JP6055708B2 - 水晶発振器及び発振装置 - Google Patents
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Description
特許文献1には、2つの水晶振動子の発振周波数差に応じた値を温度検出値として捉え、この温度検出値により発振装置の設定周波数を補正するTCXO(Temperature Compensated Crystal Oscillator)が記載されている。より具体的には、一方の水晶振動子の発振出力であるパルスを他方の水晶振動子の発振出力であるパルスによりラッチしたタイミングでパルスを発生させ、このパルスの列をPLLに取り込んで温度検出値をディジタル値として生成している。
しかしながら、水晶片のカットの違いにより温度の変化分に対する発振周波数の変化分の比率が水晶片の間で異なる。例えばSCカットの水晶片を用いてBモードの発振を利用した場合の前記比率は約30ppm/℃であり、Yカットの水晶片を用いた場合の前記比率は約90ppm/℃である。またカットが同じ水晶片であっても、ロット間のばらつきにより、水晶片の間における前記比率のばらつきが大きい場合もある。このため温度検出を行う回路の後段側に設けられたヒータ制御回路を各水晶片に対して共通化しようとすると回路の規模が大きくなる。また水晶片における温度に対する発振周波数の感度が大きい場合には、温度検出値が瞬間的に大きく変動するため、ヒータ制御回路の時定数を大きくすると、温度制御の動作が適切に行われなくなる。このことは、別の観点から言えば、使用できる水晶片の選択の自由度が小さいということでもある。
温度検出用の第1の水晶振動子及び第2の水晶振動子に夫々接続された第1の発振回路及び第2の発振回路と、
前記各水晶振動子が置かれる雰囲気の温度の一定化を図るための加熱部と、
第1の発振回路の発振周波数をf1、基準温度における第1の発振回路の発振周波数をf1r、第2の発振回路の発振周波数をf2、基準温度における第2の発振回路の発振周波数をf2rとすると、f1とf1rとの差分に対応する値と、f2とf2rとの差分に対応する値と、の差分値に対応するディジタル値を温度検出値として求める周波数差検出部と、
前記周波数差検出部にて得られた温度検出値を、指定された累積数に応じて累積する累積部と、
前記累積部にて累積された温度検出値に対して、前記累積数の指定とは独立してまるめ量が指定され、指定されたまるめ量に応じてまるめ処理を行うまるめ処理部と、
前記まるめ処理部にてまるめ処理された温度検出値に基づいて加熱部に供給される電力を制御する加熱制御部と、を備えたことを特徴とする。
本発明の実施形態の詳細を説明する前に、この実施形態の概略を簡単に述べておく。図1にて符号200にて示す部分は、この明細書では制御回路部と呼ぶが、実際には一般的にPLLを利用した発振機能を有する回路である。符号201はPLLに用いられるリファレンス信号を出力するDDS(Direct Digital Synthesizer)である。
このDDSを動作させるためのクロック信号は、図1にて符号1で示す第1の発振回路の発振出力が用いられる。従って結果として電圧制御発振器100からの出力(この出力がこの例では製品である発振出力に相当する)を安定させるためには、前記クロック信号を安定させることが必要である。
次に本発明の実施形態の全体を詳しく説明する。図1は本発明の実施形態にかかる水晶発振器を適用して構成した発振装置の全体を示すブロック図である。この発振装置は、設定された周波数の周波数信号を出力する周波数シンセサイザとして構成され、水晶振動子を用いた電圧制御発振器100と、この電圧制御発振器100におけるPLLを構成する制御回路部200と、前記PLLの参照信号を生成するためのDDS201を動作させるためのクロック信号を生成する水晶発振器(符号は付していない)と、この水晶発振器における水晶振動子10、20の置かれる雰囲気の温度を調整するための加熱部であるヒータ5と、を備えている。
制御回路部200は、DDS回路部201から出力するリファレンス(参照用)クロックと、電圧制御発振器100の出力を分周器204で分周したクロックの位相とを位相周波数比較部205にて比較し、その比較結果である位相差がチャージポンプ204によりアナログ化される。アナログ化された信号はループフィルタ206に入力され、PLL(Phase locked loop)が安定するように制御される。従って制御回路部200は、PLL部であると言うこともできる。ここでDDS回路部201は、後述の第1の発振回路1から出力される周波数信号を基準クロックとして用い、目的とする周波数の信号を出力するための周波数データ(ディジタル値)が入力されている。
図2は、周波数差検出部3の具体例を示している。31はフリップフロップ回路(F/F回路)であり、このフリップフロップ回路31の一方の入力端に第1の発振回路1からの周波数f1の周波数信号が入力され、他方の入力端に第2の発振回路2から周波数f2の周波数信号が入力され、第1の発振回路1からの周波数f1の周波数信号により第2の発振回路2からの周波数f2の周波数信号をラッチする。以下において記載の冗長を避けるために、f1、f2は、周波数あるいは周波数信号そのものを表しているとして取り扱う。フリップフロップ回路31は、f1とf2との周波数差に対応する値である(f2−f1の周波数をもつ信号が出力される。
ワンショット回路32の後段にはPLL(Phase Locked Loop)が設けられ、このPLLは、ラッチ回路33、積分機能を有する第1のループフィルタ34、加算部35及びDDS回路部36により構成されている。
また図11は周波数差検出部3の出力信号である34ビットのディジタル値と温度との関係を示している。従って(OSC2−OSC1)は基準温度からの温度変動ずれ分に対応していることが分かる。
そして第2の加算部6の後段には、積分回路部に相当する第2のループフィルタ61が設けられている。
またこの実施の形態に係る発振装置は、既述のようにTCXOの機能を備えている。この機能は、制御回路部200に入力される基準クロックの温度補償を行う機能である。具体的には、PLLのループフィルタ34にて得られた変動温度分の周波数ずれ情報は、図1に示す補正値取得部である補正値演算部4に入力され、ここで周波数の補正値が演算される。変動温度分の周波数ずれ情報とは、水晶振動子10が基準温度におかれたときの第1の発振回路1の発振周波数と、水晶振動子10の雰囲気温度(水晶振動子10を収納している容器内の温度)における第1の発振回路1の発振周波数と、の差分に対応する値である。
次に上述の実施の形態の全体の動作についてまとめる。この発振装置の水晶発振器に着目すると、水晶発振器の出力は第1の発振回路1から出力される周波数信号に相当する。そしてヒータ回路5により水晶振動子10、20の置かれる雰囲気が目標温度になるように加熱されている。第1の水晶振動子10及び第1の発振回路1は、水晶発振器の出力である周波数信号を生成するものであるが、第2の水晶振動子20及び第2の発振回路2と共に温度検出部としての役割を持っている。これら発振回路1、2から各々得られる周波数信号の周波数差に対応する値OSC2−OSC1は、既述のように温度に対応し、加算部6にて温度設定値(例えば50℃におけるOSC2−OSC1の値)との差分が取り出される。
図12は、図7に示す累積平均化処理部37における各部の信号を示すタイムチャートであり、(a)はクロックパルス、(b)は累積クリア信号、(c)はループフィルタ34からの出力、(d)は遅延回路72からの出力値、(e)は丸め処理部75の出力、(f)はラッチ回路76の出力である。この例では、累積数及び丸め量をいずれも便宜的に「8」としている。累積平均化処理部31から図1に示す加算部6及補正値演算部4には、累積クリア信号が論理「1」になっているときの丸め処理部75の出力値がラッチ回路76を介して出力される。
累積平均化処理部37は、既述のようにループフィルタ34の出力に含まれる瞬間誤差を取り除く役割があるが、累積数と丸め量とを互いに独立して調整することにより、温度と既述のOSC2−OSC1の値との対応関係を調整することができる。
以上のように上述実施の形態は、水晶振動子が置かれる雰囲気の温度を一定にする水晶発振器(OCXO)であって、2つの水晶振動子10、20の発振周波数の差分に対応する値を温度検出値として取り扱っている。そして温度検出値を累積して平均化(まるめ処理)した値に基づいて加熱部の制御を行うにあたって、温度検出値の累積数とまるめ量とが互いに独立して指定できるように構成されている。このため、水晶片のカットの違いや、水晶片のロット間のばらつきにより、温度の変化分に対する発振周波数の変化分の比率(温度の検出感度)が水晶片の間で異なる場合であっても、まるめ量を選択することにより、温度の検出感度のばらつきを少なくすることができる。この結果温度制御を行うための回路の規模を適切化することができる。またヒータ制御を適切に行うことができ、ヒータ制御の誤動作を防止することができる。このことは、別の観点から言えば、使用できる水晶片の選択の自由度が大きいということでもある。
更にまた上述の例では第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20とは共通の水晶片Xbを用いているが、水晶片Xbが共通化されていなくてもよい。この場合、例えば共通の筐体の中に第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20を配置する例を挙げることができる。このような構成によれば、実質同一の温度雰囲気下に置かれるため、同様の効果が得られる。
以上の実施の形態では、第1の水晶振動子10及び第1の発振回路1は温度検出値を取り出す役割と水晶発振器の出力を作成する役割とを持っている。即ち発振回路1は温度検出のための発振回路と、水晶発振器の出力用の発振回路とを共用している。しかし本発明は、例えば水晶振動子を3個用意すると共に発振回路を3個用意し、例えば図1の構成において、第3の水晶振動子と当該水晶振動子に接続された第3の発振回路とを用意し、第3の発振回路の出力を水晶発振器の出力とし、残りの第1の発振回路及び第2の発振回路の発振出力を周波数差検出部に入力し温度検出値を得るようにしてもよい。この場合、OCXOとTCXOとを組み合わせたものとするならば、第3の水晶発振回路の出力がDDS201のクロックとして使用されることになる。
2 第2の発振回路
10 第1の水晶振動子
20 第2の水晶振動子
3 周波数差検出部
31 フリップフロップ回路
32 ワンショット回路
33 ラッチ回路
34 ループフィルタ
35 加算部
36 DDS回路部
37 累積平均化処理部
4 補正値演算部(補正値取得部)
5 ヒータ回路
6 加算部
71 加算部
72 遅延回路
73 ゲート
74 ラッチ回路
75 丸め処理部
100 電圧制御発振器
200 制御回路部
Claims (3)
- 発振器出力用の水晶振動子に接続された発振器出力用の発振回路と、
温度検出用の第1の水晶振動子及び第2の水晶振動子に夫々接続された第1の発振回路及び第2の発振回路と、
前記各水晶振動子が置かれる雰囲気の温度の一定化を図るための加熱部と、
第1の発振回路の発振周波数をf1、基準温度における第1の発振回路の発振周波数をf1r、第2の発振回路の発振周波数をf2、基準温度における第2の発振回路の発振周波数をf2rとすると、f1とf1rとの差分に対応する値と、f2とf2rとの差分に対応する値と、の差分値に対応するディジタル値を温度検出値として求める周波数差検出部と、
前記周波数差検出部にて得られた温度検出値を、指定された累積数に応じて累積する累積部と、
前記累積部にて累積された温度検出値に対して、前記累積数の指定とは独立してまるめ量が指定され、指定されたまるめ量に応じてまるめ処理を行うまるめ処理部と、
前記まるめ処理部にてまるめ処理された温度検出値に基づいて加熱部に供給される電力を制御する加熱制御部と、を備えたことを特徴とする水晶発振器。 - 前記累積数を前記累積部に指定するための累積数指定部と、
前記まるめ量を前記まるめ処理部に指定するためのまるめ量指定部と、を備えたことを特徴とする請求項1記載の水晶発振器。 - 請求項1に記載した水晶発振器と、この水晶発振器の発振出力をクロック信号とし、PLLを含む発振装置の本体回路部と、を備えたことを特徴とする発振装置。
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