DE2111493C3

DE2111493C3 - Verfahren und Anordnung zur Fehlerdiagnose bei taktgesteuerten Geräten

Info

Publication number: DE2111493C3
Application number: DE19712111493
Authority: DE
Inventors: Hubert 8000 München Hülters
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Filing date: 1971-03-10
Publication date: 1976-02-12

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren sowie eine Anordnung zur Fehlerdiagnose bei taktgesteuerten Geräten (Prüfling), deren Steuerung ein logisches Netzwerk und Register enthält, bei denen der Prüfling an eine Datenverarbeitungsanlage angeschaltet wird, die dem Prüfling einen Verarbeitungstakt zuführt, bei dem auf Grund des Verarbeitungstaktes in dem Prüfling Signale erzeugt werden, die in Registern des Prüflings gespeichert werden, und die zur Fehferfeststellung mit einem Normal verglichen werden, und bei dem der Inhalt der Register von der Datenverarbeitungsanlage änderbar ist.

Um den Ausfall und die Wartungszeiten von Geräten, besonders externen Geräten von Datenverarbeitungsanlagen, möglichst klein zu halten, wird der Fehlerdiagnose große Bedeutung eingeräumt. Bei einer solchen Fehlerdiagnose soll möglichst mit Hilfe einer Datenverarbeitungsanlage festgestellt werden, ob Gerätesteuerungen fehlerhaft arbeiten. Weiterhin soll der Fehler möglichst mit Hilfe eines Fehlersuchprogramms genau lokalisiert werden können.

Es ist bereits bekannt, verschiedenartige Schaltungen mit Hilfe νση Datenverarbeitungsanlagen zu prüfen (z. B. Proceedings Seminar on Automatic Checkout Techniques, held at Batelle Memorial Institute, 5., 6. und 7. September 1962, S. 3, 51 bis 65). Hier werden den zu prüfenden Schaltungen Testinformationen zugeführt, von den zu prüfenden Schaltungen cHe Ausgangsinformationen abgenommen und diese mit den erwarteten Informationen verglichen. Aus dieser Literaturstelle kann aber nicht entnommen werden, wie insbesondere taktgesteuerte Geräte mit Hilfe einer Datenverarbeitungsanlage überprüft werden können.

Die USA.-Patentschrift 35 19 808 beschreibt ein Verfahren, mit dem fehlerhafte Teile eines elektronischen digitalen Rechners ^cchnell festgestellt und lokalisiert werden können. Dies geschieht mit Hilfe einer Testschaltung. Beim Prüfen des digitalen Rechners wird zunächst der Mikroprogrammteil der Steuerung vom do Rechenwerk abgetrennt. Dann werden die einzelnen Register des Rechenwerks nacheinander durchgeprüft, wobei die geprüften Register bei der weiteren Prüfung mitverwendet werden. Soll das Steuerwerk getestet werden, dann werden die dazu notwendigen Testdaten <\s von der Prüfschaltung in Register des Rechenwerks überführt und von dort dem Steuerwerk zugeleitet. Die von dem Steuerwerk auf Grund dieser Testdaten abgegebenen Steuersignale werden wiederum in das Rechenwerk übernommea Dort wird auch festgestellt, ob die von dem Steuerwerk abgegebenen Steuersignale einen richtigen Wert haben. Zur Überprüfung des Steuerwerkes werden Taktsignale benötigt, die von einem Zeitgeber abgegeben werden, der Teil des Steuerwerks ist. Nachteilig bei diesem bekannten Verfahren ist, daß die Prüfschaltung mit allen Registern verbunden werden muß.

Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht darin, ein Verfahren und eine Anordnung anzugeben, mit dem bzw. mit der in Verbindung mit einer Datenverarbeitungsanlage Fehler innerhalb taktgesteuerter Geräte angegeben werden können, ohne daß dabei der Aufwand an Verbindungsleitungen zwischen der Datenverarbeitungsanlage und dem taktgesteuerten Gerät zu groß wird. Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß zur ungestörten Taktversorgung durch die Datenverarbeitungsanlage auf deren Veranlassung der Gerätetakt des Prüflings abgeschaltet wird, daß durch ein Signal von der Datenverarbeitungsanlage die Register des Prüflings für den jeweiligen Prüfvoigang zu einem Ringschieberegister zusammen-, geschlossen werden, daß das logische Netzwerk des Prüflings nach Zuführung eines Verarbeitungstaktes einen Verarbeitungsschritt durchführt, und daß nach jedem vom logischen Netzwerk des Prüflings durchgeführten Verarbeitungsschritt der Inhalt eines Teils des Ringschieberegisters zum Vergleich in die Datenverarbeitungsanlage übernommen wird.

Die Anordnung zur Lösung der Aufgabe besteht aus einer ersten Einrichtung im Prüfling, durch die in Abhängigkeit von einem ersten von der Datenverarbeitungsanlage gelieferten Steuerkriterium der Gerätetakt abgeschaltet und der Takt von der Datenverarbeitungsanlage angeschaltet wird und aus einer zweiten Einrichtung im Prüfling, durch die in Abhängigkeit eines zweiten von der Datenverarbeitungsanlage gelieferten Steuerkriteriums die Register des Prüflings zu einem Ringschieberegister zusammengeschaltet oder wieder aufgetrennt werden.

Durch die von der Datenverarbeitungsanlage an den Prüfling gelieferten Verarbeitungstakte werden in der Gerätesteuerung Reaktionen ausgelöst, die sich im Inhalt der verschiedenen Register wiederspiegeln. Der Inhalt diese.· Register wird in die Datenverarbeitungsanlage überführt und dort mit einem Normal verglich, η, das die richtige Reaktion der Gerätesteuerung darstellt. Aus diesem Vergleich kann die Datenverarbeitungsanlage entnehmen, ob die Gerätesteuerung den Verarbeitungsschritt richtig durchgeführt hat oder nicht.

Das Normal stellt also ein Funktionsmuster der Gerätesteuerung dar, das in der Datenverarbeitungsanlage z. B. auf einem Band gespeichert ist.

Eine Prüfung des zu prüfenden Geräts (Prüfling) kann bei der Wartung folgendermaßen ablaufen: Der Prüfling wird an die Datenverarbeitungsanlage angeschlossen. Dann arbeitet die Datenverarbeitungsanlage nach einem Programm die durchzuführenden Funktionen der Gerätesteuerung Schritt für Schritt ab und vergleicht nach jedem Schritt, also nach jedem ausgeführten Verarbeitungstakt, die am Prüfling festgestellten Ist-Wert mit den auf Band gespeicherten Soll-Werten des Normals. Wird ein Unterschied festgestellt, dann können die entsprechenden Informationen ausgedruckt werden und die weitere Auswertung, die zur Lokalisierung und Behebung des Fehlers

führt, vom Menschen ausgeführt werden. Die Lokalisierung des Fehlers kpnnte aber ebenso gut durch die Datenverarbeitungsanlage mit Hilfe eines Programms erfolgen.

Andere Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.

An Hand der Figuren werden nachfolgend Ausführungsbeispiele der Erfindung weiter erläutert. Es zeigt

Fig. 1 eine erste prinzipielle Ausführung der Erfindung,

F i g. 2 eine zweite prinzipielle Ausführung der Erfindung,

Fig.3 ein Ausführungsbeispiel der ersten Einrichtung,

F i g. 4 ein Ausführungsbeispiel der zweiten Einrichtung.

In F i g. 1 ist der Teil der Gerätesteuerung des Prüflings dargestellt, der für die Fehlerdiagnose erforderlich ist Die Gerätesteuerung des Prüflings enthält ein logisches Netzwerk LNK, Register, die in einem Speicher SP zusammengefaßt sind und einen Gerätetaktgenerator GT, der im normalen Betrieb des zu prüfenden Geräts den Takt liefert. Das logische Netzwerk LNK ist mit den Registern verbunden und die Register sind wieder an das logische Netzwerk angeschlossen. Das logische Netzwerk LNK liefert das Ergebnis eines jeden Verarbeitungsschrittes an die Register im Speicher SP und holt die Eingangsgrößen für den nächsten Verarbeitungsschritt zum Teil aus dem Speicher SP, zum anderen Teil bekommt sie die Eingangsgrößen von externen Geräten, z. B. aut einer Datenverarbeitungsanlage, über Leitungen Li, L2.

Zur Fehlerdiagnose müssen in dem Prüfling zwei weitere Einrichtungen vorgesehen werden. Die erste Einrichtung hat die Aufgabe, im Prüfmodus den Gerätetaktgenerator GT abzuschalten und den Rechnertakt dem Prüfling zuzuführen; sie ist mit ER 1 bezeichnet Über die Leitung L 3 wird der Rechnertakt, über die Leitung L 4 ein erstes Steuerkriterium STK 1 von der Datenverarbeitungsanlage der ersten Einrichtung ERi zugeführt Dieses erste Steuerkriterium STK1 gibt an, ob der Gerätetaktgenerator abgeschaltet oder eingeschaltet sein soll. Die zweite Einrichtung ER 2 besteht im Ausführungsbeispiel der F i g. 1 im wesentlichen aus einer Leseeinrichtung, mit deren Hilfe der Inhalt der Register des Speichers SP über die Leitung L 7 in die Datenverarbeitungsanlage eingelesen werden kann. Zum Lesen des Inhaltes der Register des Speichers SP wird der zweiten Einrichtung ER 2 ein weiteres Steuerkriterium über die Leitung LS züge-, führt

Beim Prüfvorgang wird zunächst der Prüfling an die Datenverarbeitungsanlage angeschlossen. Dann werden die bistabilen Stufen der Register in einen be- _5ί stimmten Ausgangszustand zurückgesetzt Anschließend wird durch das erste Steuerkriterium STKi von der Datenverarbeitungsanlage durch die erste Einrichtung ERi der Gerätetakt abgeschaltet und der Rechnertakt an den Prüfling angeschaltet Nun wird ^₀ von dem logischen Netzwerk LNK der erste Verarbeitungsschritt durchgeführt, und zwar veranlaßt durch einen Verarbeitungstakt, der von der Datenverarbeitungsanlage geliefert wird. Das Ergebnis des Verarbeitungsschrittes wird in den Registern des Speichers SP gespeichert Durch ein werteres Steuerkriterium kann der Rechner über die zweite Einrichtung ER 2 den Inhalt der Register auslesen, im Rechner speichern und gegebenenfalls mit einem Normal vergleichen. Anschließend kann die Datenverarbeitungsanlage erforderlichenfalls neue Eingangsgrößen zuführen und den nächsten Verarbeitunjjstakt liefern.

Um die Anzahl der Verbindungsleitungen zwischen dem Prüfling und der Datenverarbeitungsanlage zu verringern, können die Register im Prüfling, veranlaßt durch ein zweites Steuerkriterium STK2 von der Datenverarbeitungsanlage zu einem Ringschieberegister verbunden werden. Ein entsprechendes Ausführungsbeispiel ist in F i g. 2 dargestellt. Die bereits in F i g. 1 gezeigten Bestandteile sind mit gleichen Bezugszeichen benannt. Durch die erste Einrichtung ER I kann wiederum der Gerätetaktgenerator GT abgeschaltet werden und der Rechnertakt angeschaltet werden. Die zweite Einrichtung ER 2 enthält aber nun zusätzlich zu der Leseeinrichtung noch Schaltungsanordnungen, durch die die bistabilen Stufen der Register zu einem Ringschieberegister zusammengeschaltet werden und eine Schaltung, durch die das logische Netzwerk LNK von den Registern abgetrennt werden kann.

Wird von der Datenverarbeitungsanlage über die Leitung Lb ein zweites Steuerkriterium STK2 angelegt, dann werden einerseits die bistabilen Stufen der Register zu einem Ringschieberegister zusammengeschaltet — und zwar mit Hilfe einer UND-Schaltung UGO — und andererseits das logische Netzwerk LNK von den Registern abgetrennt und zwar mit Hilfe eines Negationsgliedes NO und von zwischen die Ausgänge des logischen Netzwerkes LNK und die Eingänge der bistabilen Stufen der Register geschaltete UND-Schaltungen UG i. Bei dieser Ausführungsform ist die Datenverarbeitungsanlage nicht mit allen Registern verbunden, sondern nur mit einer gewissen Anzahl von bistabilen Stufen der Register. Dadurch kann der für die Prüfung der Geräte erforderliche Aufwand verringert werden.

Der Prüfling kann außer der Schnittstelle, über die er mit der Datenverarbeitungsanlage verbunden ist weitere Schnittstellen, z. B. von anderen Geräten, haben. Um den Prüfling vollständig prüfen zu können, müssen die Abläufe an solchen Schnittstellen (externe Schnittstellen) simuliert werden. Dazu werden an jeder externen Schnittstelle alle ankommenden und abgehenden Signalzustände in Registern gespeichert Zudem werden im Prüfmodus die zum Prüfling gerichteten Signalleitungen der Schnittstelle gesperrt Die Register an den Schnittstellen bilden dann, wie die übrigen Register des Prüflings, einen Teil des Ringschieberegisters. Damit können beliebige Informationen in diese Register eingeschrieben und dort enthaltene Informationen jederzeit festgestellt werden.

In F i g. 3 ist eine Ausführungsform der für die Prüfung des Prüflings in diesem enthaltenen ersten Einrichtung ERi gezeigt Mit dieser ersten Einrichtung ERi wird der Gerätetakt abgeschaltet und der Rechnertakt RT an den Prüfling angelegt Die erste Einrichtung besteht aus zwei UND-Schaltungen Ui und UZ einer Negationsischaltung Nl und einer ODER-Schaltung 01. Durch Anlegen des ersten Steuerkriteriums STKi von der Datenverarbeitungsanlage wird die UND-Schaltung i/2 geöffnet, so daß die Rechnertakte XT zum Ausgang der ODER-Schaltung 01 und damit zum Ausgang der Einrichtung ER 1 gelangen können und den Takt T bilden. Gleichzeitig wird durch das erste Steuerkriterium STATl, das durch das Negationsglied Ni negiert wird, die erste UND-Schai-

tung t/1 gesperrt, so daß die dem zweiten Eingang der UND-Schaltung Ui gelieferten Gerätetakte abgeschaltet werden. Bei normalem Betrieb des Prüflings liegt kein Steuerkriterium STKi an, so daß die UND-Schaltung i/l offen und die UND-Schaltung U2 gesperrt ist.

Eine Ausfühiungsform der zweiten Einrichtung ist in Fig.4 dargestellt. Hier sind bistabile Stufen FFi bis FFn der Register gezeigt, die mit Hilfe von vor die bistabilen Stufen geschalteten Eingangsschaltungen zu einem Ringregister zusammengeschaltet werden können. Jede einer bistabilen Stufe FF zugeordnete Eingangsschaltung besteht aus UND-Schaltungen t/3 bis (76 und ODER-Schaltungen 02, 03. Der UND-Schaltung (73 wird über die Leitung K ein Signal, z. B. vom logischen Netzwerk, der UND-Schaltung t/4 über die Leitung / ein weiteres Signal, z. B. vom logischen Netzwerk, zugeführt. Die UND-Schaltungen t/5, t/6 sind jeweils mit einem der Ausgänge der vorhergehenden bistabilen Stufe verbunden. Das zweite von der Datenverarbeitungsanlage gelieferte Steuerkriterium STK 2 wird unnegiert den UND-Schaltungen t/5 und t/6 und durch das Negationsglied Λ/2 negiert, den UND-Schaltungen t/3 und UA zugeführt. Die Ausgänge der UND-Schaltungen t/3 und t/5 sind an die ODER-Schaltung 02, die Ausgänge der UND-Schaltungen t/4 und t/6 an die ODER-Schaltung 03 angeschlossen. Der Ausgang der ODER-Schaltung 02 liegt an dem einen Eingang der zugeordneten bistabilen Stufe, der Ausgang der ODER-Sclialtung 03 an dem anderen Eingang der zugeordneten bistabilen Stufe. Den bistabilen Stufen FFwird weiterhin ein Takt T zugeführt, der im Prüfmodus der über die Einrichtung ER I vom Rechner gelieferte Rechnertakt ÄTist.

Weiterhin enthält die zweite Einrichtung eine Schreibschaltung. Mit dieser Schreibschaltung können Informationen in bestimmte bistabile Stufen eingeschrieben werden. Die Schreibschaltung besteht aus UND-Schaltungen t/8 und t/7 und Negationsschaltungen /V 3 und N4. In Fig.4 ist nur eine derartige Schreibschaltung gezeigt, die der bistabilen Stufe FF2 zugeordnet ist. Die Anzahl dieser Schreibschaltungen entspricht natürlich der Anzahl der bistabilen Stufen FF, zu denen die Datenverarbeitungsanlage Zugriff hai. Der UND-Schaltung t/7 wird das Schreibsignal SFF2 unnegiert zugeführt, der UND-Schaltung t/8 negiert. Ein drittes Steuerkriterium STK 3 liegt jeweils an dem anderen Eingang der UND-Schaltungen t/7, t/8 und andererseits über das: Negationsglied Λ/4 an den Eingängen der UND-Schaltungen t/5, t/6 der Eingangsschaltungen der bistabilen Stufen. Der Ausgang der UND-Schaltung U7 ist mit der ODER-Schaltung 02 der Eingangsschaltung, der Ausgang der UND-Schaltung t/8 mit dem Eingang der ODER-Schaltung 03 der Eingangsschaltung verbunden.

Solange kein zweites Steuerkriterium STK 2 vorliegt, sind die UND-Schaltungen t/5 und t/6 der Eingangsschaltung gesperrt und die bistabilen Stufen FF der Register nicht aneinander angekoppelt Gleichzeitig sind, da das Steuerkriterium STK 2 durch das Negationsglied /V 2 negiert wird, die UND-Schaltungen t/3 und t/4 geöffnet, so daß die an den Leitungen J und K anliegenden Signale den bistabilen Stufen FF zugeführt werden. In diesem Zustand befindet sich die Schaltung, wenn der Prüfling nicht im Prüfmodus ist Liegt ein Steuerkriterium STK 2 an, dann werden die UND-Schaltungen t/5, t/6 geöffnet und damit die bistabilen Stufen FF über die UND-Schaltungen t/5 und t/6 und die ODER-Schaltungen 02,03 miteinander verbunden und zu einem Ringschieberegister zusammengeschaltet. Da das Steuerkriterium STAi'2 durch das Negationsglied Λ/2 negiert wird, werden die UND-Schaltungen U3 und; t/4 gesperrt, so daß die bistabilen Stufen durch Signale ah den Leitungen / und K nicht mehr beeinflußt werden können. '

Soll in die der Schreibschaltuiig zugeordnete bistabile Stufe eingeschrieben werden, dann legt die Datenverarbeitungsanlage das dritte Steuerkriterium STK 3 an, durch die die UND-Schaltungen t/7 und US geöffnet werden. Die Schreibsignale SFF2 werden dann der ODER-Schaltung 02 der Eingangsschaltung unnegiert und der ODER-Schaltung 03 der Eingangsschaltung durch das Negationsglied N 3 negiert zugeführt. Der Zustand der zugeordneten bistabilen Stufen FF wird dadurch entsprechend geändert. Gleichzeitig aber werden die UND-Schaltungen t/5 und Ub durch das durch das Negationsglied A/4 negierte Steuerkriterium STK 3 gesperrt, so daß der Inhalt der vorhergehenden bistabilen Stufe nicht zu der bistabilen Stufe FFgelangen kann, in die von der Datenverarbeitungsanlage eine Information eingeschrieben werden soll. Die z. B. in die bistabile Stufe FF2 eingeschriebene Information kann dann mit Hilfe der Schiebetakte 7* weiter geschoben werden, so daß auf diese Weise das gesamte Ringschieberegister von der Datenverarbeitungsanlage mit neuen Informationen versorgt werden kann. Soll die gesamte Information im Ringschieberegister in die Datenverarbeitungsanlage eingeschrieben werden, dann wird mit Hilfe des Schiebetaktes T die Information in dem Ringschieberegister so lange verschoben, bis die gesamte in dem Ringschieberegister stehende Information in die bistabilen Stufen gelangt ist, die mit der Datenverarbeitungsanlage verbunden sind.

Die zu dem logischen Netzwerk führenden Ausgänge der bistabilen Stufen FF sind mit Q bezeichnet. Zum Auslesen der Information in die Datenverarbeitungsanlage ist die Leitung LFF2 vorgesehen.

Da die Register während der Zeit, in der sie zu einem Ringschieberegister verbunden sind, vom logischen Netzwerk abgetrennt sind, können die Rechnertakte einmal als Verarbeitungstakte für das logische Netzwerk, das andere Mal als Schiebetakte für das Ringschieberegister verwendet werden.

Die Betriebsweise des Prüflings im Prüfmodus ist folgende: Zuerst wird der Prüfling an die Datenverarbeitungsanlage angeschaltet, dann die Register des Prüflings in einen bestimmten Ausgangszustand gesetzt. Die erste Einrichtung ER 1 wird durch das erste Steuerkriterium STAiI aktiviert (Schritt 1), d. h, der Gerätetakt wird abgeschaltet und der Rechnertakt Rl dem Prüfling zugeführt

Anschließend wird die Einrichtung ER 2 durch das zweite Steuerkriterium STK 2 eingeschaltet (Schritt 2), d.h. die Register zu einem Ringschieberegister zusammengeschaltet Ober das dritte Steuerkriterium STAC 3 wird ausgewählt, daß gelesen wird und dementsprechend, getaktet durch den Rechnertakt, die gesamte Information des Ringschieberegisters in die Datenverarbeitungsanlage gelesen (Schritt 3). Die Information kann dann in der Datenverarbeitungsanlage ausgewertet werden. Durch das zweite Steuerkriterium STK 2 wird die zweite Einrichtung ER 2 wieder ausgeschaltet und dadurch das Ringschieberegister aufgetrennt und das logische Netzwerk ZJVAC des Prüflings an die bistabilen Stufen der Register angeschaltet (Schritt 4). Nun fuhrt die Datenverarbeitungsanlage.

veranlaßt durch das erste Steuerkriterium STK 1, dem Prüfling einen Takt zu, der, da die zweite Einrichtung £7? 2 abgeschaltet ist, als Verarbeitungstakt wirkt (Schritt 5). Die Information in den bistabilen Stufen der Register nach Ausführung des ersten Verarbeitur.gstaktes werden durch Wiederholen der bereits erläuterten Schritte in die Datenverarbeitungsanlage eingelesen. Anschließend wird der nächste Verarbeitungstakt durchgeführt usw.

Müssen externe Schnittstellen simuliert werden, so werden die bistabilen Stufen, die diesen Schnittstellen zugeordnet sind, jeweils zwischen Schritt 3 und Schritt 4 entsprechend geladen.

Durch das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungsgemäße Anordnung wird der Aufwand für die

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in den Prüfling einzufügenden Schaltkreise gering. Die Einrichtung ER 1 besteht lediglich aus wenigen logischen Bausteinen, für die Einrichtung ER2 sind die den bistabilen Stufen zugeordneten Eingangsschaltungen

s zur Eingliederung der bistabilen Stufen in das Ring-, schieberegister und zum Abschalten des logischen Netzwerkes und die Schreibschaltung erforderlich. Werden die Register von vornherein als Schieberegister aufgebaut, so wird der zur Realisierung der

ίο zweiten Einrichtung ER 2 notwendige Aufwand noch geringer. Ein besonderer Vorteil der Erfindung besteht so mit darin, daß ohne großen zusätzlichen Aufwand Geräte mit Hilfe einer Datenverarbeitungsanlage geprüft werden können.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims

Patentansprüche:

1. Verfahren zur Fehlerdiagnose bei taktgesteuerten Geräten (Prüfling), deren Steuerung ein logisches Netzwerk und Register enthält, bei dem der Prüfling an eine Datenverarbeitungsanlage angeschaltet wird, die dem Prüfling einen Verarbeitüngstakt zuführt, bei dem auf Grund des Verarbeitungstaktes in dem Prüfling Signale erzeugt werden die in Registern des Prüflings gespeichert werden und die zur Fehlerfeststellung mit einem Normal verglichen werden^ und bei dem d*y Inhalt der Register von der Datenverarbeitungsanlage änderbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß zur unge- >5 störten Taktversorgung durch die Datenverarbeitungsanlage auf deren Veranlassung der Gerätetakt des Prüflings abgeschaltet wird, daß durch ein Signal von der Datenverarbeitungsanlage die Register des Prüflings für den jeweiligen Prüf-Vorgang zu einem Ringschieberegister zusammengeschlossen werden, daß das logische Netzwerk des Prüflings nach Zuführung eines Verarbeitungstaktes einen Verarbeitungsschritt durchführt, und daß nach jedem vom logischen Netzwerk des Prüflings *5 durchgeführten Verarbeitungsschritt der Inhalt eines Teils des Ringschieberegisters zum Vergleich in die Datenverarbeitungsanlage übernommen wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennieichnet, daß der Schiebetakt des Ringschieberegisters durch den Takt von der Datenverarbeitungsanlage gebildet wird.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennleichnet, daß das logische Netzwerk des Prüflings von den Registern abgetrennt wird, solange die Register zu einem Ringschieberegister zusammengeichaltet sind.

4. Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfling in den Prüfmodus geschaltet wird, daß die Register des Prüflings in einen Ausgangszustand geschaltet werden, daß durch ein erstes Steuerkriterium (STK 1) von der Datenverarbeitungsanlage der Gerätetakt abge-•chaltet und dem Prüfling als Takt der Rechnertakt von der Datenverarbeitungsanlage geliefert wird, daß durch ein zweites Steuerkriterium (STK 2) von der Datenverarbeitungsanlage die Register des Prüflings zu einem Ringschieberegister zusammengeschaltet werden, daß durch ein drittes Steuerkriterium (STK 3) von der Datenverarbeitungsanlage festgelegt wird, daß der Inhalt des Ringichieberegisters, getaktet von der Datenverarbeitungsanlage, in die Datenverarbeitungsanlage gelesen wird, daß durch das zweite Steuerkriterium (STK 2) das Ringschieberegister wieder aufgetrennt wird und das logische Netzwerk des Prüflings an die Register angeschaltet wird, daß dem Prüfling eventuell Eingangsgrößen und ein Verarbeitungstakt zugeführt werden, auf Grund dessen das logische Netzwerk einen Verarbeitungsschritt durchführt und das Ergebnis an die Register liefert und daß dann deren Inhalt wieder in die Datenverarbeitungsanlage eingelesen wird.

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die von der Datenverarbeitungsanlage gelieferten Rechnertakte als Schiebetakte und als Verarbeitungstakte verwendet werden.

6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß im Prüfmodus die Schnittstellen des Prüflings zu anderen Geräten als der Datenverarbeitungsanlage gesperrt sind und die Eingangsgrößen von den anderen Geräten von der Datenverarbeitungsanlage simuliert werden.

7. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine erste Einrichtung (ER 1) im Prüfling, durch die in Abhängigkeit von einem ersten von der Datenverarbeitungsanlage gelieferten Steuerkriterium (STKi) der Gerätetakt abgeschaltet und der Takt von der Datenverarbeitungsanlage angeschaltet wird und aus einer zweiten Einrichtung (ER 2) im Prüfling, durch die in Abhängigkeit eines zweiten von der Datenverarbeitungsanlage gelieferten Steuerkriteriums (STK 2) die Register des Prüflings zu einem Ringschieberegister zusammengeschaltet oder wieder aufgetrennt werden.

8. Anordnung nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch eine erste Einrichtung (ER 1) aus einer ersten UND-Schaltung (Ui), der der Gc-ätetakt und das negierte erste Steuerkriterium (STK!) zugeführt werden, aus einer zweiten UND-Schaltung (L/2), der der Takt von der Datenverarbeitungsanlage und das erste Steuerkriterium (STK 1) zugeleitet werden und aus einer ODER-Schaltung (01), die mit den Ausgängen der ersten und der zweiten UND-Schaltung verbunden ist und an deren Ausgang der Takt (T) für den Prüfling abgegeben wird.

9. Anordnung nach Anspruch 7 oder 8, gekennzeichnet durch eine zweite Einrichtung (ER2) aus einer jeder bistabilen Stufe (FF) eines jeden Registers des Prüflings zugeordneten Eingangsschaltung, die in Abhängigkeit des zweiten Steuerkriteriums (STK 2) der Datenverarbeitungsanlage jed* bistabile Stufe (FF) mit einer anderen bistabilen Stufe (FF) verbindet, so daß ein Ringschieberegister entsteht und die die bistabilen Stufen (FF) von dem logischen Netzwerk (LNK) oder anderen Eingängen abtrennt oder anschaltet und aus einer Schreibschaltung, die einem Teil der bistabilen Stufen (FF) der Register zugeordnet sind, um in Abhängigkeit vom dritten Steuerkriterium (STK 3) Informationen in die bistabilen Stufen einzuschreiben.

10. Anordnung nach Anspruch 9, gekennzeichnet durch eine Eingangsschaltung aus einer dritten UND-Schaltung (LJ3), der Signale von dem logischen Netzwerk und das negierte zweite Steuerkriterium (STK 2) zugeführt werden, aus einer vierten UND-Schaltung (U4), der Signale vom logischen Netzwerk (LNK) und das negierte, zweite Steuerkriterium zugleitet wird, aus einer fünften UND-Schaltung (US), die mit dem Ausgang einer anderen bistabilen Stufe und mit dem Eingang für das zweite Steuerkriterium (STK 2) verbunden ist, aus einer sechsten UND-Schaltung (t/6), die an den anderen Ausgang der anderen bistabilen Stufe und den Eingang für das zweite Steuerkriterium (STK 2) angeschlossen ist, aus einer zweiten ODER-Schaltung (02), die mit· den Ausgängen der dritten und fünften UND-Schaltung verbunden ist und deren Ausgang an dem einen Eingang der zugeordneten bistabilen Stufe liegt und aus einer dritten ODER-Schaltung (03), die an die vierte Und sechste UND-Schaltung angeschlossen ist und deren Aus-

gang mit dem zweiten Eingang der zugeordneten bistabilen Stufe verbunden ist

! L Anordnung nach Anspruch 9, gekennzeichnet .durch eine 'Schreibschaltung aus einer siebten UND-Schaltung (U7), der das dritte Steuerkriterium (STK 3) und das Schreibsignal zugeführt wird und die mit der zweiten ODER-Schaltung (02) der zugeordneten bistabilen Stufe verbunden ist, aus einer achten UND-Schaltung (US), der das dritte Steuerkriterium (STK 3) und das negierte Schreibsignal zugeführt wird und die. an die dritte ODER-Schaltung (03) der zugeordneten bistabilen Stufe angeschlossen ist und aus «inetn Negationsglied (A/4), der das dritte Steuerkriterium (STK 3) zugeführt wird und deren Ausgang mit der fünften und sechsten UND-Schaltung der zugeordneten bistabilen Stufe verbunden ist.