DE2721039C2 - Digitale Ladungsverschiebeanordnung - Google Patents
Digitale LadungsverschiebeanordnungInfo
- Publication number
- DE2721039C2 DE2721039C2 DE2721039A DE2721039A DE2721039C2 DE 2721039 C2 DE2721039 C2 DE 2721039C2 DE 2721039 A DE2721039 A DE 2721039A DE 2721039 A DE2721039 A DE 2721039A DE 2721039 C2 DE2721039 C2 DE 2721039C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- output
- charge
- potential
- electrode
- shifting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 19
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 12
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 6
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 3
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 2
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000012854 evaluation process Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76816—Output structures
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
- G11C19/282—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements with charge storage in a depletion layer, i.e. charge coupled devices [CCD]
- G11C19/285—Peripheral circuits, e.g. for writing into the first stage; for reading-out of the last stage
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76825—Structures for regeneration, refreshing, leakage compensation or the like
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
Abstract
Der mit der Erfindung erzielbare Vorteil besteht insbesondere darin, dass mit einer wenig aufwendigen Ausgangsstufe die Bitfehlerrate des digitalen Ausgangssignals in Bezug auf das Eingangssignal extrem niedrig gehalten werden kann, wobei gleichzeitig das Ausgangssignal einen optimalen Spannungshub aufweist. Dabei verringert die zur Errichtung einer Potentialbarriere vor dem ausgangsseitigen Gebiet vorgesehene Referenzspannung den genannten Spannungshub in keiner Weise. reissen, so wird in der Folge die dahinterliegende keramische
Description
55
Die Erfindung bezieht sich auf eine digitale Ladungsverschiebeanordnung
der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 angegebenen Art.
gem in einer Potentialsenke unter der ersten Verschiebeelektrode führt, der andere logische Zustand, z. B.
»0«, dagegen nicht. Da zwischen den einzelnen Bewertungsvorgängen jeweils eine Verschiebung der vorher
gebildeten Ladungsträger um eine vorgegebene Zahl von Elektrodenabständen erfolgt, wird das digitale Eingangssignal
in eine Folge von Ladungstxägerpaketen umgesetzt und in dieser Form in der Halbleiterschicht
entlang der Elektrodenreihe in Richtung auf das ausgangsseitige Gebiet entgegengesetzter Leitfähigkeit
schrittweise verschoben. Die in Fig. 10 (b) dieser Veröffentlichung
gezeigte, ausgangsseitige Feldeffekttransistorstufe, die zunächst einen ersten logischen Signalpegel
eines digitalen Ausgangssignales abgibt, wird beim Eindringen der einzelnen Ladungsträgerpakete in das
ausgangsseitige Gebiet jeweils zur Abgabe eines zweiten logischen Signalpcgels veranlaßt, so daß ein dem
Eingangssignal entsprechendendes, im Normalfall invertiertes digitales Ausgangssignal entsteht. Infolge
des sogenannten Dunkelstroms, der von thermisch generierten Ladungsträgern herrührt, werden jedoch
zusätzlich unerwünschte Ladungsträger unter den Elektroden angesammelt, die den beschriebenen Vorgang
verfälschen. Als weiterer Fehlereinfluß kommt noch hinzu, daß nicht alle Ladungsträger von einer Verschiebeelektrode
zur nächsten transportiert werden. Durch diese Beeinträchtigungen kann der Spannungshub des
Ausgangssignals soweit reduziert werden, daß er in vielen Fällen nicht mehr ausreicht, um eine fehlerfreie
Signalübertragung zu gewährleisten.
Man verwendet nun sogenannte Regenerierschaltungen, die den vollen Spannungshub zwischen den logischen
Signalzuständen des Ausgangssignals wieder herstellen sollen.
In integrierter MOS-Schaltkreistechnik wird zum Zwecke der Regenerierung beispielsweise neben einer
ersten Ladungsverschiebeanordnung auf demselben Substrat eine gleichartige zweite Anordnung vorgesehen,
die mit den gleichen Taktspannungen betrieben wird (vgl. IEEE Journal of Solid-State Circuits, Bd.
SC-7, 1972, Seiten 237-242, insbesondere Fig. 3). Dabei ist in der Halbleiterschicht der ersten Anordnung
unter einer der Verschiebeelektroden ein entgegengesetzt dotiertes Halbleitergebiet vorgesehen und mit
einer Verschiebeelektrode der zweiten Anordnung verbunden, die als Eingangselektrode für den ausgangsseitig
von ihr liegenden Teil dieser Anordnung dient. Die das binäre Eingangssignal repräsentieienden Ladungsträger
der ersten Anordnung steuern dann das Potential der als Eingangselektrode benutzten Verschiebeelektrode,
wobei die Signalauswertung am Ausgang der zweiten Anordnung erfolgt. Voraussetzung für eine fehlerfreie
Signalübertragung ist jedoch, daß der als Eingangselektrode dienenden Verschiebeelektrode noch
ein hinreichend großer Potentialunterschied beim Abtasten der in der ersten Anordnung verschobenen Ladungen
zur Verfügung gestellt werden kann.
Im IEEE Journal of Solid-State Circuits, Bd. SC-Il, 1976, Nr. 1, Seiten 18-24, insbesondere Fig. 8, wird
eine digitale Ladungsverschiebeanordnung der eingangs
in der Veröffentlichung von Kosonocky »Charge-Coupled
Device-An Overview« in den Wescon Technical Papers, Bd. 18, Sept. 1974, Nr. 2/1, Seiten 1 bis 20,
beschrieben. Dabei werden die aufeinanderfolgenden logischen Zustände eines digitalen Eingangssignals in
der Weise nacheinander bewertet, daß der eine logische Zustand, z. B. »1«, zur Ansammlung von LadungsträTechnologie
behandelt, die ein Flipflop enthält. Diesem wird einerseits das Potential des ausgangsseitigen
Gebietes entgegengesetzter Leitfähigkeit und andererseits eine Referenzspannung zugeführt, die in einer
weiteren Ladungsverschiebeanordnung mit einem nachgeordneten Komparator-Schaltkreis in der Weise gebil-1
wird, daß sie zwischen den Potentialen des aus-
gangsseitigen Gebietes beim Bewerten der logischen Zustände »0« und »1« liegt. An den Ausgängen des
Fipflops wird dann in Abhängigkeit vom Ober- oder Unterschreiten dieser Referenzspannung durch das Potential des ausgangsseitigen Gebietes ein digitales Signal s
abgegeben, das einen zufriedenstellenden Spannungshub aufweist. Der hierzu erforderliche Schaltungsaufwand ist jedoch beträchtlich. Bei dieser bekannten
Anordnung wirkt das zweite Referenzpotential an der dem ausgangsseitigen Gebiet entgegengesetzter Leitfähigkeit vorgec/dneten gegen die Halbleiterschicht isolierten Elektrode als Potentialbarriere.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine digitale Ladungsverschiebeanordnung de«- eingangs genannnten Art mit
einfachen Mitteln se auszubilden, daß ein bezüglich is
seines Spannungshubs regeneriertes, gegenüber den genannten Störeinflüssen weitgehend unempfindliches
Ausgangssignal abgegeben wird.
Die erfindungsgemäße digitale Ladungsverschiebeanordnung ist durch die im Kennzeichen des Patenten-
spruchs 1 angegebenen Merkmale gekennzeichnet.
Der mit der Erfindung erzielbare Vorteil besteht insbesondere darin, daß mit einer wenig aufwendigen
Ausgangsstufe die Bitfehleirate des digitalen Ausgangssignals in bezug auf das Eingangssigual extrem niedrig
gehalten werden kann, wobei gleichzeitig das Ausgangssignal einen optimalen Spannungshub aufweist. Dabei
verringert die zur Errichtung einer Potentialbarriere vor dem ausgangsseitigen Gebiet vorgesehene Referenzspannung den genannten Spannungshub in keiner
Weise.
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichung näher erläutert. Dabei zeigt
Fig. 1 das bevorzugte Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 3 die Änderung eines zur Fig. 1 gehörigen Potentialverlaufes während des Auslesens einer Infonna-
tionseinheit,
Fig. S die Zusammenschaltung des Ausführungsbeispiels nach Fig. 1 mit einer weiteren Ladungsverschiebeanordnung.
