DE2658532A1 - Zwischentraeger zur halterung und kontaktierung eines halbleiterkoerpers - Google Patents

Zwischentraeger zur halterung und kontaktierung eines halbleiterkoerpers

Info

Publication number
DE2658532A1
DE2658532A1 DE19762658532 DE2658532A DE2658532A1 DE 2658532 A1 DE2658532 A1 DE 2658532A1 DE 19762658532 DE19762658532 DE 19762658532 DE 2658532 A DE2658532 A DE 2658532A DE 2658532 A1 DE2658532 A1 DE 2658532A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
stool
intermediate carrier
etching
contact fingers
areas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19762658532
Other languages
English (en)
Other versions
DE2658532C2 (de
Inventor
Hans-Juergen Dipl Ing Hacke
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19762658532 priority Critical patent/DE2658532C2/de
Priority to GB5172577A priority patent/GB1563870A/en
Priority to FR7738005A priority patent/FR2375721A1/fr
Priority to JP15501877A priority patent/JPS5381074A/ja
Priority to IT3107677A priority patent/IT1089189B/it
Publication of DE2658532A1 publication Critical patent/DE2658532A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2658532C2 publication Critical patent/DE2658532C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4821Flat leads, e.g. lead frames with or without insulating supports
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • H01L23/49548Cross section geometry
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT Unser Zeichen
Berlin und München 3 VPA 76 P 7 174 BRD
Zwischenträger zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörper
Die Erfindung betrifft einen Zwischenträger zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörpers, mit Kontaktfingern, die jeweils einen Außenkontakt und einen einer Elektrode des Halbleiterkörpers zugeordneten Innenkontakt aufweisen, sowie ein Verfahren, zur Herstellung eines derartigen metallischen Zwischenträgers.
Derartige Zwischenträger werden in zunehmenden Maße bei der Montage von Halbleiterkörpern verwendet, da sie statt der bisher üblichen Einzelkontaktierung über Drähte eine gleichzeitige Kontaktierung sämtlicher Elektroden des Halbleiterkörpers ermöglichen. Als Zwischenträger sind sowohl metallische Strukturen auf einem Kunststoffband bekannt als auch rein metallische Formteile, die ätz- oder galvanotechnisch gestellt werden können. Halbleiterkörper, die auf diese Weise kontaktiert wurden, können in herkömmliche, als Spinnen bezeichnete, Systemträger einge-
KIk 17 CKa
21. 12. 76
809826/0281
setzt und zu einem Gehäuse umspritzt werden (GB-PS 1 199 848) oder auch direkt in Schichtschaltungen oder gedruckte Schaltungen eingebaut werden.
Eine derartige Kontaktierungsart bedingt jedoch auch Vorkehrungen bei den Halbleiterkörpern. So müssen sämtliche Elektroden der Halbleiterkörper mit Anschlußhöckern versehen werden. Dadurch wird einerseits die Anschlußstelle zugänglich, andererseits wird der Kontaktfinger des Zwischenträgers durch den harten Kupferkern des Höckers auf Distanz gehalten und damit die Gefahr von Kurzschlüssen zur Oberfläche des Halbleiterkörpers vermieden. Die Herstellung der Anschlußhöcker auf dem Halbleiterkörper bereitet jedoch Schwierigkeiten, da während des Aufbaus die Abdeck- und Passivierungsschicht auf der Oberfläche beschädigt bzw. in ihrer Haftfestigkeit vermindert wird. Das wiederum vermindert die Ausbeute, erhöht die Kurzschlußgefahr bei der Kontaktierung und verringert die Zuverlässigkeit im Betrieb.
Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, einen Zwischenträger zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörpers zu schaffen, welcher eine funktionssichere und mit geringem Aufwand zu realisierende Kontaktierung ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei einem Zwischenträger der eingangs genannten Art dadurch gelöst, daß die Innenkontakte zumindest gegenüber den angrenzenden Bereichen der Kontaktfinger als erhabene Hocker ausgebildet sind. Bei dem erfindungsgemäßen Zwischenträger wird der zwischen Kontaktfingern und Halbleiterkörper erforderliche Abstand, also zum überwiegenden Teil durch die Hocker auf den Kontaktfingern aufgebracht. Dadurch brauchen die Elektroden auf dem Halbleiterkörper nur noch mit einer kontakt!erbaren Schicht geringer Dicke versehen werden
809826/0281
und die Passivierungsschicht wird nicht durch langwierige Aufbauvorgänge geschädigt. Weiterhin ist es möglich, auf dem Halbleiterkörper Anschlußhöcker aus weichem Material z.B. Zinn-Blei aufzubauen, wie sie bei Flip-Chip-Kontaktierungen"üblich sind, 5 ohne daß die Gefahr von Kurzschlüssen beim Kontaktierungsvorgang gegeben ist.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sind die Hocker und Außenkontakte als erhabene Bereiche aus dem Material . der Kontaktfinger herausgebildet. Hierdurch kann der gesamte Zwischenträger bzw. die metallische Struktur des Zwischenträgers einstückig hergestellt werden· Vorzugsweise weisen die Hocker und Außenkontakte hierbei die doppelte Stärke der übrigen Bereiche der Kontaktfinger auf.
Bei einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung sind zumindest die an die Hocker angrenzenden Bereiche der Kontaktfinger mit einer lotabweisenden Oberfläche versehen. Durch diese Maßnahme kann im Bereich der Hocker definiert ein Lot aufgebracht werden. Außerdem wird bei der Kontaktierung eines Halbleiterkörpers das Wegfließen von Lot verhindert und somit die Gefahr von Kurz-Schlüssen weiter herabgesetzt.
Zur Erleichterung der Kontaktierung eines Halbleiterkörpers und zur leichteren Weiterverdrahtung können die Hocker und die Außenkontakte mit einer gut kontaktierbaren Oberflächenschicht bedeckt sein. Vorzugsweise besteht die Oberflächenschicht hierbei aus Zinn, Zinn-Blei oder Gold,
Die Ausbildung der Lrmenkon takte als erhabene Hocker kann besonders vorteilhaft und ohne besonderen Aufxvarid bei der ätztechnischen Herstellung rein metallischer Zwischenträger realisiert werden. Die Erfindung gibt auch ein Verfahren zur Herstellung rein metal Lischer Zwischenträger an, bei welchem auf
·-" Vi '-■ >; i
eine Seite eines Trägerbleches eine erste ätzresistente Schicht mit dem positiven Bild des gesamten Zwischenträgers und auf die gegenüberliegende Seite eine zweite ätzresistente Schicht mib
dem positiven Bild der Flocker und der Außenkontakte aufgebracht wird und bei welchem dann der Zwischenträger durch beidseitiges Ätzen aus dem Trägerblech herausgebildet wird. Durch das genannte Verfahren können bei einem Minimum an Arbeitsgängen die Hocker bei der ätztechnischen Herstellung der Zwischenträger
mit erzeugt werden. Da beim beidseitigen Ätzen oben die gesamte Struktur des Zwischenträgers und unten nur die Hocker und die
Außenkontakte abgedeckt sind, wird der Querschnitt der Kontaktfinger auf die Hälfte der ursprünglichen Stärke verringert, so daß die Hocker und die Auüenkontakte als erhabene Bereiche verbleiben.
Bei einer ersten Ausführungsform des vorstehend beschriebenen
Verfahrens werden aLs erste und zweite ätzresistente Schicht
Ätzmasken aufgebracht und die Ätzmasken nach dem Ätzen entfernt. Hierdurch können für die Strukturerzeugung bekannte photolithographic ehe Verfahren angewandt werden. Nach Entfernung der ktzmasken können darin die Hocker und die gegenüberliegenden Oberflächen der Kon taktfinger mit einer gut kontaktierbaren Oberflächenschicht überzogen werden.
Bei einer zweiten Ausführung;;form des vorstehend beschriebenen Verfahrens wird aLs erste und zweite ützresis tente Schicht eine gut kontaktierbure OberflächennchLcht durch galvanische Me ta LL-abscheidung aufgebracht. Hierbei können die zur S trukturgebutu; erforderlichen GaLvariLkmasken v/Leder* durch bekannte photoLit.tr>graphifjche Verfahren erzeugt v/erden.
Bei beiden Amsfiihriiru;··. formen des Verfahrens zur Herstellung
metalLischer Zwischenträger werden vor-iu1;:; weise nach dem Atii-u
zumindest die an die Hocker angrenzenden Bereiche der Kontaktfinger mit einer lotabweisenden Oberfläche versehen. Durch diese Maßnahme wird später das Wegfließen von Lot verhindert und eine selektive Metallabscheidung ermöglicht.
Im folgenden werden Ausfuhrungsbeispiele der Erfindung an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt Figur 1 einen Zwischenträger, dessen Innenkontakte als erhabene Hocker ausgebildet sind in der Draufsicht,
Figur 2 einen Schnitt gemäß der Linie II-II der Figur 1 jedoch mit aufkontaktiertem Halbleiterkörper,
Figur 3 bis Figur 6 Verfahrensstufen einer ersten Ausführungsform eines Verfahrens zur Herstellung des in den Figuren und 2 dargestellten Zwischenträgers und die
Figuren 7 und 8 abweichende Verfahrensstufen einer zweiten Ausführungsform eines Verfahrens zur Herstellung des in den Figuren 1 und 2 dargestellten Zwischenträgers.
Die Figuren 2 bis 8 stellen Schnittbilder dar, in welchen die Materialdicken zur besseren Veranschaulichung stark überhöht gezeichnet sind. In sämtlichen Figuren sind einander entsprechende Teile mit gleichen Bezugsziffern versehen.
Figur 1 zeigt in der Draufsicht einen Ausschnitt eines Blechbandes, aus welchem die Strukturen mehrerer zusammenhängender Zwischenträger herausgeätzt sind. Der dargestellte Zwischenträger umfaßt einen äußeren Rahmen 10, an welchem z. B. insgesamt vierzehn Außenkontakte 11 hängen. Von jedem Außenkontakt 11 ausgehend ragt in das Rahmeninnere ein Kontaktfinger 12. Am inneren Ende der Kontaktfinger 12 ist jeweils ein Innenkontakt angeordnet, welcher als erhabener Hocker 13 ausgebildet ist. Wie aus dem Schnittbild der Figur 2 hervorgeht, sind die Kontaktfinger 12 im Bereich zwischen den Höckern 13 und den Außen-
809826/0281
-#- 76 P 7 1 7^ BRD
kontakten 11 auf die Hälfte der ursprünglichen Stärke abgeätzt, so daß die Hocker 13 und die Außenkontakte 11 erhabene Bereiche bilden. Die Außenkontakte 11, die Hocker 13 und die· gegenüberliegende Oberfläche des Zwischenträgers sind mit einer gut kontaktierbaren Oberflächenschicht 21 bzw. 22 bzw. 23 überzogen, während die geätzten Bereiche mit einer lotabweisenden Oberfläche 31 bzw. 32 versehen sind. Beim Kontaktieren eines Halbleiterkörpers 4, dessen Elektroden nur mit einer kontaktierbaren Schicht 41 geringer Dicke versehen sind, verhindert die lotabweisende Oberfläche 31 und 32 das Wegfließen von Lot bzw. kontaktierbarem Material. Nach dem Kontaktiervorgang können dann die Außenkontakte 11 mit den inneren Anschlußbeinen eines metallischen Systemträgers verbunden oder auch direkt mit den entsprechenden Anschlüssen einer Schichtschaltung oder einer gedruckten Schaltung kontaktiert werden. Daraufhin wird der für die Handhabung erforderliche äußere Rahmen 10 abgetrennt.
Bei einer ersten Ausführungsform.eines Verfahrens zur Herstellung des in den Figuren 1 und 2 dargestellten Zwischenträgers wird gemäß Figur 3 von einem Trägerblech 1, das auch in Form eines Bandes vorliegen kann, ausgegangen. Auf die Oberflächen dieses, beispielsweise aus Kupfer bestehenden Trägerbleches 1, werden dann eine obere Photolackschicht 5 bzw. eine untere Photolackschicht 6 aufgebracht und so belichtet, daß nach dem Entwickeln gemäß Figur 4 Ätzmasken 50 bzw. 60 gebildet sind. Die Ätzmaske 50 bedeckt die gesamte Fläche der späteren Struktur des Zwischenträgers, während die Ätzmaske 60 die Bereiche der Hocker und Außenkontakte bedeckt und die dazwischenliegenden Bereiche der Kontaktfinger freiläßt. Beim nachfolgenden Ätzen mit beidseitigem Ätzangriff wird daher die Struktur des Zwischenträgers mit den Außenkontakten 11, den Kontaktfingern 12 und den Höckern gebildet, wobei die einem einseitigen Ätzangriff ausgesetzten Kontaktfinger 12 auf die Hälfte der Stärke der übrigen Bereiche abgedünnt werden. Ein geeignetes Ätzmittel ist beispielsweise Kupferchlorid oder eine ammoniakalische Natriumchlorit-Ätze.
Unmittelbar nach dem Ätzen werden die freiliegenden geätzten
809826/0281
- ST - 76 P 7 1 7 4 BRD
Oberflächen passiviert, so daß die lotabweichenden Oberflächen 31 bzw. 32 entstehen. Das Passivieren kann beispielsweise durch Eintauchen in eine wäßrige Schwefelleberlösung vorgenommen werden. Bei einer Schwefelleberlösung mit etwa 2,5 g -Schwefelleber pro Liter Leitungswasser bildet sich beispielsweise nach ca. 5 Minuten auf den freiliegenden Oberflächen eine beständige und lotabweisende Kupfersulfid-Schicht. Nach dem Passivieren werden dann die Ätzmasken 50 und 60 entfernt, so daß gemäß Figur 5 der fertigstrukturierte Zwischenträger verbleibt. Gemäß Figur 6 kann dann, wenn die Oberfläche in diesem Zustand nicht für eine Kontaktierung geeignet ist, noch eine gut kontaktierbare, z. B. aus Zinn, Zinn-Blei oder Gold bestehende Oberflächenschicht mit ihren Teilbereichen 21, 22 und 23 aufgebracht werden. Das Aufbringen der Oberflächenschicht kann beispielsweise durch stromlose oder galvanische Metallabseheidung oder durch Feuerverzinnung erfolgen, wobei die lotabweisenden Bereiche 31 und 32 nicht mit bedeckt werden.
Bei einer zweiten Ausführungsform eines Verfahrens zur Herstellung des in den Figuren 1 und 2 dargestellten Zwischenträgers werden die in Figur 1 abgebildeten Photolackschichten 5 und 6 so belichtet, daß nach dem Entwickeln gemäß Figur 7 Galvanikmasken 51 bzw. 61 gebildet sind. Wie es in Figur 8 dargestellt ist, werden durch galvanische Metallabscheidung die aus Zinn oder Zinn-Blei bestehenden Oberflächenschichten 21, 22 und 23 aufgebracht und die Galvanikmasken 51 und 61 entfernt. Bei einem nachfolgenden selektiven Ätzvorgang mit beidseitigem Ätzangriff, der beispielsweise wieder in einer ammoniakalisehen Natrium-Chlorit-Ätze vorgenommen werden kann, entsteht dann der in Figur 6 dargestellte Zwischenträger. Wird -dieser Zwischenträger in eine wäßrige Schwefelleberlösung eingetaucht, so bildet sich auf den in Figur 5 dargestellten Bereichen 31 und 32 eine lotabweisende Kupfersulfidschicht, während die aus Zinn oder Zinn-Blei bestehenden Oberflächenbereiche durch die Schwefelleberlösung nicht verändert werden.
11 Patentansprüche
8 Figuren
809826/028

Claims (11)

  1. Patentansprüche
    Zwischenträger zur Halterung und Kontaktierung eines HaIbleiterkörpers, mit Kontaktfingern, die jeweils einen Außenkontakt und einen einer Elektrode des Halbleiterkörpers zugeordneten Innenkontakt aufweisen, dadurch g e k e η η zeichnet, daß die Innenkontakte zumindest gegenüber den angrenzenden Bereichen der Kontaktfinger (12) als erhabene Hocker (13) ausgebildet sind.
  2. 2. Zwischenträger nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Hocker (13) und Außenkontakte
    (11) als erhabene Bereiche aus dem Material der Kontaktfinger (12) herausgebildet sind.
  3. 3. Zwischenträger nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Hocker (13) und Außenkontakte
    (11) etwa die doppelte Stärke der übrigen Bereiche der Kontaktfinger (12) aufweisen.
  4. 4. Zwischenträger nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , daß zumindest die 'an die Hocker (13) angrenzenden Bereiche der Kontaktfinger
    (12) mit einer lotabweisenden Oberfläche (31, 32) versehen sind.
  5. 5· Zwischenträger nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Hocker (13) und die Außenkontakte (11) mib einer gut kontakt!erbaren Oberflächenschicht (21, 22) bedeckt sind.
  6. 6. Zwischenträger nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberflächenschicht (21, 22) aus Zinn, Zinn-Blei oder Gold besbeht.
  7. 7. Verfahren zur Herstellung eines metallischen Zwischenträgers nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, durch Ätzen, dadurch gekennzeichnet, daß auf eine Seite
    809826/0281
    ORIGINAL INSPECTED
    --f- 76 P 7 ί 7 4 BRD
    eines Tragerblech.es (1) eine erste ätzresistente Schicht mit dem positiven Bild des gesamten Zwischenträgers und auf die gegenüberliegende Seite eine zweite ätzresistente Schicht mit dem positiven Bild der Hocker (13) und der Außenkontakte (11) aufgebracht wird und daß dann der Zwischenträger durch beidseitiges Ätzen aus dem Trägerblech (1) herausgebildet wird.
  8. 8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß als erste und zweite ätzresistente Schicht Ätzmasken (50, 60) aufgebracht werden und daß die Ätzmasken (50, 60) nach dem Ätzen entfernt werden.
  9. 9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Hocker (13) und die gegenüberliegenden Oberflächen der Kontaktfinger (12) mit einer gut kontaktierbaren Oberflächenschicht (21, 22, 23) überzogen werden.
  10. 10. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß als erste und zweite ätzresistente Schicht eine gut kontaktierbare Oberflächenschicht (21, 22, 23) durch galvanische Metallabseheidung aufgebracht wird.
  11. 11. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 10, dadurch g ei kennzeichnet , daß nach dem Ätzen zumindest die an die Hocker (13) angrenzenden Etereiche der Kontaktfinger (12) mit einer Io tab v/ei senden Oberfläche (31, 32) versehen werden.
    00902 8/028
DE19762658532 1976-12-23 1976-12-23 Zwischenträger zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörpers und Verfahren zu dessen Herstellung Expired DE2658532C2 (de)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19762658532 DE2658532C2 (de) 1976-12-23 1976-12-23 Zwischenträger zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörpers und Verfahren zu dessen Herstellung
GB5172577A GB1563870A (en) 1976-12-23 1977-12-13 Intermediate carrier frames for supporting and contracting semiconductor bodies
FR7738005A FR2375721A1 (fr) 1976-12-23 1977-12-16 Support intermediaire prevu pour le soutien et le contactage d'un corps semiconducteur
JP15501877A JPS5381074A (en) 1976-12-23 1977-12-22 Intermediate supporting plate for supporting semiconductor contact and method of producing same
IT3107677A IT1089189B (it) 1976-12-23 1977-12-22 Supporto intermedio per sostenere e stabilire il contatto con un corpo di materiale semiconduttore

