäßen Meßanordnung gearbeitet werden soll, wird die Röntgenröhre 16 eingeschaltet die dann durch das Berylliumfenster 18 einen Röntgenstrahl .!> hindurchschickt Dieser Röntgenstrahl S erreicht über eine entsprechende Bohrung im Lagerbock 14 die Unterseite der Reflektorplatte 3 und wird dann nach unter, umgelenkt um die untersuchende Probe auf dem Probenträger 4 zu erreichen. Dadurch, daß der Röntgenstrahl S zunächst auf die Reflektorplatte 3 auftrifft, wird der hochenergetische Teil der Strahlung unterdrückt d. h. er erreicht ίο nicht mehr die eigentliche Meßebene. Wird beispielsweise eine Röntgenröhre mit Molybdänannode verwendet dringt der Bremsstrahlungsanteil von mehr als 20 keV in die Reflektorplatte ein, so daß er nicht mehr zum Probenträger 4 gelangen kann. Aufgrund dieser '■> Aussonderung der hochenergetischen Strahlung kann man die Röntgenröhre jetzt in dem für die Strahlungsausbeute günstigsten Spannungsbereich betreiben. Mit anderen Worten gesagt wird die anregende Strahlung am Reflektor 3 in zwei Teile aufgespalten. Der unerwünschte hochenergetische Teil wird tiefpaßartig ausgesondert und der niederenergetische Strahlungsteil kann optimal die Oberfläche des Probenträgers 4 erreichen. Eine nachteilige Beeinflussung des Untergrundes der Probenträgerplatte 4 entfällt somit. Vorzugsweise ist die Reflektorplatte 3, die beispielsweise aus Quarz oder einem anderen geeigneten Material bestehen kann, sehr nahe bei dem Probenträger 4 angeordnet Die günstigste Anordnung ist offenbar die in F i g. 1 dargestellte Lage. Falls es aus «ι irgendwelchen Gründen erwünscht sein kann, bietet sich aber auch eine Ausbildung gemäß F i g. 2 an, in der die den Fig. 1, 3 und 4 entsprechenden Teile mit gleichen Bezugszeichen versehen sind. Bei der Anordnung gem. Fig.2 befindet sich die Reflektorplatte 3 J5 neben dem Detektor 1 in Höhe der Apperturblende 19. Auch hier wird die einfallende Strahlung 5 an der Reflektorplatte 3 umgelenkt, so daß nur der niederenergetische Anteil die Oberseite der Probenträgerplatte 4 erreichen kann. Wie die Pfeile 21 und 22 und der to gestrichelt eingezeichnete Reflektor 3' zeigen, läßt sich der Strahlungsweg durch höhenmäßige und winkelmäßige Verstellung der Reflektorplatte 3 verändern, so daß sich dann beispielsweise ein Strahlungsgang S' ergibt, wie er in F i g. 2 mit gestrichelten Linien angedeutet ist. Zusätzlich ist in F i g. 2 auch noch die von der auf dem Probenträger 4 befindlichen Probe 23 ausgehende Fluoreszenzstrahlung angedeutet, die in den Detektor 1 hineingeht
Bei der erfindungsgemäßen Anordnung "ergibt sich neben der energetischen Vorteile auch noch der weitere Vorteil, daß jegliche Ausrichtung der zu untersuchenden Probenträgerplatten entfällt. Die Feineinstellung des Strahlenganges, der gegenüber der Probenträgerplatte
beispielsweise nur um einen Betrag von 4 bis 6 Minuten divergiert, geschieht allein durch Ausrichtung der Röntgenröhre bzw. bei der Anordnung gemäß F i g. 2 durch Verstellen der Reflektorplatte und/oder der Röntgenröhre.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (11)