In Fig. 1 ist eine 2-Phasen-Ladungsverschiebeanordnung schematisch dargestellt. Sie besteht aus einem pdotierten mit einem Masseanschluß ία versehenen Silizium-Substrat 1, dessen Oberfläche mit einer elektrisch
isolierenden Schicht 2, z. B. aus SiO2, belegt ist. In so
dieser isolierenden Schicht 2 sind Elektroden El, lib,
12b . . . nib und tub in der Weise angeordnet, daß sie
sich in einer unteren, der Oberfläche des Substrats 1 näherliegenden Ebene befinden, während weitere Elektroden lla, 12a . . . nla, nla und Rl in einer höheren, ss
von der Substratoberfläche weiter entfernten Ebene liegen. Dies ist in Fig. 1 in der Weise angedeutet, daß
die letztgenannten Elektroden der Oberfläche der Schicht 2 anliegen. Es können noch weitere, auch dies
Elektroden abdeckende Isolationsschichten vorgesehen sein, die jedoch aus Gründen der Übersichtlichkeit
nicht dargestellt sind. Die Elektrodenkombination Ua, Ub ist über einen gemeinsamen Anschluß 11 mit einer
Taktspannung i/l beaufschlagt, deren Zeitdiagramm in Fig. 4 dargestellt ist. Die nächstfolgende Elektrodenkombination Ha, Hb erhält eine Taktspannung Ui
(Fig. 4) über einen gemeinsamen Anschluß 12 zugeführt. Die sich nach rechts anschließenden, im einzel
nen nicht dargestellten Elektrodenkombinationen sind dann der Reihe nach mit Ul, Ul, Ul usw. beschaltet.
Von den am Ende der Elektrodenreihe liegenden Elektrodenkombinationen nla, nib und rCta, iüb ist die
erstere über den gemeinsamen Anschluß ril mit Ul belegt, die letztere über den Anschluß «2 nicht, wie es
nach der alternierenden Zuordnung zu erwarten wäre, mit Ul, sondern mit einer ebenfalls in Fig. 4 dargestellten Spannung URK.
Die genannten Elektrodenkombinationen werden auch als Verschiebeelektroden bezeichnet. Die Elektrode £1, die im folgenden als Eingangselektrode
bezeichnet wird, ist an den Schaltungseingang E geführt. Die Elektrode Rl besitzt einen Anschluß R. 3
bezeichnet ein n+-dotiertes Gebiet, das als Source-Gebiet für die Ladungsverschiebeanordnung dient,
während 4 ein ausgangsseitiges, ebenfalls n+-dotiertes
Gebiet bezeichnet. Das ausgangsseitige Gebiet 4 ist über eine Leitung mit dem Source-Anschluß eines Feldeffekt-Schalttransistors 71 verbünde, dessen Drain-Anschluß an einer ersten Referenzspannaugn Un liegt.
Der Gate-Anschluß von 71 ist mit Gl bezeichnet. Der Source-Anschluß von 71 ist mit dem Gate einer Feldeffekttransistorstufe 72 verbunden, wobei der Sourceanschluß von 72 über eine Impedanz 6 an Massepotential gelegt ist, während dessen Drain-Anschluß
mit der Taktspannung Ul beschaltet ist. Der Verbindungspunkt zwischen dem Source-Anschluß von 72 und
der Impedanz 6 stellt gleichzeitig den Schaltungsausgang A dar, an dem das Ausgangssignal abgegriffen
wird. A ist mit dem gemeinsamen Anschluß ril der letzten, dem ausgangsseitigen Gebiet 4 vorgeordneten
Verschiebeelektrode verbunden.
Unter dem Einfluß der Taktspannung Ul ergibt sich beim Auftreten eines der positiven Spannungsimpulse
Pl, PZ, Fi usw., also z. B. zum Zeitpunkt /1, an der Oberflächedes Substrats 1 unterhalb der Verschiebeelektroden ein Potentialverlauf 01 gemäß Fig. 2. In
dieser Darstellung ist 01 über der Achse s aufgetragen, die in Längsrichtung des Substrats 1 unterhalb der Elektrodenreihe veläuft. Es entstehen sogenannte Potentialtöpfe PTl, PTl usw. unterhalb der mit Pl belegten
Verschiebeelektroden. Werden aus dem Gebiet 3 in das Substrat 1 Minoritätsladungsträger injiziert und liegt
gleichzeitig am Schaltungseingang E ein digitales Eingangssignal mit einem hohen Signalpegel an, so wird der
unter der Elektrode lib befindliche Teil des Potentialtopfes PTl mit derartigen Ladungsträgern praktisch aufgefüllt. Nach dem Auftreten des nächstfolgenden positiven Impulses Fl' von Ul, also z. B. zum Zeitpunkt ti,
verschieben sich die Potentialtöpfe P71 usw. und damit die in diesen angesammelten Ladungsträger jeweils in
den Bereich der benachbarten Verschiebeelektrode in Richtung s, wobei sich an der Oberfläche des Substrats
1 ein Potentialverlauf 02 gemäß Fig. 3 ergibt.
Der Potentialtopf i>73 in Fig. 2 wird in der Weise
gebildet, daß ein positiver Spannungsimpuls PY einer Gl zugeführten Spannung UGl den Transistor 71 leitend schaltet, so daß das Gebiet 4 für die Dauer von Pl"
an eine Referenzspannung URl gelegt und damit auf ein
erstes Referenzpotential 0R1 rückgesetzt wird. In Fig. 2
ist die Breite des Gebietes 4 mit s4 bezeichnet. Der Anschluß R liegt ständig an einer zweiten Referenzspannung, die unterhalb von Rl ein zweites Referenzpotential 0R2 entstehen läßt. Nach der rückseitigen
Flanke jedes Impulses Pi" ist das Gebiet 4 von UR}
wieder abgeschaltet, so daß es sich in einem Zustand befindet, der mit »floating« bezeichnet wird. Solange
das Gebiet 4 das Potential 0R, einprägt, erhält oder sich
dieses Potential im Zustand des »floating« nicht wesentlich verändert, ist 72 leitend, wobei während des Auftretens einer der Impuls Pl' von Ul an der Impedanz 6
bzw. am Schaltungspunkt A gegenüber Masse eine s Spannung URK abfällt, die etwa Ul entspricht. Dabei
entstehen die im Zeitpunkt (1 von Fig. 4 angedeuteten Spannungsverhältnisse und im rechten Teil der Fig. 3
der ausgezogen dargestellte Potentialverlauf 02, da die Spannung URK über ril auch den Potentialtopf PTA
bildet.
Wurde jedoch ein Ladungsträgerpaket in den Potentialtopf PT4 verschoben, was in Fig. 3 durch eine
schraffierte Fläche dargestellt ist, und erfolgt weiterhin ein allmählicher Abbau von P73 im Bereich s4 über die
konstante Potentiaischwelle O1n hinweg, so verändert
sich 0R| in Fig. 3 entsprechend dem eingezeichneten
Pfeil. Der hierdurch immer weniger leitende Transistor 72 bewirkt ein Absinken von URK am Schaltungspunkt
A, was zu einer Potentialänderung unterhalb der Elektrodenkombination rila, rilb in Richtung der in Fig. 3
eingezeichneten Pfeile führt. Die unterhalb von s4 und /i2a, rilb erreichten Endpotentiale sind in Fig. 3 gestrichelt eingezeichnet und werden in Fig. 4 durch den
Zeitpunkt /3 gekennzeichnet. Tastet man die Spannung am Ausgang A nach den Zeitpunkten (1 und i3 und
jeweils vor dem nächstfolgenden Impuls PT ab, so ergibt sich ohne den vorstehend beschriebenen Rückkopplungsvorgang ein hoher Spannungspegel von URK,
der einem in Substrat 1 übertragenen niedrigen logisehen Signalpegel bzw. einer logischen »0« entspricht,
beim Auftreten eines Rückkopplungsvorganges dagegen ein niedriger Spannungspegel von URK, der einem
in 1 übertragenen hohen logischen Sognalpegel bzw. einer logischen »1« entspricht.
Das zweite Referenzpotential Or2 entspricht einem
Zwischenwert der sich an A und unterhalb von rila, rilb
ergebenden Potentialänderungen. Dabei wird der Wert von Og2 so gewählt, daß die Potentialschwelle unterhalb
von Rl nur von solchen Ladungsträgerpaketen überschritten werden kann, die eine logische »1« kennzeichnen. Vorgetäuschte »!«-Signale, die beispielsweise
durch den Dunkelstromeinfluß während des Verschiebens in 1 gebildet werden, füllen den Potentialtopf
unterhalb von «2a, rilb nicht bis zur Höhe der Potentialschwelle auf, verursachen keine Potentialverschiebungen im Bereich von sA und damit auch nicht unterhalb
von rila und rilb. Daher werden derartige Fehlereinflüsse nicht berücksichtigt und können den Spannungshub am Ausgang A nicht verringern.
Die in Verbindung mit Fig. 1 beschriebenen Leitfähigkeitsverhältnisse des Substrats 1 und der Schichten 3
und 4 können auch gegeneinander vertauscht werden. Darüber hinaus können beliebig ausgebildete Ladungsverschiebeanordnungen, darunter auch solche, die in
anderer Weise getaktet werden, wie beschrieben ausgebildet sein. In jedem Fall ist jedoch die letzte vor dem
entgegengesetzt dotierten Ausgangsgebiet angeordnete Verschiebeelektrode von der ihr üblicherweise zugeordneten Taktspannung freigeschaltet und mit einer über eo
einen Schaltungspunkt der ausgangsseitigen Transistorschaltung abgeleiteten Spannung beaufschlagt, die bei
einer Verschiebung eines Ladungsträgerpakets in das ausgangsseitige Gebiet entgegengesetzter Leitfähigkeit
eine Amplitudenänderung erfährt, die den sich unter dem Einfluß der Taktspannungen ergebenden Potentialänderungen unterhalb der Verschiebeelektroden
entspricht.
In Fig. S ist eine mit den gleichen Bezugsszeichen
angedeutete Ladungsverschiebeanordnung nach Fig. 1 ülier ihren Schaltungsausgang A mit einer zweiten, ähnlich aufgebauten Ladungsverschiebeanordnung verbunden, deren p-dotiertes Substrat mit Γ bezeichnet ist.
AJs Ladungsträger-Injektor dient ein n+-dotiertes
Gebiet 3'. Eine Eingangselektrode EV ist mit A verbunden. Eine zwischen 3' und EV angeordnete Kombination von Referenzelektroden RE dient zur Bildung
eines Potentialtopfes /»75 und einer Potentialschwelle PSl. Zwischen den einzelnen positiven Spannungsi impulsen P'" einer an einem Anschluß 3" liegenden Spannung Uid in das Substrat 1' injizierte Ladungsträger
gelangen beim Auftreten eines hohen Signalpegels von URK in den dann gebildeten Potentialtopf PT6, während
sie bei Auftreten eines niedrigen Signaipegeis von u„K
einen solchen nicht vorfinden und während des folgenden Impulses P" wieder in die Schicht 3' bzw. in PTS
zurückfließen. Auf diese Weise wird unterhalb von El' eine Folge von Ladungsträgerpaketen gebildet, die
immer dann auftreten, wenn über das Gebiet 4 gerade das Fehlen eines Ladungsträgerpaketes unterhalb von
nib festgestellt wird. Die in PT6 gebildeten Ladungsträgerpakete werden hiervon ausgehend in dem Substrat Γ
mittels üblicherweise über die Anschlüsse VSl, VS2 usw. getakteter Verschiebeelektroden in Richtung auf
den rechtsseitigen Ausgang der Gesamtanordnung in Fig. 5 weitertransportiert.
Claims (6)
- Patentansprüche:L Digitale Ladungsverschiebeanordnung mit einer Halbleiterschicht eines ersten Leitfähigkeilstyps, einer darüber isoliert angeordneten Reihe von Verschiebeelektroden, die mit gegeneinander phasenverschobenenTaktspannungen beaufsichtigt sind, und einem ausgangsseitigen Gebiet entgegengesetzter Leitfähigkeit, das einerseits mit einem ein erstes Referenzpotential intermittierend zuführenden Schalter und andererseits mit dem Eingang einer Transistorstufe verbunden ist, bei dem zwischen der letzten dem ausgangsseitigen Gebiet vorgeordenten Verschiebeelektrode und diesem eine weitere gegen die Halbleiterschicht isolierte Elektrode angeordnet und mit einem zweiten Referenzpotential beschältet ist. dadurch gekennzeichnet, daß die letzte dem ausgangseitigen Gebiet (4) vorgeordnete Verschiebeelektrode (nla, n2b) potentialmäßig mit einem Schaltungspunkt (A) der Transistorstufe (72) gekoppelt ist, der bei der Verschiebung einer den einen logischen Pegel (»1«) darstellenden Ladungsträgermenge in das ausgangsseitige Gebiet (4) eine Potentialänderung erfährt, die den Potentialänderangen unter den übrigen Verschiebeelektroden (Ha, 11t; 12a, 12f> . . .) etwa entspricht, und daß das zweite Referenzpotential einem von dem Potential am Schaltungspunkt (A) überstrichenen Zwischenwert entspricht.
- 2. Ladungsverschiebeanordnung nach Anspruch1, dadurch gekennzeichnet, daß der Schaltungspunkt (A) aus dem Verbindungspunkt der Source-Drain-Strecke eines Feldeffekttransistors (72) und einem Lastelement (6) besteht, die in Serie zueinander an eine Versorgungsspannung geschaltet sind.
- 3. Ladungsverschiebeanordnung nach Anspruch2, dadurch gekennzeichnet, daß der Schaltungspunkt (A) aus dem Source-Anschluß eines als Source-Folger geschalteten Feldeffekttransistors (72) besteht.
- 4. Ladungsverschiebeanordnung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Schaltungspunkt (A) gleichzeitig den digitalen Schaltungsausgang bildet.
- 5. Ladungsverschiebeanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Drain-Anschluß des Feldeffekttransistors 72 mit einer der Taktspannungen (Ul) beschaltet ist.
- 6. Ladungsverschiebeanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnedt, daß der Schaltungspunkt (A) mit der Eingangselektrode (£1') einer weiteren Ladungsverschiebeanordnung (1', 3') verbunden ist (Fig. 5).
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2721039A DE2721039C2 (de) | 1977-05-10 | 1977-05-10 | Digitale Ladungsverschiebeanordnung |
US05/897,939 US4242600A (en) | 1977-05-10 | 1978-04-19 | Digital CCD arrangement |
FR7812929A FR2390802A1 (fr) | 1977-05-10 | 1978-05-02 | Dispositif numerique a transfert de charge |
IT22955/78A IT1095739B (it) | 1977-05-10 | 1978-05-03 | Dispositivo a spostamento di carica digitale |
JP53054355A JPS6012720B2 (ja) | 1977-05-10 | 1978-05-08 | デイジタル電荷転送デバイス |
CA302,952A CA1124403A (en) | 1977-05-10 | 1978-05-09 | Digital ccd arrangement |
GB18384/78A GB1599830A (en) | 1977-05-10 | 1978-05-09 | Arrangements |
BE187575A BE866926A (fr) | 1977-05-10 | 1978-05-10 | Dispositif numerique a transfert de charge |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2721039A DE2721039C2 (de) | 1977-05-10 | 1977-05-10 | Digitale Ladungsverschiebeanordnung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2721039A1 DE2721039A1 (de) | 1978-11-16 |
DE2721039C2 true DE2721039C2 (de) | 1986-10-23 |
Family
ID=6008536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2721039A Expired DE2721039C2 (de) | 1977-05-10 | 1977-05-10 | Digitale Ladungsverschiebeanordnung |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4242600A (de) |
JP (1) | JPS6012720B2 (de) |
BE (1) | BE866926A (de) |
CA (1) | CA1124403A (de) |
DE (1) | DE2721039C2 (de) |
FR (1) | FR2390802A1 (de) |
GB (1) | GB1599830A (de) |
IT (1) | IT1095739B (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5848464A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Nec Corp | 電荷転送装置 |
US4513431A (en) * | 1982-06-07 | 1985-04-23 | International Business Machines Corporation | Charge coupled device output circuit structure |
NL8500863A (nl) * | 1985-03-25 | 1986-10-16 | Philips Nv | Ladingsoverdrachtinrichting. |
JPS6229802U (de) * | 1985-07-31 | 1987-02-23 | ||
JP2509740B2 (ja) * | 1989-07-07 | 1996-06-26 | 株式会社東芝 | 電荷転送装置 |
US5748035A (en) * | 1994-05-27 | 1998-05-05 | Arithmos, Inc. | Channel coupled feedback circuits |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2501934C2 (de) * | 1974-01-25 | 1982-11-11 | Hughes Aircraft Co., Culver City, Calif. | Verfahren zum Betrieb eines ladungsgekoppelten Halbleiter-Bauelementes und ladungsgekoppeltes Halbleiter-Bauelement zur Durchführung dieses Verfahrens |
US3937985A (en) * | 1974-06-05 | 1976-02-10 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Apparatus and method for regenerating charge |
US3986059A (en) * | 1975-04-18 | 1976-10-12 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Electrically pulsed charge regenerator for semiconductor charge coupled devices |
DE2541686A1 (de) * | 1975-09-18 | 1977-03-24 | Siemens Ag | Regenerierschaltung fuer ladungsgekoppelte elemente |
US4047051A (en) * | 1975-10-24 | 1977-09-06 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for replicating a charge packet |
US4092549A (en) * | 1976-12-20 | 1978-05-30 | Hughes Aircraft Company | Charge comparator |
-
1977
- 1977-05-10 DE DE2721039A patent/DE2721039C2/de not_active Expired
-
1978
- 1978-04-19 US US05/897,939 patent/US4242600A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-05-02 FR FR7812929A patent/FR2390802A1/fr active Granted
- 1978-05-03 IT IT22955/78A patent/IT1095739B/it active
- 1978-05-08 JP JP53054355A patent/JPS6012720B2/ja not_active Expired
- 1978-05-09 GB GB18384/78A patent/GB1599830A/en not_active Expired
- 1978-05-09 CA CA302,952A patent/CA1124403A/en not_active Expired
- 1978-05-10 BE BE187575A patent/BE866926A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6012720B2 (ja) | 1985-04-03 |
IT7822955A0 (it) | 1978-05-03 |
FR2390802A1 (fr) | 1978-12-08 |
FR2390802B1 (de) | 1983-08-19 |
JPS53139940A (en) | 1978-12-06 |
DE2721039A1 (de) | 1978-11-16 |
BE866926A (fr) | 1978-09-01 |
CA1124403A (en) | 1982-05-25 |
GB1599830A (en) | 1981-10-07 |
IT1095739B (it) | 1985-08-17 |
US4242600A (en) | 1980-12-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2144235C3 (de) | Verzögerung sanordnung | |
DE1272981B (de) | Torschaltung mit Feldeffekttransistoren | |
DE2159192A1 (de) | Feldeffektspeichertransistor mit isolierter Gate Elektrode | |
DE2653688A1 (de) | Betriebsschaltung fuer ladungstraegergekoppelte halbleiterbauelemente | |
DE1964956C3 (de) | Übertragungsstufe, insbesondere für Schieberegister | |
DE2363089C3 (de) | Speicherzelle mit Feldeffekttransistoren | |
DE2622307C2 (de) | Integrierte Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE2721039C2 (de) | Digitale Ladungsverschiebeanordnung | |
DE2513165C2 (de) | Transistorspeicherelement mit einer bistabilen digitalen Kippschaltung | |
DE3244322A1 (de) | Schnell arbeitender analog/digital-umsetzer | |
DE2736326C3 (de) | CCD-Subtrahierer | |
DE2255210C3 (de) | Datenspeicherschaltung | |
DE1947937A1 (de) | Inverter mit Isolierschicht-Feldeffekttransistoren | |
DE2543615A1 (de) | Regenerierstufe fuer ladungsverschiebeanordnungen | |
DE2852117A1 (de) | Regenerationsschaltung | |
DE2844248C3 (de) | Ladungsübertragungsanordnung | |
DE2103276C3 (de) | Dynamisches Schieberegister | |
DE2703317A1 (de) | Ladungsgekoppelte korrelatoranordnung | |
DE4433869C2 (de) | Bidirektionales CCD | |
DE2430947C2 (de) | Halbleiterspeichereinheit | |
EP0046549B1 (de) | Ausgangsstufe einer monolithisch integrierten Ladungsverschiebeanordnung | |
EP0025169B1 (de) | Integrierte Schaltung mit zwei CTD-Anordnungen | |
DE2739086C2 (de) | Verfahren zum Betrieb eines dynamischen Halbleiter-Speicherelementes und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE1261883C2 (de) | Elektronischer impulsspeicher | |
DE2313795C3 (de) | Bipolare IGFET-Schaltung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAM | Search report available | ||
OC | Search report available | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |