DE2623219A1 - Leseverstaerkerschaltung fuer einen dynamischen mos-speicher - Google Patents
Leseverstaerkerschaltung fuer einen dynamischen mos-speicherInfo
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Description
SIEMENS AKTIENGt1GELLSCHAPT Unser Zeichen
Berlin und München k VPA 76 Ψ 2 0 8 4 BRD
Leseverstärkerschaltung für einen dynamischen MOS-Speieher»
Die Erfindung bezieht sich auf eine Lesevertärkerschaltung für einen dynamibchen MOS-Speicher, bei der zwei Zweige aus jeweils
einem Schalttransistor und einem Lasttransistor dadurch rückgekoppelt sind, daß der Verbindungspunkt des Schalttransistors und
des Lasttransistors jedes Zweiges jeweils mit der Steuerelektrode des Schalttransistors des anderen Zweiges verbunden ist, bei der
an den Verbindungspunkt jedes Zweiges jeweils ein Teilabschnitt einer Bitleitung angeschlossen ist und die Verbindungspunkte beider
Zweige über einen Transistor miteinander verbunden sind und bei der die Quellenelektroden der Schalttransistoren mit einem Knoten verbunden
sind, der vor Zyklusbeginn aufgeladen wird und zum Bewerten eines Lesesignales so entladen wird, daß derjenige Schalttransistor
leitend gesteuert wird, an dessen Senkenelektrode die das Lesesignal verursachende Spannungsänderung auftritt.
Zum Bewerten der Lesesignale von dynamischen MOS-Speichern ist es
bekannt, jede Bitleitung in zwei Teilabschnitte zu unterteilen und zwischen die beiden Teilabschnitte eine als Flip-Flop ausgeführte
Leseverstärkerschaltung anzuordnen (s. Z. B. IEEE Journal of Solid-state Circuits Vol. SC 7, Nr. 5, Okt. 1972, S. 336 bis 340)
Eine solche Leseverstärkerschaltung ist nach der Art eines getasteten Flip-Flops aufgebaut. Wesentliche Eigenschaften dieser Leseverstärkerschaltung
bestehen in der Symmetrie, der geringen Abhängigkeit von Parameterschwankungen und der automatischen Regeneration
der gespeicherten Signale. Solche Leseverstärkerschaltungen werden insbesondere in MOS-Speichern verwendet, bei denen die einzelnen
Speicherzellen aus Eintranistorspeicherzellen bestehen.
VPA 75 E 2154a· Il 13 Gbr / 17.5.1976
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Eie weitere Entwicklung der Technologie bei MOS-Speichern hat es mit sich gebracht, daß die Speicherdichte pro Speicherbaustein
immer mehr erhöht worden ist. Dies führte zu kleineren Lesesignalen und stärker schwankenden Bauelemente-Parametern. Zur Bewertung
von Lesesignalen aus solchen MOS-Speichern ist eine Verstärkerschaltung besser geeignet, wie sie z. B. in IEEE Journal of Solidstate
Circuits, Vol. SC 8, Nr. 5, Okt. 1973, S. 31O bis 318, und
IEEE Journal of Solid-state Circuits, Vol. 9, Nr. 2, April 19 74, Seiten 49 bis 54, beschrieben ist. Bei. dieser Leseverstärkerschaltung
dienen die Lasttransistoren des Flip-Flops nur zur Vorladung der Teilabschnitte der Bitleitungen an den Verbindungspunkten zwischen
Lasttransistor und Schalttransistor. Während des Bewertungsvorganges eines Lesesignales bleiben die Lasttrara.storen gesperrt.
Hat sich auf den Teilabschnitten einer Bitleitung nach dem Auslesen einer Information aus einer Speicherzelle eine Signalspannung eingestellt,
dann wird anschließend an dem Verbindungspunkt zwischen den Quellenelektroden der Schalttransistoren die Spannung langsam
abgesenkt. Dadurch wird erreicht, daß nur einer der Schalttransistoren, nämlich der, an dessen Senkenelektrode das Lesesignal anliegt,
leitend gesteuert wird. Die Verstärkung des Flip-Flops ist bei dieser Betriebsweise sehr groß, Schwankungen der Geometrie der
Transistoren und der Kapazitäten der Bitleitung sind nahezu ohne Einfluß. Nachteilig an dieser Leseverstärkerschaltung ist die
relativ lange*Bewertungszeit. Es sind darum Versuche unternommen worden, die Spannung an dem Verbindungspunkt der Quellenelektroden
der Schalttransistoren entsprechend einer optimal verlaufenden Kurve abzusenken. Die Kurve ist dabei so berechnet, daß einer der
Schalttransistoren genau an der Sperrgrenze liegt, oder alternativ in einem schwach leitenden Zustand, in dem der Strom konstant ist,
arbeitet. Durch diese Maßnahme wird die sich ergebende Bewertungszeit verkürzt. Trotzdem ist die Bewertungszeit immer noch verhältnismäßig
lang.
