DE2349352C3 - Verfahren zum Betrieb eines Elektronenstrahlerzeugers - Google Patents
Verfahren zum Betrieb eines ElektronenstrahlerzeugersInfo
- Publication number
- DE2349352C3 DE2349352C3 DE2349352A DE2349352A DE2349352C3 DE 2349352 C3 DE2349352 C3 DE 2349352C3 DE 2349352 A DE2349352 A DE 2349352A DE 2349352 A DE2349352 A DE 2349352A DE 2349352 C3 DE2349352 C3 DE 2349352C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- cathode
- wire
- electron gun
- tip
- feed device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 8
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010406 cathode material Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000005520 electrodynamics Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- RZWWGOCLMSGROE-UHFFFAOYSA-N n-(2,6-dichlorophenyl)-5,7-dimethyl-[1,2,4]triazolo[1,5-a]pyrimidine-2-sulfonamide Chemical compound N1=C2N=C(C)C=C(C)N2N=C1S(=O)(=O)NC1=C(Cl)C=CC=C1Cl RZWWGOCLMSGROE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 239000011364 vaporized material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/06—Electron sources; Electron guns
- H01J37/075—Electron guns using thermionic emission from cathodes heated by particle bombardment or by irradiation, e.g. by laser
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J3/00—Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J3/02—Electron guns
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J3/00—Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J3/02—Electron guns
- H01J3/024—Electron guns using thermionic emission of cathode heated by electron or ion bombardment or by irradiation by other energetic beams, e.g. by laser
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/06—Sources
- H01J2237/063—Electron sources
- H01J2237/06308—Thermionic sources
- H01J2237/06316—Schottky emission
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb eines Elektronenstrahlerzeugers mit einer Kathoden- f>5
spitze, die sich am freien Ende eines Kathodendrahts befindet und im Betrieb durch einen Hilfsstrahl erhitzt
wird, mit einer Vorschubeinrichtung für den Kathodendraht und mit einer der Kathodenspitze gegenüberliegenden, mit einer Bohrung versehenen Elektrode, an die
ein gegenüber der Kathodenspitze positives Potential angelegt wird.
Ein solches Verfahren ist z. B. aus der DTPS 10 28 244 bekannt. Die Kathode des Elektronenstrahlerzeugers besteht dabei aus einem Wolframdraht mit
einem Durchmesser von 100 bis 200/*m, dessen Ende
von einem Ionenbündel geheizt wird. Das Ioncinbündel
wird durch ein elektrisches Feld auf die Drahtspitze
gelenkt. Die maximale thermische Elektronenemission, die eine derartige Kathode liefern kann, wird vom
Werkstoff, von der Geometrie und von der Temperatur der Drahtspitze bestimmt. Die Einstellung dieser
Kathode auf eine hohe Emissionsstromdichte führt zu einer hohen Temperatur, die eine verhältnismäßig
große Verdampfung der Kathodenspitze auslöst. Der Kathodendraht muß deshalb jeweils nach einer
gewissen Brenndauer vorgeschoben werden. Der verdampfte Werkstoff wird jedoch das Innere des
Gerätes stark verschmutzen und durch die intermittierende Methode des Drahtvorschubs treten Schwankungen im Emissionsstrom auf.
Es sei noch bemerkt, daß es aus der US-PS 33 88 280
bekannt ist, die Kathode eines Elektronenstrahlgerätes
durch einen Laser zu heizen.
Der Erfindung Ir.igl nun die Aufgabe zugrunde, ein
Verfahren zum Betrieb eines Elektronenstrahlerzeugers der eingangs genannten Art zu schaffen, bei dem
insbesondere Schwankungen des Emissionsstromes und eine starke Verschmutzung des Gerätes vermieden
werden.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gelöst, das dadurch gekennzeichnet ist, daß ein Kathodendraht von
höchstens 50μνη Durchmesser verwendet wird, daß an der Kathodenspitze eine elektrische Feldstärke von 10s
bis 10* kV/m erzeugt wird und daß der Vorschub des Kathodendrahtes in Abhängigkeit von der Energiezufuhr des Hilfsstrahls auf die Kathodenspitze so
gesteuert wird, daß an der Kathodenspitze ein Krümmungsradius von 0,2 bis 2/*m aufrechterhalten
wird.
Ein solcher Krümmungsradius ist bedeutend größer als bei Feldemissionsquellen, wodurch der Verlust an
wirksamer Helligkeit durch unvermeidlich auftretende Linsenfehler in dem elektronenoptischen Gerät, in dem
der erfindungsgemäß betriebene Elektronenstrahlerzeuger eingesetzt wird, stark verringert wird.
Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wird als Hilfsstrahl der Strahl eines kontinuierlich
arbeitenden Lasers verwendet, dessen Intensität durch ein vom Strahlstrom des Elektronenstrahlerzeugers
hergeleitetes Signal moduliert wird. Das die Strahlintensität des Hilfsstrahls steuernde Signal kann dabei durch
eine senkrecht zur Fortpflanzungsrichtung des Hilfsstrahls bewegbare Abfangblende gesteuert werden.
Bei einem Verfahren zum Betrieb eines Elektronenstrahlerzeugers der beschriebenen Art, bei dem der
Kathodendraht in der Vorschubeinrichtung durch zwei Klemmen gehalten wird, deren Klemmflächen in
Ebenen liegen, die sich nahezu senkrecht in einer mit der optischen Achse des Elektronenstrahlerzeugers zusammenfallenden Geraden schneiden, bei dem die Klemmen
der Vorschubeinrichtung alternierend geöffnet und geschlossen werden und bei dem die der Kathodenspitze nächstliegende Klemme der Vorschubeinrichtung
eine oszillierende Bewegung in Drahtrichtung ausführt, wird gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung
die Verschiebung des Kathodendrahtes durch ein vom Emissionsstrom der Kathodenspitze hergeleitetes Signal
gesteuert Die Drahtspitze bleibt dabei gegenüber einer zum Durchlassen eines Strahlstromes durchbohrten
Elektrode mit einem in bezug auf die Drahtspitze positiven Potential angeordnet Durch geeignete Wahl
des Drahtdurchmessers und die Art der Heizung der Kathodenspitze bleibt die Verdampfung des Drahtes
innerhalb zulässiger Grenzen.
Die Erfindung betrifft weiter einen Elektronenstrahlerzeuger zur Durchführung des erläuterten Verfahrens,
der dadurch gekennzeichnet ist, daß die Vorschubeinrichtung elektrisch leitende Drähte enthält, die durch
mit elektrischen Stromimpulsen erzeugte thermische
Längenänderungen die Klemmen betätigen. Die Vorschubeinrichtung kann dabei eine Vorrichtung aufweisen,
die das gleichzeitige öffnen der Klemmen verhindert und die beim Einschieben eines neuen
Kathodendrahtes außer Betrieb gesetzt werden kann.
Die sehr hohe Stromdichte bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ist dadurch möglich, daß den Bedingungen
für die sogenannte Temperaturfeldercissicn, die durch den Schottky-Effekt ausgelöst wird, entsprochen
ist. Durch diesen Effekt, der bei einer ausreichend hohen Feldstärke an der Oberfläche und einer ausreichend
hohen Kathodentemperatur auftritt, brauchen die Elektronen weder das gesamte Austrittspotential zu
überwinden, wie es bei der Wärmeemission erforderlich ist, noch die Potentialsperre zu durchbrechen, wie dies
bei der Feldemission erforderlich ist Das zu überwindende Austrittspotential wird durch das angelegte
elektrische Feld stark herabgesetzt, so daß bei gleicher Temperatur die Emission pro Oberflächeneinheit
wesentlich höher sein kann. Bei einer gerade unter dem Schmelzpunkt des Kathodenwerkstoffes liegenden
Temperatur ergibt sich noch die überraschende und vorteilhafte Nebenwirkung, daß die Elektronenemission
völlig unabhängig von der Kristallrichtung ist. Da bei einer niedrigeren Temperatur die Emissionsdichte in
Drahtrichtung bedeutend niedriger ist als senkrecht zu ihr, wird dadurch ein wesentlich höherer Strahlstrom
erreicht. Einige Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden anhand der Zeichnungen näher
erläutert. Es zeigt
F i g. 1 ein entsprechend dem Verfahren nach der Erfindung betriebener Elektronenstrahlerzeuger in
einem Abtastelektronenmikroskop,
F i g. 2 ein gemäß dem Verfahren nach der Erfindung betriebener Elektronenstrahlerzeuger mit einem Laser
als Hilfsstrahlquelle, und
Fig.3 eine Vorschubeinrichtung für den Kathodendraht
in einem Elektronenstrahlerzeuger nach F i g. 1 oder 2.
Das in F i g. 1 skizzenhaft dargestelie Abtastelektronenmikroskop
enthält einen in einem Halter 1 montierten Kathodendraht 2, eine erste Anode 3 und
eine zweite Anode 4. Vom Kathodendraht 2 wird ein freies Ende oder die Spitze 5 durch ein Strahlenbündel 6
aufgeheizt, das in einer Hilfsstrahlquelle 8 erzeugt wird. Die Hilfstrahlquelle ist in diesem Ausführungsbeispiel
als Laser ausgeführt, von dem ein Strahlenbündel im infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Wellenlängenbereich
über ein der Wellenlänge der Strahlung angepaßtes, nichtgezeichnetes Fenster und eine Öffnung
9 in der ersten Anode 3 auf die Kathodenspitze S auftrifft. Durch die Bohrungen IO und 11 in der ersten
Anode 3 bzw. der zvriten Anode 4 wird aus dem Gesamtemissionsstrom der Kathodenspitze 5 ein im
Abtastelektronenmikroskop zu verwendender Strah lenstrom abgetrennt Über eine weitere nichtgezeichnete
öffnung und ein nichtgezeichnetes Fenster, das vorzugsweise seitlich des Laserstrahls angeordnet ist,
kann die Kathodenspitze beobachtet werden. Mit einem Regelmechanismus 12 wird der der Kathodenspitze
zuzuführende Energiestrom gesteuert.
Vom Abtastelektronenmikroskop sind weiter eine Kondensorlinse 14, eine Ablenkeinheit 15, ein Objektiv
ίο 16, ein Objekt oder Präparat 17 und die Detektoren 18
und 19 dargestellt. Ein von einem der Detektoren empfangenes Signal wird über einen Signalverstärker
20 an einem mit der Ablenkeinheit 15 gekoppeltes Fernsehmonitor 21 wiedergegeben.
Im Betrieb führt die erste Anode, zum Erfüllen der Bedingungen für Temperaturfeldemission, ein Potential
von z. B. einigen tausend Volt in bezug auf die Kathodenspitze. Die zweite Anode liegt dabei auf einem
in bezug auf die Kathodenspitze positiven Potential von mehreren tausend Volt Selbstverständlich sind diese
Potentialwerte auch von der Geometrie der beiden Anoden, von den Abmessungen der Bohrungen in den
Anoden, vom gegenseitigen Abstand der Anoden und von deren Abstand zur Kathodenspitze abhängig.
Wie bereits oben bemerkt, muß für die gewünschte Emissionsform eine Feldstärke von ungefähr 105 bis
10*kV/m an der Oberfläche der Kathodenspitze erzeugt werden.
F i g. 2 zeigt skizzenhaft eine Anordnung zum Einstellen des Kathodendrahtes auf die gewünschten
Emissionseigenschaften. Ein aus einem kontinuierlich strahlenden Laser 31 stammender Strahl mit einer
Energie von z. B. etwa 5 Watt wird mit einer Linse oder mit einem Linsensystem 32 an der Stelle der
Kathodenspitze 5 zu einem Brennfleck mit äußerst geringer, nur durch Beugungserscheinungen der kohärenten
Laserstrahlung bestimmten Querabmessung fokussiert.
Der Kathodendraht 2 wird von einer Vorschubeinrichtung festgehalten, die in den Halter 1 aufgenommen is' und die in F i g. 3 dargestellt ist. Die Vorschubeinrichtung dient dazu, die Drahtspitze 5 der Drahtkathode 2 während des Betriebs des Elektronenntrahlgerätes genau an einer festen Stelle zu halten und durch Zufuhr von Kathodenwerkstoff dessen Verdampfung- auszugleichen. Die erste Anode 3 ist dazu mit einer Gleichspannungsversorgungseinheit 33 verbunden. Durch den Emissionsstrom entsteht an einem Widerstand 34 ein Spannungsunterschied, der mit Hilfe eines Gleichspannungsverstärkers 35 mit einer aus einer Versorgungseinheu 36 herrührenden Spannung verglichen wird. Ein auf diese Weise gewonnenes Differenzsignal wird in einem Integrator 37 integriert und treibt über einen Stromverstärker 38 einen Transportmechanismus der Vorschubeinrichtung an. Mit diesem Transportmechanismus kann der Kathodendraht 2 langsam, z. B. um einige μΐη pro Minute, in Drahtrichtung vorgeschoben werden. Die Kathodenspitze 5 ragt dabei mehr oder -weniger in das Laserbündel, wodurch seine Energiezufuhr geregelt wird. Durch diesen Einstellmechanismus werden eventuell auftretende langsame Schwankungen in der Laserintcnsität oder in der Geometrie der Kathodenspitze, z. B. durch Werkstoffverdampfung, ausgeglichen.
Der Kathodendraht 2 wird von einer Vorschubeinrichtung festgehalten, die in den Halter 1 aufgenommen is' und die in F i g. 3 dargestellt ist. Die Vorschubeinrichtung dient dazu, die Drahtspitze 5 der Drahtkathode 2 während des Betriebs des Elektronenntrahlgerätes genau an einer festen Stelle zu halten und durch Zufuhr von Kathodenwerkstoff dessen Verdampfung- auszugleichen. Die erste Anode 3 ist dazu mit einer Gleichspannungsversorgungseinheit 33 verbunden. Durch den Emissionsstrom entsteht an einem Widerstand 34 ein Spannungsunterschied, der mit Hilfe eines Gleichspannungsverstärkers 35 mit einer aus einer Versorgungseinheu 36 herrührenden Spannung verglichen wird. Ein auf diese Weise gewonnenes Differenzsignal wird in einem Integrator 37 integriert und treibt über einen Stromverstärker 38 einen Transportmechanismus der Vorschubeinrichtung an. Mit diesem Transportmechanismus kann der Kathodendraht 2 langsam, z. B. um einige μΐη pro Minute, in Drahtrichtung vorgeschoben werden. Die Kathodenspitze 5 ragt dabei mehr oder -weniger in das Laserbündel, wodurch seine Energiezufuhr geregelt wird. Durch diesen Einstellmechanismus werden eventuell auftretende langsame Schwankungen in der Laserintcnsität oder in der Geometrie der Kathodenspitze, z. B. durch Werkstoffverdampfung, ausgeglichen.
f'5 Zum Nachregelr schneller Schwankungen dient ein
Steuersignal, das aus einem durch eine Hochspannungsversorgungseinheit 39 über einen Widerstand 40 zu
liefernden Anodenstrom gewonnen wird. Ober einen
Kondensator 41 steuert dieses Signal einen elektrodynamischen
Umformer 12. der die Stellung einer im Laserstrahl liegenden Abfangblende 43 einstellt. Mit
dieser Abfangblende kann ein Teil des Laserstrahls abgefangen werden, woduich die der Kathodenspitze <
zugeführte Energie abnimmt. Der Laserstrahl kann dabei einseitig, an mehreren Seiten oder ringsherum
eingeschnürt werden.
In der F i g. 3 ist ein Ausführungsbeispiel einer Vorschubeinrichtung wiedergegeben. Ein vorgestreck- n>
ter Wolframdraht 2 wird von den Klemmbacken 50 und 5t festgehalten. Ein federndes Befestigungs-Element 52
für die Klemmbacke 51 liefert dazu eine Klemmkraft. Die Klemmbacken 50 und 51, das federnde Befestigungs-Element
52 und eine Platte 53 bilden zusammen κ einen Greifer, der sich durch ein paralleles Federnsystem
mit den Federn 54, 55, 56 und 57 nur in einer Richtung und zwar entlang der Achse des Elektronenstrahlerzeugungssystems
bewegen kann. Ein Draht 58 zieht die Platte 53 zu einer Montageplatte 59 hin. Durch >,>
thermische Längenänderung des Drahtes 58 verlagert sich die Platte 53 und der Kathodendraht 2 wird
vorgeschoben. Während dieser Bewegung ist ein zweites Klemmbackenpaar 59, 60 geöffnet. Sobald ein
Hübende der Platte 53 erreicht worden ist, schließen ^
sich die Klemmbacken 59 und 60 um den Kathodendraht, öffnen sich die Klemmbacken 50 und 51 und die
Platte kehrt in ihre Anfangsstellung zurück, so daß der beschriebene Vorgang sich wiederholen kann. Eine
nicht dargestellte Kupplung zwischen den Klemmbak- *o
ken kann verhindern, daß die beiden Klemmbackenpaare gleichzeitig geöffnet sind. Zum Einführen eines neuen
Kathodendraiites kann diese Kupplung außer Betrieb gesetzt werden.
Währenddes Betriebes wird der Draht 58 durch einen ss
Heizstrom aufgeheizt, der vom Stromverstärker 38 geliefert wird (siehe weiter Fig. 2). Da die Klemmflächen
der Klemmbacken 50, 51 und 59, 60 senkrecht zueinander angeordnet sind, wird nach wiederholtem
Übergreifen ein neu eingesetzter Kathodendraht 2 entlang der Schnittlinie der beiden Klemmflächen
fixiert. Hierdurch reproduziert dieser Mechanismus selbsttätig äußerst genau den Ort der Drahtachse. Das
Öffnen und Schließen der Klemmbacken 50, 51 und 59, 60 zum Vorschieben des Kathodendrahtes wird durch
Stromsteuerung, also durch thermische Längenänderung der Drähte 62 und 63, bewirkt.
Durch die Verwendung eines dünnen Drahtes und das äußerst genaue ununterbrochene Nachstellen der
Kathodenspitze tritt, insbesondere in Drahtrichtung, eine viel höhere Emissionsstromdichte auf als in den
bekannten thermischen Elektronenstrahlerzeugern dieser Art: gleichzeitig ist der Nachteil des. wegen ihrer
geringen Abmessungen, zu geringen wirksamen Stromes der Feldemissionsquelle beseitigt. Es zeigt sich, daß
durch Verdampfung und Oberflächenwanderung am sich ständig weiterschiebenden Kathodendraht eine
Drahtspitze mit einem Krümmungsradius von ungefähr l/im aufrechterhalten wird. Im kräftigen Feld an der
Kathodenspitze kann bedingt durch die hohe Temperatur der Kathodenspitze, die dadurch die gewünschte
Abmessung bekommt, der bereits in der Einführung erwähnte Schottky-Effekt oder die sogenannte Temperatur-Feldemission
auftreten. Auf diese Weise liefert ein Wolframdraht mit einem Durchmesser von 10 um als
Kathodendraht bei einer Temperatur von ungefähr 35000K aus einer Spitze mit einem Krümmungsradius
von ungefähr t ;im, die gegenüber einer in bezug auf die Kathodens^itze auf einem Potential von +2000V
liegenden Anode angeordnet ist, eine Emissionsstromdichte in der Größenordnung von 10* A/cm2.
In einer Quelle mit einer derartigen hohen Stromdichte bei der gegebenen Querabmessung kann auf einfache
Weise ein Elektronenstrahl erzeugt werden, der sich insbesondere als Strahlstrom in einem Abtastelektronenmikroskop
eignet, in dem Fernsehtechniken zum Darstellen der Bildinformation angewandt werden.
Neben dem oben beschriebenen Abtastelektronenmikroskop können z. B. auch ein Transmissionselektronenmikroskop,
ein Elektronenstrahlbearbeitungsgerät und ein Mikroanalysator mit Vorteil mit einem erfindungsgemäß
betriebenen Elektronenstrahlerzeuger ausgerüstet werden.
Hierzu 2 Blatt Zeichnuneen
Claims (6)
1. Verfahren zum Betrieb eines Elektronenstrahlerzeugers mit einer Kathodenspitze, die sich s
am freien Ende eines Kathodendrahts befindet und im Betrieb durch einen Hilfsstrahl erhitzt wird, mit
einer Vorschubeinrichtung für den Kathodendraht und mit einer der Kathodenspitze gegenüberliegenden, mit einer Bohrung versehenen Elektrode, an die ι ο
ein gegenüber der Kathodenspitze positive Potential angelegt wird, dadurch gekennzeichnet, daß ein Kathodendraht von höchstens 50 μπι
Durchmesser verwendet wird, daß an der Kathodenspitze eine elektrische Feldstärke von 105 bis
106 kV/m erzeugt wird und daß der Vorschub des
Kathodendrahts in Abhängigkeit von der Energiezufuhr des Hilfsstrahls auf die Kathodenspitze so
gesteuert wird, daß an der Kathodenspitzs ein Krümmungsradius von 0,2 bis 2 μπι aufrechterhalten
wird
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Hilfsstrahl der Strahl eines
kontinuierlich arbeitenden Lasers verwendet wird, dessen Intensität durch ein vom Strahlstrom des
Elektronenstrahlerzeugers hergeleitetes Signal moduliert wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet daß durch das die Strahlenintensität
des Hilfsstrahls steuernde Signal eine senkrecht zur Fortpflanzungsrichtung des Hilfsstrahls bewegbare
Abfangblende gesteuert wird.
4. Verfahren zum Betrica eines Elektronenstrahlerzeugers nach Anspruch 1, 2 oder 3, bei dem
der Kathodendraht in der ^schubeinrichtung durch zwei Klemmen gehalten wird, deren Klemmflächen in Ebenen liegen, die sich nahezu senkrecht
in einer mit der optischen Achse des Elektronenstrahlerzeugers zusammenfallenden Geraden
schneiden, bei dem die Klemmen der Vorschubeinrichtung alternierend geöffnet und geschlossen
werden und bei dem die der Kathodenspitze nächstliegende Klemme der Vorschubeinrichtung
eine oszillierende Bewegung in Drahtrichtung ausführt, dadurch gekennzeichnet, daß die Verschiebung des Kathodendrahts durch ein vom Emmissionsstrom der Kathodenspitze hergeleitetes Signal
gesteuert wird.
5. Elektronenstrahlerzeuger zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 4, dadurch gekenn- 5^
zeichnet, daß die Vorschubeinrichtung elektrisch leitende Drähte enthält, die durch mit elektrischen
Stromimpulsen erzeugte thermische Längenänderungen die Klemmen betätigen.
6. Elektronenstrahlerzeuger nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorschubeinrichtung eine Vorrichtung aufweist, die das gleichzeitige
öffnen der Klemmen verhindert, und daß diese Vorrichtung beim Einschieben eines neuen Kathodendrahts außer Betrieb gesetzt werden kann.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7213355A NL7213355A (de) | 1972-10-03 | 1972-10-03 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2349352A1 DE2349352A1 (de) | 1974-04-11 |
DE2349352B2 DE2349352B2 (de) | 1977-07-21 |
DE2349352C3 true DE2349352C3 (de) | 1978-03-30 |
Family
ID=19817064
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2349352A Expired DE2349352C3 (de) | 1972-10-03 | 1973-10-02 | Verfahren zum Betrieb eines Elektronenstrahlerzeugers |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3864572A (de) |
JP (1) | JPS5241137B2 (de) |
BE (1) | BE805539A (de) |
CA (1) | CA992670A (de) |
DE (1) | DE2349352C3 (de) |
FR (1) | FR2201540B1 (de) |
GB (1) | GB1440776A (de) |
IT (1) | IT994357B (de) |
NL (1) | NL7213355A (de) |
SE (1) | SE384759B (de) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5533310U (de) * | 1978-08-24 | 1980-03-04 | ||
JPS58126376U (ja) * | 1982-02-20 | 1983-08-27 | 深沢 房次郎 | 扉のストツパ |
US4496881A (en) | 1982-09-29 | 1985-01-29 | Tetra Pak Developpement Sa | Method of cold cathode replenishment in electron beam apparatus and replenishable cold cathode assembly |
JPS59163506A (ja) * | 1983-03-09 | 1984-09-14 | Hitachi Ltd | 電子ビ−ム測長装置 |
US4762975A (en) * | 1984-02-06 | 1988-08-09 | Phrasor Scientific, Incorporated | Method and apparatus for making submicrom powders |
US4829177A (en) * | 1986-09-11 | 1989-05-09 | Gregory Hirsch | Point projection photoelectron microscope with hollow needle |
JPH02134503A (ja) * | 1988-11-15 | 1990-05-23 | Mitsubishi Electric Corp | 走査型トンネル顕微鏡 |
DE3839707A1 (de) * | 1988-11-24 | 1990-05-31 | Integrated Circuit Testing | Verfahren zum betrieb eines elektronenstrahlmessgeraetes |
JPH03190044A (ja) * | 1989-12-19 | 1991-08-20 | Ebara Corp | 電子線加速器 |
US5015862A (en) * | 1990-01-22 | 1991-05-14 | Oregon Graduate Institute Of Science & Technology | Laser modulation of LMI sources |
ES2029426A6 (es) * | 1991-03-22 | 1992-08-01 | Univ Madrid | Obtencion de una fuente atomica de iones metalicos produciendo una fusion superficial por medio de un campo electrico. |
EP0611485B1 (de) * | 1992-09-07 | 1996-04-03 | KLEINDIEK, Stephan | Elektromechanische positionierungsvorrichtung. |
US6828996B2 (en) | 2001-06-22 | 2004-12-07 | Applied Materials, Inc. | Electron beam patterning with a heated electron source |
DE10245052A1 (de) | 2002-09-26 | 2004-04-08 | Leo Elektronenmikroskopie Gmbh | Elektronenstrahlquelle und elektronenoptischer Apparat mit einer solchen |
US6847164B2 (en) * | 2002-12-10 | 2005-01-25 | Applied Matrials, Inc. | Current-stabilizing illumination of photocathode electron beam source |
US11417492B2 (en) * | 2019-09-26 | 2022-08-16 | Kla Corporation | Light modulated electron source |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3388280A (en) * | 1966-04-19 | 1968-06-11 | Victor E. De Lucia | Laser energized hot cathode type of electron discharge device |
US3678333A (en) * | 1970-06-15 | 1972-07-18 | American Optical Corp | Field emission electron gun utilizing means for protecting the field emission tip from high voltage discharges |
-
1972
- 1972-10-03 NL NL7213355A patent/NL7213355A/xx unknown
-
1973
- 1973-10-01 GB GB4577273A patent/GB1440776A/en not_active Expired
- 1973-10-01 IT IT7352853A patent/IT994357B/it active
- 1973-10-01 SE SE7313345A patent/SE384759B/xx unknown
- 1973-10-01 CA CA182,224A patent/CA992670A/en not_active Expired
- 1973-10-01 BE BE136239A patent/BE805539A/xx unknown
- 1973-10-02 US US402844A patent/US3864572A/en not_active Expired - Lifetime
- 1973-10-02 DE DE2349352A patent/DE2349352C3/de not_active Expired
- 1973-10-03 FR FR7335310A patent/FR2201540B1/fr not_active Expired
- 1973-10-03 JP JP48110595A patent/JPS5241137B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3864572A (en) | 1975-02-04 |
JPS5241137B2 (de) | 1977-10-17 |
BE805539A (fr) | 1974-04-01 |
DE2349352A1 (de) | 1974-04-11 |
DE2349352B2 (de) | 1977-07-21 |
FR2201540B1 (de) | 1976-11-19 |
IT994357B (it) | 1975-10-20 |
JPS4993798A (de) | 1974-09-06 |
CA992670A (en) | 1976-07-06 |
GB1440776A (en) | 1976-06-23 |
FR2201540A1 (de) | 1974-04-26 |
SE384759B (sv) | 1976-05-17 |
NL7213355A (de) | 1974-04-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2349352C3 (de) | Verfahren zum Betrieb eines Elektronenstrahlerzeugers | |
DE3887891T2 (de) | Niederspannungsquelle für schmale Elektronen-/Ionenstrahlenbündel. | |
DE3218513C2 (de) | ||
DE112014003760B4 (de) | Elektronenmikroskop und Beobachtungsverfahren | |
DE2140563C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung elektrostatischer Bildelemente | |
DE112010002981T5 (de) | Gasfeldionisations-Ionenquellenvorrichtung und damit ausgestattetesRasterladungsteilchenmikroskop | |
DE2930225A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur kompensation des astigmatismus eines ladungstraegerstrahls | |
DE2325993C3 (de) | Elektronenkanone | |
DD237932A1 (de) | Elektronenkanone fuer hohe strahlleistungen | |
DE3114644A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur erzeugung von elektronenimpulsen hoher dichte | |
DE3505857A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen und regeln der position eines schweisselektronenstrahlenbuendels | |
DE2821597A1 (de) | Verwendung eines systems zur erzeugung eines elektronenflachstrahls mit rein elektrostatischer fokussierung in einer roentgenroehre | |
DE2337142A1 (de) | Elektronenquelle | |
DE1125096B (de) | Verfahren zum Herstellen einer Schweisszone gewuenschter Querschnittsform beim Ladungstraegerstrahl-Schweissen | |
DE2161027C3 (de) | Elektronenstrahlerzeuger mit einer durch einen Energiestrahl zu erhitzenden Kathode | |
DE69028620T2 (de) | Röntgenröhre mit Austrittsfenster | |
DE1965088B2 (de) | Farbbildroehre | |
DE2723473C3 (de) | Lötverfahren | |
DE1639197B2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur herstellung eines magnetisch betaetigbaren reed-schalters | |
DE2249365A1 (de) | Roentgenroehre | |
DE1261971B (de) | Einrichtung zum Schweissen, Schneiden oder zur Materialbearbeitung mittels eines Ladungstraegerstrahls | |
DE2725741C3 (de) | Elektronenstrahlerzeugungssystem mit linienförmiger Glühkatode zur Elekktronenstrahlerwärmung von Werkstoffen | |
DE1565465A1 (de) | Verfahren fuer das Mikroschweissen unter Druck vermittels eines Laserstrahls und Vorrichtung zum Durchfuehren des Verfahrens | |
DE4104845C2 (de) | Elektronenstrahlerzeuger, insbesondere für eine Elektronenstrahlkanone | |
EP0168776A2 (de) | Röntgenröhre |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |