DE2443121A1 - Verfahren zum praezisen ausrichten eines elektronenstrahlmusters gegenueber vorbestimmten bereichen eines substrates - Google Patents
Verfahren zum praezisen ausrichten eines elektronenstrahlmusters gegenueber vorbestimmten bereichen eines substratesInfo
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2801338A1 (de) * | 1977-01-24 | 1978-07-27 | Hughes Aircraft Co | Verfahren zur erzeugung der metallelektroden von halbleiter-bauelementen kleiner dimension |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5398781A (en) * | 1976-11-25 | 1978-08-29 | Jeol Ltd | Electron ray exposure unit |
| DE2939044A1 (de) * | 1979-09-27 | 1981-04-09 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Einrichtung fuer elektronenstrahllithographie |
| US4431923A (en) * | 1980-05-13 | 1984-02-14 | Hughes Aircraft Company | Alignment process using serial detection of repetitively patterned alignment marks |
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| US4385238A (en) * | 1981-03-03 | 1983-05-24 | Veeco Instruments Incorporated | Reregistration system for a charged particle beam exposure system |
| JPS5960306A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-06 | Fujitsu Ltd | 位置決定用チップを備えた試料 |
| US4528452A (en) * | 1982-12-09 | 1985-07-09 | Electron Beam Corporation | Alignment and detection system for electron image projectors |
| GB2146168A (en) * | 1983-09-05 | 1985-04-11 | Philips Electronic Associated | Electron image projector |
| GB2157069A (en) * | 1984-04-02 | 1985-10-16 | Philips Electronic Associated | Step and repeat electron image projector |
| JP2723508B2 (ja) * | 1985-10-21 | 1998-03-09 | 日本電気株式会社 | 電子線直接描画のためのアライメント方法 |
| US4871919A (en) * | 1988-05-20 | 1989-10-03 | International Business Machines Corporation | Electron beam lithography alignment using electric field changes to achieve registration |
| US6146910A (en) * | 1999-02-02 | 2000-11-14 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce | Target configuration and method for extraction of overlay vectors from targets having concealed features |
| EP1342465B1 (en) * | 2002-03-05 | 2011-10-19 | Kao Corporation | Foam-type hair dye and foam-type hair dye discharge container |
| AU2003284339A1 (en) * | 2003-07-30 | 2005-03-07 | Applied Materials Israel, Ltd. | Scanning electron microscope having multiple detectors and a method for multiple detector based imaging |
| US7842933B2 (en) * | 2003-10-22 | 2010-11-30 | Applied Materials Israel, Ltd. | System and method for measuring overlay errors |
| JP4538421B2 (ja) * | 2006-02-24 | 2010-09-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
| US9046475B2 (en) | 2011-05-19 | 2015-06-02 | Applied Materials Israel, Ltd. | High electron energy based overlay error measurement methods and systems |
| DE102016223664B4 (de) * | 2016-11-29 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Strahlaustaster und Verfahren zum Austasten eines geladenen Teilchenstrahls |
| JP7007152B2 (ja) * | 2017-10-19 | 2022-01-24 | 株式会社アドバンテスト | 三次元積層造形装置および積層造形方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1690626A1 (de) * | 1966-08-16 | 1971-04-08 | Jeol Ltd | Verfahren und Anordnung zur Steuerung des Elektronenstrahles einer Elektronenstrahlanlage |
| DE2056620A1 (de) * | 1969-12-15 | 1971-06-16 | Ibm | Vorrichtung zur Belichtung von Halb leiterelementen |
| US3710101A (en) * | 1970-10-06 | 1973-01-09 | Westinghouse Electric Corp | Apparatus and method for alignment of members to electron beams |
Family Cites Families (2)
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|---|---|---|---|---|
| DE1804646B2 (de) * | 1968-10-18 | 1973-03-22 | Siemens AG, 1000 Berlin u. 8000 München | Korpuskularstrahl-bearbeitungsgeraet |
| US3745358A (en) * | 1971-05-10 | 1973-07-10 | Radiant Energy Systems | Alignment method and apparatus for electron projection systems |
-
1973
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- 1974-09-10 JP JP49103571A patent/JPS5218552B2/ja not_active Expired
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1690626A1 (de) * | 1966-08-16 | 1971-04-08 | Jeol Ltd | Verfahren und Anordnung zur Steuerung des Elektronenstrahles einer Elektronenstrahlanlage |
| DE2056620A1 (de) * | 1969-12-15 | 1971-06-16 | Ibm | Vorrichtung zur Belichtung von Halb leiterelementen |
| US3710101A (en) * | 1970-10-06 | 1973-01-09 | Westinghouse Electric Corp | Apparatus and method for alignment of members to electron beams |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2801338A1 (de) * | 1977-01-24 | 1978-07-27 | Hughes Aircraft Co | Verfahren zur erzeugung der metallelektroden von halbleiter-bauelementen kleiner dimension |
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| Publication number | Publication date |
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