DE2137578A1 - Verfahren zum Bestimmen der Brauch barkeitskategonen von teilweise brauch baren Mikrobausteinen - Google Patents

Description

Cogar Corporation Wappingers Palls (N.Y., USA)

Verfahren zum Bestimmen der Brauchbarkeitskategorien von teilweise brauchbaren Mikrobausteinen

Die Erfindung betrifft teilweise brauchbare Speicher-Mikrobaueteine, insbesondere ein Verfahren zum Bestimmen der.Brauchbarkeitskategorien von teilweise brauchbaren Speicher-Mikrobausteinen.

Ein typischer Halbleiter-Speicher-Mikrobaustein mit einer integrierten Schaltung enthält eine Anzahl von Speicherzellen und eo viele Adressenleitungen, daß jede Zelle ausgewählt werden kann. Beispielsweise braucht man bei einem Mikrobaustein mit 128 Zellen sieben Adressenbits zur Bezeichnung jeder Zelle. In einer typischen Speicheranordnung werden dieselben Adressenbits an alle Mikrobausteine angelegt, so daß in jedem Mikrobaustein die Zelle mit derselben Hunaner adressiert wird. Zum Auswählen von· bestimmten Zellen in der Gesamtanordnung, d.h. zum Steuerungsfähigmachen nur dieser Zellen in einem vorherbestimmten Wort, ist jeder Mikrobaustein mit einem Mikrobaustein-Wählleiter versehen. Ss sind daher nur jene Zellen steuerungsfähig, die durch die gemeinsamen Adressenbits adressiert und die auf Mikrobausteinen angeordnet sind, deren Mikrobaustein-Wählleiter an Spannung liegen.

Oft stellt es sich heraus, daß nicht alle Zellen eines bestimmten Mikrobausteins brauchbar sind. Es sind im Handel verschiedene Systeme erhältlich, mit denen jede Zelle eines zu prüfenden Mikrobausteins einzeln geprüft werden kann. Mit Hilfe von derartigen automatisierten Einrichtungen kann man bestimmen, welche Zellen unbrauchbar sind. Die genormten Prüfeinrichtungen können

im allgemeinen so programmiert werden, daß verschiedene Arten von Mikrobausteinen verschiedenen Prüfvorgangsfolger. unterworfen werden, so daß nicht für jede Art der hergestellten Mikrobausteine eine eigene Prüfeinrichtung erforderlich ist.

Trotz der großen Fortschritte in der Halbleiter-Technologie stellt sich oft heraus, daß eine oder mehrere Zellen eines Spe'cher-Mikrobausteins unbrauchbar sind» Es ist nun vorgeschlagen worden, einen derartigen Mikrobaustein nicht wegzuwerfen, sondern nur einige seiner brauchbaren Zellen zu verwenden. Beianielsweise sei angenommen, daß nur eine einzige der 128 Zellen eines Mikro-

k bausteins unbrauchbar ist. Man kann diesen Mikrobaustein in einer Speicheranordnung verwenden, wenn gewährleistet ist,, daß die unbrauchbare Zelle über die Adressenleiter nie adressiert wird. Man kann dies dadurch gewährleisten, daß man nur sechs der sieben Adressenleiter verwendet und den Mikrobaustein in eine Anordnung einbaut, in der jeder Mikrobaustein nur 64 brauchbare Zellen besitzt. Jedes der sieben Adressenbits teilt den Mikrobaustein in zwei Teile, die je 64 Zellen enthalten. Man kann an jeden der sieben Adreesenleiter dauernd ein festes Potential (niedrig oder hoch, entsprechend einer Null oder Eins) anlegen, so daß die Adressenbits, die über die sechs anderen Adressenleiter zugeführt werden, eine der Zellen der Gruppe adressieren, die 64 brauchbare Zellen enthält. Durch das Anlegen eines festen Po-

W trentials an einen der Adressenleiter wird die Kapazität des Mikrobausteins auf die Hälfte herabgesetzt.

Wenn nur eine einzige der 128 Zellen eines Mikrobaiisteins unbrauchbar ist, kann der Mikrobaustein auf eine von sieben verschiedenen Arten als teilweise brauchbarer Mikrobaustein verwendet %*erden. Beispielsweise sei angenommen, daß die unbrauchbare Zelle die Adresse 1001001 hat, wobei eine Eins durch ein hohes Potential an dem entsprechenden Adressenleiter und eine Null durch ein niedriges Potential an dem entsprechenden Adressenleiter dargestellt wird. Damit nun die unbrauchbare Zelle nicht adressiert werden kann, braucht man nur zu gewährleisten, daß

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Mti missten« v^:l·:. ·.: ,en der sieben Adressenleiter nicht das entsprechende HM ir der Adresse der Zelle zugeführt werden kann. Wenn beiepii li^-iu ne ein niedriges Potential dauernd an dem
f?rßt(3n, vi«?-T tfc': '-der siebenten Adressenleiter liegt, kann die unbiauchba:^fr r-lic: nicht adressiert werden, weil nicht alle
sieben Adr« ^::-' <ά:·\Λ ■: a die zum Adressieren der Zelle erforderlichen Wert« h'-'r'-ti können. Auch wenn ständig ein hohes Potential rri dem zvfrji = :'_äf bitten, fünften und/oder sechsten Adressenlei- *pi Jiegi , lau* J = c» unbrauchbare Zelle nie adressiert werden. Unabhängig '^T. ·'..·. an welchem Adressenleiter dauernd ein Potential lie(ji, vs'ldi!^ inn Adressieren der unbrauchbaren Zelle verhinilf ri , crn·'■■! ■·«-]:■■--Ii die sechs Adressenbits, die über die anderen £.icib«n Ad: ·-0f-π * j ί er zugeführt werden, ein Adressieren von 64 brauchbar*'?: '.'?■ j J -'η _β

JrA^r teiivrwo brauchbare Mikrobaustein mit 128 Zellen gehört ■s\i einer oc^r ■.ehreren von vierzehn Brauchbarkeitskategorien. ■'»»di» Brauch]·;·:^■■ r-i i -skategorie ist einem der sieben Adressenleiirr ;'ugeor<]:.i! < · ~n diesem Leiter muß standig ein hohes oder
niedriges ?*<-■? ■■■ ■-Λin.I. liegen. (Man kann natürlich feste Potentiale auch an ?'v;^f J oder mehrere der Adressenleiter anlegen, so daß nur 3"?, If o<:t«n noch weniger der 128 Zellen des Mikrobausteins ven-'· nd«i: werden können. In dem Ausführungsbeispiel der Erfindung 1 leci i»r:r an einem der Adressenleiter dauernd ein
festes Poi · ; ν.r1), Bei der üblichen Herstellung eines Speiehersystems sind d'u Mikrobausteine in Bauelementen enthalten (ein Bauelement. ];;si>-\ melir als einen Mikrobaustein enthaltenJ₁ und
die Baueler-cf Ι« durch Steckerverbindungen mit einer Leiterplatte verbunden. Pin öle Verwendung mit Mikrobausteinen mit je 128
Zellen in cinor- Speicher, in dem nur 64 Zellen jedes Mikrobausteins ausgpnri-zt v/erden, hat eine Leiterplatte daher eine solche Schaltung, daß auf ihr teilweise brauchbare Mikrobausteine derselben Brauchbarkeitskategorie angeordnet sind. Die Leiterplatte kann beispielsweise so ausgebildet sein, daß an dem
Adressenlo.it er 4 dauernd ein niedriges Potential liegt, während nur an die an-.^ren sechs Adressenleiter zum Adressieren wahlweise ein IiO)KS oder niedriges Potential angelegt werden kann.

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In diesem Fall müssen auf der Leiterplatte jene teilweise brauchbaren Milcrobausteine verwendet werden, in denen 64 brauchbare Zellen adressiert werden können, wenn an dem vierten Adressenleiter ständig ein. niedriges Potential liegt. Eine derartige Verwendung von teilweise brauchbaren Mikrobausteinen ist in einer schwebenden USA-Patentanmeldung von Allen u.a. angegeben.

Um eine möglichst anpassungsfähige Herstellung zu ermöglichen, ist es erwünscht, für jeden teilweise brauchbaren Mikrobaustein die Brauchbarkeitskategorien zu bestimmen, unter die er fällt. Ein Mikrobaustein mit 128 Zellen, von denen nur eine unbrauchbar ist, kann in sieben verschiedenen Anordnungen, d.h. auf sieben ^ der vierzehn möglichen Leiterplatten verwendet werden, und zwar auf den sieben Leiterplatten, in denen an einem der sieben Adressenleiter dauernd ein anderes als das zum Adressieren der unbrauchbaren Zelle erforderliche Potential liegt. Es kann vorkommen, daß ein Mikrobaustein mit nur zwei unbrauchbaren Zellen nicht als teilweise brauchbarer Mikrobaustein verwendet werden kann. Wenn beispielsweise die Zellen mit den komplementären Adressen ICX)IOOl und 0110110 unbrauchbar sind und man an irgendeinen der sieben Adressenleiter dauernd ein hohes oder niedriges Potential legt, führt das Durchtasten der anderen sechs Adressenleiter zum Adressieren einer der beiden unbrauchbaren Zellen. Je nach der Anzahl und der Adressen der unbrauchbaren Zellen 'eines Mikrobausteins mit 128 Zellen kann man feststellen, ob der Mikrobaustein zu keiner oder zu einer oder mehreren (bis zu sieben) der insgesamt vierzehn Brauchbarkeitskategorien gehört. Wenn der Mikrobaustein beispielsweise zu drei Kategorien gehört, kann er in einer von drei verschiedenen Anordnungen von Mikrobausteinen mit 64 Zellen verwendet werden. (In manchen Fällen kann man auf ein und derselben Leiterplatte Mikrobausteine verwenden, die zu verschiedenen Kategorien gehören, doch muß dann ein hohes und/oder niedriges Potential dauernd an zusätzliche Stifte angelegt werden. Aber selbst in diesem Fall muß bekannt sein, zu welchen Kategorien der in der Anordnung verwendete, teilweise brauchbare Mikrobaustein gehört. Daher ist es sehr

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zweckmäßig, von allen teilweise brauchbaren Mikrobausteinen zu wissen, zu welchen Kategorien sie gehören, so daß sie im Bedarfsfall in jeder dieser Kategorien verwendet werden können.)

Zum Bestimmen der Brauchbarkeitskategorien, zu denen pin teilweise brauchbarer Mikrobaustein gehört, ist es naheliegend, in einem automatischen Prüfgerät an einen der sieben Adressenleiter ein festes Potential anzulegen und dann die anderen sechs Adressenleiter durch insgesamt 64 Zustände zu tasten. Jede der adressierten Zellen wird geprüft. Wenn sie sich alle als gut erweisen, gehört der Mikrobaustein zu der Kategorie, in der an dem gewählten Adressenleiter ständig das feste Potential liegt. In diesem Bestimmungsverfahren müssen vierzehn verschiedene Prüfvorgangsfolgen durchgeführt werden und erfordert' jede dieser PrüfVorgangsfolgen das vollständige Prüfen von 64 Zellen. Es sind vierzehn Prüfvorgangsfolgen erforderlich, weil an jeden der sieben Adressenleiter ein hohes und ein niedriges Potential angelegt werden muß und die anderen sechs Adressenleiter durchgetastet werden müssen. Dieses Verfahren ist daher sehr zeitraubend.

Die Aufgabe der Erfindung besteht in der Schaffung eines Verfahrens zur sehr raschen Bestimmung der Brauchbarkeitskategorien von teilweise brauchbaren Speicher-Mikrobausteinen.

Die Erfindung schafft ein maschinell durchführbares Verfahren zur Bestimmung der Brauchbarkeitskategorien von teilweise brauchbaren Speicher-Mikrobausteinen. Bei Mikrobausteinen mit 128 Zellen und sieben Adressenbits können teilweise brauchbare Mikrobausteine zu einer oder mehreren von vierzehn Brauchbarkeitskategorien gehören. Durch dauerndes Zuführen einer Eins oder einer Null über einen der sieben Adressenleiter wird die Kapazität des Mikrobausteins auf 64 Zellen herabgesetzt, von denen durch Zuführen von Adressenbits über die anderen sechs Adressenleiter jede adressiert werden kann. Es wird jede Adressenbitstelle jeder unbrauchbaren Zelle des Mikrobausteins bestimmt. Je nach dem Wert dieser Adressenbitstell« wird eine der beiden ihr zugeordneten Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden. Wenn

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alIp Zellen auf diese Weise geprüft worden sind, 'jehörir der Mikrobaustein zu den nicht · ausgeschiedenen Brauohbnrkeitskategorien.

Die Erfindung ermöglicht die Prüfung aller Zellen des Mikrobnusteins in der üblichen Weise, öhre daß es notwendig is¹·, zur Bestimmung der Brauchbarkeits^at^'jorien, zu d<~>nen eine fevl'-'pisp . brauchbare Zelle gehört, -in einen der Adressenlei ⁴rer ein f^st^s Potential anzulegen und die anderer. Adressenleiter durchzutasten. Die Prüfung der Zellen erfolgt ohne Rücksicht auf dip Brauchbarkeitskategorien, zu denen teilweise brauchbare Zellen gehören. Bei der Prüfung erkennt man, welche Zellen unbraxichbar sind. Beispielsweise werden bei Mikrobausteinen mit 128 Zellen über ™ die sieben Adressenleiter alle 128 Zellen nacheinander adressiert. Zur Bestimmung der Brauchbarkeitskategorien, zu denen die teilweise brauchbaren Zellen gehören, werden keine weiteren Prüfungen durchgeführt. Diese Kategorien werden mit FIiIfe eines Rechners bestimmt, der im allgemeinen einen Teil des für die Prüfung verwendeten Geräts ist, und zwar aufgrund der Adressen der unbrauchbaren Zellen. Diese Datenverarbeitung erfolgt sehr schnell, weil dabei die Zellen nicht geprüft zu werden brauchen. Wenn nach dem Prüfen eines Mikrobausteins in dem Prüfgerät der nächste Mikrobaustein unter die Prüfsonden bewegt wird, bestimmt der Rechner, zu welchen Kategorien ein teilweise brauchbarer Mikrobaustein gehört und druckt der Rechner diese Kategorien aus. Beispielsweise kann der Algorithmus zum Bestimmen der Kategorien, zu denen ein teilweise brauchbarer Mikrobaustein gehört, · bereits beendet sein, wenn sich der nächste Mikrobaustein in der Prüfstellung befindet. Man kann daher die üblichen Prüfvorgangsfolgen durchführen und für jeden teilweise brauchbaren Mikrobaustein eine Liste der Kategorien erhalten, zu denen er gehört, ohne daß ein zusätzlicher Zeitaufwand für die Behandlung jedes Mikrobausteins erforderlich ist.

Der erfindungsgemäße Algorithmus wird verständlich, wenn man zunächst die Brauchbarkeitskategorien der teilweise brauchbaren Mikrobausteine den sieben Adressenleitern (bei Mikrobausteinen

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mit 128 Zellen) zuordnet. Die Adressenleiter sind von O bis 6. numeriert und haben die Dualgewichte 1, 2, 4, 8, 16, 3? und Ein teilweise brauchbarer Mikrobaustein gehört zur Kategorie 1, wenn beim dauernden Anlegen eines hohen Potentials (Eins) an den Adressenleiter 1 und Durchtasten der sechs anderen Adressenleitungen 64 brauchbare Zellen adressiert werden. Ein teilweise brauchbarer Mikrobaustein gehört zur Kategorie ?, wenn beim dauernden Anlegen eines niedrigen Potentials (Null) an den Adressenleiter 6 und Durchtasten der anderen sechs Adressenleitungen 64 brauchbare Zellen adressiert werden.

Ein·teilweise brauchbarer Mikrobaustein gehört zur Kategorie 3, wenn beim dauernden Anlegen eines hohen Potentials (Null) an den Adressenleiter 5 und Durchtasten der sechs anderen Adressenleiter 64 brauchbare Zellen adressiert werden. Ein teilweise brauchbarer Mikrobaustein gehört zur Kategorie 4, wenn beim dauernden Anlegen eines niedrigen Potentials (Null) an den Adressenleiter 5 und Durchtasten der sechs anderen Adressenleiter 64 brauchbare Zellen adressiert v/erden. In der nachstehenden Tabelle ist jede Brauchbarkeitskategorie einem Adressenleiter und einem dauernd an diesen Leiter angelegten Bitpotential zugeordnet.

4 4 5 6 8 16 32 64 7 5 3 1 Adressenbit 1

( 14 12 10 8 6 4 2 Adressenbit O

Es sei angenommen, daß eine unbrauchbare Zelle die Adresse 1001001 hat. Ein Mikrobaustein gehört zur Kategorie 1, wenn beim dauernden Anlegen eines hohen Potentials an den Adressenleiter 6 und Durchtasten der sechs anderen Adressenleiter 64 brauchbare Zellen adressiert werden. Man kann das auch so ausdrücken, daß ein Mikrobaustein mit einer unbrauchbaren Zelle, deren Adresse an der sechsten Bitstelle eine Eins enthält, nicht in der Kategorie 1 verwendet werden kann. Da für die betrachtete Zelle die Bitstelle mit dem höchsten Stellenwert den

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Adressenleitex	0	1	2
Dualgewicht	1	2	4
	13	11	9
Kategorie (

Wert Eine hat und die Zelle unbrauchbar ist, wird die Kategorie 1 ausgeschieden.

Da die fünfte Bitstelle der Adresse den Wert Null hat, kann der Mikrobaustein nicht in der Kategorie 4 verwendet v/erden. Aus der vorstehenden Tabelle geht hervor, daß bei einem teilweise brauchbaren Mikrobaustein, der zu der Kategorie 4 gehört, an den fünften Adressenleiter dauernd ein niedriges Potential (Null) angelegt werden kann und dann beim Durchtasten der sechs anderen Adressenleiter 64 brauchbare Zellen adressiert v/erden. Wenn bei dem hier betrachteten Mikrobaustein an den Adressenleiter 5 dauernd ein niedriges Potential angelegt wird, tritt beim Durchtasten der sechs anderen Leiter auch die Adresse lOOlOOl der unbrauchbaren Zelle auf. Aus diesem Grunde gehört der betrachtete Mikrobaustein, der eine unbrauchbare Zelle mit der Adresse lOOlOOl hat, nicht zur Kategorie 4. Eine weitere Betrachtung dieses Mikrobausteins anhand der Tabelle zeigt ohne weiteres, daß der Mikrobaustein nicht zu den Kategorien 1, 4, 6, 7, 1O₁ 12 und 13 gehört.

Beim Feststellen einer unbrauchbaren Zelle werden sieben der vierzehn Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden. Wenn auch die Zelle mit der komplementären Adresse unbrauchbar ist, kann der Mikrobaustein auch nicht als teilweise brauchbarer Mikrobaustein verwendet werden, obwohl u.U. nur zwei seiner Zellen unbrauchbar sind. Wenn in dem angegebenen Beispiel die zweite unbrauchbare Zelle die Adresse 0110110 hat, werden die Kategorien 21 3, 5, 8, 9, 11 und 14 ausgeschieden. In diesem Fall bleiben keine Kategorien übrig.

Es sei jetzt angenommen, daß die zweite unbrauchbare Zelle die Adresse 1001011 hat. Gemäß der vorstehenden Tabelle bedingt diese unbrauchbare Zelle das Auescheiden der Kategorien 1, 3, 6, 7, 1O₄ 12 und 13. Die erete unbrauchbare Zelle bedingt das Ausscheiden von sechs (i, 6, 7, 10, 12 und 13) dieser sieben Kategorien. Die beiden unbrauchbaren Zellen zusammen bedingen also das Ausscheiden von acht der vierzehn möglichen Kategorien.

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Wenn keine andere Zelle unbrauchbar ist, gehört der Mikrobaustein zu den Kategorien 2, 5, 8, 9, 11 und 14.

Man erkennt somit, daß man zur Bestimmung aller Brauchbarkeitskategorien eines teilweise brauchbaren Mikrobausteins nur die Adressen der unbrauchbaren Zellen zu bestimmen braucht, Der erfindungsgemäße Algorithmus ist auf folgender Beobachtung begründet. Zur Kategorie 7 beispielsweise gehört ein Mikrobaustein, bei dem beim Anlegen eines hohen Potentials an den Leiter 3 und Durchtasten der sech3 anderen Adressenleiter 64 brauchbare Zellen adressiert werden. Wenn dagegen ein Mikrobaustein eine unbrauchbare Zelle besitzt, in deren Adresse die Bitstelle 3 den Wert Eins hat, kann der ganze Mikrobaustein nicht in der Kategorie 7 verwendet werden. Analoge Bemerkungen gelten für jede der anderen dreizehn Brauchbarkeitskategorien. Man kann daher durch die einfache Auswertung der Adressen der unbrauchbaren Zellen in der nachstehend beschriebenen Vorgangsfolge die Brauchbarkeitskategorien jedes teilweise brauchbaren Mikrobausteina bestimmen, wobei der Mikrobaustein nur der gewöhnlichen Prüfung auf brauchbare und unbrauchbare Zellen unterworfen zu werden braucht.

Man kann das erfindungsgemäße Verfahren mit einem automatischen Prüfgerät zum Prüfen von Speicher-Mikrobausteinen durchführen. Ein Beispiel eines derartigen Prüfgeräts wird unter der Bezeichnung PAFT II (programmierbares automatisches Funktionsprüfgerät) von der Firma Redcor Corporation in Canoga Park (California, USA) hergestellt und zusammen mit Electroglas-Prüfsonden verwendet. Das Prüfgerät PAFT II führt sowohl Funktionsprüfungen als auch Messungen an MOS/LSI-Sinrichtungen (MOS = Metalloxidhalbleiter) durch, indem es unter Steuerung durch einen Rechner durch ein Programm wählbare Taktimpulse, Stichprobensignaie, Eingangs-Ausgangs-Signalfolgen und Spannungepegel erzeugt und dadurch automatisch die Brauchbarkeit oder ühbrauchbarkeit eines gegebenen Prüflings feststellt. Man kann die Prüfprogramme mit Hilfe des Programmsprachenübersetzers erzeugen, die in der Normal-Software-Auestattung der

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Firma Redcor enthalten ist. Das Prüfgerät PAFT Il enthält einen Universal-Digitalrechner RC 7O und ist daher ideal für die Durchführung der vorliegenden Erfindung geeignet, gemafl welcher der Algorithmus zur Bestimmung der Brauchbarkeitskategorien eines teilweise braxichbaren Mikrobausteins durchgeführt wird, während der vorher geprüfte Mikrobaustein abtransportiert und ein neuer Mikrobaustein unter die Prüfsonden bewegt wird.

Weitere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der Erfindung gehen aus der nachstehenden ausführlichen Beschreibung anhand der Zeichnungen hervor. In dieser zeigen

Fig. 1-6, wenn sie in einer vertikalen Reihe angeordnet werden, sin Fließschema mit den Schritten eines Ausführungsbeispiels der Erfindung.

Die tatsächliche Programmierung des Universal-Digitalrechners RC ?0 gemäß dem in der Zeichnung dargestellten Fließschema oder die Programmierung eines anderen Mikrobaustein-Prüfgeräts oder eines diesem zugeordneten Rechners kann vom Fachmann ohne weiteres bestimmt werden.

Im ersten Schritt dee Programms werden die Prüfvorgangafolgen in den Rechner eingegeben. Die Prüfvorgangefolgen sind von an 'Sich bekannter Art. Die erste Prüfung (WO) besteht im Einschreiben einer HuIl in jede der 128 Zellen. Die Zellen werden nacheinander in aufsteigender Reihenfolge (0-127) adreasiert. Während dieser ersten PrüfVorgangsfolge werden keine Bits von den Zellen abgelesen.

In der zweiten PrüfVorgangsfolge wird jede Zelle wie folgt behandelt: Zunächst wird durch Ablesen der Zelle festgestellt, ob in dem ersten Prüfvorgang eine Null in die Zelle eingeschrieben worden ist (RO). Dann wird eine Eins in die Zelle eingeschrieben (Wl).*Danach wird durch Ablesen der Zelle festgestellt, ob die Eins tatsächlich in die Zelle eingeschrieben worden ist (Rl). Am Ende der Vorgangsfolge wird eine Null in die Zelle eingeschrieben (ITO). Diese Vorgänge sind durch die Symbole RO, Wl,

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Rl, WO dargestellt. An jeder Zelle werden alle vier Vorgänge durchgeführt, ehe das Gerät zur Prüfung der nächsten Zelle fortgeschaltet wird. Die Zellen werden in aufsteigender Reihenfolge adressiert. Bei der dritten PrüfVorgangsfolge wird die am Ende der zweiten Vorgangsfolge in die Zelle eingeschriebene Null von der Zelle abgelesen (RO) und^Ndanach eine Eins in die Zelle eingeschrieben (Wl). Die Zellen werden dann erneut nacheinander in aufsteigender Reihenfolge geprüft.

In der vierten Prüfvorgangsfolge wird die vorher in jede Zelle eingeschriebene Eins abgelesen (Rl), eine Null eingeschrieben (WO)-, durch Ablesen der Zelle festgestellt, ob die Null richtig eingeschrieben worden ist (RO), und schließlich eine Eins in die Seile eingeschrieben (Wl). Während der vierten Prüfvorgangsfolge ( werden die Zellen nacheinander in absteigender Reihenfolge (127-0) behandelt»

In der fünften Prüfvorgangsfolge wird die vorher in jede Zelle eingeschriebene Eins abgelesen (Rl) und danach eine Null in die Zelle eingeschrieben (WO). Die Zellen werden x^rieder in absteigender Reihenfolge geprüft.

Durch diese Prüfvorgangsfolgen wird nicht nur das richtige Einschreiben und Ablesen von Nullen und Einsen in die bzw. aus den .Zellen geprüft, sondern wird auch festgestellt, welche Zellen so zusammenwirken, daß fehlerhafte Ergebnisse erhalten werden. Beispielsweise wird am Ende der zweiten Prüfvorgangsfolge in ™ jede Zelle eine Null eingeschrieben (WO). Wenn in der dritten Prüfvorgangsfolge beim Einschreiben einer Eins in jede Zelle fälschlicherweise eine Eins auch in eine Zelle mit einer höheren Nummer eingeschrieben wird, wird von dieser Zelle mit höherer Nummer in der dritten Prüfvorgangsfolge nicht die erforderliche Null, sondern eine Eins abgelesen. .Es wird dadurch eine Mehrfachadressierung angezeigt, d.h. daß auf das Adressieren einer Zelle mit einer niedrigen Nummer diese Zelle und gleichzeitig auch eine Zelle mit einer höheren Nummer anspricht. Das Einschreiben einer Eins in jede Zelle am Ende der vierten Prüf-

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vorgangsfolge ermöglicht die Feststellung einer Mehrfachadressierung in der entgegengesetzten Richtung. Am Ende der fünften Prüfvorgangsfolge wird in jede Zelle eine Null eingeschrieben« Wenn dabei fälschlicherweise eine Null auch in eine Zelle mit einer niedrigeren Zahl eingeschrieben wird, erkennt man beim Ablesen dieser Zelle zu Beginn der fünften Prüfvorgangsfolge eine Null anstatt der Eins, die am Ende der vierten Prüfvorgangsfolge in die Zelle eingeschrieben worden ist.

Die durchgeführten Prüfvorgangsfolgen bilden keinen Teil der Erfindung. Man kann übliche Prüfungen durchführen. Durch die Prüfungen soll nur festgestellt werden, ob und welche der 128 Zellen unbrauchbar sind.

Nach dem Eingeben der Prüfvorgangsfolgen in die Maschine, jedoch vor dem Durchführen der Prüfvorgangsfolgen an den Zellen, wird ein neuer Mikrobaustein unter den Prüfsonden in Stellung gebracht. Dieser Vorgang ist in dem Fließschema als Schritt 2 bezeichnet .

Ein Bereich des Speichers des Rechners ist für die Darstellung von Null-Fehlersyndromen reserviert. Es gibt 128 Null-Fehlersyndrom-Speicherstellen. Alle diese Speicherstellen werden zunächst in den Zustand Null gebracht. Oft ist jeder Mikrobaustein mit zwei Leseleitungen versehen. In einer Anordnung soll beispielsweise das Ablesen einer Null in einer ausgewählten Zelle dazu führen, daß die Null-Leseleitung auf ein hohes und die Eins-Leseleitung auf ein niedriges Potential geht. Wenn eine gewählte Zelle eine Eins enthält, soll die Null-Leitung auf ein niedriges und die Eins-Leitung auf ein hohes Potential gehen. Während der ersten Hälfte der Prüfung wird nur die Null-Leseleitung geprüft. Wenn das von einer Zelle abgelesene Bit eine Null sein soll, iet die Prüfung bestanden, wenn die Null-Leseleitung auf ein hohes Potential geht. Wenn dagegen in diesem Fall die Null-Leseleitung nicht auf ein hohes Potential geht, wird an der dieser Zelle zugeordneten Null-Fehlersyndrom-Speicherstelle eine Eins eingeschrieben, wodurch angezeigt wird,

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daß die Zelle nicht richtig angesprochen hat. An der NuIl-Fehlersyndrotn-Speicherstelle wird eine Eins auch eingeschrieben, wenn die Null-Leseleiturg auf ein hohes Potential geht, obwohl eine Eins von der Zelle abgelesen werden soll. (Der Fehler kann anstatt in der Zelle auch in Decodierschaltungen, Leseschaltungen usw. zu suchen sein, bedeutet aber in jedem Fall, daß die Zelle nicht verwendet v/erden kann.) Wenn an jeder der 128 Zellen alle fünf PrüfVorgangsfolgen durchgeführt worden sind, werden 128 Eins-Fehlersyndrom-Speicherstellen in den Zustand Null gebracht, wie nachstehend beschrieben wird. !'Jährend der zweiten Durchführung aller fünf Prüfvorgangsfolgen wird die Eins-Leseleitung geprüft. Wenn beim Ablesen einer Zelle an der Eins-Leseleitung nicht das richtige Potential liegt, wird an .der der Zelle zugeordneten Eins-Fehlersyndrom-Speicherstelle eine Eins eingeschrieben.

Vor der Prüfung der Null-Leseleitung während der ersten Durchführung der fünf Prüfvorgangsfolgen an jeder Zelle werden alle 128 Null-Fehlersyndrom-Speichersteilen in den Zustand Null gebracht. In dem vierten Schritt des Programms werden die erste und zweite PrüfVorgangsfolge an allen Zellen durchgeführt. Der Rechner speichert die Ergebnisse der Null-Prüfungen, d.h. er speichert vorübergehend Informationen, die anzeigen, ob während jeder der beiden Ablesungen jeder Zelle die Null-Leseleitung die· richtige Polarität hatte. In dem Schritt 5 des Programms wird für jede Zelle, welche die Prüfung RO oder Rl nicht bestanden hat, an der entsprechenden Fehlersyndrom-Speicherstelle eine Eins eingeschrieben. In dem Schritt 6 wird die dritte Prüfvorgangsfolge durchgeführt und werden die Ergebnisse der Null-Ablesungen vorübergehend gespeichert. In dem Schritt 7 wird an der jeder Zelle zugeordneten Null-Fehlersyndrom-Speicherstelle eine Eins eingeschrieben, wenn beim letzten Ablesen der Zelle die Null-Leseleitung nicht auf ein niedriges Potential gegangen ist.

In dem Schritt 8 wird die vierte PrüfVorgangsfolge durchgeführt und werden die Ergebnisse der Null-Ablesung vorübergehend ge-

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speichert. In tier* Schritt 9 wird an der jeder 7el1« Null-Fehlerayndrom-Speichers teile eine Eins pingeschrieben, ^wenn bei einer Ablesung der Zelle während des Schrittes 8 die ttfull-Leseleitung die falsche Polarität hatte.

In den Schritten IO und 11 wird die fünfte Prüfvorgangsfolrje durchgeführt, Wenn eine 7^1Ie die Prüfung Pl nicht b^^t^ht, wird die entsprechend⁰ Fehl ersy^drom-Spe icherst^l. Ip ^; >-■ der: gesetzt.

Wenn alle Seilen auf diese Weise über ihre Null-T.oselei tungen geprüft worden sind, werden in dem Schritt 1? di^ ¹^B Speicherstollen für das Eins-Fehlersyndrotn in den Zustand Null gebracht. Tn ψ dem Schritt 13 werden die Schritte 4-11 wiederholt, niesmal wird bei jedem Ablesevorgang die Eins-Leseleitung geprüft. Bei ein^r falschen Polarität der Eins-Leseleitung wird an der der abgelesenen. Zelle zugeordneten Eins-Fehlersyndrom-Speicherntelle eine Eins ei ngeschrieben.

Wenn sich am Ende des Schrittes 13 eine der einer Zelle zugeordneten Fehlersyndrom-Speichersteilen im Zustand Eins befindet, ist die Zelle unbrauchbar. Ιτη Schritt 14 wird die Anzahl der Paare von im Zustand I7ull befindlichen Fehlersyndrom-Speicherstellen gezählt und dadurch die Anzahl der guten Zellen bestimmt. Im Schritt 15 wird geprüft,*ob alle Zellen brauchbar ^ 3'ind. In diesem Fall, d.h. wenn 128 Paare von im Zustand Null befindlichen Fehlersyndrom-Speicherstellen vorhanden sind, wird im Schritt 16 ausgedruckt, daß der Mikrobaustein einwandfrei ist. Das Programm schreitet jetzt zum Schritt 2 fort, d.h, es wird ein neuer Milcrobauatein in die Prüfstellung gebracht und danach geprüft.

Wenn keine 128 brauchbaren Zeller vorhanden ^ind, wird durch eine einfache Prüfung festgestellt-, ob der MPtrob-iustein teilweise brauchbar ist. Ein Mikrobauütein mit ■ »-'enijor al3 64 brauchbaren Zellen ist nicht einmal teilweise brauchbar. Wenn

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die Prüfung im Schritt 17 ein negatives Ergebnis liefert, wird im Schritt 18 ausgedruckt, daß der Mikrobaiistei η unbrauchbar ist. Das Prüfgerät schreitet dann zum Schritt 2 fort und beginnt mit dem Prüfen eines dee nächsten Mikrobausteins. Wenn dagegen 6^ oder mehr brauchbare Zellen (64 oder mehr Paare von Fehlersyndrom-Speicherstellen im Zustand Null) vorhanden sind, beginnt der Rechner mit der Bestimmung der Brauchbarlceits"kategorien des geprüften Mikrobausteins.

Der Rechner besitzt vierzehn Speicherstellen, die je einer Brauchbarkeitskategorie zugeordnet sind. Diese vierzehn Speicherstellen werden als Brauchbarkeitssyndrom-Speich^rstellen bezeichnet. In dem Schritt 19 werden alle Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstellen in den Zustand Null gebracht. Am Ende der nachstellend beschriebenem' Datenverarbeitung besagt jede Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstelle, die sich immer noch im Zustand Null befindet, daß der geprüfte Mikrobaustein zu der entsprechenden Brauchbarkeitskategorie gehört. Eine Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstelle im Zustand Eins zeigt dagegen an, daß der Mikrobaustein nicht zu der entsprechenden Brauchbarkeitskategorie gehört.

In dem System muß die Nummer der jeweils geprüften Zelle gespeichert werden, deren Adresse jeweils verarbeitet wird. In dem Schritt 2O wird in eine Zellennummer-Speicherstelle des Rechners eine Null eingeschrieben. Als erste Adresse wird die Adresse der Zelle mit der Zellennummer Null verarbeitet. Wenn die Verarbeitung der Adresse einer Zelle beendet ist, wird die Zellennummer um eins erhöht, ao daß die Adresse der nächstfolgenden Zelle verarbeitet werden kann.

Tm Schritt 21 v/erden die beiden Fehlersyndrom-Anzeigen für jede Zelle zu einer Syndromsumme für die Zelle addiert. Diese Syndromsummen werden in dem Speicher gespeichert. Eine Zelle mit der Syndromsumme ist brauchbar. Eine Zelle mit der Syndromsumme oder 2 (die Syndromsumme ist gleich 2, wenn sich die der Zelle

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zugeordneten Speicherstellen für das Null-Fehlersyndrom und das Eins-Fehlersyndrom beide im Zustand Eins befinden), ist unbrauchbar,

Im Schritt 22 wird in eine Zellenindex-Speicherstelle die Zellennummer als Zellenindex eingeschrieber.. Wie nachstehend erläutert ist, wird bei der Verarbeitung der"Adresse jeder Zelle der ZeI-lenindex herabgesetzt. Wenn man direkt die Ze11ennummer verändern würde, wäre die gerade verarbeitete Adresse der Zelle nicht in dem Gerät gespeichert und könnte das Gerät nicht zur Verarbeitung der Adresse der nächsten Zelle fortgeschaltet werden. Aus diesem Grunde wird die zunächst durch Aufwärtszählen erhaltene Zellennummer nicht verändert, während bestimmt wird, welche W Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden werden, wenn die Zelle unbrauchbar ist. Der· Zellenindex wird während der Verarbeitung verändert, dagegen wird die Zellennummer nicht verändert, damit im Rahmen des Programms die Adressen der darauffolgenden Zellen verarbeitet werden können. Dies wird nachstehend· beschrieben.

Im Schritt 23 wird der Zellenindex geprüft und festgestellt, ob er gleich oder größer ist als 64. Zunächst ist der Zellenindex gleich der Zellennummer. Wenn daher die Adresse der Zelle an der sechsten Bitstelle eine Eins enthält, ist der Zellenindex gleich oder größer als 64 und wird im Schritt 24 von dem Zelleninde^t die Zahl 64 abgezogen. Der Grund ftir diese Maßnahme wird fc nachstehend angegeben*

Dann schreitet das Programm zum Schritt 2 5 weiter, in dem durch Prüfung der Syndromsumme festgestellt wird, ob die Zelle brauchbar ist oder nicht. Wenn an dem sechsten Adressenleiter dauernd ein hohes Potential liegt, wird beim Durchtasten der anderen sechs Adressenleiter die geprüfte Zelle adressiert. Aus diesem Grunde darf an den sechsten Leiter nicht dauernd ein hohes Potential (Dauer-Eins) angelegt werden. Bei einem negativen Ergebnis der im Schritt 25 durchgeführten Prüfung wird daher im Schritt 26 an der Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstelle 1 eine Eins gespeichert. Dadurch wird die Brauchbarkoitskategorie 1 ausgeschieden.

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Es sei nun angenommen, daß die im Schritt 23 durchgeführte Prüfung ein negatives Ergebnis hat, d.h. daß die Adresse der geprüften Zelle an der sechsten Bitstelle eine Null enthält. In diesem Fall schreitet das Programm zum Schritt 2 7 fort, v^Tenn die Syndromsumrne für die Zelle von 0 abweicht, ist die Zelle unbrauchbar. Da die Adresse der Zelle an der sechsten Bitstelle eine Null enthalt, ist beim dauernden Anlegen eines niedrigen Potentials an den sechsten Adressenleiter und beim Durchtasten der anderen sechs Adressenleiter eine der 64 adressierbaren Zellen die durch die jeweilige Zellennummer bezeichnete, unbrauchbare Zelle. Infolgedessen darf an den sechsten Adressenleiter nicht dauernd ein niedriges Potential angelegt werden. Im Schritt 28 wird daher an der Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstelle 2 eine Eins gespeichert.

Nach der Durchführung des Schritts 26 oder 28, oder wenn eine der in den Schritten 25 und 27 durchgeführten Prüfungen ein positives Ergebnis hat (d.h. daß die Zelle brauchbar ist), schreitet das Programm zum Schritt 29 fort. Der Schritt 2 3 steuert einen Hilfsvorgang, durch den bei Zellen, deren Syndromsumme von 0 abweicht, eine der vierzehn Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden wird. Wenn dagegen die Zelle brauchbar ist, d.h. daß die Prüfung 25 oder 27 zu einem positiven Ergebnis führt, werden keine Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden. Jedenfalls schreitet das Programm zu der Prüfung fort, ob die fünfte Bitstelle der Adresse einer unbrauchbaren Zelle das Ausscheiden einer Brauchbarkeitskategorie erfordert, sofern diese Kategorie nicht schon bei der Prüfung einer Zelle mit einer niedrigeren Nummer ausgeschieden worden ist.

Zur Bestimmung, ob die Adresse an der fünften Bitstelle eine Null oder eine Eins enthält, so daß bei einer unbrauchbaren Zelle eine der Brauchbarkeitskategorien 3 und 4 ausgeschieden werden muß, braucht man nur festzustellen, ob der Zellenindex gleich oder größer ist als 32. Wenn der ursprünglich der ZeI-lennutnmer entsprechende Zellenindex zunächst gleich oder

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größer war als 64, wurde er in Zahl 24 um 64 verkleinert. Ein Zellenindex unter 64 wurde dagegen im Schritt 24 nicht verändert. In dem Schritt 24 wird effektiv die sechste Bitstelle der Adresse des Zellenindexes, der ursprünglich gleich der Zellennummer ist, auf Null verändert, wenn sie vorher Eins betrug. Herrn die Adresse an der fünften Bitstelle eine Eins enthält (die das Binärgewicht 32 hat), muß der Zellenindex notwendigerweise gleich oder größer sein als 32. In dem Schritt 29 wird der Wert der fünften Bitstelle der Adresse bestimmt.

Wenn der Zellenindex gleich oder größer ist als 32, wird er im Schritt 30 um 32 herabgesetzt. Dadurch wird die fünfte Bitstelle fc in der Dualzahl des Zellenindexes von Eins auf Null verändert, ehe das Programm zum Schritt 35 fortschreitet. Nach dem Schritt 30 wird die Syndromsumme für die Zelle erneut geprüft. Wenn sie gleich 0 ist, d.h. daß die Zelle brauchbar ist, schreitet das Programm direkt zum Schritt 35 fort. Wenn die Syndromsumme dagegen 1 oder 2 beträgt, darf an den Adressenleiter 5 nicht ständig ein hohes Potential angelegt werden, weil in diesem Fall beim Durchtasten der sechs anderen Adressenleitungen die geprüfte Zelle adressiert werden würde, obwohl sie unbrauchbar ist. Im Schritt 32 wird daher an der Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstelle 3 eine 1 gespeichert, so daß die Brauchbarkeitskategorie 3 ausgeschieden wird. Wenn dagegen die Adresse des »Zellenindexes an der fünften Bitstelle (diese Bitstelle hat in der Zellennummer denselben Wert) eine Null enthält, wird gegebenenfalls die Brauchbarkeitskategorie 4 ausgeschieden. Wenn daher im Schritt 33 festgestellt wird, daß die Syndromsuimne für die Zelle von 0 abweicht, wird das Gerät auf den Schritt 34 fortgeschaltet, indem an der Brauchbarkeitssyndrom-Speichersteile 4 eine 1 gespeichert wird.

Nach dem Ausscheiden der Brauchbarkeitskategorie 3 oder 4 schreitet bei einer unbrauchbaren Zelle das Programm zum Ausscheiden einer der Brauchbarkeitskategorien 5 und 6 fort. Im Schritt 35 wird geprüft, ob die Dualzahl des ZnLlenindexes (der Zellennummer) an der vierten Bitstelle eine Eins oder

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eine Null enthält. ^T*7enn eine oder beide der zwei höchstwertigen Bitstellen den Wert Eins haben, werden diese Eitstehen ir. den Schritten 24 und 30 auf Null verändert, so daß zu Beginn des Schrittes 35 der ZeIlehindex nicht größer sein kann als 31. Wenn die Dualzahl des Z^llenindexos an d^r "ierton Bitstelle eine Eins enthält, ist der Zeil^nindex gleich oder größer als 16. T'^Tenn dir vierte Bitstell^ eine Null ist, ist der Zellenindex kleiner als 16. Bei eirer von Null abweichenden Syrdro¹*- summe wird die entsprechende Brauchbarkeitskategorie 5 und 6 ausgeschieden. Die.Schritte 35-40 werden ähnlich durchgeführt wie die Schritte ^9-34 und die Schritte ?3-28. Die einzigen Unterschiede bestehe" darin, daß in dem Schritt 3° oder 40 eine der Brauchbarkeitskategorien 5 und 6 ausgeschieden und in dem Schritt 36 die vierte Bitstelle der Adresse, wenn si£ ursprünglich den Wert Eins hatte, auf Null verändert wird.

Tn den Schritten 41-46, 47-52, 53-58 und 59-63 wird der grundlegende Algorithmus auf ähnliche Weise noch viermal durchgeführt. Bei einer unbrauchbaren Zelle wird in jeder Stufenfolge eine weitere Brauchbärkeitskategorie ausgeschieden und der Zellenindex um eine Zahl mit einem anderen Dualgewicht herabgesetzt. In der letzten Stufenfolge (59-63) vird bei dem Zellenindex nur geprüft, ob er eine Eins ist. Nach der Durchführung der Schritte 53-58 sind jene der Bitstellen 1-6 der Dualzahl des Zellenindexes, die vorher den Wert Eins hatten, auf Null Verändert worden. Jetzt hat der Zellenindex den Wert Null oder Eins, je nachdem, ob die Bitstelle Null der Adresse der Zelle eine Null öder Eins ist. Wenn diese Bitstelle eine Eins ist, muß bei einer unbrauchbaren Zelle die Brauchbarkeitskategorie ausgeschieden werden, so daß das Programm im Schritt 59 nach links abgezweigt wird. Wenn diese "Bitstelle eine Null ist, muß bei einer unbrauchbaren Zelle die Brauchbarkeitskategorie 14 beseitigt werden, damit das Programm nach rechts abgezweigt wird. Es wird kein den Schritten 24, 30, 36, 4?, 48 und 54 vergleichbarer Schritt durchgeführt, in dem der Zellenindex herabgesetzt wird, veil nach der Durchführung des Schrittes 59 der Zeilenindex nicht mehr benötigt wird.

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Bei der Verarbeitung der Adresse einer unbrauchbaren Zeil*= wird an sieben der Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstellen eine Eins eingeschrieben. Bei der Verarbeitung der Adresse der ersten unbrauchbaren Zelle wird an sieben der Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstellen eine Eins eingeschrieben. Bei Verarbeitung der Adresse der zweiten unbrauchbaren Zelle wird an mindestens einer weiteren Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstelle eine Eins eingeschrieben.

Bei der Verarbeitung der Adresse einer v/eiteren unbrauchbaren Zelle brauchen nicht unbedingt weitere Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden zu werden. Beispielsweise sei angenommen, daß die beiden ersten unbrauchbaren Zellen die Adressen OOOpOOl und OOOOOIO haben. Wenn die dritte unbrauchbare Zelle eine Adresse OOOCX)11 hat, werden bei deren Verarbeitung keine neuen Brauchbarkeitekategorien mehr ausgeschieden, weil bei den beiden ersten unbrauchbaren Zellen bereits neun Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden wurden und die dritte unbrauchbare Zelle das Ausscheiden von sieben dieser neun Kategorien erfordert. .

In dem Schritt 64 wird die Zellennummer um eins erhöht. Es sei im Zusammenhang damit daran erinnert, daß als erste Zelle die Zelle 0 geprüft wird, weil zunächst die Zellennummer 0 eingestellt wird. Infolge des Erhöhens der Zellennummer wird daher -als zweite Zelle die Zelle 1, danach die Zelle 2 usw. geprüft.

Nach dem Erhöhen der Zellennummer wird im Rahmen des Programms geprüft, ob schon alle Zellennummern geprüft worden sind. Die letzte Zelle hat die Nummer 127. Nach dem Prüfen dieser Zelle wird im Schritt 64 die Zellennummer auf 128 erhöht. Im Schritt 65 prüft das Prüfgerät, ob schon alle Zellen geprüft worden sind. Wenn die Zellennummer nicht 128 beträgt, schreitet das Programm zum Schritt 66 fort, der einem Befehl zur Rückkehr zum Schritt 21 entspricht. In dem Schritt 21 wird das Syndrom für die neue Zelle gebildet. In dem Schritt 22 wird der Zellenindex

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auf die neue Zellennummer eingestellt. Das Programm wird dann fortgesetzt, wobei erforderlichenfalls weitere Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden werden.

Ein positives Ergebnis der in dem Schritt 65 durchgeführten Prüfung besagt dagegen, daß alle Zellenadressen verarbeitet und die nicht anwendbaren Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden worden sind. Das Programm schreitet zum Schritt 67 fort, in dem festgestellt wird, ob wenigstens eine der Brauchbarkeitssyndrotn-Speicherstellen eine Null enthält. Wenn keine der Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstellen eine Null enthält, sind alle Brauchbarkeitskategorien ausgeschieden worden. Das Gerät schreitet dann zum Schritt 68 fort, in dem ausgedruckt wird, daß der geprüfte Mikrobaustein zu keiner Brauchbarkeitskategorie gehört. Wenn dagegen mindestens eine Brauchbarkeitssyndrotn-Speicherstelle eine Null enthält, schreitet das Programm zum Schritt 69 fort, in dem die Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstellen ausgedruckt werden, die eine Null enthalten. Diese Stellen entsprechen den Kategorien (z.B. 2, 7 und 13), die besagen, in welcher Weise der geprüfte Mikrobaustein als teilweise brauchbarer Mikrobaustein verwendet werden kann.

Hach dem Durchführen des Schrittes 68 oder 69 schreitet das Prüfgerät zum Schritt 70 fort, der einen Befehl zur Rückkehr zum Schritt 2 darstellt, in dem ein neuer Mikrobaustein in die Prüfstellung gebracht wird.

Man kann das erfindungsgemäße Verfahren auf die schnelle Bestimmung von Brauchbarkeitakategorien in Fällen erweitern, in denen ein hohes bzw. niedriges Potential dauernd an zwei oder mehreren Adressenleitern liegt. V7enn zwei Leiter derart geschaltet sind, v/erden von einem Mikrobaustein mit 128 Zellen nur 32 Zellen verwendet. Da für die Auswahl von zwei Leitern aus sieben 21 Möglichkeiten und für das Anlegen von Dauerpotentialen an die zwei Leiter vier Möglichkeiten (OO, 01, IO und 11) vorhanden sind, gibt es für die Verwendung von Mikrobaustei-

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ηβη mit 128 Zellen als Mikrobausteine mit 32 Zellen insgesamt 84 Brauchbarkeitsicategorien. Nach dem Prüfen jeder Zelle und der Verarbeitung ihrer Zellennummer müssen bei der Verarbeitung ihrer Zellennummer alle möglichen Paare von Adressenbitsteilen betrachtet werden, damit bestimmt werden kann, welche Brauchbarkeitskategorien infolge einer unbrauchbaren Zelle ausgeschieden werden müssen. Jede unbrauchbare Zelle bedingt das Ausscheiden von 21 Brauchbarkeitskategorien (d<~>rb >önnpn auch in diesem Fall einige der auszuscheidenden Brauch^arkevitskategorien schon vorher ausgeschieden v/erden). Es sind weitere Schritte erforderlich, mit denen bestimmt wird, welche Brauchbarkeit skategorien aufgrund jeder unbrauchbaren Zelle ausgeschieden werden müssen. Die erforderlichen Schritte liegen im Bereich fachmännischer Maßnahmen. In diesem Fall wird das Programm so entwickelt, daß Feststellungen der vorstehend beschriebenen Art erhalten werden, Wenn eine Zelle unbrauchbar ist, dürfen dann an zwei Adressenleitern nicht dauernd Potentiale liegen, welche die entsprechenden Bitstellen in der Adresse der Zelle darstellen. Die entsprechende Brauchbarkeitskategorie muß daher beseitigt werden,

Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich auch zur Stapelverarbeitung von Prüfergebniseen. Es ist für die Erfindung nicht wesentlich, daß die Schritte des erfindungsgemäßen Verfahrens durchgeführt werden, während ein neuer Mikrobaustein in die Prüfstellung gebracht wird, wie dies in dem dargestellten Ausführungsbeispiel der Erfindung der Fall ist. Man kann auch für jeden Mikrobaustein eine Liste der unbrauchbaren Zellen herstellen, Nach dem Prüfen einer Anzahl von Mikrobausteinen (Bauelementen usw.) können alle Prüfungsergebnisse der zahlreichen Mikrobausteine gleichzeitig verarbeitet und dadurch die Brauchbarkeitskategorien für jeden Mikrobaustein bestimmt werden.

In dem dargestellten Ausführungsbeispiel der Erfindung wird die Adresse jeder Zelle des Mikrobausteins verarbeitet. Bei Mikrobauateinen, bei denen die meisten Zellen brauchbar sind, kann

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man die Gesamtzahl der in dem Programm durchgeführten Schritte herabsetzen, indem man zwischen den Schritten 21 und 22 einen Abeweigvorgang durchführt. Bei unbrauchbaren Zellen werden die Schritte 22-63 durchgeführt. Bei brauchbaren Zellen springt das Programm direkt zum Schritt 64. Bei einer brauchbaren Zelle wird an keiner der Brauchbarkeitssyndrom-Speicherstellen eine Eins eingeschrieben, so daß die Schritte 22-63 übersprungen werden können. Man kann ferner eine Liste der Adressen nur der unbrauchbaren Zellen herstellen und jede dieser Adressen entsprechend den Schritten 23-63 verarbeiten. In diesem Fall ist kein Zellenindex erforderlich, sondern wird die Zellenadresse selbst direkt verarbeitet und werden anstatt des Vorwärtszählens der Zeilenzahl (Schritt 64) von der zunächst hergestellten Liste aufeinanderfolgende Adressen entnommen und verarbeitet.

Es sind weitere Abänderungen möglich. Beispielsweise sei angenommen, daß die Brauchbarkeitskategorien 3 und 4 irgendwann während der Verarbeitung der Adressen der unbrauchbaren Zellen ausgeschieden werden. In diesem Fall brauchen bei den nachfolgenden Adressen die Schritte 31-34 nicht durchgeführt zu werden. Wenn in dem Schritt 29 festgestellt wird, daß der Zellenindex niedriger ist als 32, kann das Programm direkt zum Schritt 35 fortschreiten. Dagegen wird bei einem Zellenindex, der gleich oder größer ist als 32, vor dem Schritt 35 der Schritt 30 durchgeführt. Nach dem Ausscheiden von zwei Brauchbarkeitskategorxen

kann sich daher das Programm selbst so abändern, daß die entsprechende Bitstelle in allen nachfolgenden Adressen nicht zwecks Ausscheidung der beiden Brauchbarkeitskategorien geprüft wird.

Wenn bei einem Mikrobaustein mit 2 Speicherzellen, die mit N Adressenbits bezeichnet werden können, jene der 2N Brauchbarkeitskategorien bestimmt werden sollen, zu denen der Mikrobaustein gehört, müssen die Bitstellen der Adressen von so vielen unbrauchbaren Zellen geprüft werden, daß jeder der 2N möglichen einzelnen Adressenbitstellenwerte mindestens einmal geprüft wird, wenn er in der Adresse von mindestens einer unbrauchbaren Zelle enthalten ist. Durch Bezeichnung der Brauchbarkeitskate-

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gorien, die den auf diese Weise geprüften Ädressenbitstellenwerten zugeordnet sind, "kann man bestimmen, zu welchen bisher noch nicht bestimmten Brauchbarkeitskategorien der Mikrobaustein gehört, ähnliche Bemerkungen gelten für jene Brauchbarkeitskategorien, bei denen an zwei oder mehreren Adressenleitern Dauerpotentiale liegen.

Man kann denselben grundlegenden /\3gorithmu?5 auch auf eine andere Weise durchführen. In vielen Rechnern ist ein Maskonbefohl vorhanden, der besagt, daß eine Konjunktion Bit für Bit durchgeführt werden sol 1. ^T'7enn beispielsweise das VTort 011.10OO durch das Wort 3O]]OOO markiert wird, erhält man das Wort OOllono.

fc Es sei angenommen, daß zunächst eine Maske 1311111'verwendet wird, deren Bitstellen je einer der Brauchbarkeilskategorien 2, 4, 6, 8, 1O, 12 und 14 zugeordnet sind. Eine Eins in der Maske lxjsagt, daß die entsprechende Brauchbarkeitskat.egoi ie noch nicht ausgeschieden ist, Zunächst stehen alle* sieben Brauchbarkeitskate« gorien zur Verfugung. Es sei ferner angenommen, daß drei unbrauchbare Zellen die Adressen 0111110, 1101130 und 00]03¹Q halsen. Wenn man im Augenblick die Brauchbai keits3categarir-n ausser acht läßt , die aufgrund der Einsen in diesen drei Adrci^sson ausgeschieden werden, kann man zeigen, daß durch eine Folge von Ilaskiervorgängen alle nicht anwendhai en gei:adrahiigen Brauchbarkeitsltategoi ien auegeschieden werden _c Wenn man die Adresse "der ersten unbrauchbaren Seile (03 3U]O) mit der zunächst vor-

P handenen Maske (1113 113) verarbeitet, erhält man ein-Wort, dns der Adi'esse dci' erpten unbrauchbaren "pIIp gleich i.«i.. Di oreg Wort enthält ;>n dri trnlp.n und let rf en Bit ri-.oll ο e-i'in Null, was Ixrdeui r-i. _t dnß die (-ninj^rechondGP. Bi aurlibaikr. i i filiptor^i i on ." "i>d 3.4 ousgefichi f'-l* η vritlor sind. Dieses Tfoi i viid als n^uc H--.n]rr znvx ¥cirnr]3f-i 1 ·· ι; Φ·ι Jsdi'Gßst? dnr nächsten vnln auchlvi <-'i '<^Up wniendf-l c üciiii Üaf?¹, i f -j cn dc-i i)h'ch.«t f-v. Adror-Hf (1103.1¹O) v-A\ dom Wort O.H"i]]O ojliäli man als ru-uo lianl c daf' Vier·!- c-.](ni]f\ linn et 1 (^sm\i , ή,^Β -u- Hi '.lieh zn cif*n B; anrh^^rl^i tf-1-r.i > yoi ■'i-^·. ? vnA 14 di'- W- ^lu'lil --·. 1 vi i f.·]-. ;H -c-nni i c- 1(* hfir--v r*chi cdi-v- ■■■ ^j (irr; i ri . T?onn i.3m; Η<Ιυ<-ί<ί-(- ύ< ι diiti.cri unl:-i οΠ(.? = 1νιΐ c; '-*··■ lic ((i'UHo' '^H

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der neuen Maske verarbeitet wird, erhält man das Wort Diese3 besagt, daß von den sieben geradzahligen Brauchbarkeitskategorien der geprüfte Mikrobaustein nur zu den Brauchbarkeitskategorien 4 und 6 gehört.

Man muß jetzt noch die nicht anwendbaren ungeraden Brauchbarkeitskategorien ausscheiden. Dazu kann man ebenso vorgehen, doch wird zu diesem Zweck die Adresse jeder unbrauchbaren Teile komplementiert. In jedem. Adressenkomplement führt eine Null zum Ausscheiden der entsprechenden ungeradzahligen Brauchbarkeitskategorie=, Man kann auch die Adresse selbst verarbeiter., Kenn der Rechner mit den einzelnen Bits von zwei Worten eine Disjunktion durchführen kann. In diesem Fall wird zunächst die Maske OOOOOOO verwendet, in der eine Null keine nicht anwendbare?, sondern eine anwendbare Kategorie darstellt, Wenn man in dem vorstehenden Beispiel die Adresse der ersten Zelle Bit für Bit einer Disjunktion mit der zunächst vorhandenen Maske unterwirft, erhält man das Wort 0111110, welches besagt, daß die Brauchbarkeitskategorien 3, 5, 1, 9 und 11 ausgeschieden worden sind. Wenn diese neue Maske zusammen mit der Adresse der zweiten unbrauchbaren Zelle verwendet wird, ist das Ergebnis der Bit für Bit durchgeführten Disjunktion 11111110. Wenn mit diesem Wort auf dieselbe Weise die Adresse der dritten Zelle verarbeitet wird, erhält man als Endergebnis der Verarbeitung 1111110. Da das zuletzt erhaltene Wort nur eine Stelle mit dem Wert Null 'enthält, ist nur eine ungeradzahlige Brauchbarkeitskategorie anwendbar»

Diese Arbeitsweise ähnelt insofern der vorstehend ausführlich beschriebenen, als die einzelnen Werte der Bitstellen der Adressen von unbrauchbaren Zellen zum Ausscheiden der entsprechenden Brauchbarkeitskategorien herangezogen werden.

Vorstehend wurde die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels beschrieben, das jedoch nur zur Erläuterung des Erfindungsgedankens herangezogen wurde. Die Verarbeitungsschritte können

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auch auf andere als Speicherelemente angewendet herden, Beispielsweise können bestimmte logische Schaltungen (ohne Speicherfunktionen) auf einem bestimmten Halbleiterbaustein durch Bitsignale, die über Adressenleiter zugeführt werden, steuerungsfähig gemacht werden» Wenn einig« dieser Stromkreise unbrauchbar sind, braucht man den Mikrobausteir. nicht wegzuwerfen, sondern kann man mit Hilfe der vorstehende^ Hrfinduno feststellen, wie der Mikrobaustein mit einer kleineren Kapazität vervendet werden kann, d.h. man kann die Brauchbarkeitskategorien des Mikrobausteins bestimmen. Im Rahmen des Erfindunnsg^dankens sind daher zahlreiche Abänderungen des vorstehend beschriebenen Ausfuhrnngsbeispxels und andere Anordnungen möglich.

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Claims (9)

1. Patentansprücheί

   Verfahren zum automatischen Bestimmen der Brauchbarkeitskategjrien eines geprüften Halblc?iter~Mikrobausteins mit mehreren brauchbaren und mehreren unbrauchbaren Stromkreisen, dadurch gekennzeichnet, dafl die Bezeichnungen der unbrauchbaren Stromkreise einem Digitalrechner zugeführt werden und dieser derart programmgesteuert wird, daß die durch die brauchbaren Stromkreise des Mikrobausteins gegebenen Brauchbarkeitskategorien bestimmt werden«
2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Mikrobaustein ein Speicher-Mikrobaustein mit mehreren brauchbaren und mehreren unbrauchbaren Speicherzellen isj. und der Digitalrechner die/durch die brauchbaren Speicherzellen gegebenen Brauchbarkeitskategorien bestimmt«
3. 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dafl jede Speicherzelle geprüft wird, daß die unbrauchbaren Speicherzellen bestimmt %;erden und daß die Bezeichnungen a&r unbrauchbaren Speicherzellen dem Digitalrechner zugeführt und dieser so programmgesteuert wird_£ daß die durch die brauchbaren Speicherzellen gegebenen Brauchbarkeit ska tf»goi i an bestimmt \v^Terdrn«
4. 4. Verfahren n?di Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet_f daß die Prüfung vollständig durchgeführt v*ird_f ehe die Bezeichnungen dem Rechner zugeführt worden.
5. 5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der

   SpfdchGr-Hilu fsbauetein 2 iijiei οϊκ-τ ?:c-l 3 en hat _£ die durch IT Af⁵ressenl^vi 1'■: hcr-c? lehnet werden l-cmmn, daß die aui dem Mil· robav!£?i ίίΐΐι "hei ind J i ^hc-n Zc-:2 3f-i. αανιίΐί.*' und die &'1ress<?n fl'^r uril'f,iK:)>b;5i en Zellen b^Ktirnmi v?f:;:(lon, und daß dr'-r Digi- ·( iii?c?5H-r fn) äie aufgrund dr-r lVni.p der Bitstell.c-n der /-.sliesfi'-rj all'i UTibi aiirhbaren Sollen auszuscheidenden Ersuchbarkei ί :>]<ί·Α.< qoi if-n bertimt-'t un^ (Ij) bestimmt, welchci Brauch™

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   barkeitskategorien in dem Schritt (a) nicht bestimmt worden sind.
6. 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Mikrobausteine nacheinander geprüft werden und der Digitalrechner die Bestimmung der auszuscheidenden und anderen Brauchbarkeitskategorien nach dem Prüfen jedes Mikrobausteins und vor dem Prüfen eines folgenden Mikrobausteins vornimmt.
7. 7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß (a) mit Hilfe eines Digitalrechners die Werte der Bitstellen in den Adressen von so vielen unbrauchbaren Zellen geprüft werden, daß jeder der 2N möglichen Adressenbitstellenwerte, wenn er in der Adresse von mindestens einer unbrauchbaren Zelle enthalten ist, mindestens einmal geprüft wird, (b) die Brauchbarkeitskategorien bestimmt werden, die den in dem Schritt (a) geprüften Adressenbitstellenwerten zugeordnet sind, und

   (c) bestimmt wird, welche der 2N Brauchbarkeitskategorien in den Schritten (a) und (b).nicht bestimmt worden sind.
8. 8. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Brauchbarkeitskategorie (N-I) verwendbare Adressenbitstellen zugeordnet sind, und daß der Digitalrechner (a) jede Bitstelle in der aus N Bitstellen bestehenden Adresse jeder unbrauchbaren Zelle prüft, (b) jene der beiden jeder im Schritt (a)

   ' geprüften Adressenbitsteile zugeordneten Brauchbarkeitskategorien bestimmt, die dem Wert der Adressenbitstelle entspricht, und (c) bestimmt, welche der 2N Brauchbarkeitskategorien bei der Durchführung der Schritte (a) und^#(b) für jede unbrauchbare Zelle nicht bestimmt worden sind.
9. 9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß in den Schritten (a) und (b) die Adressenbitsteilen jeder unbrauchbaren Zelle nacheinander mit abnehmenden Stellenwerten geprüft werden, daß jede geprüfte Adressenbitstelle auf eine Null verändert wird, wenn sie eine Eins war, und daß die Auswahl einer der beiden jeder Adressenbitstelle zugeordneten

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   Brauchbarlceitskategorien davon abhängig ist, ob der ^Tfert der Adresse der Zelle vor einer etwaigen Veränderung der betreffenden Adressenbitsteile von einer Sins auf eine Null größer oder gleich ist dem Stellenwert der Bitstelle in der aus einer Dualzahl bestehenden Adresse der Zelle.

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