DE2600256A1 - Quarzthermometer - Google Patents

Quarzthermometer

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DE2600256A1 DE19762600256 DE2600256A DE2600256A1 DE 2600256 A1 DE2600256 A1 DE 2600256A1 DE 19762600256 DE19762600256 DE 19762600256 DE 2600256 A DE2600256 A DE 2600256A DE 2600256 A1 DE2600256 A1 DE 2600256A1
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Description

DR. RUDOLF BAUER . D1PL.-ING. HELMUT HUBBUCH PATENTANWÄLTE
753 PFORZHEIM. (west-Germany)
WESTLICHESIiAMLEOPOLDPLATZ) _ TEL. (07231)102200
Centre Electronique Horloger S.A. Neuchätel
Quarzthermometer
Die Erfindung bezieht sich auf ein Quarzthermometer mit einem ersten, eine Bezugsfrequenz liefernden Quarzoszillator und einem zweiten eine temperaturabhängige Frequenz liefernden Quarzoszillator, sowie mit einer beide Frequenzen vergleichenden Anordnung. Die von dem ersten Oszillator gelieferte Frequenz dient als Bezugs- oder Vergleichsfrequenz und wird von>ider Vergleichsanordnung mit der von dem zweiten Oszillator erzeugten Frequenz verglichen, die einen merklichen Temperaturgang aufweist.
Quarzthermometer, die zwei verschiedene Schwingquarze aufweisen, sind bekannt? dabei hat der eine Schwingquarz nur einen sehr niedrigen Temperaturkoeffizienten oder ist an einer Stelle angeordnet, die keiner Temperaturänderung unterworfen ist; dieser erste Schwingquarz ist dazu bestimmt, eine konstante Frequenz zu erzeugen. Der andere Schwingquarz verfügt über einen merklichen linearen Temperaturkoeffizienten und ist dazu bestimmt, eine Frequenz zu erzeugen, die sich als Funktion der Temperatur ändert. Ein solches Quarzthermometer
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ORIGINAL INSPECTED
ist beispielsweise beschrieben in der Veröffentlichung "Quartz Crystal Thermometer" von W.H. Wade u.a., veröffentlicht in der Zeitschrift "The Review of Scientific Instruments", Band 33, Nummer 2, Februar 1962, auf den Seiten 212 und 213; eine andere Veröffentlichung läßt sich dem Artikel "Quartz Crystal Thermometer for Measuring Temperature Deviations in the 10 to 1O~ 0C Range" entnehmen, die in der gleichen Zeitschrift Band 34, Nummer 3, März 1963, Seiten 268 ff. von W.L. Smith u.a. veröffentlicht worden ist.
Die Notwendigkeit, bei diesen bekannten Quarzthermometern zwei Schwingquarze verwenden zu müssen, führt zu einem beträchtlichen Aufwand, einem erhöhten Raumbedarf und zu einem hohen Preis. Die Gestehungskosten erhöhen sich dann noch weiter, und zwar auf Grund des Umstandes, daß der bei solchen Thermometern verwendete Schwingquarz einen Spezialschnitt haben muß, der sonst sehr wenig verwendet und daher schwierig und nur mit hohen Kosten erhältlich ist; außerdem muß die Frequenz der beiden verwendeten Schwingquarze getrennt eingestellt werden.
Ein weiterer Nachteil der bekannten Thermometer besteht darin, daß dann, wenn der die Bezugsfrequenz erzeugende Quarz in der Nähe des Thermometerquarzes angeordnet ist, die entsprechende Sonde eine große thermische Trägheit und ein großes Volumen aufweist. Darüber hinaus verfälscht ein Temperaturunterschied zwischen den beiden Schwingquarzen die Messung. Befindet sich jedoch der Bezugsquarz außerhalb der zu messenden Umgebung, dann sind die sich auf die beiden Quarze auswirkenden Störeffekte unterschiedlich und die Messung kann aus diesem Grund verfälscht werden. Unter diesen Umständen kann eine thermostatische Temperaturregelung für den Bezugsquarz notwendig werden. Ferner altern auch die beiden verwendeten Schwinquarze unabhängig voneinander? die sich hieraus ergebenden Fehler sind kumulativ.
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Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, hier Abhilfe zu schaffen und die Nachteile der bekannten Quarzthermometer zu beseitigen, d.h. ein Quarzthermometer zu schaffen, welches hoch-präzise auch bei Alterung seiner Elemente ist, einen geringen Raumbedarf besitzt und preiswert hergestellt werden kann.
Zur Lösung dieser Aufgabe geht die Erfindung aus von dem eingangs genannten Quarzthermometer und besteht darin, dass das Thermometer einen einzigen Schwingquarz aufweist, der zumindest zwei, an je einen der beiden Oszillatoren angeschlossene Elektrodenpaare trägt und gleichzeitig in zwei verschiedenen, mechanisch nicht miteinander gekoppelten Schwingungsformen einerseits auf der Bezugsfrequenz schwingt, wobei jedes der beiden Elektrodenpaare mit je einer der beiden Schwingungsformen piezoelektrisch stark gekoppelt und von der anderen völlig entkoppelt ist.
Bei einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel umfasst das Quarzthermometer eine kreisförmige oder viereckige bzw. rechteckförmige Platte vom AT- oder BT-Schnitt, die entweder nur auf einer ihrer Grossflächen oder auf beiden Grossflächen zur Bildung der Elektroden metallisiert ist.
Ein solches, einen einzigen Schwingquarz umfassendes Quarzthermometer weist einen geringeren Raumbedarf als ein Thermometer mit zwei getrennten Schwingquarzen auf und ist wesentlich genauer. Die beiden miteinander zu vergleichenden Frequenzen werden darin von einem Element bestimmt, auf welches sich notwendigerweise sämtliche Ausseneinflüsse und die Alterung in identischer Weise auswirken. Ein solches erfindungsgemässes Quarzthermometer benötigt keinen Thermostat, es ist wesentlich einfacher aufgebaut und kostensparender herzustellen.
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Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche und in diesen niedergelegt.
Im folgenden werden Aufbau und Wirkungsweise von Ausführungsbeispielen der Erfindung anhand der Zeichnung im einzelnen näher erläutert. Dabei zeigen:
Fig. 1 eine schematische Draufsicht auf eine nur auf einer Grossflache metallisierte kreisförmige Quarzscheibe, die zur Bildung eines Quarzthermometers mit Oszillatorkreisen elektrisch verbunden ist,
Fig. 2 in perspektivischer Darstellung ein weiteres Ausführungsbeispiel einer Quarzplatte in rechteckiger Form mit Metallisierung auf beiden Grossflächen,
die Figuren 3A und 3B
zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel einer auf beiden Flächen metallisierten Quarzplatte von oben und von unten, und die
Figuren 4A und 4B
zeigen entsprechend den Darstellungen der Figuren 3A und 3B Ansichten eines weiteren Ausführungsbeispiels einer auf beiden Flächen metallisierten Quarzplatte/ wie sie in dem erf indungsgemässen Quarzthermometer Verwendung findet,
Fig. 5 zeigt schließlich in Form eines Diagramms das Verhältnis von Thermometerfrequenz zur Bezugsfrequenz als Funktion der Temperatur bei einem erfindungsgemäßen Quarzthermometer .
In dem in Fig. 1 gezeigten Schaltschema einer Grundschaltung für das vorliegende Quarzthermometer ist eine Quarzscheibe 1 mit vier Elektroden 2,3,4 und 5 ausgestattet, die symmetrisch entlang der Randkante der Quarzscheibe angeordnet sind. Die
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Elektroden 2 und 3 sind elektrisch mit einem ersten Oszillator
6 verbunden, der auf Grund seiner Verbindung mit dem Quarzkristall eine Vergleichs- oder Bezugsfrequenz erzeugt. Die Elektroden 4 und 5 sind elektrisch mit einem zweiten Oszillator
7 verbunden, der, wiederum auf Grund seiner Verbindung mit dem Quarzkristall, die Thermometerfrequenz liefert. Die Oszillatoren 6 und 7 können von üblicher Art und üblichem Aufbau sein.
Zur Temperaturmessung wird die von dem Oszillator 6 gelieferte Bezugsfrequenz als Zeitbasis für einen Zähler verwendet, der die Thermometerfrequenz mißt und verarbeitet. Die Anzeige des Zählers ergibt dann in bekannter Weise ein Mass für die jeweilige Temperatur (sh. z.B. den Artikel von D.L. HAMMOND U.A. BENJA-MINSON "The crystal resonator a digital transducer" in "IEEE Spectrum, April 1969, S. 53-58).
Die in Fig. 1 gezeigte Quarzscheibe 1 ist von kreisrunder Form und auf einer ihrer Hauptflächen metallisiert. Fig. 2 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel einer geeigneten Quarzplatte 1 t die bei diesem Ausführungsbeispiel rechteckförmig oder viereckig ausgebildet und auf ihren beiden Grossflächen metallisiert ist. In diesem letzteren Fall sind vier Elek troden 2', 3*, 4'und 5* vorgesehen, die symmetrisch um den Rand der Quarzscheibe 1 angeordnet sind. Jede Elektrode besteht aus zwei metallisierten Teilen, von denen der eine auf der oberen und der andere auf der unteren Fläche der Quarzplatte angeordnet sind; diese beiden Teile sind elektrisch miteinander verbunden. Eine solche Verteilung und Anordnung der Elektroden sorgt für eine bessere elektromechanische Kopplung, als sie mit der in Fig. 1 gezeigten Elektrodenanordnung erzielt werden kann.
Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel handelt es sich bei dem Quarz 1 um eine Quarzplatte mit AT- oder BT-Schnitt mit den Hauptrichtungen X, Y1 und Z1; die Hauptrichtungen Y1 und Z1 sind dabei gegenüber der mechanischen Achse Y bzw.
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gegenüber der optischen Achse Z des Quarzkristalls jeweils um einen bestimmten Winkel θ um die elektrische Achse X gedreht. Bei einer Quarzscheibe mit AT-Schnitt beträgt der Winkel θ 35°15'. Für eine Quarzscheibe mit BT-Schnitt beträgt θ -49°. Diese Werte können der Veröffentlichung "Quartz vibrators and their applications" von Pierre Vigoureux, herausgegeben von "His Majesty's Stationary Office", London, 1950, entnommen werden.
Analog der in Fig. 1 gezeigten Schaltungsanordnung sind auch die Elektroden 2 · und 31 mit dem ersten Oszillator 6 und die Elektroden 41 und 5' mit zweiten Oszillator 7 verbunden.
Die beiden Elektroden 2,3 von Fig. 1 oder 2',3' von Fig. 2 liegen einander in der Richtung Z1 der Quarzplatte 1 gegenüber und erzeugen bei Anliegen einer Spannung zwischen diesen Elektroden ein Hauptfeld E , in der Z'-Richtung. Die beiden Elektroden 4,5 (Fig.l) oder 4',5' (Fig.2) liegen einander in Richtung der X-Achse der Quarzplatte 1 gegenüber und erzeugen bei Anliegen einer Spannung zwischen diesen Elektroden ein Hauptfeld E in der X-Richtung.
Bei den beideiv-Schwingungsformen des Quarzes 1 handelt es sich um Dickenscherschwingungsformen, die mit Y1X und Y1Z' bezeichnet sind. Beide Schwingungsformen sind in der Veröffentlichung "Parallel Field Excitation of Thickness Modes of Quartz Plates" von R. Bechmann beschrieben, veröffentlicht in den "Proceedings of 14th Annual Symp. On Frequency Control", 1960 S. 68. Die beiden (unterschiedlichen) Frequenzen hängen vom gleichen physischen Parameter, und zwar der Dicke der Quarzplatte ab, was ihr Verhältnis von den anderen Abmessungen der Quarzplatte unabhängig macht.
Die erläuterte Elektrodenanordnung erlaubt die gleichzeitige
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Erregung zweier zueinander senkrechter elektrischer Felder E , und E . Die gleichzeitige (fegenwart zweier Elektrodengruppen
(2, 3 und 4, 5) erzeugt nur eine vernachlässigbare Störung des elektrischen Feldes. Tatsächlich erregt das elektrische Feld E , ,welches die Bezugsfrequenz induziert, nicht die Y1X-Schwingungsform; in entsprechender Weise wird von dem elektrischen Feld E , welches die Thermometerfrequenz induziert, die
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Schwingungsform Y1Z' nicht erregt. Darüber hinaus sind beide Schwingungsformen Y1X und Y1Z1, bei denen es sich in beiden Fällen um Dickenscherschwingungsformen handelt, mechanisch nicht gekoppelt.
Sind die Schwingungsamplituden nicht zu groß, dann ist eine störungsfreie Ober lagerung mechanischer Wellen möglich/ so dass eine gleichzeitige Erregung von verschiedenen Schwingungen im
gleichen Quarzvolumen auf zwei verschiedenen Frequenzen erfolgen kann.
Die beiden vorerwähnten Ausführungsformen eines Schwingquarzes 1 weisen das gleiche Verhalten wie zwei verschiedene und voneinander getrennte Schwingquarze auf, daher kann ein solcher, nach erfindungsgemäßen Grundlagen ausgebildeter Schwingquarz auch in vorteilhafter Weise die bisher bei Quarzthermometern verwendeten beiden Schwingquarze ersetzen.
Als Beispiel seien im folgenden einige Abmessungen und Daten eines erfindungsgemässen Schwingquarzes angegeben. Die Quarzplatte 1-von Fig. -1 ist beispielsweise-
-4 vom AT-Schnitt und hat eine Dicke von 2.10 m. Der Schwingquarz ist in der Lage, zwei Frequenzen zu erzeugen, und zwar eine bei 8,3.10 Hz, deren Temperaturkoeffizient - 0f1.10"6/°C beträgt und eine weitere Frequenz bei 9,5.1O6 Hz, deren Temperaturkoeffizient bei -3O.1O~ /0C liegt; diese beiden Frequenzen entsprechen dann jeweils der Bezugsfrequenz und der Thermometer frequenz. Der diagrammäßigen Darstellung der
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Fig. 5 läßt sich ein experimentell ermittelter Kurvenverlauf entnehmen, der das Verhältnis der beiden Frequenzen als Funktion der Temperatur angibt.
Fig. 5 zeigt so eine graphische Darstellung des Frequenzverhältnisses der Thermometerfrequenz zur Bezugsfrequenz als Funktion der Temperatur, und zwar im Bereich zwischen etwa -10 bis 5O°C, was dem Verwendungsbereich des beispielsweise angegebenen Quarzthermometers entspricht.
Wenn die Messung jeweils eine Sekunde dauert, dann liegt der minimale Meßfehler für die Messung der Thermometerfrequenz von 9,5.10 Hz bei 1 bis 2 Hz, dies entspricht einem Temperaturfehler von 3.10 0C. Ein solches Thermometer läßt sich daher außerordentlich empfindlich ausbilden.
Der Darstellung der Figuren 3A und 3B läßt sich ein weiteres Ausführungsbeispiel einer für ein solches Quarzthermometer verwendbaren Quarzplatte 1 entnehmen. Die beiden Schwingungsformen sind Dickenscherschwingungen,und zwar handelt es sich um unterschiedliche Anharmonische der Schwingungsform Y1X. Die eine rechteckige Form aufweisende Quarzplatte 1 ist vom AT-Schnitt und auf ihren beiden Grossflachen metallisiert. Während bei den in den Figuren 1 und 2 dargestellten Ausführungsformen die aktive Zone im mittleren Bereich der Quarzplatte keine Metallisierung trägt, weist die in den Figuren 3A und 3B beschriebene Ausführungsform auf jeder der Grossflächen zwei schwimmende, d.h. an kein bestimmtes Potential gebundene, jeweils elektrisch miteinander verbundene Elektroden auf, und zwar Elektroden 13 und 15 einerseits und Elektroden 9 und 11 andererseits. Desweiteren sind auf der oberen Fläche der Quarzplatte 1 zwei Elektroden 8 und 10 jeweils gegenüber
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den Elektroden 13 und 15 angeordnet. In entsprechender Weise sind auf der unteren Fläche der Quarzplatte 1 zwei weitere Elektroden 12 und 14 jeweils gegenüber den schwimmenden Elektroden 9 und 11 angeordnet.
Eine sogenannte "Serienkopplung" wird dann auf folgende Weise erzielt:
Die Elektroden 8 und 10 der oberen Fläche sind mit den beiden Anschlußklemmen des Oszillators 6 verbunden. Das von den Elektro den 8 und 11 erzeugte Feld Εγ, liegt in Gegenphase zu dem Feld Εγ, ,welches von den Elektroden 9 und 10 erzeugt wird. Die verwendete Schwingungsform, die als "TT"-Schwingungsform (Thickness Twist) bezeichnet wird, entspricht der ersten ungeraden Harmonischen der Dickenscherschwingung nach Y'f der ersten ungeraden Harmonischen nach X und der ersten geraden Harmonischen nach Z'. Diese Schwingungsform wird von den bei den Zonen des elektrischen Feldes erregt und liefert über den Oszillator 6 die Bezugsfrequenz.
Die Elektroden 12 und 14 der unteren Grossf lache der Quarzplatte sind mit den beiden Anschlußklemmen des Oszillators 7 verbunden. Das von den Elektroden 12 und 13 erzeugte elektrische Feld Εγι liegt in Gegenphase zu dem elektrischen Feld Εγι, welches von den Elektroden 14 und 15 erzeugt wird. Die hierbei verwendete Schwingungsform, die sogenannte "TS"-Schwingungsform (Thickness Shear), entspricht der ersten ungeraden Harmonischen der Dickenscherschwingung nach Y1, der ersten geraden Harmonischen nach X und der ersten ungeraden Harmoni schen nach Z1. Diese Schwingungsform wird von den beiden Zonen des elektrischen Feldes erregt und liefert über den Oszillator 7 die Thermometerfrequenz.
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Schließlich ist in den Figuren 4A und 4B ein weiteres Ausführungsbeispiel einer auf ihren beiden Grossflächen metallisierten Quarzscheibe 1 angegeben. Die obere Fläche, die in Fig. 4A gezeigt ist, trägt vier Elektroden 8*, 13', 10* und 15', die axialsymmetrisch mit Bezug auf die Hauptachse der Quarzscheibe angeordnet sind.
Die untere Fläche weist ebenfalls vier Elektroden 9*, 12*, 11' und 14'auf, die in einer der oberen Fläche ähnlichen Art auf dieser verteilt sind. Mit dieser Anordnung wird eine sogenannte "Parallelkopplung11 wird wie folgt realisiert:
Die Elektroden 8' und 9 sind mit der einen Anschlußklemme des Oszillators 6 und die Elektroden 10 und 11 mit der anderen Anschlußklemme des gleichen Oszillators verbunden. Die Elektroden 12* und 15* sind mit der einen Anschlußklemme des Oszillators 7 und die Elektroden 13* und 14'mit der anderen Anschlußklemme dieses Oszillators verbunden. Die Geometrie der elektrischen Felder ist dem mit Bezug auf die Figuren 3A und 3B beschriebenen Ausführungsbeispiel ähnlich, d.h., daß die Elektroden 81 und 11* einerseits und die Elektroden 9* und 101 andererseits die sogenannte TT-Schwingungsform und die Elektroden 12'und 13* einerseits und 14*und 15 andererseits die sogenannte TS-Schwingungsform erregen.
Die Elektroden 81 bis ll'erzeugen ein elektrisches Feld in den Bereichen starker Beanspruchung hinsichtlich der TT-Schwingungsform . Dieses Feld ist symmetrisch mit Bezug auf die X-Achse und symmetrisch mit Bezug auf die Z'Y'-Ebene. Das Feld erregt die TT-Schwingungsform, die die gleichen Symmetrien aufweist, erregt jedoch nicht die TS-Schwingungsform.
Die Elektroden 121 bis 15* erzeugen hingegen ein Feld in den Bereichen starker Beanspruchung für die TS-Schwingungsform.
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Dieses Feld ist symmetrisch mit Bezug auf die XY1 Ebene symmetrisch mit Bezug auf die Z'-Achse. Das Feld erregt daher die TS-Schwingungsform, die die gleichen Symmetrieverhältnisse aufweist, erregt jedoch nicht die TT-Schwingungsform. Die beiden diesen Schwingungsformen entsprechenden Frequenzen sind unterschiedlich und weisen einen unterschiedlichen Temperaturkoeffizienten auf. Eine mechanische Kopplung zwischen den beiden Schwingungsformen tritt nicht auf.
Grundsätzlich genügt es daher zur Bildung eines erfindungsgemäßen Quarzthermometers, gleichzeitig in dem gleichen Quarzvolumen zwei unterschiedliche Schwingungsformen anzuregen, die zwei unterschiedliche Frequenzen mit unterschiedlichen thermischen Eigenschaften liefern. Dazu ist einerseits ein geeigneter Quarzblock zu wählen und andererseits die Anordnung der Elektroden so zu treffen, dass zwei verschiedene Schwingungsformen getrennt angeregt werden. Was die Quarzauswahl betrifft, kommen beispielsweise auch als Längsbiegungsschwinger arbeitende Schwingstäbe oder als Flächenscher- oder Dickenscherschwinger arbeitende Scheibchen in Betracht, die einen über der Frequenz linearen Temperaturkoeffizienten nahe Null haben. Darüber hinaus weiss man, dass jeder Quarzblock über eine grosse Anzahl von Resonanzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Frequenzen verfügt, die jeweils unterschiedliche thermische Eigenschaften haben.
Abgesehen von der Verwendung als Präzisionsthermometer, beruht eine weitere Anwendungsmöglichkeit des erfindungsgemäßen Quarζthermometers aif der Fähigkeit, bei einem Präzisionsoszillator die Schwingfrequenz zu stabilisieren. Hierzu wird der Schwingquarz in eine thermostatgeregelte Umgebung eingebracht;, seine nur gering von der Temperatur abhängende Frequenz wird
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als Bezugsfrequenz für den Präzisionsoszillator verwendet. Die andere, stark von der Temperatur abhängige Frequenz dient dann zur Messung dieser Temperatur und stabilisiert mit Hilfe einer weiteren Regelschaltung die Thermostattemperatur und damit den Quarz selbst.
Die Erfindung ermöglicht die Herstellung eines hochpräzisen Quarzthermometers aus wenigen Einzelteilen auf engstem Raum und zu niedrigen Kosten, verglichen mit den bekannten Quarzthermometern. Da nur ein einziger Quarz verwendet wird, beeinflussen Störeffekte und Alterung des Quarzes beide Schwingungsformen in gleicher Weise, was dazu beiträgt, die Präzision eines solchen Quartz thermometers beträchtlich zu verbessern. Andererseits ist es, da das Frequenzverhältnis von der Quarzdicke unabhängig ist, nicht erforderlich, dann, wenn lediglich die Temperatur gemessen werden soll, die von dem Quarz abgegebenen Frequenzen präzise einzustellen, so dass sich auch hierdurch die Herstellungskosten reduzieren lassen.
Vorteilhaft ist weiterhin, dass die Gestehungskosten eines solchen Quarz thermometers sich durch die Wahl der Kopplung und der Form des elektrischen Feldes reduzieren lassen, was die Metallisierung nur einer einzigen Hauptfläche des Quarzes ermöglicht? dies ergibt eine wesentliche Vereinfachung des Herstellungsvorgangs. Da darüberhinaus Quarzscheiben mit in der Industrie üblichen AT- oder BT-Schnitten Verwendung finden, ist auch diesbezüglich der Gestehungspreis niedrig.
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Claims (8)

Patentansprüche
1.) Quarzthermometer mit einem ersten, eine Bezugsfrequenz liefernden Quarzoszillator und einem zweiten, eine temperaturabhängige Frequenz liefernden Quarzoszillator, sowie mit einer beide Frequenzen vergleichenden Anordnung, dadurch gekennzeichnet, dass es einen einzigen Schwingquarz (1) aufweist, der zumindest zwei, an je einen der beiden Oszillatoren (6,7) angeschlossene Elektrodenpaare (2,3 j 4,5) trägt und gleichzeitig in zwei verschiedenen, mechanisch nicht miteinander gekoppelten Schwingungsformen einerseits auf der Bezugsfrequenz und andererseits auf der temperaturabhängigen Frequenz schwingt, wobei jedes der beiden Elektrodenpaare mit je einer der beiden Schwingungsformen piezoelektrisch stark gekoppelt und von der anderen völlig entkoppelt ist.
2. Quarz thermometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der verwendete Schwingquarz eine Platte (1) vom AT- oder BT-Schnitt ist.
3. Quarzthermometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Elektroden des ersten Elektrodenpaares (2,3 ; 2',3') einander in Richtung der Z'-Achse der Quarzplatte gegenüberliegen und mit dem die Bezugsfrequenz liefernden Oszillator (6) verbunden sind und dass die Elektroden des zweiten Elektrodenpaares (4,5 ; 4',5') einander in Richtung der X-Achse der Quarzplatte gegenüberliegen und mit dem die temperaturabhängige Frequenz liefernden Oszillator (7) verbunden sind.
4. Quarzthermometer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
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dass die Quarzplatte (1) auf einer einzigen Grossfläche metallisiert ist und die Elektroden (2, 3, 4, 5) entlang des Plattenrandes angeordnet sind, wobei im mittleren Bereich eine aktive Zone nicht metallisiert ist.
5. Quarzthermometer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Quarzplatte (1) auf beiden Grossflächen metallisiert ist und die Elektroden (21, 3', 4', 5') entlang des Plattenrandes angeordnet sind, wobei im mittleren Bereich eine aktive Zone nicht metallisiert ist und jede Elektrode von zwei einander gegenüberliegenden, jeweils auf der einen und auf der anderen Grossfläche angebrachten und elektrisch miteinander verbundenen metallisierten Teilen gebildet ist.
6. Quarzthermometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Quarzplatte (1) auf beiden Grossflächen metallisiert ist und die Elektroden (8bis 15, 8'bisl5·) so angeordnet und elektrisch verbunden sind, dass gleichzeitig eine Dickentorsionsschwingung Y1X und Dickenscherschwingung Y1X erregt wird, wobei beide Schwingungen auf verschiedenen, anharmonischen Frequenzen erfolgen.
7. Quarzthermometer nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Quarzplatte (1) ein erstes Elektrodenpaar (8,10) aufweist, das auf ihrer einen Grossfläche aufgebracht ist und von zwei einander in Richtung der Z'-Achse gegenüberliegenden Elektroden gebildet ist, die an den die Bezugsfrequenz liefernden Oszillator (6) angeschlossen sind, dass die Quarzplatte (1) ein zweites Elektrodenpaar (12, 14) aufweist, das auf ihrer anderen Grossfläche aufgebracht ist und von zwei einander in Richtung der X-Achse gegenüberliegenden Elektroden gebildet-ist, die an den die temperaturabhängige Frequenz liefernden Oszillator (7) angeschlossen sind und dass die Quarzplatte (1) ferner vier schwimmende Elektroden (9, 11, 13, 15) aufweist, von denen je zwei auf jeder der Grossflächen der Platte (1) aufgebracht sind und miteinander elektrisch verbunden sind, wobei jede
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der schwimmenden Elektroden einer entsprechenden Elektrode des ersten bzw. zweiten Elektrodenpaares in Richtung der Y'-Achse gegenüberliegt.
8. Quarzthermometer nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Quarzplatte (1) ein erstes Elektrodenpaar (81, 10') aufweist, das auf ihrer einen Grossfläche aufgebracht ist und von zwei einander in Richtung der Z'-Achse gegenüberliegenden Elektroden gebildet ist, die an den die Bezugsfrequenz liefernden Oszillator (6) angeschlossen sind, dass die Quarzplatte (1) ein zweites Elektrodenpaar (12*, 14') aufweist, das auf ihrer anderen Grossfläche aufgebracht ist und von zwei einander in Richtung der X-Achse gegenüberliegenden Elektroden gebildet ist, die an den die temperaturabhängige Frequenz liefernden Oszillator (7) angeschlossen sind, dass die Quarzplatte (1) ein drittes Elektrodenpaar (13, 15') aufweist, das auf der gleichen Grossfläche wie das erste Elektrodenpaar aufgebracht ist, wobei jede Elektrode des dritten Elektrodenpaares einer Elektrode des zweiten Elektrodenpaares in Richtung der Υ1-Achse gegenüberliegt und elektrisch mit der anderen Elektrode des zweiten Elektrodenpaares verbunden ist und dass die Quarzplatte (1) schliesslich ein viertes Elektrodenpaar (91, 11') aufweist, das auf der gleichen Grossfläche wie das zweite Elektrodenpaar aufgebracht ist, wobei jede Elektrode des vierten Elektrodenpaares einer Elektrode des ersten Elektrodenpaares in Richtung der Y'-Achse gegenüberliegt und elektrisch mit der anderen Elektrode des ersten Elektrodenpaares verbunden ist.
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DE19762600256 1975-01-09 1976-01-07 Quarzthermometer Granted DE2600256A1 (de)

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CH (1) CH589281A5 (de)
DE (1) DE2600256A1 (de)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1981002786A1 (en) * 1980-03-20 1981-10-01 H Ziegler Device for measuring heat consumption for heating installation
DE3145245A1 (de) * 1980-11-18 1982-08-05 Kabushiki Kaisha Suwa Seikosha, Tokyo Thermometer mit einem quarzkristallschwinger als temperaturfuehler und fuer ein solches geeignete oszillatorschaltung
DE3529778A1 (de) * 1985-08-08 1987-02-19 Forschungsgesellschaft Fuer Fe Elektronische temperaturmess- und anzeigeeinrichtung
DE4109469A1 (de) * 1990-04-17 1991-10-24 Jenoptik Jena Gmbh Anordnung zur bestimmung der absorption und der laserfestigkeit von optischen schichten
EP0491934A1 (de) * 1990-07-20 1992-07-01 Sundstrand Corporation Temperaturübertrager
DE4041851A1 (de) * 1990-12-24 1992-07-02 Wandel & Goltermann Verfahren zum messen der leistung einer optischen strahlung, anordnung zur durchfuehrung des verfahrens, und temperaturmessquarz zur verwendung in der anordnung zur durchfuehrung des verfahrens

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4175243A (en) * 1977-11-17 1979-11-20 Corbett James P Temperature compensated oscillating crystal force transducer systems
US4144747A (en) * 1978-01-30 1979-03-20 The Bendix Corporation Simultaneously resonated, multi-mode crystal force transducer
US4233843A (en) * 1978-10-30 1980-11-18 Electric Power Research Institute, Inc. Method and means for measuring temperature using acoustical resonators
JPS5797419A (en) * 1980-12-10 1982-06-17 Seiko Epson Corp Quartz thermometer
DE3152870A1 (de) * 1981-05-26 1983-07-28 Caterpillar Tractor Co., (N.D.Ges.D.Staates Calif.), Peoria, Ill. Vorrichtung zur bestimmung des verhaeltnisses von zwei signalwiederholfrequenzen
JPS58206939A (ja) * 1982-05-27 1983-12-02 Seiko Instr & Electronics Ltd 電子式体温計
JPS59128422A (ja) * 1983-01-13 1984-07-24 Yokogawa Hokushin Electric Corp 水晶温度計
US4525647A (en) * 1983-12-02 1985-06-25 Motorola, Inc. Dual frequency, dual mode quartz resonator
JPS60196634A (ja) * 1984-03-21 1985-10-05 Yokogawa Hokushin Electric Corp 水晶温度計
JPS60155297U (ja) * 1984-03-27 1985-10-16 パイオニア株式会社 動電形スピ−カのボイスコイル
JPS60212100A (ja) * 1984-04-06 1985-10-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd デジタルスピ−カ
US4603306A (en) * 1985-04-25 1986-07-29 The United States Of America As Represented By The Administrator, National Aeronautics And Space Administration Temperature sensitive oscillator
JPS61184397U (de) * 1985-05-08 1986-11-17
JPS61288132A (ja) * 1985-06-17 1986-12-18 Yokogawa Electric Corp 水晶温度計
US4872343A (en) * 1988-08-10 1989-10-10 Sundstrand Data Control, Inc. Matched pairs of force transducers
US5041800A (en) * 1989-05-19 1991-08-20 Ppa Industries, Inc. Lower power oscillator with heated resonator (S), with dual mode or other temperature sensing, possibly with an insulative support structure disposed between the resonator (S) and a resonator enclosure
JPH02147996U (de) * 1989-05-19 1990-12-17
US5004987A (en) * 1989-05-19 1991-04-02 Piezo Crystal Company Temperature compensated crystal resonator found in a dual-mode oscillator
JP3158742B2 (ja) * 1992-02-25 2001-04-23 株式会社村田製作所 チップ型発振子およびこの発振子を用いた発振回路
US5391844A (en) * 1992-04-03 1995-02-21 Weigh-Tronix Inc Load cell
US5313023A (en) * 1992-04-03 1994-05-17 Weigh-Tronix, Inc. Load cell
US5442146A (en) * 1992-04-03 1995-08-15 Weigh-Tronix, Inc. Counting scale and load cell assembly therefor
US5336854A (en) * 1992-04-03 1994-08-09 Weigh-Tronix, Inc. Electronic force sensing load cell
US5414322A (en) * 1994-04-19 1995-05-09 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Crystal resonator with multiple segmented lateral-field excitation electrodes
US5686779A (en) * 1995-03-01 1997-11-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army High sensitivity temperature sensor and sensor array
US6658376B1 (en) 1999-06-15 2003-12-02 Seiko Epson Corporation Determination of vibration frequency characteristics of electroded crystal plate
US6654711B1 (en) 1999-06-15 2003-11-25 Seiko Epson Corporation Correction factors for the analysis of piezoelectric devices
US20060284628A1 (en) * 2005-06-16 2006-12-21 Jiun-Der Yu Super element for the prediction of viscosity effect on crystal plate
US20110304471A1 (en) * 2010-06-09 2011-12-15 Hsin-Chen Ko Multi-functional infrared thermometer
JP5918594B2 (ja) * 2012-03-30 2016-05-18 日本電波工業株式会社 発振装置
JP5152944B1 (ja) * 2012-09-21 2013-02-27 眞人 田邉 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2456811A (en) * 1945-10-23 1948-12-21 Crystal Res Lab Inc Piezoelectric temperature measuring and control system
US3617923A (en) * 1969-11-06 1971-11-02 Bell Telephone Labor Inc Beat frequency generator using two oscillators controlled by a multiresonator crystal

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1850580A (en) * 1928-12-28 1932-03-22 Western Electric Co Oscillation system

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2456811A (en) * 1945-10-23 1948-12-21 Crystal Res Lab Inc Piezoelectric temperature measuring and control system
US3617923A (en) * 1969-11-06 1971-11-02 Bell Telephone Labor Inc Beat frequency generator using two oscillators controlled by a multiresonator crystal

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1981002786A1 (en) * 1980-03-20 1981-10-01 H Ziegler Device for measuring heat consumption for heating installation
DE3145245A1 (de) * 1980-11-18 1982-08-05 Kabushiki Kaisha Suwa Seikosha, Tokyo Thermometer mit einem quarzkristallschwinger als temperaturfuehler und fuer ein solches geeignete oszillatorschaltung
DE3529778A1 (de) * 1985-08-08 1987-02-19 Forschungsgesellschaft Fuer Fe Elektronische temperaturmess- und anzeigeeinrichtung
DE4109469A1 (de) * 1990-04-17 1991-10-24 Jenoptik Jena Gmbh Anordnung zur bestimmung der absorption und der laserfestigkeit von optischen schichten
EP0491934A1 (de) * 1990-07-20 1992-07-01 Sundstrand Corporation Temperaturübertrager
EP0491934A4 (en) * 1990-07-20 1992-12-30 Sundstrand Data Control, Inc. Temperature transducer
DE4041851A1 (de) * 1990-12-24 1992-07-02 Wandel & Goltermann Verfahren zum messen der leistung einer optischen strahlung, anordnung zur durchfuehrung des verfahrens, und temperaturmessquarz zur verwendung in der anordnung zur durchfuehrung des verfahrens

Also Published As

Publication number Publication date
JPS593695B2 (ja) 1984-01-25
JPS5195885A (de) 1976-08-23
DE2600256C2 (de) 1987-01-15
US4039969A (en) 1977-08-02
CH589281A5 (de) 1977-06-30

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