Patentansprüche: baren Karussell versehen ist, dessen Karussellplatte am Umfang auf die Detektorachse (D) ausgerichtete
1. Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse, ^g Ausnehmungen für die Probenträgerplatten (4) bei der eine auf einem Träger angeordnete plane aufweist, welche mit der Andrückvorrichtung (13) Probe durch die von einer Röntgenstrahlen emittie- 5 abhebbar und gegen die Widerlager (20) der renden Strahlenquelle streifend einfallende Rönt- Reflektorplatte (3) andrückbar sind,
genstrahlung angeregt und mit einem über der
Probe angeordneten Detektor spektrometrisch
untersucht wird, der vakuumdicht mit einem die zu
untersuchenden Proben samt Träger aufnehmenden iu
evakuierbaren bzw. ein Schutzgas aufnehmenden Bei einer Meßanordnung gemäß dem Oberbegriff des Gehäusehaube verbunden ist, in dessen Seitenwand Hauptanspruchs, welche einem älteren Vorschlag der ein Strahleneintrittsfenster für die von der äußeren Anmelderin entspricht (Patentanmeldung P 26 32 001.4), vor das Gehäuse vorsetzbaren Strahlenquelle erfolgt die Anregung der Probe durch eine direkte ausgehenden Röntgenstrahlung angeordnet ist l5 Röntgenstrahlung, wobei der Probenträger auf einem dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlen- Schwenkrahmen angeordnet wird, welcher die Möglichgang (S) der anregenden Röntgenstrahlung inner- keit gibt, den Winkel der einfallenden Strahlung halb der Gehäusehaube (6) ein die Strahiung zur gegenüber der Probe zu verändern.
Oberfläche des Probenträgers (4) umlenkender Die zuvor beschriebene Meßanordnung weist die Reflektor (3) angeordnet ist und daß zur Einstellung 20 Weiterentwicklungen der Anmelderin gezeigt haben, des Auftreffwinkels der auf die Probe einfallenden entscheidende Nachteile auf. Ein besonderer Nachteil anregenden Röntgenstrahlung Mittel zur höhen- liegt darin, daß der hoch-energetische Anteil des und/oder winkelmäßigen Einstellung der Lage von Spektrums der anregenden Strahlung nur durch die Strahlenquelle (16) und/oder Reflektor (3) vorgese- Verändeiung der Anodenspannung der Röntgenröhre hen sind. 2r. beeinflußt werden kann. Dabei muß die Röntgenröhre
2. Meßanordnung nach Anspruch 1, dadurch in der Regel in einem für die Strahlungsausbeute gekennzeichnet, daß der Reflektor eine plan-parallel ungünstigen Spannungsbereich betrieben werden. Zu zur Probenträgeroberfläche angeordnete, beispiels- berücksichtigen ist auch, daß der im Grunde unerweise aus Quarz bestehende Reflektorplatte (3) ist wünschte hoch-energetische Teil der anregenden
3. Meßanordnung nach Anspruch 1 und 2, dadurch jo Strahlung, der nicht mehr von dem Probenträger gekennzeichnet daß das Abstandsverhältnis Reflek- reflektiert werden kann, den Untergrund ungünstig tor-Röntgenstrahlaustritt zu Reflektor-Probenträ- beeinflußt. Als weiterer Nachteil ist auch noch zu j ger größer als 10 :1 ist. erwähnen, daß die Winkelverstellung am Probenträger
4. Meßanordnung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch einen relativ großen technischen Aufwand bedingt.
gekennzeichnet, daß der höhen- und/oder winkelmä- i5 Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine
Big verstellbare Reflektor (3) in der Nähe des Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse der
Probenträgers (4) gelagert ist (F ig. 2). einleitend genannten Art so zu verbessern, daß der
5. Meßanordnung nach Anspruch 1 und 2, dadurch hoch-energetische Teil der anregenden Strahlung im
gekennzeichnet, daß der Reflektor (3) über dem wesentlichen an einem Erreichen des Probenträgers
Probenträger (4) angeordnet ist. 40 gehindert, daß die die anregende Strahlung erzeugende
fi
6. Meßanordnung nach Anspruch 5, dadurch Röntgenröhre in einem für die Strahlungsausbeute
:i gekennzeichnet, daß der Reflektor eine den günstigeren Spannungsbereich betneben werden kann
Detektor (1) umgebende, mit Bohrung versehene und daS die Einstellung des Strahlengangs ganz
\ Platte (3) ist wesentlich vereinfacht wird.
«
7. Meßanordnung nach Anspruch 5 und 6, dadurch 45 Die vorgenannte Aufgabe wird durch die im
gekennzeichnet, daß an der dem Probenträger (4) Kennzeichnungsteil des vorstehenden Hauptanspruches
zugewandten Fläche der Reflektorplatte (3) kleine angegebenen Merkmale gelöst. Bevorzugte Ausfüh-
'i noppenartige Widerlager (20) zum Abstützen der rungsformen der Erfindung sind in den Unteransprü-
Probenträgerplatten (4) angeordnet sind. chen angegeben.
ί
8. Meßanordnung nach Anspruch 5 bis 7, dadurch v> Die erfindungsgemäße Meßanordnung wird anhand
gekennzeichnet, daß die Aperturblende (19) des der nachfolgenden ausführlichen Beschreibung und der
Detektors (1) im wesentlichen koplanar zur Reflek- Zeichnung näher erläutert. In der Zeichnung zeigt
torvorderfläche in der Reflektorplattenbohrung Fig. 1 einen schematischen Längsschnitt durch ein
?| angeordnet ist. Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Meßan-
9. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis « Ordnung,
8, dadurch gekennzeichnet, daß die höhen- und/oder F i g. 2 eine geschnittene schematische Teilansicht
winkelmäßig verstellbare Röntgenstrahlungsquelle eines abgewandelten Ausführungsbeispiels der erfin-
(16) auf dem Sockel (11) der Meßanordnung mit dungsgemäßen Meßanordnung,
höhenverstellbaren Füßen (10) gelagert ist. F i g. 3 einen vergrößerten Ausschnitt aus F i g. 1 und
10. Meßanordnung nach Anspruch 1 bis 9, m> F i g. 4 eine Unteransicht zu F i g. 3.
gekennzeichnet durch einen fernbedienbaren, die Das Detektorsystem der Meßanordnung gem. F i g. 1 Probenträger (4) aufnehmenden Probenwechsler besteht in bekannter Weise aus einem Dewargefäß mit (12) mit einer auf die Detektor (D) ausgerichteten, einem Detektor 1, z. B. einem SiLi-Detektor, einem ebenfalls fernbedienbaren Probenträgerandrückvor- Zählrohr oder einem in NaJ-Kristall in einer auch der richtung (13). <^ Ausrichtung der Detektorachse D dienenden justierba-
11. Meßanordnung nach Anspruch 10, dadurch ren Halterung 2. Der Detektor 1 ist mit einer Dichtung gekennzeichnet, daß der Probenwechsler (12) mit in die mit Beschickungsklappe versehenen Haube 6 einem achsparallel zur Detektorachse (D) verdreh- eines Staubschutz- bzw. Vakuum-Gehäuses eingesetzt.
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DE2736960A DE2736960C3 (de) 1977-08-17 1977-08-17 Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse
IT83626/78A IT1162195B (it) 1977-08-17 1978-07-16 Dispositivo di rilevazione per l'analisi mediante rontgen-fluore-scenza
DK325778A DK146367C (da) 1977-08-17 1978-07-21 Maaleapparat til roentgenfluorescensanalyse
AT0557478A AT368285B (de) 1977-08-17 1978-08-01 Messanordnung zur roentgenfluoreszenzanalyse
NLAANVRAGE7808130,A NL185305C (nl) 1977-08-17 1978-08-02 Meetinrichtig voor roentgenfluorescentie-analyse.
CH841178A CH635433A5 (de) 1977-08-17 1978-08-08 Messanordnung zur roentgenfluoreszenzanalyse.
GB7832683A GB2003267B (en) 1977-08-17 1978-08-09 Apparatus for use in x-ray fluorescence analysis
LU80106A LU80106A1 (de) 1977-08-17 1978-08-11
CA309,467A CA1111576A (en) 1977-08-17 1978-08-16 Measuring apparatus for x-ray fluorescence analysis
BE189920A BE869791A (fr) 1977-08-17 1978-08-17 Dispositif de mesure pour analyse de fluorescence x
FR7823990A FR2400704A1 (fr) 1977-08-17 1978-08-17 Dispositif de mesure pour analyse de fluorescence x
US06/133,556 US4426717A (en) 1977-08-17 1980-03-24 Measuring apparatus for X-ray fluorescence analysis

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NL (1) NL185305C (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4127778A1 (de) * 1991-04-30 1992-11-05 Picolab Oberflaechen Und Spure Vorrichtung zur roentgenfluoreszenz- und neutronenaktivierungsanalyse

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3542003A1 (de) * 1985-11-28 1987-06-04 Geesthacht Gkss Forschung Verfahren zur zerstoerungsfreien analyse der oberflaechenschicht von proben
DE3606748C1 (de) * 1986-03-01 1987-10-01 Geesthacht Gkss Forschung Anordnung zur zerstoerungsfreien Messung von Metallspuren
DE3813329A1 (de) * 1988-04-21 1989-11-02 Geesthacht Gkss Forschung Verfahren und anordnung zur sammlung und analyse von staub
EP0372278A3 (de) * 1988-12-02 1991-08-21 Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh Verfahren und Anordung zur Untersuchung von Proben nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse
JP2853261B2 (ja) * 1989-05-16 1999-02-03 三菱マテリアル株式会社 金属分析方法および分析装置
US5220591A (en) * 1989-10-19 1993-06-15 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Total reflection X-ray fluorescence apparatus
US5249216B1 (en) * 1989-10-19 1996-11-05 Sumitomo Electric Industries Total reflection x-ray fluorescence apparatus
US5014287A (en) * 1990-04-18 1991-05-07 Thornton Michael G Portable x-ray fluorescence spectrometer for environmental monitoring of inorganic pollutants
CN109827982B (zh) * 2017-11-23 2024-04-26 核工业西南物理研究院 一种土壤重金属检测的快速检测仪

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3920984A (en) * 1974-04-08 1975-11-18 Machlett Lab Inc X-ray energy analyzer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4127778A1 (de) * 1991-04-30 1992-11-05 Picolab Oberflaechen Und Spure Vorrichtung zur roentgenfluoreszenz- und neutronenaktivierungsanalyse

Also Published As

Publication number Publication date
NL185305B (nl) 1989-10-02
CA1111576A (en) 1981-10-27
GB2003267B (en) 1982-01-06
FR2400704B1 (de) 1983-09-16
IT7883626A0 (it) 1978-07-16
US4426717A (en) 1984-01-17
DE2736960B2 (de) 1979-06-28
FR2400704A1 (fr) 1979-03-16
CH635433A5 (de) 1983-03-31
NL185305C (nl) 1990-03-01
ATA557478A (de) 1982-01-15
DK146367C (da) 1984-02-27
IT1162195B (it) 1987-03-25
DK325778A (da) 1979-02-18
DK146367B (da) 1983-09-19
NL7808130A (nl) 1979-02-20
AT368285B (de) 1982-09-27
GB2003267A (en) 1979-03-07
BE869791A (fr) 1978-12-18
LU80106A1 (de) 1979-01-19
DE2736960A1 (de) 1979-03-01

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