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19762658532 DE2658532C2 (de) 1976-12-23 1976-12-23 Zwischenträger zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörpers und Verfahren zu dessen Herstellung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2658532A1 true DE2658532A1 (de) 1978-06-29
DE2658532C2 DE2658532C2 (de) 1984-02-16

Family

ID=5996481

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19762658532 Expired DE2658532C2 (de) 1976-12-23 1976-12-23 Zwischenträger zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörpers und Verfahren zu dessen Herstellung

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPS5381074A (de)
DE (1) DE2658532C2 (de)
FR (1) FR2375721A1 (de)
GB (1) GB1563870A (de)
IT (1) IT1089189B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0249834A2 (de) * 1986-06-20 1987-12-23 Siemens Aktiengesellschaft Herstellung von Feinstrukturen für die Halbleiterkontaktierung
DE19916177A1 (de) * 1999-04-10 2000-10-26 Cubit Electronics Gmbh Halbleiterchip mit drahtförmigen Anschlußstücken und Verfahren zum Kontaktieren des Halbleiterchips
US8044523B2 (en) 2004-06-22 2011-10-25 Infineon Technologies Ag Semiconductor device

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2456390A1 (fr) * 1979-05-11 1980-12-05 Thomson Csf Grille d'encapsulation, microboitier de circuit electronique utilisant cette grille et procede d'encapsulation de circuit electronique en microboitier
JPS56152244A (en) * 1980-04-25 1981-11-25 Seiko Epson Corp Semiconductor device
CA1226967A (en) * 1984-03-08 1987-09-15 Sheldon H. Butt Tape bonding material and structure for electronic circuit fabrication
US4736236A (en) * 1984-03-08 1988-04-05 Olin Corporation Tape bonding material and structure for electronic circuit fabrication
JPS63142660A (ja) * 1986-12-04 1988-06-15 Dainippon Screen Mfg Co Ltd リ−ドフレ−ムの製造方法
JPH063818B2 (ja) * 1988-01-13 1994-01-12 株式会社三井ハイテック ワイヤレスボンディング方法
JPH03106009A (ja) * 1989-09-20 1991-05-02 Isuzu Motors Ltd 電気二重層コンデンサ
US7598603B2 (en) 2006-03-15 2009-10-06 Infineon Technologies Ag Electronic component having a power switch with an anode thereof mounted on a die attach region of a heat sink

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1816199A1 (de) * 1967-12-27 1969-07-24 Rca Corp Verfahren zur Befestigung von Anschlussleitern an einem Halbleiterbauelement
US3680206A (en) * 1969-06-23 1972-08-01 Ferranti Ltd Assemblies of semiconductor devices having mounting pillars as circuit connections
DE2127633B2 (de) * 1971-06-03 1975-03-20 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Verfahren zum Herstellen eines Systemträgers zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörpers

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1816199A1 (de) * 1967-12-27 1969-07-24 Rca Corp Verfahren zur Befestigung von Anschlussleitern an einem Halbleiterbauelement
US3680206A (en) * 1969-06-23 1972-08-01 Ferranti Ltd Assemblies of semiconductor devices having mounting pillars as circuit connections
DE2127633B2 (de) * 1971-06-03 1975-03-20 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Verfahren zum Herstellen eines Systemträgers zur Halterung und Kontaktierung eines Halbleiterkörpers

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0249834A2 (de) * 1986-06-20 1987-12-23 Siemens Aktiengesellschaft Herstellung von Feinstrukturen für die Halbleiterkontaktierung
EP0249834A3 (de) * 1986-06-20 1990-06-06 Siemens Aktiengesellschaft Herstellung von Feinstrukturen für die Halbleiterkontaktierung
DE19916177A1 (de) * 1999-04-10 2000-10-26 Cubit Electronics Gmbh Halbleiterchip mit drahtförmigen Anschlußstücken und Verfahren zum Kontaktieren des Halbleiterchips
DE19916177B4 (de) * 1999-04-10 2006-01-26 Sokymat Gmbh Verfahren zum Kontaktieren des Halbleiterchips und Halbleiterchip mit drahtförmigen Anschlußstücken
US8044523B2 (en) 2004-06-22 2011-10-25 Infineon Technologies Ag Semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5381074A (en) 1978-07-18
IT1089189B (it) 1985-06-18
DE2658532C2 (de) 1984-02-16
FR2375721A1 (fr) 1978-07-21
FR2375721B1 (de) 1982-05-14
GB1563870A (en) 1980-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2637667C2 (de) Halbleiteranordnung
DE1965546C3 (de) Halbleiterbauelement
DE19728183B4 (de) Herstellungsverfahren für leitende Drähte eines Halbleitergehäuses in Chipgrösse
DE69133497T2 (de) Leiterrahmen für eine Halbleiteranordnung und dessen Herstellungsverfahren
DE4424962A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Chip-Anschlusses
DE3817600C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit einem keramischen Substrat und einem integrierten Schaltungskreis
DE2554691C2 (de) Verfahren zum Herstellen elektrischer Leiter auf einem isolierenden Substrat und danach hergestellte Dünnschichtschaltung
DE1817434C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Leitungsanordnung
DE2729030A1 (de) Verfahren zum erzeugen eines mehrschichtigen leiterzugsmusters bei der herstellung monolithisch integrierter schaltungen
DE19745575A1 (de) Struktur einer Anschlußelektrode und Verfahren für ihre Bildung
DE4313980B4 (de) Integrierte Hybridschaltung und Verfahren zu deren Herstellung
DE2401333A1 (de) Verfahren zur herstellung von isolierfilmen auf verbindungsschichten
DE2509912C3 (de) Elektronische Dünnfilmschaltung
DE2033532C3 (de) Halbleiteranordnung mit einer Passivierungsschicht aus Siliziumdioxid
DE2658532A1 (de) Zwischentraeger zur halterung und kontaktierung eines halbleiterkoerpers
DE10158809B4 (de) Herstellungsverfahren für eine Leiterbahn auf einem Substrat und eine entsprechende Leiterbahn
DE3544539C2 (de) Halbleiteranordnung mit Metallisierungsmuster verschiedener Schichtdicke sowie Verfahren zu deren Herstellung
DE3618751A1 (de) Kupferband (leiterrahmenband)
DE1564743A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleitergeraeten mit daran befestigten Anschlussleitungen
AT315947B (de) Verfahren zum Herstellen eines Systemträgers für integrierte Schaltkreise
DE2613759C3 (de) Verfahren zum Herstellen eines mehrschichtigen MetaUanschluBkontaktes für ein Halbleiterbauelement
DE4026822C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Trägers für oberflächenmontierbare elektronische Bauelemente, insbesondere eines TAB-Filmträgers
DE2541280A1 (de) Verfahren zur herstellung einer gedruckten verdrahtung mit lotabweisenden teilbereichen
DE19743289A1 (de) Mehrebenen-Zwischenträgersubstrat mit hoher Verdrahtungsdichte, insbesondere für Multichipmodule, und Verfahren zu seiner Herstellung
DE2234408A1 (de) Verfahren zur herstellung einer elektrischen leiteranordnung

Legal Events

Date Code Title Description
OAM Search report available
OC Search report available
OD Request for examination
8125 Change of the main classification

Ipc: H01L 23/50

8126 Change of the secondary classification

Ipc: H01L 21/92

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee