JP5152944B1 - 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 - Google Patents

水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5152944B1
JP5152944B1 JP2012208183A JP2012208183A JP5152944B1 JP 5152944 B1 JP5152944 B1 JP 5152944B1 JP 2012208183 A JP2012208183 A JP 2012208183A JP 2012208183 A JP2012208183 A JP 2012208183A JP 5152944 B1 JP5152944 B1 JP 5152944B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
temperature
crystal
oscillation
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012208183A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014062816A (ja
Inventor
眞人 田邉
Original Assignee
眞人 田邉
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 眞人 田邉 filed Critical 眞人 田邉
Priority to JP2012208183A priority Critical patent/JP5152944B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5152944B1 publication Critical patent/JP5152944B1/ja
Priority to US14/376,780 priority patent/US9228906B2/en
Priority to PCT/JP2013/073478 priority patent/WO2014045848A1/ja
Publication of JP2014062816A publication Critical patent/JP2014062816A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/32Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using change of resonant frequency of a crystal

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)

Abstract

【課題】水晶振動子の発振周波数に基づいて温度測定を行う際に、1/1000000℃(100万分の1℃)のような高い精度での温度測定を実現する。
【解決手段】水晶振動子31(Yカット)は、発振周波数が温度に対して大きく変化する温度特性を有し、水晶振動子32(ATカット)は、発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する。水晶振動子31、32は、同一種類の原材料から切り出され、形状、材料、サイズがほぼ同一となるように構成されるとともに、差分周波数回路35において生成される信号の周波数が、21〜30℃の測定範囲内で10kHz以下となる組み合わせとなっている。差分周波数生成回路35において生成される信号の周波数は計測装置本体部に出力され、周波数カウント回路15は、この信号の周波数を、レシプロカル方式により有効桁数が少なくとも8桁以上となるように計測する。
【選択図】図3

Description

本発明は、水晶振動子の発振周波数に基づいて温度を計測するための水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置に関する。
水晶振動子は、形状等により定まる固有の発振周波数(振動周波数)を有している。この発振周波数は、下記の式により表されることが知られている。
Figure 0005152944
ここで、各変数は下記のようになっている。
f:固有の発振周波数
n:オーバートーン次数
t:水晶振動子の厚さ
ρ:密度
Cij:弾性定数
一般的に水晶振動子は、周波数温度変化が少なく最も安定的な周波数を発生する発振素子として、無線通信機、各種計測器等の周波数源として使用されている。しかし、結晶から切り出す角度である切断角度(切断方位)によっては、温度により発振周波数が大きく変化する特性を有するものがあり、代表的なものとしてYカット、LCカット等がある。
このような水晶振動子の特性を利用し、温度に対する周波数変化が直線的になるような切断方位の水晶振動子を用いて、水晶振動子の発振周波数を測定することにより温度を測定する温度計測装置が用いられている(例えば、特許文献1、2参照。)。また、2つの水晶振動子の差分周波数を測定することにより温度を測定するようにした水晶温度計測装置も存在する(例えば、特許文献3参照。)。そして、電気信号の周波数は高い精度で測定可能なため、このような水晶振動子を利用した温度計測装置によれば1/10000℃(1万分の1℃)という測定精度での温度計測を実現することができる。
ところで、近年では、地球温暖化等の地球環境の変化が問題になっている。そのため、地殻変動、海水温の変化等を監視して地球環境の変化を長期的に観測するために、上述したような水晶温度計測装置を用いて、地下水、深井戸、地殻熱、深海の海水温度等を測定することが行われている。また、気象・海象観測用として上述したような水晶温度計測装置を太洋上に設置して無人で海水温度を測定するような用途にも用いられる。
このような深海の海水温度等を測定するような場合、測定精度が1/10000℃(1万分の1℃)の場合でも環境変化を観測することは可能であるが、微小な温度変化を計測するためには、より高い精度で海水温度等を測定することが求められている。
特開2003−23339号公報 特開2003−149058号公報 特許第4678892号公報
上述したように従来技術では、水晶振動子を利用した温度計測を行う場合、1/10000℃(1万分の1℃)の測定精度での計測を行うことは可能であったが、1/1000000℃(100万分の1℃)のようなより高い精度での温度測定を実現することはできなかった。
本発明の目的は、水晶振動子の発振周波数に基づいて温度測定を行う際に、1/1000000℃(100万分の1℃)というような高い精度での温度測定を実現することが可能な水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置を提供することである。
本発明は、発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する切断方位がATカットの第1の水晶振動子と、
前記第1の水晶振動子と比較して発振周波数が温度に対して大きく変化するような温度特性を有する切断方位がYカットまたはLCカットの第2の水晶振動子と、
前記第1の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第1の発振回路と、
前記第2の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第2の発振回路と、
前記第1の発振回路の発振周波数と前記第2の発振回路の発振周波数との差の周波数成分の信号を生成する差分周波数生成回路とを備えた水晶温度計測用プローブにおいて、
前記第1の水晶振動子および前記第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されるとともに、前記差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となる組み合わせであることを特徴とする水晶温度計測用プローブである。
本発明では、第1の水晶振動子および第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されている。そして、差分周波数回路では、第1の発振回路の発振周波数と第2の発振回路の発振周波数との差の周波数成分の信号を生成して、この信号の周波数を計測することにより温度計測が行われる。そのため、本発明によれば、第1の水晶振動子および第2の水晶振動子の経年変化等の各種特性変化が打ち消され、高い測定精度での温度計測が可能となる。
さらに、本発明では、第1の水晶振動子および第2の水晶振動子は、差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下のような低い周波数になる組み合わせとなっている。そのため、本発明によれば、温度測定の際に計測される周波数が予め設定された測定温度範囲内において低くなるため、1/1000000℃(100万分の1℃)という高い精度での温度測定を実現することが可能となる。
また、本発明は、発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する切断方位がATカットの第1の水晶振動子と、前記第1の水晶振動子と比較して発振周波数が温度に対して大きく変化するような温度特性を有する切断方位がYカットまたはLCカットの第2の水晶振動子と、前記第1の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第1の発振回路と、前記第2の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第2の発振回路と、前記第1の発振回路の発振周波数と前記第2の発振回路の発振周波数との差の周波数成分の信号を生成する差分周波数生成回路とを備えた水晶温度計測用プローブと、
前記水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数を計測する周波数カウンタと、前記周波数カウンタにより計測された周波数を測定温度に変換する変換手段と、前記変換手段により得られた測定温度を表示する表示器とを備えた計測装置本体部と、
を有する水晶温度計測装置において、
前記第1の水晶振動子および前記第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されるとともに、前記差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となる組み合わせであることを特徴とする水晶温度計測装置である。
また、前記周波数カウンタは、前記水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数をレシプロカル方式により計測するとともに、有効桁数が少なくとも8桁以上となるように計測することが好ましい。
本発明によれば、周波数カウンタは、水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数をレシプロカル方式により計測するようにしているため、水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数が低い場合でも、測定時間を長くすることなく一定の精度で周波数の測定を行うことが可能であり、水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数を有効桁数が8桁以上となるように測定することにより、1/1000000℃(100万分の1℃)という高い精度での温度測定を実現することが可能となる。
上記本発明によれば、水晶振動子の発振周波数に基づいて温度測定を行う際に、予め設定された測定温度範囲内において、1/1000000℃(100万分の1℃)という高い精度での温度測定を実現することが可能な水晶温度計測装置を提供することができる。
本発明の一実施形態の水晶温度計測装置のシステム構成を示す図である。 本発明の一実施形態の水晶温度計測装置の外観を示す図である。 図1中の水晶温度計測用プローブ11の構成を示すブロック図である。 水晶温度センサ41の構造の一例を示す図である。 本発明の一実施形態の水晶温度計測装置における、ATカットの水晶振動子とYカットの水晶振動子の周波数温度特性の一例を示す図である。 本発明の一実施形態の水晶温度計測装置において使用される水晶振動子31(Yカット)と水晶振動子32(ATカット)の温度に対する発振周波数の関係を示す図である。 予め設定された測定温度範囲における水晶振動子31、32の発振周波数と差分周波数Δf(f(Y)−f(AT))との関係を示す図である。 測装置本体部10との間を同軸ケーブルにより接続する場合に使用される水晶温度計測用プローブ11aの構成を示す図である。 本発明の一実施形態の水晶温度計測装置において測定温度を計算するための動作を示すフローチャートである。 差分周波数Δfが10kHzの場合に、有効桁数8桁で周波数測定が行われた際の精度を説明するための図である。
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
図1は本発明の一実施形態の水晶温度計測装置の構成を示すシステム図である。
本実施形態の水晶温度計測装置は、図1に示されるように、温度を測定しようとする場所に設置される水晶温度計測用プローブ11と、水晶温度計測用プローブ11からの信号に基づいて測定温度の算出および表示を行うための計測装置本体部10と、この水晶温度計測用プローブ11と計測装置本体部10との間を接続するための3線式ケーブル12とから構成されている。
そして、計測装置本体部10は、図1に示されるように、センサ信号増幅回路13、13aと、センサ用電源回路14、14aと、周波数カウント回路15と、CPU16と、基準クロック生成回路17と、表示器18と、通信インタフェース(IF)回路19と、記憶装置20と、3線式接続端子21と、BNCコネクタ22と、逓倍器23(×10)を備えている。
水晶温度計測用プローブ11との間を接続している3線式ケーブル12は、計測装置本体部10の3線式接続端子21に接続されている。この3線式接続端子21は、信号出力、コモン線、センサ電源の3線を接続する構成となっている。
なお、BNCコネクタ22は、水晶温度計測用プローブ11と計測装置本体部10との間を同軸ケーブルにより接続する際に使用するものである。本実施形態の水晶振動子温度計測装置は、水晶温度計測用プローブ11と計測装置本体部10との間を3線式ケーブルおよび同軸ケーブルのどちらのケーブルでも接続できるような構成となっている。
センサ信号増幅器回路13、13aは、それぞれ、3線式接続端子21からの信号出力またはBNCコネクタ22からの信号出力を増幅して周波数カウント回路15に出力する。このセンサ信号増幅器回路13、13aにおいて増幅される信号の周波数Δfについては、5kHz/25℃の周波数となっている。この信号出力については後述する。なお、ここで「/25℃」という標記は、測定温度が25℃の場合の周波数であることを意味している。
センサ用電源回路14、14aは、それぞれ、水晶温度計測用プローブ11において使用されるセンサ電源を供給するための回路である。本実施形態においては一例として、センサ用電源回路14は、5Vの電源を、センサ電源として3線式接続端子21を介して水晶温度計測用プローブ11に供給している。なお、センサ用電源回路14aは、BNCコネクタ22の信号線にセンサ電源を供給し、このセンサ電源は、同軸ケーブルの信号線に重畳されて水晶温度計測用プローブに伝送される。
本実施形態における基準クロック生成回路17は、10MHzのクロック信号を生成する。そして、基準クロック生成回路17で生成された10MHzのクロック信号は逓倍器23において10倍に逓倍されて、100MHzのクロック信号を周波数カウント回路15やCPU16に内部基準クロック信号として供給される。
周波数カウント回路15は、水晶温度計測用プローブ11から受信し、センサ信号増幅回路13、13aにおいて増幅された信号の周波数を計測する周波数カウンタとして動作する。また、周波数カウント回路15は、水晶温度計測用プローブ11から受信した信号の周波数を、逓倍器23から入力された100MHzの内部基準クロックを用いてレシプロカル方式によって周波数をカウントする。
このレシプロカル方式とは、一定の周期で生成される基準クロック信号を用いて、測定対象の信号の周期をゲートタイムにして、このゲートタイム間に生成される基準クロック信号の数を測定することにより測定対象の信号の周期を測定し、測定された周期の逆数を計算することにより周波数測定を行う方式である。このレシプロカル方式によれば、計測時間が一定であれば、測定対象の信号の周波数に依存することなく、一定の有効桁数で周波数の測定を行うことが可能となる。つまり、このレシプロカル方式の周波数測定では、基準クロック信号の周波数と測定時間によってのみ測定周波数の有効桁数が決定される。
そして、本実施形態における周波数カウント回路15は、100MHzの内部基準クロックを用いて周波数かウントを行うため、測定時間を1秒とすれば、水晶温度計測用プローブ11から受信した信号の周波数を、有効桁数が9桁の測定精度で計測することができる。
なお、信号の周波数を測定する方法としてはレシプロカル方式以外にもダイレクト方式と呼ばれる測定方式がある。このダイレクト方式では、単位時間に到達した入力信号の数を直接カウントすることにより周波数を測定する測定方式である。このダイレクト方式により周波数測定を行う場合、測定対象の信号の周波数が低くなると単位時間あたりの入力信号の数も少なくなるため、測定対象の信号の周波数が低くなると測定周波数の有効桁数が低くなってしまう。このダイレクト方式では、測定対象の信号の周波数が一定のまま、測定周波数の有効桁数を向上させようとすると、測定時間を長くする必要があり、例えば有効桁数を1桁上げるためには10倍の測定時間とする必要がある。そのため、希望する有効桁数を実現するためには長時間の測定が必要となり、一定間隔で定期的に測定を行う必要があるような温度測定にとっては現実的ではなくなってしまう。
CPU16は、周波数カウント回路15により計測された周波数を測定温度に変換する変換手段として機能する。計測された周波数を測定温度に変換する具体的方法については後述する。そして、CPU16は、得られた測定温度を表示器18に表示させたり、通信IF回路19を介して外部に出力する。また、CPU16は、得られた測定温度を記憶装置20に記憶するようにしてもよい。
このように構成される本実施形態の水晶温度計測装置の外観を図2に示す。図2に示した例では、計測装置本体部10の外部にはパーソナルコンピュータ(以下、パソコンと称する。)40が接続されている場合が示されている。図2に示されるように、本実施形態の水晶温度計測装置では、計測装置本体部10は、3線式ケーブル12を介して水晶温度計測用プローブ11に接続されるとともに、パソコン40と、例えば、RS232Cケーブル等により接続されている。そして、計測装置本体部10では、測定温度が表示器18上に表示されている。
次に、図1に示した水晶温度計測用プローブ11の構成を、図3を参照して説明する。
水晶温度計測用プローブ11は、図3に示されるように、水晶温度センサ41と、水晶発振回路33、34と、差分周波数生成回路35と、3線式出力回路36とを備えている。また、水晶温度センサ41は、水晶振動子31および水晶振動子32とを有している。
水晶振動子32は、発振周波数が温度に依存しないような温度特性、つまり発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する水晶振動子であり、例えば、切断方位がATカットの水晶振動子である。
また、水晶振動子31は、発振周波数が温度に依存するような温度特性、つまり水晶振動子32と比較して発振周波数が温度に対して大きく変化するような温度特性を有する水晶振動子であり、本実施形態では切断方位がYカットの水晶振動子を用いて説明する。また、発振周波数が温度に依存するような温度特性を有する水晶振動子であれば同様に使用可能であり、このような他の具体例としては、切断方位がLCカットの水晶振動子をあげることができる。
なお、水晶振動子31と水晶振動子32を有する水晶温度センサ41は、水晶温度計測用プローブ11の先端に設けられており、この水晶温度センサ41の構造の一例を図4に示す。図4を参照すると、水晶振動子31、32は、温度を測定しようとする場所に対して同じような位置関係となるように保持されているのが分かる。
水晶振動子は、結晶から切り出す角度である切断方位(切断角度)により周波数温度特性が変わってくる。このような切断方位としては、ATカット、BTカット、CTカット、SCカット、LCカット、Yカットというような様々なカット名が付けられている。そして、水晶振動子は、この切断方位に応じて様々な周波数温度特性を有している。
例えば、温度変化に対して周波数安定性が高いとして広く利用されているATカットの水晶振動子と、温度変化に対して周波数が大きく変化するYカットの水晶振動子の周波数温度特性の一例を図5に示す。この図5では、水晶振動子の発振周波数をf、温度変化に対する周波数変動分をΔfとしている。
この図5を参照すると分かるように、Yカットの水晶振動子の発振周波数は、温度変化に対してほぼ直線的に変化しているのに対して、ATカットの水晶振動子の発振周波数は、ある狭い範囲内であれば温度変化に対してほぼ変化しておらず一定であることがわかる。
そのため、本実施形態の水晶温度計測装置では、温度変化に対して周波数安定性が高いとして広く利用されているATカットの水晶振動子と、温度変化に対して周波数が大きく変化するYカットを用いて、この差分の周波数を測定することにより温度測定を行うことが可能となっている。
次に、本実施形態において使用される水晶振動子31(Yカット)と水晶振動子32(ATカット)の温度に対する発振周波数の関係を図6に示す。なお、この図6は、温度に対する発振周波数の関係を理論的に説明するための図であり、実際の測定周波数ではない。
本実施形態の水晶温度計測装置では、測定温度範囲は21〜30℃の範囲が設定されている。つまり、本実施形態の水晶温度計測装置では、この測定温度範囲21〜30℃内において、1/1000000℃(100万分の1℃)という高い精度での温度測定を実現するような設定となっている。
そして、本実施形態では、水晶振動子31、32は、この予め設定された測定温度範囲内21〜30℃において、発振周波数の差分周波数が10kHz以下となるような組み合わせとなっている。具体的には、水晶振動子32(ATカット)は、この測定温度範囲内において発振周波数が約10.59MHzでほぼ一定となっている水晶振動子である。そして、水晶振動子31(Yカット)31は、測定温度範囲の中心である25℃において、発振周波数が約10.595MHzとなる水晶振動子である。なお、水晶振動子31(Yカット)31の発振周波数は、温度が1℃変化することにより約1000Hz変化するため、測定温度範囲の下限である21℃では、発振周波数は約10.591MHzとなり、測定温度範囲の上限である30℃では、発振周波数は約10.600MHzとなる。
この測定温度範囲における水晶振動子31、32の発振周波数と差分周波数Δf(f(Y)−f(AT))との関係を図7に示す。なお、図7は説明を簡単にするために理想的な標準値が変化する様子を示したものであり、実際の測定周波数を示すものではない。
図7を参照すると、Yカットの水晶振動子31の発振周波数f(Y)は、温度が21℃、25℃、30℃と変化するのに伴い、10,591,000Hz、10,595,000Hz、10,600,000Hzというように大きく変化しているのが分かる。これに対して、ATカットの水晶振動子32の発振周波数f(AT)は、温度が21℃、25℃、30℃と変化しているにもかかわらず、10,590,000Hz、10,590,000Hz、10,590,000Hzというように変化していないことが分かる。
そのため、図7に示すように、水晶振動子31(Yカット)と水晶振動子32(ATカット)との差分周波数Δf(f(Y)−f(AT))は、21℃の測定温度では約1kHz、25℃の測定温度では5kHz、30℃の測定温度では10kHzとなっている。
そのため、本実施形態においては、水晶振動子31(Yカット)と水晶振動子32(ATカット)との差分周波数Δf(f(Y)−f(AT))は、予め設定された測定温度範囲21〜30℃においては、1〜10kHzとなっており10kHz以下となっている。このように、水晶振動子31、32が、この予め設定された測定温度範囲内21〜30℃において、発振周波数の差分周波数が10kHz以下となるような組み合わせに設定されている理由の詳細については後述する。
また、水晶振動子31、32は、同一種類(グレード)の原材料から切り出され、形状、材料、サイズがほぼ同一となるように構成されている。また、水晶振動子31、32は、できるだけ同一の製造方法・工程により作成されている。このような組み合わせとする理由は、水晶振動子31、32の周波数温度特性以外の特性を同様な性質とすることが好ましいからである。そのため、本実施形態の水晶温度測定装置によれば、水晶振動子31、32の経年変化等の各種特性変化が打ち消され、高い測定精度での温度計測が可能となる。
そして、水晶発振回路33は、水晶振動子31を発振素子として用いて、10.595MHz/25℃(f(Y))の信号を生成する。また、水晶発振回路34は、水晶振動子32を発振素子として用いて10.59MHz/25℃(f(AT))の信号を生成する。
差分周波数生成回路35は、水晶発振回路33の発振周波数10.595MHz/25℃と、水晶発振回路34の発振周波数10.59MHz/25℃との差の周波数成分5kHz/25℃(Δf)の信号を生成する。
そして、3線式出力回路36は、差分周波数生成回路35により生成された5kHzの信号を計測装置本体部10に対して3線式の信号として出力するとともに、計測装置本体部10から供給されてきた5Vのセンサ電源を水晶発振回路33、34や差分周波数生成回路35等に供給する
次に、計測装置本体部10との間を同軸ケーブルにより接続する場合に使用される水晶温度計測用プローブ11aの構成を図8に示す。この水晶温度計測用プローブ11aは、図3に示した3線式ケーブル用の水晶温度計測用プローブ11に対して、3線式出力回路36を2線式出力回路36aに置き換えた点のみが異なっている。
2線式出力回路36aは、差分周波数生成回路35により生成された5kHzの信号を計測装置本体部10に対して同軸ケーブルを介して出力するとともに、計測装置本体部10から同軸ケーブルの信号線に重畳されて供給されてきた5Vのセンサ電源を水晶発振回路33、34や差分周波数生成回路35等に供給する。
この図8に示した水晶温度計測用プローブ11aを使用する場合、水晶温度計測用プローブ11aと計測装置本体部10との間は同軸ケーブルにより接続され、この同軸ケーブルは計測装置本体部10側ではBNCコネクタ22に接続される。
なお、本実施形態の水晶温度計測装置では、水晶温度計測用プローブと計測装置本体部10との間で伝送される信号は5kHz/25℃程度と低い周波数であるため、同軸ケーブルを使用せずに3線式の一般的なケーブルを使用可能であるが、同軸ケーブルを使用することにより外部からのノイズ等が信号出力に混入することを防止してより高精度な温度測定を実現することができる。
次に、計測装置本体部10において水晶温度計測用プローブ11から伝送されてきた差分周波数Δfに基づいて、測定温度を算出する具体的な方法について説明する。
ただし、先ず最初にYカットの水晶振動子単独で温度測定を行う従来の水晶温度計測装置において、計測された周波数に基づいて測定温度を算出する場合の計算方法について説明を行なう。この計算を行う場合、下記の式(1)に示す計算式を用いる。
fT−f0=f0(AT+BT2+CT3)・・・・(1)
ここで、各変数は下記のようになっている。
T:測定温度
fT:測定温度Tに対する発振周波数
f0:基準温度の発振周波数
A:センサ係数(1次関数)
B:センサ係数(2次関数)
C:センサ係数(3次関数)
温度測定の前提として、水晶温度センサは個々の温度特性が異なるため、予め温度測定範囲、校正点数・温度を確認して水晶温度計測装置で校正作業(温度槽内で基準温度計を用いて水晶温度プローブの温度に対する周波数の確認)を行い、基準温度の発振周波数f0、センサ係数A、B、Cを求めておく。
そして、実際の温度測定の際には、fTが与えられた場合、予め決定されていたf0、A、B、Cと上記の式(1)を用いて測定温度Tを算出することができる。
次に、本実施形態の水晶温度計測装置において、得られた周波数Δfから測定温度を算出する際の計算方法について説明する。本実施形態の水晶温度計測装置の計測装置本体部10におけるCPU16では、Yカットの水晶振動子単独で温度測定を行った場合と計算方法を共用するため、実際には周波数カウント回路15により得られた周波数Δfに10.59MHzを加算して、得られた周波数に基づいて上記で説明した式(1)を用いて測定温度を算出している。
そのため、以下の説明では、周波数カウント回路15により得られた周波数Δfに10.59MHzを加算して測定温度を算出する場合を用いて説明するが、本発明はこのような場合に限定されるものではない。得られた周波数Δfを用いて直接測定温度を算出場合でも同様に本発明は適用可能である。
この本実施形態の水晶温度計測装置において測定温度を計算するための動作を図9のフローチャートに示す。
先ず、計測装置本体部10では、水晶温度計測用プローブ11から伝送されてきた信号の差分周波数Δfが周波数カウント回路15において測定される(ステップS101)。
すると、CPU16では、測定された周波数に対して10.59MHzを加算し(ステップS102)、得られた周波数fTと上記で示した式(1)を用いて測定温度Tを算出する(ステップS103)。
そして、CPU16は、得られた測定温度を表示器18に表示して温度表示を更新したり、外部に接続されたパソコン40等に測定温度を出力したり、記憶装置20に測定温度を記憶させる等の処理を実行する(ステップS104)。そして、測定が終了していなければ、このステップS101〜S104の処理が繰り返される(ステップS105)。
次に、本実施形態の水晶温度計測装置において、水晶振動子31、32を設定された測定温度範囲内において差分周波数が10kHz以下となる組み合わせとした理由について説明する。
上述したように本実施形態における周波数カウント回路15は、レシプロカル方式で周波数測定を行うため、測定する信号の周波数に依存することなく、水晶温度計測用プローブ11から受信した差分信号の周波数を、有効桁数が9桁という測定精度で計測することができる。しかし、周波数カウント回路15で周波数カウントのために使用する内部基準クロックにも周波数誤差が発生するため、このような誤差の影響を除くため9桁目の数字は使用せずに有効桁数が8桁であるとして測定精度の説明を行う。
ここで、上述したように、センサ信号増幅回路13を解して周波数カウント回路15に入力される水晶振動子31、32の差分周波数Δfは、予め設定された測定温度範囲21〜30℃において10kHz以下となっている。
そのため、差分周波数Δfが例えば10kHzの場合、図10に示すように、周波数カウント回路15において有効桁数が8桁という測定精度で周波数測定が行われた場合、有効桁の末尾は0.001Hzの桁となる。つまり、差分周波数Δfが10kHzの場合、測定される周波数の精度は±0.001Hzとなる。
ここで、Yカットの水晶振動子31の発振周波数は温度変化1℃に対して約1000Hz変化する。つまり、差分周波数Δfの1Hzが1/1000℃(千分の1℃)に該当する。
つまり、差分周波数Δfの0.001Hzは1/100万℃に相当し、差分周波数Δfを±0.001Hzの精度で測定することができるということは、測定温度も±1/100万℃の精度で測定可能であることを意味している。つまり、差分周波数Δfの周波数が10kHz以下であれば、測定される差分周波数Δfは±0.001Hz(測定温度にすると±1/100万℃)の精度で測定され、測定温度の誤差は1/100万℃以下となる。
このように、水晶振動子31、32の差分周波数を予め設定された測定温度範囲内において10kHz以下として、周波数カウント回路15が、水晶温度計測用プローブ11から受信した差分信号の周波数を、有効桁数が少なくとも8桁以上となるような測定精度で計測可能な機能を備えていれば、100万分の1℃という高い精度で温度を計測することができる。以上のような理由により、本実施形態の水晶温度計測装置において、水晶振動子31、32は、差分周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となるような組み合わせとなっている。
なお、本実施形態の水晶温度計測装置では、予め設定された測定温度範囲内において差分周波数が10kHz以下となるように水晶振動子31、32の組み合わせを設定している。しかし、Yカットの水晶振動子31の発振周波数は1℃で約1kHz変化する。そのため、このような条件の下では測定温度範囲をあまり広く設定することはできない。しかし、海水温、地殻熱、地下水の温度等の測定を行う場合、変化する温度範囲は限定されるため、測定可能な温度範囲が多少狭くなっても大きな問題とはならない。
なお、本実施形態の水晶温度計測装置では、水晶振動子31、32を、差分周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となるような組み合わせとすることにより、1/1000000℃(100万分の1℃)という高い精度での温度測定が実現されている。しかし、2つの水晶振動子31、32を、差分周波数が予め設定された測定温度範囲内で20kHz以下となるような組み合わせとすれば、100万分の1℃という精度を実現することはできないが、2/1000000℃(100万分の2℃)という高い精度での温度測定を実現することが可能である。また、同様な理由により、差分周波数が30kHz以下、40kHz以下、50kHz以下、60kHz以下、・・・・となるような組み合わせとすれば、それぞれ、100万分の3℃、100万分の4℃、100万分の5℃、100万分の6℃、・・・というような精度での温度測定を実現することが可能である。
10 計測装置本体部
11、11a 水晶温度計測用プローブ
12 3線式ケーブル
13、13a センサ信号増幅回路
14、14a センサ用電源回路
15 周波数カウント回路
16 CPU
17 基準クロック生成回路
18 表示器
19 通信インタフェース(IF)回路
20 記憶装置
21 3線式接続端子
22 BNCコネクタ
23 逓倍器
31 水晶振動子(Yカット)
32 水晶振動子(ATカット)
33 水晶発振回路
34 水晶発振回路
35 差分周波数生成回路
36 3線式出力回路
36a 2線式出力回路
40 パーソナルコンピュータ
41 水晶温度センサ

Claims (3)

  1. 発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する切断方位がATカットの第1の水晶振動子と、
    前記第1の水晶振動子と比較して発振周波数が温度に対して大きく変化するような温度特性を有する切断方位がYカットまたはLCカットの第2の水晶振動子と、
    前記第1の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第1の発振回路と、
    前記第2の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第2の発振回路と、
    前記第1の発振回路の発振周波数と前記第2の発振回路の発振周波数との差の周波数成分の信号を生成する差分周波数生成回路とを備えた水晶温度計測用プローブにおいて、
    前記第1の水晶振動子および前記第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されるとともに、前記差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となる組み合わせであることを特徴とする水晶温度計測用プローブ。
  2. 発振周波数が温度に対して安定的な温度特性を有する切断方位がATカットの第1の水晶振動子と、前記第1の水晶振動子と比較して発振周波数が温度に対して大きく変化するような温度特性を有する切断方位がYカットまたはLCカットの第2の水晶振動子と、前記第1の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第1の発振回路と、前記第2の水晶振動子を発振素子として用いて特定の発振周波数の信号を生成する第2の発振回路と、前記第1の発振回路の発振周波数と前記第2の発振回路の発振周波数との差の周波数成分の信号を生成する差分周波数生成回路とを備えた水晶温度計測用プローブと、
    前記水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数を計測する周波数カウンタと、前記周波数カウンタにより計測された周波数を測定温度に変換する変換手段と、前記変換手段により得られた測定温度を表示する表示器とを備えた計測装置本体部と、
    を有する水晶温度計測装置において、
    前記第1の水晶振動子および前記第2の水晶振動子は、同一種類の原材料から切り出され、形状および材料がほぼ同一となるように構成されるとともに、前記差分周波数生成回路において生成される信号の周波数が予め設定された測定温度範囲内で10kHz以下となる組み合わせであることを特徴とする水晶温度計測装置。
  3. 前記周波数カウンタは、前記水晶温度計測用プローブから受信した信号の周波数をレシプロカル方式により計測するとともに、有効桁数が少なくとも8桁以上となるように計測する請求項2に記載の水晶温度計測装置。
JP2012208183A 2012-09-21 2012-09-21 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置 Active JP5152944B1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012208183A JP5152944B1 (ja) 2012-09-21 2012-09-21 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置
US14/376,780 US9228906B2 (en) 2012-09-21 2013-09-02 Quartz-temperature-measurement probe and quartz-temperature-measurement device
PCT/JP2013/073478 WO2014045848A1 (ja) 2012-09-21 2013-09-02 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012208183A JP5152944B1 (ja) 2012-09-21 2012-09-21 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP5152944B1 true JP5152944B1 (ja) 2013-02-27
JP2014062816A JP2014062816A (ja) 2014-04-10

Family

ID=47890620

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012208183A Active JP5152944B1 (ja) 2012-09-21 2012-09-21 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9228906B2 (ja)
JP (1) JP5152944B1 (ja)
WO (1) WO2014045848A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014045848A1 (ja) * 2012-09-21 2014-03-27 Tanabe Masato 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130070953A (ko) * 2011-12-20 2013-06-28 한국전자통신연구원 공정변화에 둔감한 오실레이터 기반 디지털 온도센서
JP6567403B2 (ja) 2015-12-09 2019-08-28 株式会社メガチップス 周波数校正回路および周波数校正方法
EP3494374B1 (en) * 2016-08-02 2020-05-13 Signify Holding B.V. Thermal detection system and method
JP6685480B1 (ja) 2017-04-11 2020-04-22 シグニファイ ホールディング ビー ヴィSignify Holding B.V. 熱検出システム及び方法
JPWO2019053794A1 (ja) * 2017-09-13 2020-09-24 日本電気株式会社 制御装置、アレイ型センサ、制御方法及びプログラム
US11013146B2 (en) 2018-02-27 2021-05-18 Ciena Corporation Asymmetric heat pipe coupled to a heat sink
CN108593124B (zh) * 2018-04-17 2023-01-10 章礼道 支持NB-IoT的高精度温度传感器
CN110030784A (zh) * 2019-04-16 2019-07-19 章礼道 使用卫星授时温度传感器的智能冷冻冷藏箱
RU2767302C1 (ru) * 2020-11-25 2022-03-17 Общество с ограниченной ответственностью "ОТК" Установка и термостат для контроля долговременной стабильности частоты кварцевых резонаторов и генераторов
CN116735023B (zh) * 2023-08-15 2023-10-13 河北远东通信系统工程有限公司 一种基于晶体双模谐振频率的自校准温度计

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5932834A (ja) * 1982-08-18 1984-02-22 Fujitsu Ltd 水晶温度センサ
JPS63311133A (ja) * 1987-06-12 1988-12-19 Sumitomo Metal Ind Ltd 水晶温度センサ
JP2010271091A (ja) * 2009-05-20 2010-12-02 Seiko Epson Corp 周波数測定装置
JP4678892B1 (ja) * 2010-07-29 2011-04-27 眞人 田邉 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3355949A (en) * 1964-08-17 1967-12-05 Albert A Elwood Crystal temperature and pressure transucer
US3626289A (en) * 1967-09-14 1971-12-07 Beckman Instruments Inc Front panel trigger lamps
US3879992A (en) * 1970-05-12 1975-04-29 California Inst Of Techn Multiple crystal oscillator measuring apparatus
CH589281A5 (ja) * 1975-01-09 1977-06-30 Centre Electron Horloger
US4163230A (en) * 1976-07-14 1979-07-31 Citizen Watch Co. Ltd. Display device for electronic timepieces
US4270547A (en) * 1978-10-03 1981-06-02 University Patents, Inc. Vital signs monitoring system
US4305041A (en) * 1979-10-26 1981-12-08 Rockwell International Corporation Time compensated clock oscillator
US4486624A (en) * 1980-09-15 1984-12-04 Motorola, Inc. Microprocessor controlled radiotelephone transceiver
CH650122GA3 (ja) * 1981-12-17 1985-07-15
JPS58143227A (ja) * 1982-02-22 1983-08-25 Seikosha Co Ltd 温度検出装置
US4496907A (en) * 1982-05-06 1985-01-29 Dickey-John Corporation Method and apparatus for non-destructively determining ingredients of a sample
US4872765A (en) * 1983-04-20 1989-10-10 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Dual mode quartz thermometric sensing device
US5214668A (en) * 1990-09-28 1993-05-25 Nec Corporation Temperature detector and a temperature compensated oscillator using the temperature detector
WO1995002173A1 (fr) * 1993-07-06 1995-01-19 Seiko Epson Corporation Procede et dispositif de mesure de pression a l'aide d'un oscillateur a cristal
US5400269A (en) * 1993-09-20 1995-03-21 Rockwell International Corporation Closed-loop baseband controller for a rebalance loop of a quartz angular rate sensor
US5869763A (en) * 1995-10-19 1999-02-09 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method for measuring mass change using a quartz crystal microbalance
EP0932034B1 (de) * 1998-01-27 2004-06-09 Michael Hesky GmbH Temperaturmess- und -überwachungsanordnung
JP4679782B2 (ja) * 1999-12-10 2011-04-27 富士通株式会社 温度センサ
US6695475B2 (en) * 2001-05-31 2004-02-24 Stmicroelectronics, Inc. Temperature sensing circuit and method
JP2003023339A (ja) 2001-07-06 2003-01-24 Toyo Commun Equip Co Ltd 水晶振動子
GB2379983B (en) * 2001-09-19 2004-11-17 Eric Atherton Transducer assembly
JP2003149058A (ja) 2001-11-14 2003-05-21 Toshiba Corp 温度センサ及びプラント温度計測装置
US7211926B2 (en) * 2005-03-09 2007-05-01 The Regents Of The University Of California Temperature compensated oscillator including MEMS resonator for frequency control
JP4713556B2 (ja) * 2006-09-11 2011-06-29 クゥアルコム・インコーポレイテッド Gps機器用の非常に精密で温度に依存しない基準周波数を生成するためのシステム及び方法
JP2013051673A (ja) * 2011-07-29 2013-03-14 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 水晶振動子及び水晶発振器
US8979362B2 (en) * 2012-02-15 2015-03-17 Infineon Technologies Ag Circuit and method for sensing a physical quantity, an oscillator circuit, a smartcard, and a temperature-sensing circuit
JP5152944B1 (ja) * 2012-09-21 2013-02-27 眞人 田邉 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置
JP6055708B2 (ja) * 2013-03-29 2016-12-27 日本電波工業株式会社 水晶発振器及び発振装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5932834A (ja) * 1982-08-18 1984-02-22 Fujitsu Ltd 水晶温度センサ
JPS63311133A (ja) * 1987-06-12 1988-12-19 Sumitomo Metal Ind Ltd 水晶温度センサ
JP2010271091A (ja) * 2009-05-20 2010-12-02 Seiko Epson Corp 周波数測定装置
JP4678892B1 (ja) * 2010-07-29 2011-04-27 眞人 田邉 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014045848A1 (ja) * 2012-09-21 2014-03-27 Tanabe Masato 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置
US9228906B2 (en) 2012-09-21 2016-01-05 Masato Tanabe Quartz-temperature-measurement probe and quartz-temperature-measurement device

Also Published As

Publication number Publication date
WO2014045848A1 (ja) 2014-03-27
JP2014062816A (ja) 2014-04-10
US20150023388A1 (en) 2015-01-22
US9228906B2 (en) 2016-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5152944B1 (ja) 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置
US8314662B2 (en) Temperature compensation method for piezoelectric oscillator, and piezoelectric oscillator
CN108593124B (zh) 支持NB-IoT的高精度温度传感器
US20200158769A1 (en) Method for measuring equivalent circuit parameters and resonant frequency of piezoelectric resonator
CN102195562B (zh) 振荡电路以及频率校正型振荡电路
JP4679782B2 (ja) 温度センサ
JP5266308B2 (ja) 時間基準温度補償方法
CN103384816A (zh) 半导体温度传感器
CN103051285B (zh) 用于修正压阻式振荡器的频率的温度相关性的电路和方法
KR20190097034A (ko) 기체 농도 측정 장치 및 그 교정 방법
JP2016514838A (ja) 振動センサ及び方法
JP4678892B1 (ja) 水晶温度計測用プローブおよび水晶温度計測装置
JP5320971B2 (ja) 周波数安定度検査方法、及び周波数安定度検査装置
CN102438066A (zh) 手机以及基于手机的温度检测方法
TWI449323B (zh) 頻率產生器的校正電路及其補償電路
JP2011234094A (ja) 圧電発振器、圧電発振器の製造方法、圧電発振器の温度補償方法
CN102435342B (zh) 一种基于at切石英晶体谐振器的温度测量仪及测量方法
JP2014181955A (ja) 電子機器および計測データ処理方法
JP2011142444A (ja) 圧電発振器の製造方法、圧電発振器
JP2006303764A (ja) 温度補償発振回路の温度補償方法、温度補償発振回路、圧電デバイスおよび電子機器
Dong et al. Self-temperature-testing of the quartz resonant force sensor
Kaya et al. Integrated temperature sensor for temperature compensation of inertial sensors
JPS5895230A (ja) 電子式温度測定方法及び装置
JP2003106906A (ja) 温度測定方法
RU91427U1 (ru) Преобразователь температуры с термочувствительным пьезоэлектрическим резонатором

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121128

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121130

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151214

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5152944

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151214

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20211214

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250