DE2255210C3 - Datenspeicherschaltung - Google Patents
DatenspeicherschaltungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Datenspeicherschaltung mit einem Halbleiterbauelement, das zwei verschiedene
Zustände annehmen kann. Die Datenspeicherschaltung ist für Schieberegister, insbesondere für dynamische
Schieberegister, in denen Information statisch speicherbar
ist, geeignet.
Dynamische Schieberegister erfordern normalerweise weniger Schaltungselemente und sind daher
weniger kostspielig als statische Schieberegister. Jedoch verwenden dynamische: Schieberegister Kondensatoren
3 ^4
für die zeitweilige Speicherung, und während des Um- dioxyd-Doppelschicht besteht und der gewöhnlich als
laufs der gespeicherten Daten muß Energie in die Re- MNOS-Transistor (MetaU-Nitrid-Oxyd-Sflicium) begister
eingegeben werden, um den Ladungsverlust in zeichnet wird. Ein solcher MNOS-Transistor kann naci
diesen Kondensatoren zu kompensieren. Dynamische üblichen Verfahren für MOS-Transistoren (Metall-Schieberegister
kommen daher im allgemeinen mit 5 Oxyd-Halbleiter) hergestellt werden, außer daß unemem
geringeren Schaltungsaufwand aus als statische mittelbar vor dem Metallisierungsvorgang das Gate-Schieberegister,
benötigen jedoch mehr Betriebsener- Oxyd sehr dünn gemacht und zwischen dem Siliciumgie,
und außerdem ist wie bei anderen dynamischen dioxyd und der Gate-Elektrode eine Nitridschicht anSystemen
die Möglichkeit des Auftretens von Fehlern gebracht wird. Der so erhaltene Transistor kann entverhältnismäßig
groß, da die einzelnen Stufen ständig io weder einen P-Kanal oder einen N-Kanal haben und
zwischen verschiedenen Betriebszuständen geschaltet weist zwei die beiden Enden des stromführenden
werden. Em weiterer Nachteil von mit Halbleiterbau- Kanals bildende Hauptelektroden sowie eine Gate
elementen arbeitenden Schieberegistern besteht darin, Elektrode zum Steuern der Stromleitung im Kanal auf
daß die gespeicherte Information zerstört werden kann, Der Transistor hat die gleichen allgemeinen Eigenwenn
die Energiezufuhr auch nur kurzzeitig unter- 15 schäften wie ein herkömmlicher MOS-Transistor,
brechen wird. außer daß auf Grund der zusätzlichen isolierenden
keiten vermeidet. Fig. 1 zeigt in idealisierter Darstellung die Hystere-
Eine Datenspeicherschaltung der eingangs genann- sischarakteristik der Schweilenspannung Vt als Funkten
Art ist erfindungsgemäß gekennzeichnet durch tion der anliegenden Gate-Substrat-Spannung (Kess]
eine Einrichtung, die zur dynamischen Übertragung für einen P-Kanal-M NOS-Feldeffekttransistor. Vt ist
von binären Datenbits durch die Speicherschaltung as definiert als diejenige Gate-Source-Spannung, bei dei
das Halbleiterbauelement auf den einen Zustand ein- ein Stromfluß im Kanal des Feldeffekttransistors einstellt
und in diesem Zustand hält; und durch eine Ein- setzen kann. Der mit Vtl bezeichnete Punkt entspricht
richtung zum statischen Speichern der Datenbits mit dem Tiefwert von Vt, und der mit Vth bezeichnete
einer Einrichtung, die bei Empfang einer Steuerspan- Punkt entspricht dem Hochwert von Vt- Beispielsweise
nung und des der Schaltung zugeleiteten Bits das Halb- 30 kann Vtl den Wert -2 Volt und Vth den Wert
leiterbauelement, wenn das zugeleitete Bit den einen —10 Volt haben. Die Bezugsspannungen Vrbf* und
Wert hat, in den einen Zustand und, wenn das züge- Vrbf~ sind diejenigen Gate-Source-Spannungen, bei
leitete Bit den anderen Wert hat, in den anderen Zu- denen der Feldeffekttransistor seinen Zustand ändert,
stand schaltet Es wird also je nach dem Wert des ein- d. h. umschaltet. Die Werte von Vrbf* und Vrbf
gegebenen Datenbits die Schweilenspannung des Halb- 35 hängen von dem jeweils verwendeten Bauelement so·
leiterbauelements auf entweder den einen oder den wie von der verwendeten Impulsbreite ab; im vorlie·
anderen der beiden Zustände eingestellt. genden Fall sei vorausgesetzt, daß diese Werte zwi·
nung im einzelnen erläutert. Es zeigt wenn zwischen Gate und Substrat (oder Halbleiter
Fig. 1 ein idealisiertes Diagramm der Schwellen- 40 körper) eine Spannung von 15 Volt in einer die Stromspannung
(Vt) als Funktion der angelegten Gate- leitung unterbindenden Polarität gelegt wird, schaltet
Substrat-Spannung eines für die erfindungsgemäße der Transistor auf die niedrige Schwelknipannunf
Schaltung verwendbaren MNOS-Transistors; (Vtl), während bei Anlegen einer Spannung vor
gebendes Diagramm; tat der Transistor auf die hohe Schwellenspannunj
erfindungsgemäßer Datenspeicherschaltung; und Fig. 2 zeigt die Arbeitscharakteristik des P-Kanal·
wiedergibt. beträgt die Schweilenspannung (Vtl) —2 Volt, wäh
für die erfindungsgemäße Datenspeicherschaltung (Vth) beträgt. Das heißt, im einen Fall (Kurve A
geeignet ist, hat eine veränderliche Schweilenspannung erfolgt Stromleitung, wenn die Gate-Elektrode uir
(Vt), die auf elektrischem Wege auf je einen von 55 2 Volt negativer ist als die Source-Elektrode, und in
mehreren Werten eingestellt werden kann, indem man anderen Fall (Kurve B) erfolgt Stromleitung, wem
zwischen die Steuerelektrode (Gate-Elektrode) und die Gate-Elektrode um 10 Volt negativer ist als di<
das Substrat des Bauelements eine Spannung mit einer Source-Elektrode. Sobald die Schweilenspannung Vj
einen gegebenen Wert übersteigenden Amplitude legt, einmal eingestellt ist, verhält sich der MNOS-Transistoi
wobei die eingestellte Schwelienspannung (VT) über 6o wie ein MOS-Transistor mit dieser gegebenen Schwel
einen erheblichen Zeitraum erhalten bleibt. Zu dieser lenspannung, vorausgesetzt, daß die Gate-Spannunj
effekttransistoren mit einem MIS-Aufbau (Metall- spannung übersteigt.
den kann. 65 Stufen eines «-stufigen Schieberegisters, wobei die
fassendes Beispiel hierfür ist ein Feldeffekttransistor, hat einen ersten. Abschnitt (P-Kanal-Feldeffekttran-
dessen Isolierschicht aus einer Siliciumnitrid-Silicium- sistoren Tl, Tl, TS), der durch einen ersten Takt-
5 6
impuls (^1) gesteuert wird, und einen zweiten Abschnitt Vs1 und Fd1 auf +20 Volt und die Spannungen VSi,
(P-Kanal-Peldeffekttransistoren TA, TS, Γ6), der durch VDt sowie die Taktimpulse ^1 und ^1 auf 0 Volt geeinen
zweiten Taktimpuls (<pt) gesteuert wird. Der die schaltet.
Datensignale empfangende Eingang 16 ist an die Gate- Bei Fu1 = +20 Volt und ^1 = 0 Volt ist der Tran-Elektrode
des verstärkenden und polaritätsumkehren- 5 sistor Tl leitend und erscheint am Schaltungspunkt 30
den Transistors Π angeschlossen. Die Source-Drain- im wessntlichen die volle FD^-Spannung von +20VoIt.
Strecke dieses Transistors Γ1 liegt zwischen einem Bei Vs1 — +20 Volt ist der. Transistor Ti, dessen
Anschluß'3, dem eine Betriebsspannung Ks1 zugeleitet Gate-Spannung entweder 0 oder -10 Volt beträgt,
ist, und einem Schaltungspunkt 30. Die Source-Drain- ebenfalls leitend und liegt am Schaltungspunkt 30 im
Strecke des als Last arbeitenden Transistors Tl liegt io wesentlichen die volle Fs !-Spannung. Selbst wenn der
zwischen dem Schaltungspunkt 30 und einem An- Transistor TX gesperrt wäre, würde die Spannung von
Schluß; 5, dem eine Betriebsspannung Vd1 zugeleitet +20 Volt am Schaltungspunkt 30 dadurch nicht beist.
Die Source-Drain-Strecke des als Torelement ar- einflußt. Der Transistor Γ3 ist leitend, da seine (dem
beitenden Transistors T3 liegt zwischen dem Schal- Schaltungspunkt 30 gemeinsame) Source-Elektrode
tungspunkt 30 und der Gate-Elektrode 46 des Tran- 15 +20 Volt und seine Gate-Elektrode 36 eine Spannung
sistors TA. Ein Anschluß 7, dem der ^-Taktimpuls von 0 Volt (^1 = 0) führt. Es gelangt daher zur Gatezugeleitet ist, ist an die Gate-Elektrode 26 des Tran- Elektrode 46 des Transistors TA im wesentlichen die
sistors Tl und an die Gate-Elektrode 36 des Tran- volle Spannung von +20 Volt von Vd1 und VSl. Die
sistors Γ3 angeschlossen. Spannung von +20 Volt an der Gate-Elektrode des
Der als Verstärker und Polaritätsumkehrer arbei- »o Transistors TA ergibt sich durch Aufladung der Gatetende
Transistor TA ist ein MNOS-Feldeffekttransistor Kapazität über die Kanäle der Transistoren Tl und
mit den oben erläuterten, in Fig. 1 und 2 wiedergege- T3. Dies beansprucht eine endliche Zeitspanne,
benen. Eigenschaften. Um ihn von den anderen Tran- Bei Fu2 = 0 Volt und q>t — 0 Volt sind die Transistoren
der Stufe zu unterscheiden, sind bei ihm sistoren TS und Γ6 gesperrt und liegt der Schaltungszwischen
der Gate-Elektrode und dem Halbleiter- »5 punkt 60 an keinerlei Potential. Da dem Schaltungskörper Strichelchen gezeichnet. Die Source-Drain- punkt 60 niemals eine positive Spannung zugeführt ist.
Strecke des Transistors TA liegt zwischen einem beträgt sein Potential 0 Volt oder weniger. Mithin
Schaltungspunkt 60 und einem Anschluß 9, dem eine führt die an den Schaltungspunkt 60 angeschlossene
Betriebsspannung Fs1 zugeleitet ist. Die Source- Elektrode (Drain-Elektrode) des Transistors TA eine
Drain-Strecke des als Last arbeitenden Transistors TS 30 Spannung von höchstens 0 Volt, und die an den Anliegt
zwischen dem Schaltungspunkt 60 und einem schluß 9 angeschlossene Elektrode (Source-Elektrode)
Anschluß 11, dem eine Bttriegsspannung FDi züge- des Tiansistors TA führt die Spannung VSt, die ebenleitet
ist. Die Source-Drain-Strecke des als Torelement falls 0 Volt beträgt. Der Transistor Γ4 führt daher an
arbeitenden Transistors T6 liegt zwischen dem Schal- seiner Gate-Elektrode eine Spannung von +20 Volt
tungspunkt 60 und der Gate-Elektrode 16 a eines 35 und an seiner Source-Drain-Strecke eine Spannung
Transistors TIa. Ein Anschluß 13, dem der 9~t-Takt- von 0 Volt, und durch diese Spannungen wird der
impuls zugeleitet wird, ist an die Gate-Elektrode 56 Transistor TA (sowie sämtliche entsprechenden M NOS-des
Transsitors TS und an die Gate-Elektrode 66 des Transistoren in den anderen Registerstufen) auf den
Transistors T6 angeschlossen. Die gestrichelt darge- niedrigen Schwellenspannungszustand (Ftl) eingestellten
Kondensatoren Cl und Cl stellen die Gesamt- 40 stellt
kapazität der Schaltungspunkte 16 bzw. 46 dar. Diese Bei auf ungefähr —2 Volt eingestelltem VT der
Kondensatoren speichern zeitweilig die den entspre- MNOS-Transistoren und bei ungefähr auf dem gleichenden
Schaltungspunkten zugeleitete Ladung. chen Wert befindlichem VT der übrigen MOS-Tran-
Die zweite Stufe (sowie die nicht gezeigten nachge- sistoren kann das Register als ein übliches dynamisches
schalteten weiteren Stufen) ist in ihrem Aufbau und 45 Schieberegister betrieben werden. Die dem Register
in ihrer Arbeitsweise der ersten Stufe identisch, und während dieser Phase zugeleiteten Spannungen sind
ihre entsprechenden Schaltungselemente sind mit den in F ig. 4 für das Zeitintervall Pl gezeigt Die während
gleichen Bezugszeichen wie die betreffenden Schal- des Intervalls Pl den Transistoren zugeleiteten Spantungselemente
der ersten Stufe, jedoch mit angefügtem nungen werden zwischen 0 und —10 Volt gehalten, um
Kiembuchstaben α bezeichnet so sicherzustellen, daß die MNOS-Transistoren nicht
Die Arbeitsweise der Schaltungsanordnung nach aber den kritischen Wert von IS Volt hinaus bean-F
ig. 3 wird am besten an Hand der Signal verlaufe spracht werden. Die normale Betriebsart einer Stufe,
nach Fig. 4 verständlich.'Während des Zettintervalls die aligemein bekannt ist, ist in Kürze wie folgt:
P\ sind sämtliche MNOS-Transistoren auf den Zu- Ein Datenemgangssigaal, das entweder 0 Volt (willstand
ihrer niedrigen Schwellenspannung (Vtl) von 55 kurlich definiert als binäre »0«) oder -10 Volt (will-
-2 Volt eingestellt, die ungefähr gleich der Schwellen- kürlich definiert als binäre »I«) betragen kann, wird
spannung VT der MOS-Transistoren der Schaltung ist dem Dateneingang 16 zugeleitet Dieses Datensignal
Die Schwellenspannung VTl des M N OS-Transistors wird mittels eines aktivierenden φ,-Takttmpulses in
braucht nicht genau gleich der Schwellenspannung VT den ersten Abschnitt eingeschleust and vorübergehend
der MOS-Transistoren zu sein, muß jedoch in der Nähe 6o (in polaritätsverkehrter Form) in der Schaitungskapadieser
Schwelknispannung liegen. Unter dieser Voraus- zität (C2) des zweiten Abschnitte gespeichert. Das vorsetzung
arbeitet das Schieberegister als ein herkömm- übergehend gespeicherte Signal wird vom Schaltungsliches
dynamisches Register mit Infonnationsüber- punkt 46 unter Steuerung durch ein» ^Traktimpuls
tragung von Stufe zu Stufe durch das Register. Um rom Ausgangspunkt Ifα übertrafen end dabei aberdie
MNOS-Transistoren auf den Fri.-Zustand einzu- «5 mais in seiner Polarität umgekehrt Der Schahungssteflen,
wird zwischen Gate-Elektrode und Halbleiter- punkt 16a ist natürlich der Sileiga für die
körper der Transistoren eine Sperrspannung von 20 nächstfolgende Stufe. Während de» dynamischen BeVolt
gelegt. Zu diesem Zweck werden die Spannungen triebs können beide Taktinipulse ψχ und φ, den Wert
J 2 255 210
j 7 8
j, \ 0 Volt haben, jedoch dürfen nicht beide gleichzeitig haben, sind die Transistoren 7*2 und 73 ebenfalls
e- j den Wert —10 Volt (Aktivierungswert) haben. Wäh- leitend. Die Transistoren 7*1 und Tl sind leitend,
j rend des dynamischen Betriebs sind normalerweise indem ihre Source-Drain-Strecken in Reihe zwischen
i- i zunächst ψχ= —10 und ψ2 = 0, dann 9J1 = φ2 = 0, Ksi und Vdx liegen. Jedoch liegt, da die Impedanz des
· dann φΛ = 0 und φ2 = —10, dann ^1 = 9J2 = 0, 5 Transistors 7*2 im leitenden Zustand erheblich größer
t. { woraufhin sich der Zyklus wiederholt. ist als die des Transistors 7*1 und da Ks1 bei 0 Volt
η Wenn ψχ, das normalerweise 0 Volt, ist auf — 10 Volt liegt, die Spannung am Schaltungspunkt 30 auf Grund
t,- schaltet, werden die Transistoren T3 und Tl einge- von Spannungsteilerwirkung dicht bei 0 Volt. Der
η schaltet (leitend). Bei leitendem Transistor Tl (d. h. Transistor 7*3 koppelt die am Schaltungspunkt 30 an-T
—10 Volt an seiner Gate-Elektrode) sind die Transisto- 10 stehende Spannung von ungefähr 0 Volt auf die Gaten
ren Tl und Tl beide leitend, indem ihre Source- Elektrode 46 des Transistors TA. Die Gate-Spannung
Drain-Strecken in Reihe zwischen Vdx (- 10 Volt) und des MNOS-Transistors TA liegt somit dicht bei 0 Volt,
η Ksi (0 Volt) liegen. Die Transistoren sind so ange- und die Source-Drain-Strecke führt ebenfalls eine
e ' fertigt, daß die Impedanz des Last-Transistors Tl im Spannung von oder nahe 0 Volt. Die Beaufschlagung
g leitenden Zustand erheblich größer ist als die des 15 des MNOS-Transistors 7*4 mit Gate-Substrat-Span-Verstärker-Transistors
7*1. Auf Grund von Spannungs- nung ist somit niedriger als der kritische Wert von
ie teilerwirkung liegt daher die Spannung am Schaltungs- 15 Volt, und der Transistor bleibt ungestört in seinem
punkt 30 nahe bei Massepotential, und es sei hier vor- Krj-Zustand, auf den er zuvor eingestellt worden ist.
•s ! ausgesetzt, daß sie tatsächlich auf Massepotential Wenn daher der Transistor 7*1 leitet, ist die Spannung
(0 Volt) liegt. Der Tor-Transistor 7*3 mit —10 Volt an ao am Schaltungspunkt 30 stets positiver als —15 Volt,
j j seiner Gate-Elektrode ist leitend und koppelt das und die Schwellenspannung des MNOS-Transistors
0-Volt-Signal am Schaltungspunkt 30 zur Gate-Elek- bleibt auf Vtl eingestellt.
trodc 46, die den Kondensator Cl auf 0 Volt auflädt. Es sei jetzt angenommen, daß unter den obiger
Wenn φχ auf — 11 Volt schaltet, leiten bei gesperrtem Voraussetzungen der Transistor 7*1 gesperrt ist (d. h.
Transistor 7*1 (d. h. 0 Volt an seiner Gate-Elektrode) as 0 Volt am Eingang 16). Bei gesperrtem Transistor 7*1
die Transistoren Tl und T3 »m Source-Folgerbetrieb, und leitenden Transistoren 7*2 und 7*3 geht sie Spanwodurch
die Spannung an der Gate-Elektrode 46 des nung am Schaltungspunkt 30 gegen —20 Volt. Dei
Transistors 7*4 in negativer Richtung gegen —10 Volt Transistor T3 leitet im Source-Folgerbetrieb, wodurch
gedruckt wird. Auf Grund der Schwellenspannungs- der Kondensator Cl auf annähernd den Pegel vor
abfalle der Transistoren Tl und T3 (voraussetzungs- 30 —20 Volt aufgeladen wird. Wegen der Schwellengemäß —2 Volt) wird die Spannung an der Gate- spannungsabfäüe der Transistoren Tl und 7*3 isl
Elektrode 46 auf ungefähr —6 Volt begrenzt. Wenn jedoch die tatsächliche Spannung etwas positiver ah
der Impuls 9J1 auf 0 Volt zurückschaltet, werden die —20 Volt (z. B. —16 Volt). Der Transistor TA hat
Transistoren Tl und Γ3 gesperrt, und die Spannung an somit an seiner Gate-Elektrode eine Spannung vor
der Gate-Elektrode 46 bleibt wegen der Haltewirkung 35 ungefähr —16 Volt und an seiner Source-Drain·
der Kapazität Cl an der Gate-Elektrode 46 erhalten. Strecke eine Spannung von ungefähr 0 Volt. Es liegi
Es erzeugt also, wenn der Taktimpuls 9P1 von 0 Voll also an der Gate-Isolation eine Spannung von mehl
auf —10 Volt schaltet, der Abschnitt 1 jeder Stufe an als 15 Volt, und zwar in einer den Transistor leitenc
seinem Ausgangspunkt (46) das Komplement des am machenden Polarität. Diese Spannung übersteigt der
Eingang 16 anstehenden Datensignals. 40 kritischen Wert von 15 Volt und reicht aus, um der
Der Abschnitt 2 jeder Stufe arbeitet bei auf Vtl Transistor in seinen hohen Schwellenspannungszustanc
eingestelltem VT des MNOS-Transistors (z. B. TA) in {Vth) zu schalten.
der gleichen Weise wie der Abschnitt 1. Und zwar Bei den Schaltungsspannungen entsprechend den
erzeugt der Abschnitt 2 an seinem Ausgang 16a das Intervall P3 in Fig. 4 bleibt also, wenn am Eingang K
—10 Volt schaltet. So wird im Anschluß an die Eingabe Stufe auf Vtl, während, wenn am Eingang 16 eine
eines Taktimpulses φ, und eines Taktimpulses 9"2 ein Stufe eine binäre »0« (0 Volt) ansteht, der MNOS
gang 16a der nächsten Stufe fibertragen. 5« eingestellt wird.
impulsen seriell m das Register eingeben und die in Durchführung des für das Zeitintervall P3 beschrie
der oben beschriebenen Weise in das Register einge- benen Vorganges nach Beladen des Registers die Zu
gebene Information dann statisch und leistungslos stände der MNOS-Transistoren {Vtl oder Vτα) dei
speichern, indem man die verschiedenen Betriebs- 55 zuvor dynamisch an den verschiedenen Eingängen 16
spannungen in der für das Zeitintervall P3 in Fig. 4 16e, 16fc ... 16n gespeicherten BHs entsprechen. So
gezeigten Weise verändert. Und zwar werden Vs1, bald diese Vorgänge durchgeführt sind, kann die Be
sowie der Taktimpuls φχ auf —20 Volt geschaltet. abgeschaltet werden, und die MNOS-Transistorei
die Transistoren Γ5 und Tb gesperrt. Die Spannung Zuständen, auf die sie eingestellt sind, so daß sie di
am Schaltungspunkt 60 beträgt ungefähr 0 Volt (wie Registerdaten über diesen Zeitraum speichern
oben erläutert), und da Ks1 an 0 Volt angeklammert Die im Register statisch gespeicherte Infonnatioi
ist, beträgt die vom Substrat der MNOS-Transistoren kann nach dem Zeitraum der leistungtlosen Speiche
angenommene Spannung ungefähr 0 Volt. 65 rung wieder herausgeholt werden, indem man den
am Esr.gang !6). Wenn VDt und y,den Wert -20 Volt Zeitintervall von P40 bis /»41 die Spannungen Vs
und <p2 auf 0 Volt und Vs1, VDv Vn z und ^1 auf
-10 Volt geschaltet. Fs1 wird auf - IO Volt geschaltet,
um sicherzustellen, daß auch bei leitendem Transistor Tl die Spannung am Schaltungspunkt 30 dadurch nicht
beeinflußt wird.
Wenn Kd1 und φ1 den Wert - IO Volt haben, leiten
die Last-Transistoren (Γ2, TIa) und die Tor-Transistoren
(Γ3, T3a) im Abschnitt 1 sämtlicher Stufen im Source-Folgerbetrieb unter Entladung der Schaltungskapazitäten
(C2, CIa) gegen -Vd1 Volt. Bei
Arbeiten im Source-Folgerbetrieb ergibt sich an jedem Transistor ein Spannungsabfall, der gleich ist seiner
Schwellenspannung, die voraussetzungsgemäß 2 Volt beträgt. Die auf die Gate-Elektrode der Transistoren
TA und TAa gekoppelte Spannung beträgt daher annähernd —6 Volt.
Die an der Gate-Elektrode des MNOS-Transistors
T4 auftretende Spannung von —6 Volt liegt in der Mitte des Bereiches zwischen VTl ( — 2 Volt) und Vth
(—10 Volt), und als Folge davon bleiben die auf Vth eingestellten MNOS-Transistoren gesperrt, während
die auf VTl eingestellten Transistoren leitend werden.
Wenn der Taktimpuls ^1 zum Zeitpunkt PAl in
Fig. 4 auf 0 Volt zurückgeschaltet wird, bleiben die Gate-Elektroden der MNOS-Transistoren auf Grund
der in ihren Kapazitäten angesammelten Ladung auf -6 Volt. Durch einen zum Zeitpunkt /»41 auf —10
Volt geschalteten Taktimpuls ^2 werden die Tor-Transistoren
im Abschnitt 2 sämtlicher Stufen leitend gemacht und die Ausgänge (Schaltungspunkt 60, 60a ...
usw.) der MNOS-Transistoren mit dem Eingang (16a, 16b ... usw.) der jeweils nächsten Stufe gekoppelt.
Wenn beispielsweise der Transistor TA auf Vtl eingestellt ist und folglich leitet, so liegt die Spannung am
Schaltungspunkt 60 dicht bei 0 Volt, und diese Spannung wird durch den Transistor T6 auf den Eingang
des Transistors 7"Ia gekoppelt. Wenn jetzt der Transistor
TAa auf Vth eingestellt ist, so leitet er nicht,
und der Schaltungspunkt 60a wird gegen —10 Volt
aufgeladen, und diese Spannung wird über den Tor-Transistor T6a auf den Eingang 166 des Transistors
TIb (nicht gezeigt) der nächsten Stufe gekoppelt.
Der Schwellenspannungszustand der Transistoren,
Der Schwellenspannungszustand der Transistoren,
der entsprechend gegebenen Binärdaten eingestellt worden ist, wird daher in normale Spannungswerte
rückgewandelt und um einen Abschnitt nach unten verschoben. Die in den MNOS-Tramsistoren gespeicherten
Daten werden somit wiedergewonnen oder
ίο herausgeholt. Die MNOS-Transistoren können jetzt
auf den niedrigen Schwellenspannungszustand rückgestellt werden, wie oben für das Zeitintervall Pl beschrieben,
und der Vorgang des normalen Registerbetriebs, wie für das Zeitintervall Pl beschrieben,
is kann wiederholt werden.
Zu beachten ist, daß beim Speichern und Wiederherausholen
der Information eine Inversion oder Umkehrung der einen Stufe zugeleiteten Daten stattfindet.
Und zwar schaltet ein Stufeneingangssignal von
—10 Volt den MNOS-Transistor auf Vtl, wodurch
ein Stufenausgangssignal von 0 Volt erzeugt wird, während ein Srufeneingangssignal von 0 Volt den
MNOS-Transistor auf Vth schaltet, wodurch ein Stufenausgangssignal von —10 Volt erzeugt wird. Dies
as steht im Gegensatz zur üblichen dynamischen Betriebsweise,
wo keine Umkehrung der von einer Stufe übertragenen Daten erfolgt. Jedoch iyt damit keine ernsthafte
Schwierigkeit verbunden. Wenn das Schieberegister so betrieben wird, daß pro eingegebenem Satz
von Datenbits nur ein Speichervorgang erfolgt, so wird durch eine einzige Inversions- oder Umkehrstufe
am Ende des Registers die Information wieder auf das richtige Format gebracht Wird mit mehr als einem
Speichervorgang pro Satz oder Teilsatz von in das
Register eingegebenen Datenbits gearbeitet, so kann mit Hilfe einer einfachen Zähleranordnung eine Inversionsstufe
für die ungeradzahlige Anzahl von Speichervorgängen
eingeschaltet und für eine geradzahlige Anzahl von Speichervorgängen ausgeschaltet werden.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Datenspeicherschaltung mit einem Halbleiterbauelement,
das zwei verschiedene Zustände annehmen kann, gekennzeichnet durch
eine Einrichtung, die zur dynamischen Übertragung von binären Datenbits durch die Speicherschaltung
das Hablleiterbauelement (Γ4) auf den einen Zustand einstellt und in diesem Zustand hält; und
durch eine Einrichtung zum statischen Speichern der Datenbits mit einer Einrichtung, die bei Empfang einer Steuerspannung und des der Schaltung
zugeleiteten Bits das Halbleiterbauelement (T4), wenn das zugeleitete Bit den einen Wert hat, in den
einen Zustand und, wenn das zugeleitete Bit den anderen Wert hat, in den anderen Zustand schaltet
2. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Halbleiterbauelement
(7"4) ein Feldeffekttransistor mit auf elektrischem Wege veränderbarer Schwellenspannung
ist.
3. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Feldeffekttransistor
ein MNOS-Transistor ist.
4. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß sie zwei,
während zweier aufeinanderfolgender Zeitintervalle betreibbare Abschnitte aufweist, deren erster Signale
vom Stufeneingang (16) auf einen mittleren Schaltungspunkt und deren zweiter Signale von diesem
Schaltungspunkt auf den Stvfenausgang (16a) koppelt; daß das Halbleiterbauelement (74) ein Feldeffekttransistor
mit auf elektrischem Wege veränderbarer Schwellenspannung ist und sich in einem (2) der beiden Abschnitte befindet; daß die Einrichtung,
die das Halbleiterbauelement (Γ4) einitellt und in seinem Zustand hält, eine Einrichtung
zum Betreiben des Transistors bei einer ersten Schwellenspannung für die dynamische Datenübertragung
enthält; und daß die Einrichtung zum statischen Speichern eine Einrichtung enthält, die
bei Anwesenheit eines Datensignals am Stufeneingang (16) und einer Steuersignaldarstellung (q>lt ^2)
den Transistor, wenn das Datensignal den einen Binärwert darstellt, auf der ersten Schwellenspannung
hält und, wenn das Datensignal den anderen Binärwert darstellt, die Schwellenspannung des
Transistors auf einen zweiten Wert schaltet, derart, daß das Datensignal statisch gespeichert wird.
5. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Zurückschaltung
vom statischen auf den dynamischen Betrieb mit einer Einrichtung zum Zuleiten eines
Steuersignals an den Transistor (Γ4) zwecks Erzeugung eines Datensignals am Stufenausgang
(16a), das der Schwellenspannung, auf die der Transistor eingestellt ist, entspricht, und zum anschließenden
Zurückschalten des Transistors auf die erste Schwellenspannung.
6. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Feldeffekttransistor
(Γ4) mit seiner Steuerelektrode an einen Eingangspunkt (46), mit seiner Source-Elektrode
an einen ersten Betriebsspannungsanschluß (Ks2) und mit seiner Drain-Elektrode an das eine
Ende eines Lastelements (TS) angeschlossen ist, das mit seinem anderen Ende an einen zweiten
Betriebssapnnungsanschluß (KjJ2) angeschlossen
ist; daß zwischen die Drain-Elektrode des Feldeffekttransistors (T4) und den Stufenausgang (16a)
ein Torelement (Γ6) geschaltet ist; und daß vorgesehen
sind: eine Einrichtung zum Einstellen der Schwellenspannung des Feldeffekttransistors (7*4)
auf einen ersten Wert mit einer Einrichtung, welche die Source-Drain-Strecke des Feldeffekttransistors
auf einem gegebenen Spannungswert hält und die
ίο Steuerlektrode mit einer Sperrspannung beaufschlagt;
eine Einrichtung zum Koppeln von Datensignalen auf den Eingangspunkt (46) und eine Einrichtung,
die bei Empfang von Signalen eines gegebenen Wertes die Schwellenspannung des FeIdeffekttransistors
(T4) auf einen zweiten Wert einstellt, mit einer Einrichtung, welche die Source-Drain-Streckc
des Feldeffekttransistors auf dem einen Spannungswert hält und die Steuerelektrode
mit einer Durchlaßspannung beaufschlagt
ao
7. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß der Eingangsabschnitt (1) der Stufe einen Eingangsanschluß (16)
aufweist; daß die Einrichtung zum Einstellen des Feldeffekttransistors (7"4) und zum Koppeln von
Datensignalen auf den Eingangspunkt (46) einen Signalübertragungsabschnitt mit einem zweiten
Feldeffekttransistor (Tl), der mit seiner Steuerelektrode an den Eingangsanschluß (16), mit seiner
Source-Elektrode an einen dritten Betriegsspannungsanschluß
(Vs1) und mit seiner Drain-Elektrode über ein Lastelement (Tl) an einen vierten
Betriebsspannungsanschluß (VdJ angeschlossen
ist, enthält und daß die an der Drain-Elektrode des zweiten Feldeffekttransistors (Tl) erzeugten Signale
über ein Torelement (Γ3) auf den Eingangspunkt (46) gekoppelt werden.
8. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Lastelemente und
die Torelemente Feldeffekttransistoren mit isolierter Steuerelektrode sind.
9. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung
zum Einstellen des Feldeffekttransistors mit auf elektrischem Wege veränderbarer Schwellenspannung
eine Einrichtung zum Zuleiten bestimmter gewählter Spannungen an den dritten und den
vierten Betriebsspannungsanschluß sowie eine Einrichtung enthält, welche die Last- und Torelemente
des Signalübertragungsabschnitts leitend macht, derart, daß die gewählten Spannungen vom dritten
. und vom vierten Betriebsspannungsanschluß der Steuerelektrode des Feldeffekttransistors (T4) mit
veränderbarer Schwellenspannung zugeleitet werden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US20069071A | 1971-11-22 | 1971-11-22 |
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Family
ID=22742768
Family Applications (1)
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- 1972-11-10 DE DE2255210A patent/DE2255210C3/de not_active Expired
- 1972-11-20 GB GB5345472A patent/GB1401487A/en not_active Expired
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CA993105A (en) | 1976-07-13 |
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Legal Events
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C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
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