DE2719902A1 - Verfahren zum entfernen isolierter materialbereiche von einer unterlage - Google Patents
Verfahren zum entfernen isolierter materialbereiche von einer unterlageInfo
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US68496576A | 1976-05-10 | 1976-05-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2719902A1 true DE2719902A1 (de) | 1977-11-24 |
Family
ID=24750240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19772719902 Withdrawn DE2719902A1 (de) | 1976-05-10 | 1977-05-04 | Verfahren zum entfernen isolierter materialbereiche von einer unterlage |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4105468A (enExample) |
| JP (1) | JPS5310975A (enExample) |
| DE (1) | DE2719902A1 (enExample) |
| GB (1) | GB1530978A (enExample) |
| PL (1) | PL112654B1 (enExample) |
| SE (1) | SE7705053L (enExample) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2536549A1 (fr) * | 1982-11-24 | 1984-05-25 | Western Electric Co | Procede pour former un motif dans une matiere sur un substrat |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4350564A (en) * | 1980-10-27 | 1982-09-21 | General Electric Company | Method of etching metallic materials including a major percentage of chromium |
| JPS57104141A (en) * | 1980-12-22 | 1982-06-29 | Dainippon Printing Co Ltd | Photomask and photomask substrate |
| DE3249518T1 (de) * | 1982-08-23 | 1984-09-06 | Gravure Research Institute, Inc. (n.d.Ges.d. Staates Illinois), Port Washington, N.Y. | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Tiefdruckzellen in einem Tiefdruckzylinder |
| US4569695A (en) * | 1983-04-21 | 1986-02-11 | Nec Corporation | Method of cleaning a photo-mask |
| US4778532A (en) * | 1985-06-24 | 1988-10-18 | Cfm Technologies Limited Partnership | Process and apparatus for treating wafers with process fluids |
| US4984597B1 (en) * | 1984-05-21 | 1999-10-26 | Cfmt Inc | Apparatus for rinsing and drying surfaces |
| US4911761A (en) * | 1984-05-21 | 1990-03-27 | Cfm Technologies Research Associates | Process and apparatus for drying surfaces |
| US4713518A (en) * | 1984-06-08 | 1987-12-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device manufacturing methods |
| US5090432A (en) * | 1990-10-16 | 1992-02-25 | Verteq, Inc. | Single wafer megasonic semiconductor wafer processing system |
| DE69233293T2 (de) * | 1991-10-04 | 2004-11-18 | CFMT, Inc., Wilmington | Superreinigung von komplizierten Mikroteilchen |
| US6039059A (en) | 1996-09-30 | 2000-03-21 | Verteq, Inc. | Wafer cleaning system |
| US6165649A (en) * | 1997-01-21 | 2000-12-26 | International Business Machines Corporation | Methods for repair of photomasks |
| US6843929B1 (en) * | 2000-02-28 | 2005-01-18 | International Business Machines Corporation | Accelerated etching of chromium |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3539408A (en) * | 1967-08-11 | 1970-11-10 | Western Electric Co | Methods of etching chromium patterns and photolithographic masks so produced |
| US3673018A (en) * | 1969-05-08 | 1972-06-27 | Rca Corp | Method of fabrication of photomasks |
| US3947801A (en) * | 1975-01-23 | 1976-03-30 | Rca Corporation | Laser-trimmed resistor |
-
1977
- 1977-04-28 GB GB17777/77A patent/GB1530978A/en not_active Expired
- 1977-05-02 SE SE7705053A patent/SE7705053L/xx unknown
- 1977-05-04 DE DE19772719902 patent/DE2719902A1/de not_active Withdrawn
- 1977-05-07 PL PL1977197962A patent/PL112654B1/pl unknown
- 1977-05-09 JP JP5302277A patent/JPS5310975A/ja active Granted
- 1977-06-09 US US05/805,153 patent/US4105468A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| FR2536549A1 (fr) * | 1982-11-24 | 1984-05-25 | Western Electric Co | Procede pour former un motif dans une matiere sur un substrat |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL112654B1 (en) | 1980-10-31 |
| JPS5310975A (en) | 1978-01-31 |
| SE7705053L (sv) | 1977-11-11 |
| GB1530978A (en) | 1978-11-01 |
| PL197962A1 (pl) | 1978-01-02 |
| JPS5337707B2 (enExample) | 1978-10-11 |
| US4105468A (en) | 1978-08-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| 8125 | Change of the main classification |
Ipc: C23F 1/00 |
|
| 8130 | Withdrawal |