DE2445146B2 - Verfahren und Vorrichtung zur Ausbildung epitaktischer Schichten - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Ausbildung epitaktischer SchichtenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ausbildung einer Schicht auf mindestens einem Substrat durch
epitaktisches Wachstum, wie es im Oberbegriff des Anspruchs 1 vorausgesetzt ist. Ferner betrifft die
Erfindung eine Vorrichtung zur Durchführung eines solchen Verfahrens.
Die Anwendung epitaktischer Schichten in der Bauelementeherstellung, vor allem auf dem Gebiete der
Halbleiter, hat in den letzten Jahren äußerst stark zugenommen. Als Herstellungsverfahren wird gegenwärtig
fast ausschließlich die Gasphasenepitaxie benutzt. Es gibt aber eine ganze Reihe von Materialien,
deren Eigenschaften den Anforderungen der Bauelementehersteller wesentlich besser entsprechen, wenn
sie mit Hilfe der Flüssigepitaxie gewonnen werden, wie aus Laborversuchen deutlich hervorgeht. Dies gilt
beispielsweise für die Wirkungsgrade von Lumineszenz- und Laserdioden.
Aus einer zusammenfassenden Darstellung über Flüssigphasenepitaxie mit dem Titel »Properties and
ίο Applications Of ill-V-Compound Films Deposited by
Liquid Phase Epitaxy« von H. K r e s s e I und H.
N e I s ο η in »Physics of Thin Films« Band 6 (1973) sind
die folgenden Verfahren bekannt:
»Das Tiegelverfahren (Seite 117), bei welchem in einem zunächst schräg gehaltenen Tiegel an der höher
gelegenen Stelle des Tiegelbodens der zu beschichtende Substrat festgeklemmt ist, während sich an der tiefer
gelegenen Stelle die das epitaktisch abzuscheidende Material enthaltende Flüssigkeit befindet Für die
gewünschte Dauer der epitaktischen Abscheidung wird der Tiegel in die entgegengesetzte Lage gekippt, so daß
die Flüssigkeit das Substrat überflutet;
das Eintauchverfahren (Seite 118), bei welchem das Substrat in einem aufrechtstehenden Gefäß einfach in die Flüssigkeit eingetaucht wird;
das Eintauchverfahren (Seite 118), bei welchem das Substrat in einem aufrechtstehenden Gefäß einfach in die Flüssigkeit eingetaucht wird;
und das Schiebetiegel-Verfahren (Seite 119), bei
welchem das Substrat in einen Schieber eingebettet ist, der sich unter einer Platte mit verschiedenen Flüssigkeitsbehältern
verschieben läßt, so daß die jeweilige Flüssigkeit das Substrat bedeckt. Als Variante gibt es
das Drehtiegelverfahren, bei welchem die Flüssigkeitsbehälter kreisförmig entsprechend einem Revolverkopf
angeordnet sind.
Nachteilig ist bei diesem bekannten Verfahren, daß sich epitaktische Schichtdicken unter 0,5 μ nicht mehr reproduzierbar herstellen lassen. Außerdem fließen die nur jnter Einwirkung der Schwerkraft stehenden Lösi.ngen nach der epitaktischen Ablagerung der Schichten meist nicht vollständig vom Substrat ab, und din auf den bewachsenen Substraten verbleibenden Lösungsreste führen zu zusätzlichem ungleichmäßigem Weiterwachsen der epitaktischen Schichten und damit zu ungleichmäßigen Schichtdicken. Außerdem bestehen bei dem Schiebetiegelverfahren, das gegenwärtig für die Herstellung der Doppelheterostrukturen für Galliumarsenidlaser angewendet wird, die Nachteile, daß bei Betätigung des Schiebers Graphitstaub entsteht, der Schieber sich abnützt und durch die Schiebebewegungen auf den epitaktisch abgelagerten Schichten leicht Kratzer entstehen. Ferner werden häufig Schmelzanteile zwischen den Vorratsbehältern verschleppt. Dieses Verfahren ist daher ebenso wie die beiden anderen für eine industrielle Produktion ungeeignet.
Schließlich ist aus dem Aufsatz »Liquid Phase Epitaxy Growth of GaP by a Centrifugal Tipping Technique« von S. Y. L i e η und J. K. B e s t e 1 im »Journal of the Electrochem. Soc.« Band 120 (1973), Nr. 11 auf Seite 1571 ein Zentrifugalverfahren bekannt, bei welchem in einem rotierenden Tiegel die zu beschichtenden Substrate befestigt sind. Die zunächst im unteren Teil des mit dem Tiegel umlaufenden Gehäuses befindliche Flüssigkeit steigt unter Einwirkung der Zentrifugalkraft nach oben und benetzt die Substrate, so daß sich aus der Flüssigkeit Material epitaktisch auf den Substraten ablagern kann. Bringt man die Anordnung zum Stillstand, so sammelt sich die Flüssigkeit wieder im unteren Teil des Gehäuses und tropft unter Wirkung der Schwerkraft von den Substraten ab.
Nachteilig ist bei diesem bekannten Verfahren, daß sich epitaktische Schichtdicken unter 0,5 μ nicht mehr reproduzierbar herstellen lassen. Außerdem fließen die nur jnter Einwirkung der Schwerkraft stehenden Lösi.ngen nach der epitaktischen Ablagerung der Schichten meist nicht vollständig vom Substrat ab, und din auf den bewachsenen Substraten verbleibenden Lösungsreste führen zu zusätzlichem ungleichmäßigem Weiterwachsen der epitaktischen Schichten und damit zu ungleichmäßigen Schichtdicken. Außerdem bestehen bei dem Schiebetiegelverfahren, das gegenwärtig für die Herstellung der Doppelheterostrukturen für Galliumarsenidlaser angewendet wird, die Nachteile, daß bei Betätigung des Schiebers Graphitstaub entsteht, der Schieber sich abnützt und durch die Schiebebewegungen auf den epitaktisch abgelagerten Schichten leicht Kratzer entstehen. Ferner werden häufig Schmelzanteile zwischen den Vorratsbehältern verschleppt. Dieses Verfahren ist daher ebenso wie die beiden anderen für eine industrielle Produktion ungeeignet.
Schließlich ist aus dem Aufsatz »Liquid Phase Epitaxy Growth of GaP by a Centrifugal Tipping Technique« von S. Y. L i e η und J. K. B e s t e 1 im »Journal of the Electrochem. Soc.« Band 120 (1973), Nr. 11 auf Seite 1571 ein Zentrifugalverfahren bekannt, bei welchem in einem rotierenden Tiegel die zu beschichtenden Substrate befestigt sind. Die zunächst im unteren Teil des mit dem Tiegel umlaufenden Gehäuses befindliche Flüssigkeit steigt unter Einwirkung der Zentrifugalkraft nach oben und benetzt die Substrate, so daß sich aus der Flüssigkeit Material epitaktisch auf den Substraten ablagern kann. Bringt man die Anordnung zum Stillstand, so sammelt sich die Flüssigkeit wieder im unteren Teil des Gehäuses und tropft unter Wirkung der Schwerkraft von den Substraten ab.
Ein ähnliches Verfahren ist in der DE-PS 21 26 487 beschrieben. Hierbei sind die Substrate außerhalb eines
.■».entralen Vorratsgefäßes derart gehaltert, daß bei
Rotation der Anordnung die Epitaxieflüssigkeit aus dem Vorratsgefäß in den umgebenden Substratraum überläuft
und an dessen Wand emporsteigt und dabei die Substrate überflutet. Beim Stillsetzen sammelt sich die
Epitaxieflüssigkeit am Boden des Substratraumes und kann von dort nach öffnen eines Ventils durch einen
Kanal in einen Abflußraum abgelassen werden. Auch bei diesen beiden Verfahren besteht der Nachteil eines
unregelmäßigen Weiterwachsens der abgelagerten Schichten infolge der auf ihnen verbleibenden Flüssigkeitsreste.
Schließlich ist es aus der DE-OS 23 14 109 bekannt, die Epitaxieflüssigkeit von einem zentralen Vorratsraum durch Zentrifugalkräfte zu den an den Seiten von
radial angeordneten Kanälen befestigten Substraten zu führen und von dort schließlich nach Ablagerung der
gewünschten Schichten unter Einwirkung voi. Zentrifugalkräften
auch wieder zu entfernen. Für die Steuerung der Zuführung der Epitaxieflüssigkeit zu den Substraten
bzw. zu ihrer anschließenden Entfernung ist es jedoch bei den bekannten Anordnungen notwendig, die
einzelnen Teile der verwendeten Vorrichtung gegeneinander zu bewegen. So muß beispielsweise zum
Entfernen der Epitaxieflüssigkeit gemäß F i g. 11 dieser Offenlegungsschrift eine die Kanäle nach außen
abschließende zylinderförmige Wand gegenüber dem die radialen Kanäle enthaltenden Teil abgesenkt to
werden, damit die Epitaxieflüssigkeit aus den keilförmigen Kanälen ablaufen und abgeschleudert werden kann.
Die Zuführung der Epitaxieflüssigkeit erfolgt bei dieser Ausführungsform zentral auf einen kreisförmigen Kegel
oberhalb der Kanäle, von dessen Mantelfläche sie in die einzelnen Kanäle hineinläuft. Gemäß einer in Fig. 13
der Offenlegungsschrift veranschaulichten Vorrichtung erfolgt dagegen die Zuführung der Epitaxielösung zu
den Substraten durch ein Anheben eines zentralen Stempels am Boden eines zylindrischen Vorratsraumes,
wodurch die Epitaxielösung durch seitliche öffnungen dieses Vorratsraumes zu den auf einem balkonartigen
seitlichen Ansatz des Vorratsraumes angeordneten Substraten aus fließt. Nach erfolgter Einwirkung der
Epitaxieflüssigkeit auf die Substrate setzt man die ganze Vorrichtung in Rotation, so daß die Flüssigkeit seitlich
von den Substraten heruntergeschleudert wird. Bei einer weiteren Ausführungsform gemäß Fig. 14 wird
die Epitaxieflüssigkeit aus einer zentralen Mulde durch Zentrifugalkräfte auf die radial außerhalb dieser Mulde so
liegenden Substrate transportiert, wo sie durch eine zylindrische Begrenzungswand festgehalten wird. Zur
Einwirkung rotiert die Vorrichtung dann nicht mehr, damit sich die Epitaxieflüssigkeit gleichmäßig auf den
Substraten verteilen kann. Nach erfolgter Einwirkung wird die zylindrische Begrenzungswand wiederum
verschoben, so daß die verbrauchte Flüssigkeit durch seitliche öffnungen bei erneutem Rotieren der Vorrichtung
abgeschleudert werden kann. All diesen Vorrichtungen ist gemeinsam, daß für die Steuerung der
Zuführung oder Abführung der Epitaxieflüssigkeit zu bzw. von den Substraten mechanische Teile des Gerätes
bewegt werden müssen. Weiterhin bleibt die Epitaxiefiüssigkeit
während der Abscheidung einer epitaktischen Schicht praktisch bewegungslos, also statisch,
gegenüber der Substratoberfläche.
Die Aufgabe der Erfindung besteht in der Schaffung eines Verfahrens zur epitaktischen Abscheidung von
Schichten auf Substraten, bei welchem nach Beendigung des erwünschten epitaktischen Wachstums keine
Flüssigkeitsreste auf den gebildeten Schichten verbleiben, so daß ein unerwünschtes ungleichmäßiges
Weiterwachsen der Schichten vermieden wird. Außerdem soll sich das Verfahren über eine labormäßige
Anwendung hinaus auch für eine produktionsmäßige Herstellung epitaktischer Schichten aus der Flüssigphase
eignen. Auch sollen gegenseitige mechanische Bewegungen von Teilen der zur Durchführung des
erfindungsgemäßen Verfahrens benutzten Vorrichtungen vermieden werden.
Diese Aufgabe wird durch die irn Kennzeichenteil des
Anspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst. In den Ansprüchen 2 und 3 sind Möglichkeiten für Ausführungsalternativen
des erfindungsgemäßen Verfahrens angegeben. Die weiteren Unteransprüche beinhalten
zweckmäßige Ausführungsformen von Vorrichtungen zur Durchführung dieses Verfahrens.
Wesentlich ist es bei der Erfindung, daß die das abzuscheidende Material enthaltende Flüssigkeit über
die zu bewachsene Oberfläche des Substrats strömt und jegliche Fliiäsigkeitsreste anschließend von der Oberfläche
der aufgewachsenen Schicht abgeschleudert werden, so daß kein stellenweises Weiterwachsen, welches
Schichtungleichmäßigkeiten ergeben würde, auftreten kann. Die Kraft, unter deren Einfluß man die Flüssigkeit
an der Substratoberfläche entlangströmen läßt, kann beispielsweise, wie grundsätzlich bekannt, eine Zentrifugalkraft
sein. Eine weitere Möglichkeit besteht darin, daß man die Flüssigkeit im Vorratsraum unter Gasdruck
setzt, so daß sie aus dem Vorratsraum heraus über die Substratoberfläche in den Abflußraum gedrückt wird.
Auch hierbei werden jegliche Flüssigkeitsreste durch das nachströmende Gas von der zu beschichtenden
Substratoberfläche entfernt. Bei einer für diese Variante geeigneten Vorrichtung können mehrere Kanäle
parallel zueinander in linearer Anordnung vorgesehen sein; statt einer kreisförmigen Anordnung wie bei mit
Fliehkraft arbeitenden Vorrichtungen erhält man hier eine lineare Anordnung der Kanäle.
Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht darin, daß die Abscheidung der
Schichten aus der strömenden Flüssigkeit erfolgt und ständig frische Flüssigkeit mit der vollständigen
Konzentration des abzuscheidenden Materials zur Verfügung steht, so daß sich der Abscheidungsprozeß
gegenüber den bekannten Verfahren, bei denen die Konzentration während der Abscheidungszeit nachläßt,
verkürzen läßt. Das erfindungsgemäße Verfahren bietet ferner den Vorteil der Ausbildung mehrerer unterschiedlicher
epitaktischer Schichten übereinander, da der Vorratsraum nacheinander mit unterschiedlichen
Epitaxieflüssigkeiten beschickt werden kann, aus denen jeweils unterschiedliche epitaktische Schichten abgeschieden
werden, die dann übereinander wachsen. Auf diese Weise lassen sich Halbleiter mit praktisch
beliebigen Schichtfolgen herstellen. Zweckmäßigerweise wird man die verschiedenen Flüssigkeiten mit Hilfe
von Dosiervorrichtungen in den Vorratsraum einbringen, wobei diese Dosiervorrichtungen an größere
Vorratsbehälter der Epitaxieanlage angeschlossen sein können.
Gegenüber dem Stand der Technik gemäß der DE-OS 23 14 109 unterscheidet sich die Erfindung
erheblich dadurch, daß für die Zuführung der Epitaxielösung zu den Substraten aus dem Vorratsraum heraus
und zur Abführung der Lösung von den Substraten zum
Abflußraum nicht wie dort mechanische Bewegungen von Vorrichtungsteilen erforderlich sind, sondern daß
der Transport der Epitaxielüsung ausschließlich durch andere Kräfte bewirkt wird, die nicht mit den
Nachteilen der Verschiebung der relativ heißen Teile des Epitaxiegerätes behaftet sind. Hieraus ergeben sich
wesentliche Vorteile der Erfindung. Die in den Vorratsraum eingebrachte Epitaxieflüssigkeit, welche
eine relativ hohe Oberflächenspannung hat, wird erst unter Einwirkung dieser Kräfte (beispielsweise Zentrifugalkraft
oder Gasdruck) durch die spaltförmigen, also relativ engen Kanäle gedruckt, wo sie an den
Oberflächen der Substrate vorbeiströmt, um dann in den Abflußraum gedrückt zu werden. Auch ist dieses
Vorbeiströmen vorteilhaft gegenüber einer statischen Einwirkung der Epitaxieflüssigkeit, weil man u. a. über
die Drehzahl oder den Gasdruck die Strömungsgeschwindigkeit der Epitaxieflüssigkeit durch die Kanäle
sehr einfach variieren kann, so daß man außer der Konzentration des Dotierstoffes einen weiteren Parameter
für das epitaktische Wachstum zur Verfügung hat. Man kann so auch sehr dünne Epitaxieschichten
gleichmäßig in einfacher und gut reproduzierbarer Weise ausbilden.
Die Erfindung ist im folgenden anhand der Darstellung eines Ausführungsbeispiels einer mit Fliehkraft
arbeitenden Vorrichtung zur epitaktischen Beschichtung von Substraten aus der Flüssigphase näher
erläutert. Es zeigt
Fig. 1 einen schematischen Schnitt durch eine erfindungsgemäße Vorrichtung und
Fig. 2 einen Schnitt längs der Linie H-II aus Fig. 1.
Der Schnitt gemäß Fig. 1 läßt einen innerhalb eines
Gehäuses t angeordneten Tiegel 2 erkennen. Der Tiegel 2 weist in der Nähe seiner Drehachse 3 zwei
Vorratsräume 4 auf, in welche durch die obere Gehäuseöffnung 5 eine Lösung des Materials eingeführt
werden kann, aus welchem die epitaktische Schicht auf dem Substrat abgeschieden werden soll. Im veranschaulichten
Ausführungsbeispiel sind vier Substrate 6 dargestellt, von denen jeweils zwei die Wandungen je
eines Kanales 7 bilden, durch den die Lösung von den Vorratsräumen 4 in einen Abflußraum 8 fließt, wenn der
Tiegel in Rotation versetzt wird. Der Abflußraum 8 ist im dargestellten Ausführungsbeispiel ein Ringraum,
unterhalb dessen das Gehäuse als Auffanggefäß 9 ausgebildet ist, in welchem sich die durch den oder die
spaltförmigen Kanäle hindurch geschleuderte Lösung schließlich sammelt.
Wie Fig. 2 erkennen läßt, sind die Substrate 6 in
Schwalbcnschwanzführungen 10 im Tiegel 2 derart gehaltert, daß ihre epitaktisch zu bewachsenden
Oberflächen unter Bildung des Kanals einander gegenüber liegen. Statt in den dargestellten Schwalbenschwanzführungen
10 können die Substrate natürlich auch in anders ausgebildeten Halterungen im Tiegel 2
angeordnet werden, die ein einfaches Einsetzen der Substrate und eine Einstellung der Spaltbreite der
zwischen ihnen gebildeten Kanäle erlauben. Obwohl in dem Ausführungsbeispiel nur vier Substrate 6 unter
Bildung von zwei Kanälen 7 dargestellt sind, kann natürlich eine erheblich größere Anzahl von Kanälen
für die Beschichtung einer entsprechend größeren Anzahl von Substraten in ringförmiger Anordnung im
Tiegel vorgesehen sein. Für eine produktionsmäßige Beschichtung von Substraten wird man versuchen, den
Tiegel in diesem Sinne so auszubilden, daß möglichst viele Substrate gleichzeitig beschichtet werden können.
Ferner kann man statt des für jeden Kanal gesonderten Vorratsraumes 4 einen allen Kanälen gemeinsam
zentrischen Vorratsraum vorsehen können, in den gegebenenfalls auch während der Rotation des Tiegels
Lösung nachfüllbar ist. Dies erfolgt für eine gute Reproduzierbarkeit zweckmäßigerweise mit Hilfe einer
Dosiervorrichtung, die natürlich auch für die Beschikkung getrennter Vorratsräume ausgebildet sein kann
und eine gleichmäßige Füllung des oder der Vorratsräume mit Lösung garantiert.
Bei einer besonderen Ausführungsform der Erfindung kann die Breite der Kanäle 7 einstellbar sein, indem
beispielsweise die Halterung für die Substrate 6 im Tiegel 7 verstellbar ausgebildet wird. Im Zusammenhang
mit der Rotationsgeschwindigkeit und der Viskosität der Lösung lassen sich damit die Parameter
für den Epitaxiewachstumsvorgang weitgehend verändem und unterschiedlichen Gegebenheiten anpassen
Zweckmäßig ist dafür ein Einstellbereich von 0 bis 2 mm. Der Drehzahlbereich kann sich von 0 bis
2800 U/min erstrecken, je nach den Gegebenheiten aber auch weiter reichen.
Zum Betrieb der Vorrichtung werden in die Schwalbenschwanzführungen 10 des Tiegels 2 Substrate
6 eingesetzt, und die Vorratsräume 4 werden mit der gewünschten Lösungsmenge gefüllt.
Dann wird der Tiegel in Umdrehung versetzt, so daO das Lösungsmittel aus den Vorratsräumen durch die
Kanäle 7 an den einander zugewandten Oberflächen dei Substrate vorbei in den Abflußraum 8 zentrifugiert wird
Während des Vorbeiströmens an den Substratoberflächen wachsen aus der Lösung epitaktische Schichten aui
den Oberflächen und nach Entleerung der Vorratsräume 4 werden infolge der Zentrifugalkräfte jegliche
Lösungsmittelreste von den bewachsenen Oberflächer abgeschleudert. Hierzu kann man, nachdem die
Vorratsräume leer sind, die Drehzahl heraufsetzen damit die Zentrifugalkraft zum Freischleudern dei
bewachsenen Oberflächen größer wird. Auf diese Weise lassen sich wesentlich gleichmäßigere epitaktische
Schichten ausbilden als es bei den bekannten Verfahrer der Fall ist, bei welchen leicht Lösungsmittelreste aul
den bewachsenen Schichten verbleiben und zu Unregelmäßigkeiten führen.
Die abgeschleuderte Lösung fließt vom Ringraurr außerhalb des Tiegels nach unten in das Auffanggefäß 9
in dem sich die verbrauchte Lösung 11 sammelt und au;
dem sie abgezogen werden kann.
Obwohl grundsätzlich der Tiegel mit dem Gehäuse fest verbunden sein kann, so daß beide rotieren, ist e;
zweckmäßig, den Tiegel 2 im Gehäuse 1 so zu lagern daß nur er rotiert, während das Gehäuse feststeht
fao Diesbezügliche Einzelheiten sind in der Zeichnung nichi
besonders dargestellt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Verfahren zur Ausbildung einer Schicht auf mindestens einem Substrat durch epitaktisches
Wachstum, bei welchem eine das die Schicht bildende Material enthaltende Flüssigkeit aus einem
Vorratsraum heraus in einen das (die) Substrat(e) enthaltenden Kanal und von dort in einen Abflußraum
gebracht wird, dadurch gekennzeichnet,
daß man die Flüssigkeit an der zu beschichtenden Oberfläche des Substrats entlang strömen läßt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Flüssigkeit durch Fliehkrafteinwirkung
aus dem Vorratsraum über die Substratoberfläche in den Abflußraum gebracht wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Flüssigkeit durch Gasdruck aus
dem Vorratsraum über die Substratoberfläche in den Abflußraum gebracht wird.
4. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 2 mit einem innerhalb eines Gehäuses
rotierenden Tiegel, der radial innerhalb der Befestigungsstelle für das Substrat einen Vorratsraum für die Flüssigkeit und radial außerhalb der
Befestigungsstelle einen Abflußraum hat, wobei diese beiden Räume durch einen an der zu
beschichtenden Substratoberfläche vorbeiführenden Kanal verbunden sind, dadurch gekennzeichnet, daß
der Abflußraum (8) ain zwischen Tiegel (2) und Gehäuse (1) befindlicher Ringraum ist, unterhalb
dessen das Gehäuse als Auffanggefäß (9) ausgebildet ist.
5. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
mehrere Kanäle parallel zueinander in linearer Anordnung vorgesehen sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß für jeden Kanal (7) ein eigener
Vorratsraum (4) ausgebildet ist, der über den zugehörigen Kanal mit einem allen Kanälen
gemeinsamen Abflußraum (8) verbunden ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Kanäle
(7) einstellbar ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Befestigungsstellen Schwalbenschwanzführungen
(10) für die Substrate (6) aufweisen.
9. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß den Vorratsräumen (4) Dosiervorrichtungen
zum wahlweisen Beschicken vorbestimmter Mengen gegebenenfalls unterschiedlicher Flüssigkeiten
zugeordnet sind.
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