DE2311646A1 - Elektrolumineszierende halbleiteranordnung - Google Patents
Elektrolumineszierende halbleiteranordnungInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 43
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 40
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 37
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 claims description 3
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 claims description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical group [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- MDPILPRLPQYEEN-UHFFFAOYSA-N aluminium arsenide Chemical compound [As]#[Al] MDPILPRLPQYEEN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 244000089409 Erythrina poeppigiana Species 0.000 description 1
- 235000009776 Rathbunia alamosensis Nutrition 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 235000020004 porter Nutrition 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 102000012498 secondary active transmembrane transporter activity proteins Human genes 0.000 description 1
- 108040003878 secondary active transmembrane transporter activity proteins Proteins 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/0004—Devices characterised by their operation
- H01L33/0008—Devices characterised by their operation having p-n or hi-lo junctions
- H01L33/0016—Devices characterised by their operation having p-n or hi-lo junctions having at least two p-n junctions
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- H—ELECTRICITY
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- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/12—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
- H01L31/14—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the light source or sources being controlled by the semiconductor device sensitive to radiation, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices
- H01L31/147—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the light source or sources being controlled by the semiconductor device sensitive to radiation, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices the light sources and the devices sensitive to radiation all being semiconductor devices characterised by potential barriers
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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Description
-1- F.PHN. 6574
Klam/Va/WB.
2311648
Anmelder: N.V. PiIiLiPo' GLOuJLAMPENFABRfEKEIf
Ak»·: PHN- 6374
Anmeldung vomi 7. März 1973
Die Erfindung bezieht sich auf eine monolithische Halbleiteranordnung mit vier aufeinanderfolgenden Gebieten, die abwechselnd
den p- und den n-Leitfähigkeitstyp aufweisen und die miteinander drei
pn-Uebergänge bilden, wobei der erste pn-Uebergang zwischen dem ersten
Gebiet und dem zweiten Gebiet elektrolumineszierende Eigenschaften aufweist und das erste Gebiet und das vierte Gebiet mit ohmsohen Kontaktelektroden versehen sind.
Leitungstyps werden vielfach unter der Bezeichnung "Thyristoren" angewandt. Einige dieser Anordnungen können mit Hilfe optisoher Strahlung
in den leitenden Zustand gebracht werden und es wurden bereits Anordnungen dieser Art vorgeschlagen, in denen einer der Uebergänge ein elektrolumineszierender Uebergang ist, der optisch mit dem photoempfindliohen
Element der Anordnung gekoppelt ist. Eine derartige Anordnung, die z.B.
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in der franzosischen Patentschrift 1.409·138 beschrieben ist, weist in
der Tat eine Strom-Spannungs-Kennlinie mit negativer Neigung und zwei stabile Betriebszustände auf. In einer der Ausführungsformen dieser
Anordnung ist ein anderer Uebergang ebenfalls ein elektrolumineszierender
Uebergang, aber dieser strahlt nach aussen aus} dadurch wird eine elektrolumineszierende
Anordnung erhalten, die den Transistoreffekt benutzt und die zwei sehr verschiedene Helligkeitspegel aufweist, die mit Hilfe
von von aussen herrührender Strahlung umgeschaltet werden können.
Dadurch kann diese Anordnung die Anforderungen erfüllen, die bei einer
Wiedergabe mit zwei Helligkeitspegeln gestellt werden.
In den Fällen, in denen ein Gamma von Zwischenpegeln gemäss
der einfallenden Strahlung erhalten werden muss, können die Anordnungen
mit negativer Widerstandskennlinie nicht verwendet werden.
Die vorliegende Erfindung bezweckt, eine Regelung der
elektrolumineszierenden Strahlung durch eine Strahlung oder Beleuchtung
mit verschiedener Wellenlänge zu ermöglichen wobei die Hegelvorrichtung
In der elektrolumineszierenden Anordnung integriert ist.
Die Erfindung benutzt einerseits den Transistoreffekt, der
es ermöglicht, eine Verstärkung zu erhalten, und andererseits die elektrolumineszierenden Eigenschaften bestimmter pn-Uebergänge. Die
Erfindung benutzt ausserdem die lichtempfindlichen Eigenschaften von Phototransistoren.
Nach der Erfindung ist eine monolithische Halbleiteranordnung mit vier aufeinanderfolgenden Gebieten, die abwechselnd den p- und
den n-Leitfähigkeitstyp aufweisen und die miteinander drei pn-Uebergänge
bilden, wobei der erste Uebergang zwischen dem ersten Gebiet und dem zweiten Gebiet elektrolumineszierende Eigenschaften aufweist und das
erste Gebiet und das vierte Gebiet mit ohmschen Kontaktelektroden
versehen sind, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Gebiet mindestens
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swei Zonen enthält, wobei eine dieser Zonen an das erste Gebiet grenzt
und di· (leiche Zusammensetzung wie dieses erste Gebiet aufweist und
eine andere dieser Zonen an das dritte Gebiet grenzt und dieses Gebiet optisch Ton dem ersten Uebergang trennt und aus einem Material hergestellt ist, dessen verbotene Bandbreite niedriger als die Energie der
Photonen ist, die von dem genannten ersten üebergang emittiert werden,
wobei da· dritte Gebiet aus einem Material mit photoleitenden Eigenschaften hergestellt ist und eine Oberfläche aufweist, die für die
Photonen sugänglich ist, die von ausβerhalb der Anordnung herrühren·
Sie zweite an das dritte Gebiet grenzende Zone des «weiten
Gebiete* bildet einen Schirm für die von dem üebergang emittierten.
Photonen wegen der verbotenen Bandbreite des diese Zone bildenden Material·· Wenn die Anordnung mit einer Spannungsquelle verbunden ist,
wobei dl« «wischen den beiden Kontaktelektroden angelegte Spannung für
den ersten und den dritten Üebergang eine Vorwartβspannung ist, werden
die rom ersten Üebergang emittierten Photonen in der genannten «weiten
Zone absorbiert und kSnnen das dritte Gebiet nicht erreiohen.
Dagegen werden die Photonen der von ausserhalb der Anordnung
herrehrenden Strahlung von diesem dritten Gebiet empfangen und ein feil derselben gelangt mindestens in die Torarmungszone des zweiten in der
8perriohtung vorgespannten Uebergangs und in dieses dritte Gebiet,' und
diese Photonen bilden dort Elektron-Loch-Paare. Die Bildung von Tragern
in einem Abstand von dem zweiten Üebergang, der kleiner ale ihre
Diffusionslänge ist, führt einen Zusatz von Minorit&tsladungstragern in
dem dritten Gebiet herbei, was eine Aenderung des Potentials dieses letsteren Gebietes in bezug auf das vierte Gebiet zur Folge hat. Die
Potentialgrenze des dritten Uebergangs wird herabgesetzt, was eine
Injektion von Minoritätsladungsträgern aus dem vierten Gebiet in das dritte Gebiet ermöglicht.
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Wenn der Abstand zwischen dem zweiten Uebergang und dem dritten Uebergang genügend klein ist, rekorabmieren sich eine geringe
Anzahl dieser Träger in dem dritten Gebiet und werden durch das Eintreffen
von Photonen kompensiert. Dadurch wird ein Verstärkungseffekt
vom Transistoreffekttyp erhalten, wobei die zweite Zone des zweiten
Gebietes den Kollektor, das dritte Gebiet die Basis und das vierte Gebiet den Emitter des Phototransistors bildet. Der primäre Photostrom
in der Basis des Transistors ist gleich dem Produkt des Photonenstroms, der das lichtempfindliche Gebiet erreicht, der i^uantenausbeute der
Bildung von Elektron-Loch-Paaren in diesem Gebiet und des .iertes der
Ladung des Elektrons.
Der Strom in der Anordnung ist gleich diesem Photostrom in dem dritten Gebiet oder der Basis, multipliziert mit der Verstärkung
des Transistors auf dem betrachteten Strompegel. Dieser Strom ändert sich also mit der Beleuchtung des Basisgebietes, dessen Oberfläche einer von
aussen herrührenden Strahlung ausgesetzt ist. Dagegen beeinflusst die in Richtung auf den Transistor von dem ersten uebergang - der lumineszierend
ist - emittierte Strahlung diesen Photostrom nicht, weil die zweite Zone des zweiten Gebietes für diese Strahlung undurchlässig ist.
Die Verstärkung des Transistors kann durch ein übliches Verfahren evaluiert werden und ist nahezu gleich dem Verhältnis zwischen der
Diifusionslänge der Minoritätsladungsträger in der Basis und der Dicke
der Basis, die zwischen dem zweiten und dem dritten Uebergang liegt.
Andererseits ist es bekannt, dass für einen bedeutenden Arbeitsbereich die Kurve der von einer elektrolumineszierenden Diode
als Funktion des sie durchlaufenden Stromes ausgesandten Leistung
meistens einer geraden Linie gleich gesetzt werden kann, liadurch wird eine
Aenderung der Helligkeit der Anordnung erhalten, die nahezu dem von dem in dieser Anordnung enthaltenen lichtempfindlichen Teil empfangenen
Lichtstrom proportional ist. Die Anordnung nach der Erfindung regelt
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damit die Stärke der Strahlung, die als Punktion der Stärke der
empfangenen Strahlung emittiert wird. Es ist möglich, die Helligkeit der Anordnung nach Wunsch ohne üenderung der speisespannung mit Hilfe
einer angepassten Strahlungsquelle zu ändern. Die Anordnung ist ausserdem
selektiv, wobei die Wahl der Materialien der verschiedenen Zonen und der verschiedenen emitter- oder photoempfindlichen Gebiete eine Selektion
in der wellenlänge der empfangenen und emittierten Strahlung gestattet.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Halbleiteranordnung
nach der Erfindung wird der Unterschied in der verbotenen Bandbreite zwischen dem Material der zweiten Zone des zweiten Gebietes und dem
Material der Gebiete,der elektrolumineszierenden Mode durch einen Unterschied in der Konzentration an gemeinsamen Bestandteilen dieser
Materialien herbeigeführt, die dasselbe Kristallsystem und nahe beieinander
liegende Kristallparameter aufweisen, wodurch also die Kristallgitter miteinander übereinstimmen. Gallium-Aluminiumarsenid Ga1 Al As,
wobei O^ χ ^0,4 ist, ist ein Beispiel dieser zusammengesetzten
Materialien, mit dem es möglich ist, epitaktische Ablagerungen mit einer
verbotenen Bandbreite vorzunehmen, die zwischen der von Galliumarsenid und der von Aluminiumarsenid liegen kann, je nach der Aluminium- und
der Galliumkonzentration.
In gewissen Fällen ist es für die Herstellung einer monolithischen
Anordnung mit zwei Materialien mit verschiedenen verbotenen Bandbreiten und nahe beieinander liegenden Kristallkonstanten notwendig,
dass das eine Material epitaktisch auf dem anderen Material niedergeschlagen
wird unter ^wischenfügung einer Zwischenschicht, einer sogenannten
Pufferschicht, deren Zusammensetzung sich allmählich zwischen den ZfUuaiiiiiiensetzungen der beiden Materialien ändert. Die verbotene Bandbreite·
in eier PuIferschient ändert aicli allmählich mit der ^usammensetzung
und diese Pufferschient bildet vorzugsweise einen integrierenden
Teil du:: zweiten Gebietes. Die anordnung besteht z.B. aus einem ersten
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Gebiet und einer ersten Zone des zweiten Gebietes, die^us Galliumarsenidphosphid
GaAs1 P hergestellt sind; die zweite Zone des zweiten Gebietes ist aus Galliumarsenidphosphid hergestellt, wobei die Phosphidkonzentration
in der Dickenrichtung dieser Zone von dem Uebergang ab von χ auf 0 abnimmt, während das dritte und das vierte Gebiet aus Galliumarsenid
bestehen. Die zweite Zone kann ausserdem teilweise aus halbleitendem Galliumarsenid bestehen.
Da die Lichtemission der elektrolumineszierenden Anordnung nach der Erfindung sich als Funktion der von ihr empfangenen Beleuchtung
ändert, können Wiedergabevorrichtungen mit Kontrastregelung durch die Beleuchtung der Umgebung hergestellt werden. Das Material des ersten
Gebietes und der ersten öone des zweiten Gebietes ist ein Material, in
dem ein in der Vorwärtsrichtung vorgespannter Uebergang eine sichtbare Strahlung emittiert, wie z.B. Gallium-iiluminiumarsenid. Das Material
der zweiten Zone des zweiten Gebietes ist exn Material mit einer niedrigeren
verbotenen Bandbreite, z.B. Galliumarsenid; das dritte und das vierte Gebiet können ebenfalls aus dem letzteren Material bestehen. Dieses
Material ist gleichfalls empfindlich für Infrarotstrahlung mit einer
VYellenlänge grosser als 0,9 /um, wie sie die meisten Arten natürlichen
und künstlichen Lichtes enthält, und es ist ausserdem stark absorbierend für Strahlungen mit kürzeren Wellenlangen, wie die von den Dioden mit
den obengenannten Materialien emittierte Strahlung. Andere iiaterialien, die
aus mindestens einem Element der Spalte ill des periodischen Systems von
Elementen und mindestens einem Element der spalte V dieses bystems zusammengesetzt
sind, sind ebenfalls geeignet, z.B. Gallium-lndiumphosphid Ga in P, z.B. in Vereinigung mit Indiumphosphid mit kleinerer verbotener
Bandbreite.
Die Anordnung nach der Erfindung, die Infrarotstrahlung
empfängt, kann im sichtbaren Spektrum aussenden und so einen Wellen-
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längenwandler bilden und zum Sichtbarmachen von Infrarotsignalen dienen.
Eine Kombination verschiedener Anordnungen dieser Art bildet einen Bildwandler; ein Mosaik von koplanaren Anordnungen nach der Erfindung, das
z.B. gemäss einer XY-Matrix angeordnet ist, wird dann auf einem gemeinsamen
Träger befestigt.
Die Struktur der Anordnung ist vorzugsweise eine flache
Struktur, die durch epitaktische Ablagerungen und Diffusionen, gegebenenfalls
durch Legieren oder Ionenimplantation, erhalten wird.
Die Dicken des Oberflächengebietes und des zweiten Gebietes
sind minimal ι die Dicke des absorbierenden Teiles des zweiten Gebietes
wird als Punktion des Absorptionskoeffizienten c* in diesem Gebiet für
die vom Uebergang emittierte Strahlung bestimmt. Vorzugsweise ist diese Dicke mindestens gleich dem Dreifachen des Absorptionsabstandes i/ot »
was einer Schwächung der einfallenden Stärke in dem Verhältnis i/e für
die vom Uebergang emittierte Strahlung entspricht.
Wenn das Material des ersten Gebietes und der zweiten Zone des zweiten Gebietes ein Halbleitermaterial mit direkter Bandstruktur
ist, von dem aus die Photoemissionen durch direkte Rekombinationen von Leitungsband und Valenzband herbeigeführt werden, ist die Absorption des
Llaterials für das emittierte Licht beträchtlich. So ist ausserdem ein
η-leitendes Gebiet für Strahlung undurchlässig, die von einem angrenzenden elektrolumineszierenden pn-Uebergang emittiert wird und die dann über
ein sehr dünnes p-leitendes Gebiet austreten muss. Zu diesem Zweck wird
der Uebergang in einem Material mit direkter Bandstruktur durch starke Dotierung beiderseits des Uebergangs hergestellt. In einer besonderen
Ausführungsform enthält die erfindungsgemässe Anordnung einen pn-Uebergang,
der in einem stark dotierten Material mit direkter Bandstruktur hergestellt ist, wobei das erste Oberflächengebiet vom p-Typ ist und die
erste Zone des zweiten η-leitenden Gebietes genügend dick ist, um selber die emittierte Strahlung zu absorbieren.
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Bei einer ersten Ausführungsform, bei der die Fläche der
Anordnung, aus der die vom ersten Uebergang emittierte strahlung austritt,
der Seite gegenüber liegt, in die die vom dritten Gebiet empfangene
Strahlung eindringt, sind die Gebiete und die aonen übereinander angeordnete
Schichten, wobei das vierte Gebiet eine sehr beschränkte Ausdehnung
in bezug auf die anderen Gebiete, insbesondere das dritte Gebiet, hat, dessen Aussenoberflache dagegen eine maximale .-.Uoiehnung hat.
In einer zweiten Ausführungsform ist die Oberfläche, aus
der die vom ersten elektrolumineszierer.den uebergang -sr.it vierte Strahlung
austritt, zugleich die Oberfläche, über die die Strahlung, die das dritte
Gebiet empfangen muss, eintritt. Dieses Gebiet wird :,ur -,-er. Strahlung
erreicht, deren Energie geringer als die verbotene Bandbreite des Materials der ersten tone des zweiten !ebietes ist, das von dieser
Strahlung durchlaufen werden muss. In diesem Falle weü:· das Jebilde cii-r
durchlaufenen ionen und Gebiete die zurcirdest erforderliche Licke auf,
um nicht einen zu grossen Teil dieser strahlung zu ab ^ ;.r;ieren. ;.regeb ebenfalls
wird zwischen der ersten und der zweiten Zcne i;-^ Lf.eitiT- aebis;=^
eine Zwischenzone aus einem Material angeordnet, de;:--;:. verbotene Βεινί-breite
zwischen der des !,!aerials der ;.^nannten zwei:-;. .. ::.e und der
Energie der vom ersten Uebergang emit t, j arten r^hotone;: 1:.;;.;, .,lese
Zwischenzone bilden eine selektive absei'Liierende Sch:!.;.::.
in einer !ritten Ausführu::,. οίΌηα, die e:.:r: ,-: ernannten
lateralen Struktur emssprient, verlässt die vom erst-:.. '.'-.■:■ ^r^:ang emittierte
Strahlung die .jnornr.ung über die Fiäcne dieser ..r. .r inur.g, die ■"'.... j
Licht empfängt, das zur Bildung von ilc-ritron-Loch-Pa^vc·.-. '.:. dem drit;. -;.
Gebiet bestimmt ist; die austrittsflächer. sir:.: -edoc:. v;:. -.cn Err.pf aii^iflächen
verschieden. !luch dieser .Massr.an::ie werden di·:.- ". :. i; una der
Transistor, die die Anordnung bilden, nebeneinander :-.-\:e :z''h.et und
liegen in der gleichen Lber.e oder wen ig.-5 r. ens in aiifr--:· :.-:.■;-:": parallel-;':;
Ebenen.
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Die Anordnung nach der Erfindung kann durch die üblichen Verfahren hergestellt werden. Die bekannten Techniken, z.B. Photoätzen,
Epitaxie, iiiifusion, Legierung und Ionenimplantation, können Anwendung
finden. Bei der Herstellung der Anordnung kann z.B. von einer Platte
aus einer einkristallinen lil-V-Verbindung ausgegangen werden. Auf
dieser Platte wird die erste Zone des zweiten Gebietes epitaktisch niedergeschlagen; diese besteht aus einem anders zusammengesetzten
Material, dessen Kristallgitter dem des ersten Materials entspricht. Das erste Gebiet wird in diese erste Zone eindiffundiert. Das dritte
Gebiet wird in die Platte eindiffundiert und das vierte Gebiet wird durch Legieren oder Ionenimplantation hergestellt.
Die Erfindung lässt sich in all denjenigen Fällen anwenden,
in denen die Lichtleistung einer elektrolumineszierenden Abbildung als Funktion einer Strahlung geregelt werden muss, insbesondere in denjenigen
Fällen, in denen die Lichtleistung einer elektrolumineszierenden Diode
als Funktion der Umgebungsbeleuchtung geregelt werden muss.
Die Erfindung kann ebenfalls zur Umwandlung der Wellenlänge einer Strahlung verwendet werden, während eine Kombination von Anordnungen
nach der Erfindung als Bildwandler zum Sichtbarmachen von insbesondere Infrarotstrahlung dienen kann.
einige Ausführungsformen der Erfindung sind in der Zeichnung
dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Ks zeigen:
Fig. 1 einen schematischen Schnitt durch eine erste Ausführungsfonn
der erfindungsgemässen Anordnung,
Fig. 2 einen schematischen Schnitt durch eine zweite Ausfuhrungsform der erfindungsgemässen Anordnung, und
Fie· 3 einen schematischen Schnitt durch eine dritte Ausführungsforni
der erfindungsgemässen Anordnung.
309839/0878
-10- P.PHN. 6374
Die anordnung nach Fig. 1 enthält ein erstes Gebiet 4 und
ein zweites Gebiet .1,5· Zwischen diesen beider. Gebieten wird ein elektrolumineszierender
Uebergang 6 gebildet, der eir.e Strahlung in der Richtung 12 emittiert. Das zweite Gebiet umfasst zwe.i Zonen, und zwar eine erste
Zone 5 aus demselben Material wie das erste Gebiet, jedoch vom entgegengesetzten
Leitfähigkeitstyp, und eine zweite Zone 1 aus einem Material
mit einer geringeren verbotenen Bandbreite, ^in drittes Gebiet 2 bildet
mit dem zweiten Gebiet einen zweiten pn-liebergang 3>
während ein viertes Gebiet 7 mit dem dritten Gebiet einen dritten pn-Uebergang 8 bildet.
Das dritte Gebiet 2 weist eine grosse ^.usser.oberflache zum ijnpfang von
von aussen herrührender Strahlung 13 auf. Kontakte sina bei 10 auf dem
ersten Gebiet und bei 9 auf dem vierten aobiet angebracht und werden mit
einer niedrigen und konstanten Spannung^q i;e] ."..e 11 verbunden.
Die in Fig. 2 dargestellte Anordnung enthält ein erstes
Gebiet 22 und ein zweites Gebiet 17, 18 ve;;: entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp,
wobei der Uebergang 25 zwischen Ciesen beiden Gebieten eiektrolumineszierende
Eigenschaften aufweist. Lic- ernte ione 17 des zweiten
Gebietes ist aus demselben Material wie des Gebiet 22 hergestellt,
während die zweite Zone 18 dieses zweiten Gebietes aus einem Material
mit einer geringeren verbotenen Bandbreite hergestellt ist. -Din drittes
Gebiet 20 bildet mit der Zone 18 einen zweiten pn-Uebergang 19» während ein viertes Gebiet 21 mit dem dritter; Gebiet einen dritten pn-Uebergang
26 bildet; die Zonen 17 und 18 sind genügend dünn, um von der von aussen herrührenden Strahlung 29 nicht den 'Teil ^u ,ibsorbieren, für den das
Material des dritten Gebietes 20 empfindlich ist. Kontakte sind bei 24
auf dem Gebiet 22 und bei 25 auf dem Gebii.t 21 angebracht} diese kontakte
werden mit der Spannungsquelle 27 verbunden.
Die Anordnung nach Fig. 3 enth'-It ein er.^e:; ^ebiet $ü
und ein zweites Gebiet 3^,31 vom entgegengesetzten Leicfähigkeitstyp,
wobei der Uebergang 37 zwischen den Gebietea 36 und λS elektroluminetizierende
Eigenschaften aufweist. Das zweite Gebiet umfasst zwei
3098 3 9/U8 7 8
-11- P.PHN. 6374
und zwar eine Zone 38 aus demselben Material wie das Gebiet 36 und eine
Zone 31 aus einem Material mit einer geringeren verbotenen Bandbreite.
Ein drittes Gebiet 32 bildet mit der ^one 3I einen zweiten pn-Uebergang
35 und ein viertes Gebiet 33 bildet mit dem Gebiet 32 einen dritten
pn-Uebergang 34· Das Gebiet 32 weist eine grosse Aussenoberfläche auf,
auf die einfallende Strahlung 42 aul'treffen kann. Kontakte sind bei 39
auf dem Gebiet 33 und bei 4I auf dem Gebiet 36 angebracht 5 diese Kontakte
werden mit einer Spannungsquelle 40 verbunden. Vorzugsweise sind das
Gebiet 32, das Gebiet 33 und die Kontakte 39 und 4I ringförmig gestaltet.
Bei der Herstellung einer Anordnung der an Hand der Pig. beschriebenen Art kann von III-V-Halbleiterverbindungen mit den gewünschten
Eigenschaften ausgegangen werden. Bei der Herstellung der Anordnung
kann z.B. von einer Platte aus Galliumarsenid GaAs vom η-Typ ausgegangen
1 V Ά
werden, das mit Tellur mit einer Konzentration von 10 Atomen/cm
dotiert ist, welche Platte das Substrat 1 bildet. Das Gebiet 2 (ßasisgebie^
wird durch Zinkdiffusion mit einer Dicke kleiner als oder gleich 2/um
und mit einer Konzentration in der Grossenordnung von 10 Atomen/cm
erhalten. Das Gebiet 7 (emitter) wird durch Zinnlegierungyerhalten, die
über etwa 1,5/um eindringt und zwischen dem Emitter und dem Kollektor
eine Basisdicke von 1,5/um zurücklässt. Andererseits ist die elektrolumineszierende
Diode, die durch die Gebiete 4 und 5 gebildet wird, ■ epitaktisch angebracht. Diese Jiode wird durch epitaktische Ablagerung
auf dem Substrat 1 von Galliumarsenidphosphid GaAs1 P erhalten, wobei
χ zwischen 0 und 0,4 bei einer Dicke von 40/um variiert. Die abgelagerte
Verbindung ist η-leitend mit einer Konzentration von 5»10 Selenoder
Telluratomen/cm . Das Gebiet 4 ist ein diffundiertes Gebiet, das durch Zinkdiffusion mit einer Konzentration in der Grössenordnung von
10 Atomen/cm bei einer Tiefe von 2 /um erhalten wird? Die ebene
Oberfläche des Uebergangs 6 ist viel kleiner als die ebene Oberfläche '
309839/0878
-12- P.PHN. 6374
des Uebergangs 3* Der elektrolumineszierende Uebergang 6 weist z.B. eine
-3 2
kreisförmige Oberfläche von 10 cm auf, während der flache zu der vorangehenden
Oberfläche parallele Teil des Uebergangs 3 eine Überfläche
-1 2
von 10 cm aufweist.
von 10 cm aufweist.
Eine auf die obenbeschriebene Weise hergestellte anordnung
weist eine Transistorverstärkung in der Grossenordnung von 10 bis 50 auf.
Bei einer von aussen herrührenden Infrarotbestrahlung der empfangenden
Fläche von 50 mW/cm beträgt der Strom in der Diode $0 mA, wobei der
Basisstrom in der Grossenordnung von 1,5 mA liegt. Bei einer Beleuchtung
Basisstrom in der Grossenordnung von 1,5 mA liegt. Bei einer Beleuchtung
von 5 mW/cm beträgt der Strom in der Diode 3 ™α· Zwischen diesen beiden
Beleuchtungswerten ändert sich die Helligkeit der Diode proportional
mit einem Faktor von etwa 10.
mit einem Faktor von etwa 10.
309839/0878
Claims (10)
- -13- P.PHH. 6374Pat ent anspräche:(i ·/ Monolithische Halbleiteranordnung mit vier aufeinanderfolgenden Gebieten, die abwechselnd den p- und n-Leitfähigkeitetyp aufweisen und die miteinander drei pn-Uebergänge bilden, wobei der erste pn-Uebergang zwischen dem ersten Gebiet und dem zweiten Gebiet elektrolumineszierende Eigenschaften aufweist und das erste Gebiet und das vierte Gebiet mit ohmschen Kontaktelektroden versehen sind, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Gebiet mindestens zwei Zonen enthält, von denen eine Zone an das erste Gebiet grenzt und die gleiche Zusammensetzung wie dieses erste Gebiet aufweist und eine Zone an das dritte Gebiet grenzt und dieses Gebiet von dem ersten Uebergang optisch trennt und aus einem Material hergestellt ist, dessen verbotene Bandbreite kleiner als die Energie der Photonen ist, die vom genannten ersten Uebergang emittiert werden, wobei das dritte Gebiet aus einem Material mit photoleitenden Eigenschaften hergestellt ist und eine Oberfläche aufweist, die für die Photonen zugänglich ist, die von ausserhalb der Anordnung herrühren.
- 2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dassdas Material des ersten Gebietes und der ersten Zone des zweiten Gebietes und das Material der zweiten Zone des zweiten Gebietes, des dritten Gebietes und des vierten Gebietes verschiedene Konzentrationen an gemeinsamen Bestandteilen aufweisen und in demselben Kristallsystem kristallisieren und nahe beieinander liegende Kristallparameter haben.
- 3* Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass eine Pufferzone, in der sich die Konzentration an den genannten Bestandteilen allmählich zwischen den Werten dieser Konzentration in angrenzenden Zonen ändert, in dem zweiten Gebiet liegt.
- 4* Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke des absorbierenden Teiles des zweiten309839/0878Gebietes gleich dem Dreifachen des Absorptionsabstandes i/o* für die vom ersten Uebergang emittierte Strahlung ist.
- 5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 41 dadurchgekennzeichnet, dass die genannte Oberfläche, die für die von aussen herrührenden Photonen zugänglich ist, der Austrittsfläche der vom ersten uebergang emittierten Strahlung gegenüber liegt, wobei die Zonen und die Gebiete der Anordnung übereinander liegende Schichten sind und das vierte Gebiet eine geringere Ausdehnung als die anderen Gebiete hat.
- 6· Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4» dadurch gekennzeichnet, dass die genannte für die von aussen herrührenden Photonen zugängliche Oberfläche auf der Austrittsfläche der von dem ersten Uebergang emittierten Strahlung liegt.
- 7· Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4f dadurchgekennzeichnet, dass die den von ausserhalb der Anordnung herrührenden Photonen ausgesetzte Oberfläche neben der Austrittsfläche der vom ersten Uebergang emittierten Strahlung liegt.
- 8. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7» dadurchgekennzeichnet, dass das das erste Gebiet und die erste Zone des zweiten Gebietes bildende Material ein stark dotiertes Material mit direkter Bandstruktur ist, wobei die genannte erste ^one des zweiten Gebietes eine absorbierende Schicht für die vom ersten Uebergang emittierte Strahlung bildet.
- 9· Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass sie in Materialien hergestellt ist, die aus mindestens einem Element der durch Gallium, Aluminium und Indium gebildeten Gruppe und aus mindestens einem Element der durch Arsen und Phosphor gebildeten Gruppe zusammengesetzt sind.
- 10. Anordnung nach Anspruch 9» dadurch gekennzeichnet, dass das erste Gebiet aus mit Zink dotiertem epitaktischem GalliumarsenidGaAs1_xP x besteht, wobei O^ χ /0,4 ist, und dass die erste Zone des zweiten Gebietes aus mit Tellur dotiertem epitaktischem Galliumarsenid-309839/0878-15- κ.ΡΗΗ. 6374phosphid besteht, wobei der Phosphidgehalt zwischen χ und 0 variiert, während die zweite Zone des zweiten Gebietes aus mit Tellur dotiertem Galliumarsenid, das dritte Gebiet aus mit· Zink dotiertem Galliumarsenid und das vierte Gebiet aus mit Zinn dotiertem Galliumarsenid besteht.309839/08 7 8Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7208826A FR2175574B1 (de) | 1972-03-14 | 1972-03-14 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2311646A1 true DE2311646A1 (de) | 1973-09-27 |
DE2311646B2 DE2311646B2 (de) | 1980-06-12 |
DE2311646C3 DE2311646C3 (de) | 1981-02-26 |
Family
ID=9095172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2311646A Expired DE2311646C3 (de) | 1972-03-14 | 1973-03-09 | Elektrolumineszierende Diodenanordnung |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3852797A (de) |
JP (1) | JPS5610752B2 (de) |
DE (1) | DE2311646C3 (de) |
FR (1) | FR2175574B1 (de) |
GB (1) | GB1426760A (de) |
IT (1) | IT980543B (de) |
NL (1) | NL7303254A (de) |
Families Citing this family (14)
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- 1973-03-09 IT IT67667/73A patent/IT980543B/it active
- 1973-03-09 GB GB1141673A patent/GB1426760A/en not_active Expired
- 1973-03-09 DE DE2311646A patent/DE2311646C3/de not_active Expired
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS494488A (de) | 1974-01-16 |
JPS5610752B2 (de) | 1981-03-10 |
US3852797A (en) | 1974-12-03 |
DE2311646B2 (de) | 1980-06-12 |
IT980543B (it) | 1974-10-10 |
FR2175574B1 (de) | 1975-08-29 |
DE2311646C3 (de) | 1981-02-26 |
FR2175574A1 (de) | 1973-10-26 |
NL7303254A (de) | 1973-09-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |