DE2848925A1 - Lawinen-photodiode mit heterouebergang - Google Patents
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Description
Dipl.-lng.
E. Prinz
Patentanwälte | Dipl.-lng. |
Dipl.-Chem. | G. Leiser |
Dr. G. Hauser | |
Ernsbergerstrasse 19 | |
8 München 60 | |
THOMSON - CSF 8. November 1978
173» Bd. Haussmann
75008 Paris / Frankreich
75008 Paris / Frankreich
Lawinen-Photodiode mit HeteroÜbergang
Die Erfindung betrifft eine Lawinen-Photodiode mit einem
HeteroÜbergang, d.h. einem aus zwei verschiedenen Materialien vom entgegengesetzten Leitungstyp bestehenden Halbleiterübergang
.
Bekanntlich ist eine Photodiode eine zum Betrieb unter Sperrspannung
bestimmte Diode mit einer aktiven Zone in Nähe des Halbleiterubergangs, welche unter Entstehung von Elektron-Loch-Paaren
Photonen absorbieren kann und infolgedessen einen Sperrstrom erzeugt, dessen Intensität eine direkte
Funktion der Anzahl von Photonen ist, d.h. der Intensität der Photonenstrahlung. In einer Lawinen-Photodiode erfolgt
eine Stoßionisation unter Multiplikation des Photonenstroms.
Dr.Ha/Ma
909820/0800
Die Photodioden mit HeteroÜbergang besitzen im Verhältnis zu den Photodioden mit homogenem Halbleiterübergang bestimmte
Vorteile, insbesondere bezüglich der Stromverstärkung bei Strahlungen verschiedener Wellenlängen
(Produktverstärkung χ Band), die Quantenausbeute und die niedrigere Vorspannung.
Die Erfindung ermöglicht eine Verstärkung dieser Vorteile, insbesondere eine Herabsetzung der Vorspannung.
Die erfindungsgemäße Photodiode besitzt eine erste Halbleiterschicht
zur Absorption der Photonen mit einer vorherbestimmten Energie über oder gleich E1 (in Elektronenvolt).
Diese Schicht besteht aus einem Material mit einem verbotenen Band E« (ausgedrückt in Elektronenvolt). Eine
mit der ersten Schicht einen Halbleiterübergang bildende zweite Halbleiterschicht besteht aus einem Material mit
einem verbotenen Band E-, (in Elektronenvolt) und es besteht
die Gleichung:
E1 > E2 ^ 2 E3.
Gemäß einem anderen Merkmal der Erfindung besteht die erste Schicht aus einer Legierung von Indium und Phosphor
der Formel In P und die zweite Schicht besteht aus einer Legierung von Gallium, Indium und Arsen der Formel:
Gax In1-31. As (1),
worin χ = 0,47 ί einige Tausendstel.
Bei einer anderen Ausführungsform der Erfindung besteht die zweite Schicht aus einer Legierung von Gallium und
Antimon der Formel Ga Sb und die erste Schicht ist eine
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Legierung aus Aluminium, Gallium und Antimon der Formel:
Aly ο&1_γ Sb (2),
worin y = 0,60 ± einige Tausendstel. Das Substrat besteht aus Ga Sb.
Die Erfindung wird anhand der folgenden Beschreibung in
Verbindung mit der Zeichnung näher erläutert.
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine Schnittansicht einer beispielsweisen Ausführungsform der Erfindung und
Fig. 2 die Struktur des Valenz- und Leitungsbands der für das Beispiel von Fig. 1 verwendeten Materialien.
Fig. 1 zeigt eine Photodiode mit einem Substrat 10 aus einkristallinem
n++ dotierten Indiumphosphid (In P) mit einer
Dichte der Donatoratome von über 10 cm" , z.B. 2.10 cm.
Auf dem Substrat 10 wurden nacheinander epitaktisch auf einer seiner ebenen Flächen abgeschieden:
- eine sehr dünne (in der Größenordnung eines Mikron, gegebenenfalls dickere) Schicht 3, die als Puffer zwischen
Substrat und aktiver Zone der Photodiode dienen soll; sie besteht aus n+ dotiertem Indiumphosphid In P mit einer
Störstoffdichte von 1018 cm"3;
- eine beispielsweise 5 Mikron dicke Schicht 2 aus einer einkristallinen, η leitenden Legierung der Formel
GaQ ^y InQ κ. As, die so dotiert ist, daß sich eine Dichte
an Donatoratomen von 10 cm"5 ergibt;
909820/0800
- eine beispielsweise etwa 2 Mikron dünne Schicht 1 aus p++ leitender In P Legierung, die durch Dotierung mit
Akzeptoratomen (z.B. Zn) mit einer Dichte von 2.10 cra"J
erhalten wurde.
Die Schichten 1 und 2 bilden die aktive Zone.der Photodiode,
wobei die Schicht 1 die Strahlungen 100 aufnehmen soll. Eine vorherige Ätzung der Schicht 1 hat dem obersten Teil die in
Fig. 1 dargestellte typische Mesaform verliehen.
Die Photodiode besitzt zwei ebene Flächen, deren eine z.B.
eine kreisförmige Fläche 11 ist. Eine ringförmige Metallisierung 110 wurde durch Vakuumverdampfung von Metallen oder
einer Legierung (Gold, Indium, Zink) so aufgebracht, daß ein guter ohmscher Kontakt und trotzdem ein Durchlaß für die
Photonen gewährleistet ist.
Auf die freie Fläche des Substrats wird eine Metallisierung
12, z.B. durch Vakuumverdampfung von Gold, Zinn und Tellur zur Erzielung eines guten ohmschen Kontaktes aufgebracht.
Fig. 2 zeigt für den Fall des vorstehend beschriebenen Beispiels (Fig. 1) die Struktur des Valenz- und Leitungsbandes
im Ruhezustand, d.h. in Abwesenheit einer äußeren Vorspannung. Das verbotene Band wird durch die Kurven 21 und 22 begrenzt.
Auf der Ordinate (OE Achse) sind die Energieniveaus aufgetragen, wobei das Ferminiveau durch eine Parallele Ep zur
Abszisse Ox dargestellt ist. Die Abstände sind auf der Ox Achse, ausgehend von der Fläche 11 der Photodiode, angegeben.
Die Struktur umfaßt vier Zonen:
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- Z1 entspricht der Photonen der Strahlung 100 absorbierenden
Schicht 1; infolge der starken ρ Dotierung befindet
sich das verbotene Band in dem Material (in P) von 1,4 Volt nahezu vollständig oberhalb des Ferminiveaus;
- Z2 entspricht der Schicht 2, in welcher die Stoßionisation
(Lawine) erfolgt; am Übergang zwischen den ρ und η Schichten besteht eine Unstetigkeit der Kurve 22, die vollständig
oberhalb von Ep und Verbindungskurvenabschnitten 211 und
221 verläuft, die einem Raumladungsbereich entsprechen. Diese Verbindungskurven verlaufen nahezu vollständig in dem
schwach η dotierten Bereich; das verbotene Band besitzt eine Breite von 0,7 Volt, was für das Material (Ga0 ^y
In0 c-T As) charakteristisch ist;
- Z, und Z10 entsprechen der Schicht 3 bzw. dem Substrat
und sind mehr und mehr η dotiert, was den stufenförmigen Abfall des verbotenen Bandes in Richtung niedriger Energieniveaus
erklärt. Das verbotene Band ist 1,4 eV.
Die erfindungsgemäße Photodiode funktioniert theoretisch
mit einer Vorspannung von Null und mit einer Lawinenverstärkung von 2. Praktisch kann die wirksame Vorspannung sehr
gering sein.
Dieses Ergebnis läßt sich in folgender Weise unter Bezugnahme auf das beschriebene und dargestellte Beispiel erklären:
1) In der Schicht 1 (Zone Z1, Fig. 2) wird jedes Photon (23,
Fig. 2) mit einer Energie von über 1,4 eV (λ < 0,9 Mikron) unter Entstehung eines Elektron-Loch-Paars (Bezugszeichen
24 und 25, Fig. 2) absorbiert, weil das verbotene Band
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des Materials 1,4 eV beträgt. Damit die Quasi-Gesamtheit
der Photonen dieser Energie absorbiert wird, muß die Schicht 1 ziemlich dick (mindestens 1 Mikron) sein,
ohne jedoch zu dick zu sein (über 3 bis 4 Mikron), wenn man will, daß die Elektronen 24 in ihrer Quasi-Gesamtheit
in die Schicht 2 eindiffundieren können..
2) In der Schicht 2 (Zone Zg,(Fig. 2) findet sich ein
Raumladungsbereich, der als Übergang zwischen der Zone hoher Elektronenenergie (Z^) und der Zone niedriger
Energie (Z2) dient. Jedes durch photoelektrischen Effekt
in der Zone Z^ erzeugte und dann durch Wärmebewegung in
die Schicht 2 eindiffundierende Elektron wird dem starken elektrischen Feld des Raumladungsbereichs unterworfen
und gewinnt eine kinetische Energie in der Größenordnung von 0,7 Volt.
Tatsächlich stellt man hier die erklärende Hypothese auf, daß die Niveausenkung der Kurve 22 vollständig im Leitungsband
liegt. Daraus folgt, daß die Verstärkung der kinetischen Energie des Elektrons 241 gleich der Differenz der
Breite der verbotenen Bänder in eV ist, nämlich:
1,4 eV - o,7 eV = 0,7 eV.
Nach seinem Absturz kann das Elektron 241 während einer Stoßionisation ein Elektron des Valenzbands in das Leitungsband
hochsteigen lassen, wobei diese Bänder durch einen Niveauunterschied von 0,7 eV getrennt sind. Ein zusätzliches,
Elektron 242 wird dann freigesetzt, ebenso wie ein Loch 243» wodurch die Lawinenverstärkung von 2 entsteht.
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Die Schicht 2 soll eine solche Dicke besitzen, daß die Beschleunigung der Elektronen und die Stoßionisation
für die überwiegende Mehrheit der Elektronen erfolgt. Eine Dicke von 5 Mikron erscheint ausreichend. Andererseits
ist man daran interessiert, diese Dicke zu begrenzen, um die Lawinenspannung und somit die zur Erzielung einer
Verstärkung von über 2 zusätzlich an die Photodiode anzulegende Vorspannung herabzusetzen. Legt man nämlich eine
Sperrspannung an (Minuspol der ρ Seite auf der Fläche 11 der Photodiode und Pluspol auf dem Substrat) verschiebt
man das Ferminiveau in Richtung der hohen elektronischen Energien in der Zone Z1 und in Richtung der niedrigen
Energien in der Zone Zp» was die Höhe des Abfalls der
Elektronen in die Raumladungszone und somit ihre kinetische Energie und schließlich die Lawinenverstärkung in
klassischer Weise verstärkt.
Der Wert des Parameters χ in der Formel (1) der Legierung aus Gallium, Indium und Arsen ist besonders kritisch
(x = 0,47); wenn man sich nämlich um mehr als einige Tausendstel dieses Werts von 0,47 nach oben oder unten
entfernt, besitzen die Kristallgitter der beiden Materialien unterschiedliche Abmessungen und es entstehen während des
epitaktischen Wachstums von In P auf der Legierung der Formel (1) Störstellen an der Zwischenfläche, welche
Rekombinationen von durch den photoelektrischen Effekt entstandenen Elektronen und Löchern bewirken können, was
der Leistung der Photodiode schadet.
Bei der bereits erwähnten Ausführungsform der eine Absorptionsschicht
der Formel (2) enthaltenden Photodiode leitet sich deren Struktur von der in Fig. 1 dargestellten ab,
wobei die vorstehend angegebenen Materialien durch die folgenden ersetzt sind:
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- ίο -
- in der Schicht 1 ein Kristall A1Q g GaQ λ Sb mit
einem verbotenen Band in der Größenordnung von 1,4 eV;
- in der Schicht 2 ein Kristall aus Ga Sb mit verbotenem Band bei etwa 0,7 eV;
- in der das Substrat 10 bildenden Schicht j5: ein Einkristall
aus Ga Sb.
Bei dieser Ausführungsform besteht keine vollständige Übereinstimmung zwischen den Kristallgittern der Schichten
1 und 2. Der ohmsche Kontakt 110 ist weniger gut als im Fall von In P, und zwar wegen der Anwesenheit von Aluminium
in der Schicht 1. Die Leistung der Photodiode ist daher
a priori weniger gut als bei dem vorhergehenden Beispiel.
In allen Beispielen für Photodioden kann man die Leitungstypen
ρ und η vertauschen, wenn man die Vorzeichen der an die Photodioden anzulegenden Vorspannungen umkehrt.
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e e r s e
it
Claims (5)
- Dipl.-lng. Dipl.-Chem. Dipl.-Ing.E. Prinz - Dr. G. Hauser - G. LeiserErnsbergerstrasse 198 München 60THOMSON - CSF 8. November 1978173» Bd. Haussmann
75008 Paris / FrankreichUnser Zeichen: T 3183PatentansprücheLawinen-Photodiode mit einem aus zwei verschiedenen Materialien mit entgegengesetztem Leitungstyp bestehenden Halbleiterübergang, gekennzeichnet durch eine erste, zur Absorption der Photonen mit einer Energie über oder gleich E^ bestimmten Halbleiterschicht, die aus einem Material mit einer Breite eines verbotenen Bandes Eg (ausgedrückt als Energie) besteht, und weiter gekennzeichnet durch eine zweite, an die erste Schicht angrenzende Halbleiterschicht, die als Lawinenzone dienen soll, wobei diese zweite Schicht ein verbotenes Band mit einer Breite E, (ausgedrückt als Energie) unter Wahrung der folgenden doppelten Relation besitzt:E1 > E2 ^ 2 E3. - 2. Photodiode nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine erste Schicht aus einer Legierung der Formel In P, eine zweite Legierungsschicht der Formel:Gax Ιη1-χ As (1),909820/0800Dr.Ha/Maworin x = 0,47 ί einige Tausendstel, und weiter gekennzeichnet durch ein einkristallines Substrat der Formel In P, wobei der Halbleiterübergang durch die erste, stark dotierte Schicht mit einem ersten Leitungstyp und die zweite schwächer als die erste dotierte Schicht mit einem entgegengesetzten Leitungstyp gebildet wird.
- 3. Photodiode nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine zweite Legierungsschicht der Formel Ga Sb, eine erste Legierungsschicht der Formel:AIy Ga1-7 Sb (2),worin χ = 0,60 ± einige Tausendstel, und weiter gekennzeichnet durch ein einkristallines Substrat der Formel Ga Sb, wobei der Halbleiterübergang durch die erste stark dotierte Schicht mit einem ersten Leitungstyp und die zweite weniger stark als die erste dotierte Schicht mit einem entgegengesetzten Leitungstyp gebildet wird.
- 4. Photodiode nach einem der Ansprüche 2 oder 3f gekennzeichnet durch eine erste ρ (oder n) dotierte Schicht mit einer Dichte an Akzeptoratomen (oder Donatoratomen) von 2.10 cm , eine zweite η (oder p) dotierte Schicht mit einer Dichte an Donatoratomen (oder Akzeptoratomen) von etwa 10 cm , eine als Puffer dienende η (oder p) dotierte Schicht mit einer Dichte an Donatoratomen (oder18 ^5 Akzeptoratomen) von etwa 10 cm aus der gleichen Legierung wie das Substrat, und ein η (oder p) dotiertes Substrat mit einer Dichte an Donatoratomen (oder Akzeptor-1fi *? atomen) in der Größenordnung von 2*10 cm .
- 5. Optische Fernmeldevorrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß sie mindestens eine Photodiode gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4 enthält.909820/0800
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Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5513907A (en) * | 1978-07-17 | 1980-01-31 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Avalnche photo diode with semiconductor hetero construction |
US4250516A (en) * | 1979-08-06 | 1981-02-10 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Multistage avalanche photodetector |
US4390889A (en) * | 1980-10-09 | 1983-06-28 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Photodiode having an InGaAs layer with an adjacent InGaAsP p-n junction |
JPS5793585A (en) * | 1980-12-02 | 1982-06-10 | Fujitsu Ltd | Semiconductor photoreceiving element |
US4476477A (en) * | 1982-02-23 | 1984-10-09 | At&T Bell Laboratories | Graded bandgap multilayer avalanche photodetector with energy step backs |
JPS58170079A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体受光素子 |
US4675624A (en) * | 1985-03-29 | 1987-06-23 | Rca Corporation | Electrical phase shifter controlled by light |
US4751513A (en) * | 1986-05-02 | 1988-06-14 | Rca Corporation | Light controlled antennas |
DE3850157T2 (de) * | 1987-03-23 | 1995-02-09 | Hitachi Ltd | Photoelektrische Umwandlungsanordnung. |
US4887138A (en) * | 1988-03-23 | 1989-12-12 | The United States Of America As Represented By The Secetary Of The Air Force | P-I-N photodetector having a burried junction |
US6781161B1 (en) | 2003-04-09 | 2004-08-24 | Teccor Electronics, Lp | Non-gated thyristor device |
JP7059771B2 (ja) * | 2018-04-19 | 2022-04-26 | 日本電信電話株式会社 | 受光素子 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2252653B1 (de) * | 1973-11-28 | 1976-10-01 | Thomson Csf | |
AU7731575A (en) * | 1974-01-18 | 1976-07-15 | Nat Patent Dev Corp | Heterojunction devices |
US4016586A (en) * | 1974-03-27 | 1977-04-05 | Innotech Corporation | Photovoltaic heterojunction device employing a wide bandgap material as an active layer |
US3921192A (en) * | 1974-05-28 | 1975-11-18 | Gen Electric | Avalanche diode |
US4053918A (en) * | 1974-08-05 | 1977-10-11 | Nasa | High voltage, high current Schottky barrier solar cell |
JPS52101990A (en) * | 1976-02-21 | 1977-08-26 | Hitachi Ltd | Semiconductor device for photoelectric transducer and its manufacture |
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