JP5152944B1 - 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】水晶振動子31(Yカット)は、発振周波数が温度に対して大きく変化する温度特性を有し、水晶振動子32(ATカット)は、発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する。水晶振動子31、32は、同一種類の原材料から切り出され、形状、材料、サイズがほぼ同一となるように構成されるとともに、差分周波数回路35において生成される信号の周波数が、21〜30℃の測定範囲内で10kHz以下となる組み合わせとなっている。差分周波数生成回路35において生成される信号の周波数は計測装置本体部に出力され、周波数カウント回路15は、この信号の周波数を、レシプロカル方式により有効桁数が少なくとも8桁以上となるように計測する。
【選択図】図3
Description
f:固有の発振周波数
n:オーバートーン次数
t:水晶振動子の厚さ
ρ:密度
Cij:弾性定数
前記第1の水晶振動子と比較して発振周波数が温度に対して大きく変化するような温度特性を有する切断方位がYカットまたはLCカットの第2の水晶振動子と、
前記第1の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第1の発振回路と、
前記第2の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第2の発振回路と、
前記第1の発振回路の発振周波数と前記第2の発振回路の発振周波数との差の周波数成分の信号を生成する差分周波数生成回路とを備えた水晶温度計測用プローブにおいて、
前記第1の水晶振動子および前記第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されるとともに、前記差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となる組み合わせであることを特徴とする水晶温度計測用プローブである。
前記水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数を計測する周波数カウンタと、前記周波数カウンタにより計測された周波数を測定温度に変換する変換手段と、前記変換手段により得られた測定温度を表示する表示器とを備えた計測装置本体部と、
を有する水晶温度計測装置において、
前記第1の水晶振動子および前記第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されるとともに、前記差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となる組み合わせであることを特徴とする水晶温度計測装置である。
T:測定温度
fT:測定温度Tに対する発振周波数
f0:基準温度の発振周波数
A:センサ係数(1次関数)
B:センサ係数(2次関数)
C:センサ係数(3次関数)
11、11a 水晶温度計測用プローブ
12 3線式ケーブル
13、13a センサ信号増幅回路
14、14a センサ用電源回路
15 周波数カウント回路
16 CPU
17 基準クロック生成回路
18 表示器
19 通信インタフェース(IF)回路
20 記憶装置
21 3線式接続端子
22 BNCコネクタ
23 逓倍器
31 水晶振動子(Yカット)
32 水晶振動子(ATカット)
33 水晶発振回路
34 水晶発振回路
35 差分周波数生成回路
36 3線式出力回路
36a 2線式出力回路
40 パーソナルコンピュータ
41 水晶温度センサ
Claims (3)
- 発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する切断方位がATカットの第1の水晶振動子と、
前記第1の水晶振動子と比較して発振周波数が温度に対して大きく変化するような温度特性を有する切断方位がYカットまたはLCカットの第2の水晶振動子と、
前記第1の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第1の発振回路と、
前記第2の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第2の発振回路と、
前記第1の発振回路の発振周波数と前記第2の発振回路の発振周波数との差の周波数成分の信号を生成する差分周波数生成回路とを備えた水晶温度計測用プローブにおいて、
前記第1の水晶振動子および前記第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されるとともに、前記差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となる組み合わせであることを特徴とする水晶温度計測用プローブ。 - 発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する切断方位がATカットの第1の水晶振動子と、前記第1の水晶振動子と比較して発振周波数が温度に対して大きく変化するような温度特性を有する切断方位がYカットまたはLCカットの第2の水晶振動子と、前記第1の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第1の発振回路と、前記第2の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第2の発振回路と、前記第1の発振回路の発振周波数と前記第2の発振回路の発振周波数との差の周波数成分の信号を生成する差分周波数生成回路とを備えた水晶温度計測用プローブと、
前記水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数を計測する周波数カウンタと、前記周波数カウンタにより計測された周波数を測定温度に変換する変換手段と、前記変換手段により得られた測定温度を表示する表示器とを備えた計測装置本体部と、
を有する水晶温度計測装置において、
前記第1の水晶振動子および前記第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されるとともに、前記差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となる組み合わせであることを特徴とする水晶温度計測装置。 - 前記周波数カウンタは、前記水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数をレシプロカル方式により計測するとともに、有効桁数が少なくとも8桁以上となるように計測する請求項2に記載の水晶温度計測装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014045848A1 (ja) * | 2012-09-21 | 2014-03-27 | Tanabe Masato | 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20130070953A (ko) * | 2011-12-20 | 2013-06-28 | 한국전자통신연구원 | 공정변화에 둔감한 오실레이터 기반 디지털 온도센서 |
JP6567403B2 (ja) | 2015-12-09 | 2019-08-28 | 株式会社メガチップス | 周波数校正回路および周波数校正方法 |
EP3494374B1 (en) * | 2016-08-02 | 2020-05-13 | Signify Holding B.V. | Thermal detection system and method |
JP6685480B1 (ja) | 2017-04-11 | 2020-04-22 | シグニファイ ホールディング ビー ヴィSignify Holding B.V. | 熱検出システム及び方法 |
JPWO2019053794A1 (ja) * | 2017-09-13 | 2020-09-24 | 日本電気株式会社 | 制御装置、アレイ型センサ、制御方法及びプログラム |
US11013146B2 (en) | 2018-02-27 | 2021-05-18 | Ciena Corporation | Asymmetric heat pipe coupled to a heat sink |
CN108593124B (zh) * | 2018-04-17 | 2023-01-10 | 章礼道 | 支持NB-IoT的高精度温度传感器 |
CN110030784A (zh) * | 2019-04-16 | 2019-07-19 | 章礼道 | 使用卫星授时温度传感器的智能冷冻冷藏箱 |
RU2767302C1 (ru) * | 2020-11-25 | 2022-03-17 | Общество с ограниченной ответственностью "ОТК" | Установка и термостат для контроля долговременной стабильности частоты кварцевых резонаторов и генераторов |
CN116735023B (zh) * | 2023-08-15 | 2023-10-13 | 河北远东通信系统工程有限公司 | 一种基于晶体双模谐振频率的自校准温度计 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5932834A (ja) * | 1982-08-18 | 1984-02-22 | Fujitsu Ltd | 水晶温度センサ |
JPS63311133A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-19 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 水晶温度センサ |
JP2010271091A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Seiko Epson Corp | 周波数測定装置 |
JP4678892B1 (ja) * | 2010-07-29 | 2011-04-27 | 眞人 田邉 | 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3355949A (en) * | 1964-08-17 | 1967-12-05 | Albert A Elwood | Crystal temperature and pressure transucer |
US3626289A (en) * | 1967-09-14 | 1971-12-07 | Beckman Instruments Inc | Front panel trigger lamps |
US3879992A (en) * | 1970-05-12 | 1975-04-29 | California Inst Of Techn | Multiple crystal oscillator measuring apparatus |
CH589281A5 (ja) * | 1975-01-09 | 1977-06-30 | Centre Electron Horloger | |
US4163230A (en) * | 1976-07-14 | 1979-07-31 | Citizen Watch Co. Ltd. | Display device for electronic timepieces |
US4270547A (en) * | 1978-10-03 | 1981-06-02 | University Patents, Inc. | Vital signs monitoring system |
US4305041A (en) * | 1979-10-26 | 1981-12-08 | Rockwell International Corporation | Time compensated clock oscillator |
US4486624A (en) * | 1980-09-15 | 1984-12-04 | Motorola, Inc. | Microprocessor controlled radiotelephone transceiver |
CH650122GA3 (ja) * | 1981-12-17 | 1985-07-15 | ||
JPS58143227A (ja) * | 1982-02-22 | 1983-08-25 | Seikosha Co Ltd | 温度検出装置 |
US4496907A (en) * | 1982-05-06 | 1985-01-29 | Dickey-John Corporation | Method and apparatus for non-destructively determining ingredients of a sample |
US4872765A (en) * | 1983-04-20 | 1989-10-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Dual mode quartz thermometric sensing device |
US5214668A (en) * | 1990-09-28 | 1993-05-25 | Nec Corporation | Temperature detector and a temperature compensated oscillator using the temperature detector |
WO1995002173A1 (fr) * | 1993-07-06 | 1995-01-19 | Seiko Epson Corporation | Procede et dispositif de mesure de pression a l'aide d'un oscillateur a cristal |
US5400269A (en) * | 1993-09-20 | 1995-03-21 | Rockwell International Corporation | Closed-loop baseband controller for a rebalance loop of a quartz angular rate sensor |
US5869763A (en) * | 1995-10-19 | 1999-02-09 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method for measuring mass change using a quartz crystal microbalance |
EP0932034B1 (de) * | 1998-01-27 | 2004-06-09 | Michael Hesky GmbH | Temperaturmess- und -überwachungsanordnung |
JP4679782B2 (ja) * | 1999-12-10 | 2011-04-27 | 富士通株式会社 | 温度センサ |
US6695475B2 (en) * | 2001-05-31 | 2004-02-24 | Stmicroelectronics, Inc. | Temperature sensing circuit and method |
JP2003023339A (ja) | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 水晶振動子 |
GB2379983B (en) * | 2001-09-19 | 2004-11-17 | Eric Atherton | Transducer assembly |
JP2003149058A (ja) | 2001-11-14 | 2003-05-21 | Toshiba Corp | 温度センサ及びプラント温度計測装置 |
US7211926B2 (en) * | 2005-03-09 | 2007-05-01 | The Regents Of The University Of California | Temperature compensated oscillator including MEMS resonator for frequency control |
JP4713556B2 (ja) * | 2006-09-11 | 2011-06-29 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | Gps機器用の非常に精密で温度に依存しない基準周波数を生成するためのシステム及び方法 |
JP2013051673A (ja) * | 2011-07-29 | 2013-03-14 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 水晶振動子及び水晶発振器 |
US8979362B2 (en) * | 2012-02-15 | 2015-03-17 | Infineon Technologies Ag | Circuit and method for sensing a physical quantity, an oscillator circuit, a smartcard, and a temperature-sensing circuit |
JP5152944B1 (ja) * | 2012-09-21 | 2013-02-27 | 眞人 田邉 | 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 |
JP6055708B2 (ja) * | 2013-03-29 | 2016-12-27 | 日本電波工業株式会社 | 水晶発振器及び発振装置 |
-
2012
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-
2013
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- 2013-09-02 US US14/376,780 patent/US9228906B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5932834A (ja) * | 1982-08-18 | 1984-02-22 | Fujitsu Ltd | 水晶温度センサ |
JPS63311133A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-19 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 水晶温度センサ |
JP2010271091A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Seiko Epson Corp | 周波数測定装置 |
JP4678892B1 (ja) * | 2010-07-29 | 2011-04-27 | 眞人 田邉 | 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014045848A1 (ja) * | 2012-09-21 | 2014-03-27 | Tanabe Masato | 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 |
US9228906B2 (en) | 2012-09-21 | 2016-01-05 | Masato Tanabe | Quartz-temperature-measurement probe and quartz-temperature-measurement device |
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---|---|
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