Die der Erfindung'zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, eine
Leseverstärkerschaltung gemäß den oben genannten Merkmalen so aufzubauen und zu betreiben, daß die Bewertungszeit eines Lesesignales
wesentlich verkürzt wird, ohne daß dabei die Bewertungssicherheit gestört wird.
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Die Aufgabe wird dadurch gelöst, daß nach der Aufladung des Knotens
die Lasttransistoren abgeschaltet sind, der zwischen den Verbindungspunkten der beiden Zweige liegende Transistor aber im
leitenden Zustand ist, so. daß die am Knoten gegebene Spannung sich auf die Verbindungspunkte der Zweige in gleicher Weise auswirkt,
daß dann der zwischen den Verbindungspunkten liegende Transistor abgeschaltet wird, und daß bei der anschließenden Bewertung eines
Lesesignales die Entladungskurve des Knotens derart ist, daß zeitweise auch der andere Schalttransistor in den leitenden Zustand
gelangt.
Während beim Stand der Technik während des Bewertungsvorganges nur
einer der Schalttransistoren in den leitenden Zustand gebracht wird, ist erfindungsgemäß die Entladekurve des Knotens derart, daß während
der Bewertungszeit des Lesesignales auch der Schalttransistor kurzzeitig
in den leitenden Zustand gelangt, an dessen Senkenelektrode der Bitleitungsabschnitt liegt, zu dem keine Information ausgslesen
wurde. Die Entladungskurve verläuft dann so weiter, daß das F.^ip-Flop
der Leseverstärkerschaltung wieder in den Zustand kippt, dar der zu bewertenden Information entspricht.
Wird der Transistor zwischen den Verbindungspunkten abgeschaltet, dann wird infolge von parasitären Kapazitäten dieses Transistors
die Spannung an den Verbindungspunkten der beiden Zweige gesenkt.
Dadurch sind nach der Beendigung dieses Vorganges die beiden Schalttransistoren des Flip-Flops auf jeden Fall gesperrt, gleichgültig,
welche Schwellspannungen die Schalttransistören haben, und gleichgültig, wie groß die Kapazitäten der Teilabschnitte der
Bitleitung sind.
Anhand von Ausführungsbeispielen, die in den Figuren dargestellt sind, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigen:
• Fig. 1 ein erstes Ausführungsbeispiel einer Leseverstärkerschaltung mit einem Funktionsgenerator zur Erzeugung der Entladungskurve,
Fig. 2 eine erste Ausführung des Funktionsgenerators,
Fig. 3 eine Kennlinie einer Inverterschaltung, die bei dem Funktionsgenerator nach Fig. 2 ve<rwendet wird,
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* Fig. 4 ein Impulsdiagramm zur Leseverstärkerschaltung nach Fig. 1,
Fig. 5 ein weiteres Ausführungsbeispiel des Funktionsgenerators, Fig. 6 eine Teilschaltung zum Betrieb der Schaltungsanordnung
gemäß Fig. 5,
- Fig. 7 eine weitere Teilschaltung zum Betrieb der Schaltungsanordnung
nach Fig. 6.
Die Leseverstärkerschaltung nach Fig. 1 besteht aus einem Flip-Flop
FF und einem Funktionsgenerator FG.
Das Flip-Flop FF besteht aus jeweils zwei Zweigen aus einem Last—
transistor TL und einem Schalttransistor TS. Der eine Zweig enthält den Lasttransistor TL1 und den Schalttransistor TS1, der
zweite Zweig den Lasttransistor TL 2 und den Schalttransistor TS2.
Am Verbindungspunkt zwischen Schalttransistor TS und Lasttransistor
TL ist jeweils ein Teilabschnitt einer Bitleitung B angeschlossen. Am Verbindungspunkt p1 zwischen dem Lasttransistor TL1 und dem
Schalttransistor TS1 liegt demgemäß der Teilabschnitt BL der Bitleitung,
während an dem Verbindungspunkt p2 zwischen dem Lasttransistor TL2 und dem Schalttransistor TS2 der Teilabschnitt BR
der Bitleitung angeschlossen ist. Weiterhin sind die Verbindungspunkte p1 und p2 über einen Transistor TO, Symmetrxertransistor
' genannt, verbunden. Der Verbindungspunkt der Quellenelektroden der Schalttransistoren TS1 und TS2 wird Knoten K genannt. Die
Lasttransistoren TL1 und TL2 werden mit Hilfe eines Taktsignales S3 angesteuert. An den Lasttransistoren TL1 und TL2 liegt weiterhin
die feste Spannung VDD.
Der Funktionsgenerator kann aus einer Entladeschaltung E und einem
Inverter I aufgebaut sein (Fig. 2\. Die Entladeschaltung E besteht
aus Transistoren T1, T2, T3 und einem Kondensator C1. Sie ist an den Knoten K angeschlossen. Dabei liegt der Transistor T3, der von
einem Taktsignal SI angesteuert wird, zwischen' dem Knoten K und der Parallelschaltung aus dem Transistor T1 und dem Kondensator C1.
Der Transistor T1 ist mit seher Steuerelektrode weiterhin mit dem
Ausgang des Inverters I verbunden. Der Transistor T2, der von dem Taktsignal S2 angesteuert wird, verbindet den Knoten K mit einer
weiteren festen Spannung VSS. Der Kondensator C1 und der Transistor T1 liegen ebenfalls an dieser festen Spannung VSS.
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Der Inverter I setzt sich zusammen aus einem Transistor T5 und
zwei als Dioden geschalteten Transistoren T4 und T6. An die Steuerelektrode des Transistors T5 ist der. Knoten K angeschlossen.
Am Knoten K bildet sich die Spannung U3. Der Ausgang des Inverters I ist mit dem Transistor T1 der Entladeschaltung E verbunden. An
der Diode T6 liegt die feste Spannung VDD, an der Diode T4 die feste Spannung VSS.
In Verbindung mit den Figuren 3 und 4 soll die Wirkungsweise der Leseverstärkerschaltung nach Fig. 1 erläutert werden. Dabei wird
davon ausgegangen, daß als Transistoren n-Kanal-Transistoren verwendet
werden. Demgemäß sind die in Fig. 4 angegebenen Spannungen positive Spannungen.
Bevor ein an den Bitleitungsabschnitten BL und BR anliegendes
Lesesignal ausgewertet werden kann, muß die Leseverstärkerschaltung vorgeladen werden. Dazu wird der Symmetriertransistor TO
leitend gesteuert, es wird ihm ein Signal S3 zugeführt. Ebenfalls können die Lasttransistoren TL1 und TL2 durch Anlegen eines Taktsignales
S2 in den leitenden Zustand gebracht werden. Am Knoten K liegt, wie Fig. 3 zeigt, in diesem Falle noch ein niedriges
Potential an. Bei diesen Gegebenheiten laden sich die Bitleitungsabschnitte BL und BR auf die Spannung UDD- UT auf. Dabei ist UT
die Schwellspannung der Lasttransistoren Hl bzw. TL2. Selbstverständlich
ist es auch möglich, die Bitleitungsabschnitte BL und BR über nicht dargestellte Transistoren aufzuladen, etwa dadurch, daß
an diese Transistoren ein Signal SO (Fig. 4) angelegt wird. Dabei ist es möglich, die Bitleitungsabschnitte BR und BL auf die Spannung,
z. B. UDD - 2UT aufzuladen. Aus diesem Grunde ist in Fig. 4
das Signal S2 während des Vorladens nur gestrichelt eingezeichnet. Da die Schalttransistoren TS1 und TS2 jedenfalls im leitenden Zustand sind, lädt sich auch der Knoten K auf und zwar etwa auf die
Spannung U3 = UDD - UT - (UT + A UT max) . Dabei ist AUT max die
größte auftretende Schnellspannungsdifferenz aller Schalttransistoren TS, die an dem Knoten K angeschlossen sind.
Am Ende der Vorladephase, die von der Zeit ti bis t2 läuft, hat
sich der Knoten K aufgeladen und das Signal SO zur Vorladung bzw.
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S2 wird abgeschaltet. Das bedeutet, daß die Lasttransistoren TL1
und TL2 in den Sperrzustand übergehen.
An die Vorladung schließt- sich der Zeitbereich für die Lesevorbereitung
an. Dieser setzt sich zusammen aus den Zeitbereichen t2 bis t3 und t3 bis t4.
Im Zeitbereich t2 bis t3 liegt an dem Symmetriertransistor TO
noch das Taktsignal S3 an, dieser ist also noch leitend gesteuert, und die Bitleitungsabschnitte BL und CR sind noch miteinander verbunden.
Weiterhin sind die Schalttransistoren TS1 und TS2 im
leitenden Zustand.
Im Zeitbareich von t3 bis £4 wird das Taktsignal S3 abgeschaltet und der Symmetriertransistor TO gesperrt. Damit werden die Bitleitungsabschnitte
BR und BL aufgetrennt. Die Absenkung des Taktsignales S3 hat außerdem zur Folge, daß die Spannung der Bitleitungsabschnitte
BR und BL durch die parasitären Kapazitäten des Symmetriertransistors T10 abgesenkt wird. Dadurch sind die Schalttransistoren
TS1, TS2 nach der Zeit t4 mit Sicherheit gesperrt.
Im Bereich t4 bis t5 wird eine Information aus einer Speicherzelle
ausgelesen und entsprechend stellt sich auf den beiden Bitleitungshälften eine Spannungsdifferenz ein, das Lesesignal USig. Dies ist
durch zwei Pfeile in Fig. 3 im Zeitbereich t4 bis t5 bei den Spannungen UBL bzw. UBR in den Bitleitungsabschnitten BL bzw. BR gezeigt.
Es ist zu sehen, daß sich auf den Bitleitungsabschnitten BR und BL eine Spannungsdifferenz USig einstellt. Die Schalttransistoren
TS1, TS2 des Flip-Flops FF sind weiterhin gesperrt.
Mit der Zeit t5 beginnt der BewertungsVorgang. Zunächst wird mit
dem Signal S1 der Transistor T3 der Entladeschaltung E eingeschaltet.
Die Spannung U3 am Knoten K bestimmt über den Inverter I mit der Kennlinie nach Fig. 3 die Spannung U4 an der Steuerelektrode
des Transistors T1. Dabei ist der Transistor T1 zu Beginn noch im leitenden Zustand. Aus der Fig. 3 ergibt sich, daß die bei dieser
Lage von dem Inverter I abgegebene Spannung U4 ca. 2mal UT ist, wobei UT die Schwellspannung der Diode T4 und des Transistors T5
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ist. Der Transistor T5 ist nämlich durch die Spannung U3 in seinem
leitenden Zustand.
Wird nun an den Transistor T3 das Signal S1 angelegt, so wird dieser leitend, und es kann ein Strom "VOm Knoten K über den Transistor
T3 und den Kondensator C1 fließen. Zunächst wird dadurch die Spannung am Knoten K sehr schnell abgesenkt (s. Fig. 4, Spannung
U3). Die schnelle Absenkung der Spannung ü3 am Knoten K bedingt nun, daß derjenige Schalttransistor im Flip-Flop FF leitend
1C gesteuert wird, an dessen Senkenelektrode die durch das Auslesen
der Information bedingte Spannungsänderung anliegt. Wenn angenommen
wird, daß eine Speicherzelle ausgelesen wird, die an dem Bitleitmigsabschnitt
BL liegt, dann wird der Schalttransistor TS1 leitend
gesteuert. Somit kann ein Strom-durch diesen Schalttransistor
fließen (Stroms durch die Schalttransistoren IS1, IS2 sind ebenfalls
in Fig. 4 dargestellt).
Während der Seit t6 bis t7 wird die Spannung U3 am Knoten K nur
sehr langsam abgesenkt, sie bleibt nahezu konstant. Der Grund liegt
darin, daß der Transistor T1 der Entladeschaltung, wie die Kennlinie der Fig. 3 zeigt, ixa gleichen Zustand bleibt.
Der Knoten K entlädt sich nun immer mehr, ein Vorgang der durch
der. Inverter I verstärkt wird. Ih Seitbereich t7 bis t8 ändert sich
"5 Ui nun entsprechend der stell ansteigenden Kennlinie (Fig. 3) sehr
schnell,und entsprechend schnell kommt der Transistor T1 in seinen
leitenden Zustand. Dies hat eine Absenkung der Spannung U3 mit zunehmender
Steigung der Kennlinie (Fig. 3) zur Folge. Der bisher gesperrte Schalttransistor (s. B. TS2) wird leitend. (Siehe den Verlauf
der Spannungen UBL? UBR und der Ströme IS1 und IS2 in Fig. 4).
Der Verlauf der Absenkung der Spannung U3 ist aber nun so gestaltet, dai3 trotz Differenzen der Geometrie der Schalttransistoren TS1, TS2
und der Kapazitäten der Bitleitungsabschnitte BR und BL, also unter
ungünstigen Bedingungen, das Flip-Flop wieder seinen Kippunkt erreicht, also der Schalttransistor TS2 wieder gesperrt wird. Dieser
Zustand ist zur Zeit t8 gegeben» Entsprechend nimmt der Strom durch
aezi Schalttransistor TS2 wieder ab. Die Spannungsdifferenzen auf den
Bitleitungsabschnitten wächst dagegen schnell an.
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Zum Zeitpunkt td wird das Taktsignal S2 an die Lasttransistoren
TL1, TL2 und an den Transistor T2 der Entladeschaltung gelegt. Diese werden leitend gesteuert. Die Folge ist, daß sich die Bitleitungsabschnitte
BR und BL auf den "0" bzw. "1"-Pegel einstellen. Durch den Transistor T2 wird weiterhin die Entladung des Knotens K
weiter beschleunigt. Der Knoten ist bis zum Zeitpunkt t10 entladen, und- entsprechend ist der Transistor T5 des Inverters I gesperrt.
Auf dem Bitleitungsabschnitt, z. B. BR, auf dem das Lesesignal
vorlag, hat sich ein Pegel eingestellt, der dazu verwendet werden kann, die ausgelesene Speicherzelle zu regenerieren.
Zum Zeitpunkt t10 wird das Taktsignal S1 abgeschaltet und damit die
Entladeschaltung vom Flip-Flop FF getrennt. Zum Zeitpunkt ti 1 ist
der Lese- und Regeneriervorgang beendet.
Aus den«Figuren 5, 6 und 7 ergibt sich eine andere Ausführung des
Funktionsgenerators. Dabei fällt der Inverter I der Fig. 2 weg. Die
Schaltung nach Fig. 5 und nach Fig. 7 werden so zusammengesetzt, daß beide an dem Knoten K liegen und gemeinsam den Funktionsgenerator
bilden. Dabei ist die Schaltungsanordnung nach Fig. 7 dafür verantwortlich, daß im Zeitbereich t5 bis t6 nach Fig. 4 die Spannung
am Knoten K sehr schnell abgesenkt wird, während der übrige Entladevorgang des Knoten K durch die Schaltungsanordnung der Fig.5
bestimmt wird/ Die Schaltungsanordnung nach Fig. 7 soll als Sprungfunktionsgenerator
benannt werden.
Der Sprungfunktionsgenerator nach Fig. 7 besteht aus einer Parallelschaltung
aus einem Kondensator C10 und einem Transistor T8. In Serie zu dieser Parallelschaltung liegt ein Transistor T9. Der
Transistor T9 wird druch das Taktsignal S1 angesteuert. Weiterhin ist noch die parasitäre Kapazität C3 des Knotens K in Fig. 7 angedeutet.
Der Verbindungspunkt P5 des Sprungfunktionsgenerators nach Fig. 7
wird im Zeitbereich von t2 bis t3 auf die Spannung U3 des Knotens K aufgeladen, und zwar dadurch, daß der Transistor T8 leitend gesteuert
wird. Zu Beginn des Bewertungsvorganges wird mit dem Taktsignal S1 der Transistor T9 leitend gesteuert, dagegen der Tran-
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sistor T8 gesperrt. Wird aber der Transistor T9 leitend gesteuert,
so bedingt dies einen Ladungsausgleich zwischen der Kapazität C3
des Knotens K und der Kapazität C10. Dabei entsteht am Knoten K ein Sprung, wie er in Fig. 4 im Zeitbereich t5 und t6 dargestellt
ist. , ·
Am Knoten K ist weiterhin die Schaltung gemäß Fig. 5 angeschaltet,
die gesteuerte Spannungsquelle genannt werden soll. Diese besteht aus Transistoren T10, T11, T12, deren gesteuerte Strecken parallel
geschaltet s-'nd. Das Taktsignal S1 wird dem ersten Transistor T10
direkt und über eine Verzögerungsschaltung VS12 dem Transistor T11 und über eine weitere Verzögerungsschaltung VS23 dem Transistor
T12 zugeführt. Somit wird bei Anliegen eines Taktsignales S1 zunächst
der Transistor T10 leitend gesteuert, der Knoten K entlädt sich zunächst über diesen Transistor TTO. Nach Ablauf der Verzögerungszeit
der Verzögerungsschaltung VS12 wird zusätzlich der Transistor T11 in den leitenden Zustand gebracht, wodurch der Entladungsvorgang
beschleunigt wird. Nach dem weiteren Ablauf der Verzögerungszeit der Verzögerungsschaltung VS23 wird schließlich
auch der Transistor T12 leitend gesteuert, so daß nun alle drei
Transistoren T10, T11, T12 im leitenden Zustand sind. Durch entsprechende Wahl der Verhältnisse W/L der Transistoren T10, T11,
T12 kann die Form der Entladungskurve festgelegt werden. Dabei ist
W die Breite des Kanals und L die Länge des Kanals eines Transistors. Zweckmäßig ist es z.B., das Verhältnis W zu L für den
Transistor T10 = 5, für den Transistor T11 =20 und für den Transistor
T12 = 200 zu wählen. Weiterhin wird die Form der Entladungskurve durch die Verzögerungszeiten*der Verzögerungsschaltungen
VS12 und-VS23 beeinflußt.
■■■■.■
Den Aufbau einer Verzögerungsschaltung zeigt Fig. 6. Sie besteht
aus Transistoren T20, T21, T22, T23, T24. An den Transistor T22
- wird ein Taktsignal CE, an den Transistor T23 ein Taktsignal CE
angelegt. Dem Transistor T20 wird ein Eingangssignal UE zugeleitet,
J5 nach Ablauf der Verzögerungszeit erscheint dieses Eingangssignal am Ausgang als Ausgangssignal UA. Die Verzögerungszeit selbst wird durch den Transistor T20 wesentlich mitbestimmt, und zwar durch
das Verhältnis W zu L dieses Transistors. Wenn an der Verxögerung·-
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COPY «·
schaltung am Eingang kein Signal anliegt, so ist der Transistor T23 leitend gesteuert und der Knoten p4 aufgeladen. Entsprechend
leitet der Transistor T24, und die Ausgangsspannung UA entspricht
ungefähr Massepotential.
5.
5.
Wird an den Eingang des Transistors T2O ein Signal angelegt und
das Taktsignal CE umgeschaltet, so wird der Knoten p4 entladen, und nach einer gewissen Zeit wird der Transistor T24 gesperrt.
Dann steigt die Spannung UA an.
Mit dem Funktionsgenerator nach den iiguren 5 bis 7 kann somit
ebenfalls die Entladungskurve entsprechend Fig. 4 gebildet werden.
Der Aufladevorgang im Zeitbereich ti bis t2 des Knotens K und auch
der Verlauf der Spannung am Knoten K zwischen der Aufladung des Knotens und der Entladung entspricht vollständig den Verhältnissen
die bei der Erläuterung der Fig. 1 dargelegt worden sind. Soll die Entladung des Knotens K eingeleitet werden, dann wird wiederum ein
Taktsignal Si an den Funktionsgenerator angelegt und damit der Sprungfunktionsgenerator nach Fig. 7 und die gesteuerte Spannungsquelle
nach Fig. 5 eingeschaltet. Mit Hilfe des Sprungfunktionsgenerators
wird im Zeitbereich t5 bis t6 die Spannung am Knoten sehr schnell abgesenkt; anschließend sorgt die gesteuerte Spannungs
quelle durch zeitlich gestaffeltes Einschalten der Transistoren T10, T11 und T12 dafür, daß die Entladekurve des Knotens K eine
Form erhält, die gewährleistet, daß im Zeitbereich t7 bis t9 beide
Schalttransistoren TS des Flip-Flops FF im leitenden Zustand sind, nach Ablauf dieses Zeitbereiches jedoch das Flip-Flop in den Zustand
kippt, der durch das Lesesignal auf den Bitleitungsabschnitten festgelegt wird.
Die Erfindung ist im Ausführungsbeispiel anhand von n-Kanaltransi-·
stören beschrieben worden. Selbstverständlich ist eine Realisierung
auch mit p-Kanal-Transistoren möglich.
Die Vorteile der erfindungsgemäßen Leseverstärkerschaltung be-.
stehen insbesondere darin, daß die Bewertungszeit wesentlich verkürzt
wird. Diese Verbesserung ergibt sich dadurch, daß während der Bewertung der Lesesignale beide Schalttransistoren eines
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COPY
Flip-Flops in einem ganz bestimmten Zeitbereich leitend gesteuert
werden. Zur Realisierung der entsprechenden Entladekurve am Knoten K v/erden sehr einfache Schaltungsanordnungen vorgeschlagen.
9 Patentansprüche
.7 Figuren
.7 Figuren
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/09848/053·?
Claims (9)
- . P. a t e. η t a η s ρ χ .ü c h e1J Leseverstärkerschaltung für einen dynamischen MOS-Speicher, bei der zwei Zweige aus jeweils einem Schalttransistor und einem Lasttransistor dadurch rückgekoppelt sind, daß der Verbindungspunkt des Schalttransistors und des Lasttransistors jedes Zweiges jeweils mit der Steuerelektrode dos Schalttransistors des anderen Zweiges verbunden ist, bei der an den Verbindungspunkt jedes Zweiges jeweils ein Teilabschnitt einer Bitleitung angeschlossen ist und die Verbindungspunkte der beiden Zweige über einen Transistor miteinander verbunden sind und bei der die Quellenelektroden der Schalttransistoren mit einem Knoten verbunden sind, der vor Zyklusbeginn aufgeladen wird und zum Bewerten eines Lesesignales so entladen wird, daß derjenige Schalttransistor leitend gesteuert wird, an dessen Senkenelektrode die das Lesesignal verursachende Spannungsänderung anliegt, dadurch gekennzeichnet, daß nach der Aufladung des .Knotens (K) die Lasttransistoren (TL1, TL2) abgeschaltet sind, daß der die beiden Verbindungspunkte (p1, p2) verbindende Transistor (TO) aber im leitenden Zustand ist, so daß die am Knoten gegebene Spannung sich auf die Verbindungspunkte (p1, p2) der Zweige auswirkt, daß dann der zwischen den Verbindungspunkten (p1, p2) liegende Transistor (T10) abgeschaltet wird, und daß bei der anschließenden Bewertung eines Lesesignales die Entladungskurve des Knotens (K) derart ist, daß zeitweise auch der andere Schalttransistor in den leitenden Zustand gelangt»
- 2. Leseverstärkerschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an den Knoten (K) ein Funktionsgenerator angeschlossen ist, der die Entladungskurve des Knotens (K) erzeugt.
- 3. Leseverstärkerschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Aufladung des Knotens (K) über die Schalttransistoren (TS) erfolgt.VPA 75 E 2,54a 7O9848,O538OfNGSNAL
- 4. Leseverstärkerschaltung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß nach der Bewertung des Lesesignales die Lasttransistoren (TLl/ tl2) eingeschaltet werden, so daß sich auf den Bitleitungsabschnitten (BR, BL) Spannungen einstellen, die. einer binären 1 oder binären 0 entsprechen.
- 5. Leseverstärkerschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Funktionsgenerator aus einer Entladeschaltung (E) und einem an den Knoten (K) angeschlossenen Inverter (I) aufgebaut ist, daß die Entladeschaltung besteht aus einem während der Bewertungszeit leitend gesteuerten dritten Transistor (T3), der mit dem Knoten (K) verbunden ist und aus einer Parallelschaltung aus einem vierten Transistor (T1) und einem Kondensator (C1), die einerseits mit dem dritten Transistor (T3), andererseits mit einer festen Spannung (VSS) verbunden sind, und bei der die Steuerelektrode des vierten Transistors (T1) an den Ausgang des Inverters (I) angeschlossen ist und aus einem fünften Transistor (T2), der zwischen dem Kröten (K) und der festen Spannung (VSS) liegt, und der dann leitend gesteuert wird, wenn die Lasttransistoren (TL1, TL2) leitend gesteuert sind.
- 6. Leseverstärkerscha-ltung nach Anspruch 5, gekennzeichne, t durch einen Inverter (I) aus einem sechsten Transistor (T5), dessen Steuerelektrode mit dem Knoten (K) verbunden ist, dessen zweite Anschlußelektrode über einen als Diode geschalteten Transistor (T4) an eine feste Spannung (VSS) und dessen dritte Anschlußelektrode über einen weiteren als Diode geschalteten Transistor (T6) an einer zweiten festen Spannung (VDD) liegt, wobei die dritte Anschlußelektrode der Ausgang des Inverters (I) ist.
- 7. Leseverstärkerschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Funktionsgenerator einen Sprungfunktionsgenerator zur schnellen Entladung des Knotens zu Beginn der Entladung und zur restlichen Entladung eine gesteuerte Spannungsquelle hat.VPA 75 E 2154a709848/0538
- 8. Leseverstärkerschaltung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Sprungfunktionsgenerator aus einer Parallelschaltung aus einem achten Transistor (T8) und einem Kondensator (ClO) und einer zwischen der Parallelschaltung und eineir festen Spannung CVSS) liegenden neunten Transistor (T9) besteht, daß die Parallelschaltung andererseits an dem Knoten CK) angeschlossen ist, daß der achte Transistor (T8J während der Zeit zwischen der Aufladung und Entladung des Knotens leitend gesteuert ist, und daß der neunte Transistor (T9) während der Bewertungszeit leitend gesteuert ist.
- 9. Leseverstärkerschaltung nach Anspruch 7 oder 8, gekennzeichnet durch eine gesteuerte Spannungsquelle aus einem zehnten Transistor (TtO), dessen gesteuerte Strecke zwischen einer festen Spannung (VSS) und dem Knoten (K) liegt und dessen Steuerelektrode ein Taktsignal (S1) zugeführt wird, aus einer ersten Verzögarungsschaltung (VS 12) , deren Eingang das Taktsignal (S1) zugeführt wird, aus einem elften Transistor (T11), dessen gesteuerte Strecke zwischen der festen Spannung (VSS) und dem Knoten (K) liegt, und dessen Steuerelektrode mit dem Ausgang der ersten Verzögerungsschaltung (VS12) verbunden ist, aus einer zweiten Verzögerungsschaltung (VS23), die an den Ausgang der ersten Verzögerungsschaltung (VS12) angeschlossen ist, und aus einem zwölften Transistor (T12), dessen gesteuerte Strecke zwischen der festen Spannung (VSS) und dem dritten Knoten (K) liegt, und dessen Steuerelektrode an den Ausgang der zweiten Verzögerungsschaltung (VS2 3) angeschlossen ist, wobei das Verhältnis W durch L des zehnten Transistors (TS10) kleiner ist als dasjenige des elften Transistors (T11) und dasjenige des elften Transistors (T11) kleiner ist als dasjenige des zwölften Transistors (T12).VPA 75 E 2154a709848/053^
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2839073A1 (de) * | 1978-09-07 | 1980-03-20 | Siemens Ag | Integrierbare dynamische stromquelle fuer halbleiterbausteine |
US4811290A (en) * | 1986-04-01 | 1989-03-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4286178A (en) * | 1978-06-12 | 1981-08-25 | Texas Instruments Incorporated | Sense amplifier with dual parallel driver transistors in MOS random access memory |
US4168490A (en) * | 1978-06-26 | 1979-09-18 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Addressable word line pull-down circuit |
US4543501A (en) * | 1978-09-22 | 1985-09-24 | Texas Instruments Incorporated | High performance dynamic sense amplifier with dual channel grounding transistor |
US4255679A (en) * | 1978-10-30 | 1981-03-10 | Texas Instruments Incorporated | Depletion load dynamic sense amplifier for MOS random access memory |
US4296335A (en) * | 1979-06-29 | 1981-10-20 | General Electric Company | High voltage standoff MOS driver circuitry |
JPS6014438B2 (ja) * | 1979-08-29 | 1985-04-13 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリ− |
US4421996A (en) * | 1981-10-09 | 1983-12-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Sense amplification scheme for random access memory |
US4694205A (en) * | 1985-06-03 | 1987-09-15 | Advanced Micro Devices, Inc. | Midpoint sense amplification scheme for a CMOS DRAM |
ATE67891T1 (de) * | 1986-07-24 | 1991-10-15 | Siemens Ag | Integrierbare bewerterschaltung. |
US5519341A (en) * | 1994-12-02 | 1996-05-21 | Texas Instruments Incorporated | Cross coupled quad comparator for current sensing independent of temperature |
US6882209B1 (en) * | 1997-09-09 | 2005-04-19 | Intel Corporation | Method and apparatus for interfacing mixed voltage signals |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE789500A (fr) * | 1971-09-30 | 1973-03-29 | Siemens Ag | Memoire a semiconducteurs avec elements de memorisation a un seul transistor |
US3959781A (en) * | 1974-11-04 | 1976-05-25 | Intel Corporation | Semiconductor random access memory |
US4004284A (en) * | 1975-03-05 | 1977-01-18 | Teletype Corporation | Binary voltage-differential sensing circuits, and sense/refresh amplifier circuits for random-access memories |
US3978459A (en) * | 1975-04-21 | 1976-08-31 | Intel Corporation | High density mos memory array |
US3993917A (en) * | 1975-05-29 | 1976-11-23 | International Business Machines Corporation | Parameter independent FET sense amplifier |
US4025907A (en) * | 1975-07-10 | 1977-05-24 | Burroughs Corporation | Interlaced memory matrix array having single transistor cells |
US4061999A (en) * | 1975-12-29 | 1977-12-06 | Mostek Corporation | Dynamic random access memory system |
US4028557A (en) * | 1976-05-21 | 1977-06-07 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Dynamic sense-refresh detector amplifier |
-
1976
- 1976-05-24 DE DE2623219A patent/DE2623219B2/de active Granted
-
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- 1977-05-20 FR FR7715513A patent/FR2353116A1/fr active Granted
- 1977-05-23 GB GB21585/77A patent/GB1587129A/en not_active Expired
- 1977-05-24 JP JP52060391A patent/JPS6044748B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2839073A1 (de) * | 1978-09-07 | 1980-03-20 | Siemens Ag | Integrierbare dynamische stromquelle fuer halbleiterbausteine |
US4811290A (en) * | 1986-04-01 | 1989-03-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1587129A (en) | 1981-04-01 |
FR2353116A1 (fr) | 1977-12-23 |
DE2623219B2 (de) | 1978-10-12 |
FR2353116B1 (de) | 1984-02-24 |
JPS6044748B2 (ja) | 1985-10-05 |
DE2623219C3 (de) | 1979-06-13 |
US4119870A (en) | 1978-10-10 |
JPS52144240A (en) | 1977-12-01 |
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