DE2106579C3 - Halbleiterspeicher - Google Patents
HalbleiterspeicherInfo
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Description
2. Halbleiterspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zu einer Spalte (24) gehörenden
Auswahltransistoren (22) in einem gemein- 2S
samen Substrat (32, 42) aufgebaut sind, das von den Substraten der Auswahltransistoren der anderen
Spalte und der sonstigen Spaltenelemente des Halbleiterspeichers elektrisch isoliert ist.
3. Halbleiterspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zu einer Zeile (23) gehörenden
Auswahltransistoren (22) in einem gemeinsamen Substrat (32, 42) aufgebaut sind, das von den
Substraten der Auswahltransistoren der anderen Zeile und der sonstigen Zeilenelemente des Halbleiterspeichers
elektrisch isoliert ist.
4. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswahltransistoren
(22) in Dünnschichttechnik ausgeführt sind. -»ο
5. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 2 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das gemeinsame
Substrat (32) der Auswahltransistoren (22) einer Spalte (bzw. Zeile) streifenförmig ausgebildet ist
und sich auf einem elektrisch isolierenden Trägerkörper (31) befindet.
6. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Auswahltransistoren
(22) in dem Halbleiterkörper des Speichers in elektrisch isolierenden Wannen (42)
befinden (Fi g. 4).
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Die Erfindung betrifft einen Halbleiterspeicher, wie er im Oberbegriff des Patentanspruches 1 angegeben
ist.
Es ist bekannt, Halbleiterspeicher so zu organisieren, daß ein einzelnes Speicherelement nur dann angesteuert
ist, wenn es über zwei oder mehr Ansteuerleitungen, in denen Auswahltransistoren eingeschaltet
sind, koinzidente Signale empfängt. Hierfür ist eine mit Zweifachkoinzidenz arbeitende Schaltung bekannt, die
in F i g. 1 wiedergegeben ist. Mit 1 und 2 sind die Auswahltransistoren
für jede der beiden Ansteuerleitungen und 4 bezeichnet. Die Ansteuerleitungen 3 und 4 verlaufen,
nach Spalten und Zeilen organisiert, in dem integrierten Halbleiterspeicher, der aus einer Vielzahl von
Speicherelementen mit der in der F i g. 1 angegebenen Schaltung nach Art einer bistabilen Kippstufe mit
Schalt- und Lasttransistoren besteht Nur bei demjenigen Speicherelement, bei dem sowohl der Auswahltransistor
1 als auch der Auswahltransistor 2 durch koinzidente Signale in Leitungen 3 und 4 geschaltet
werden, wird eine Verbindung dieses Speicherelements mit dem Anschluß 5 der Informationsleitung bzw. Digitleitung
hergestellt. Diese Verbindung ermöglicht das Einschreiben oder Auslesen eines Speichersignals in
bzw aus diesem angesteuerten Speicherelement.
Aus »IBM techn. Disci. Bull.«, Bd. 12, Nr. 11 (1970),
S. 1748 ist eine Ansteuerschaltung für ein Halbleiterspeicherelement
bekannt das über einen Feldeffekttransistor mit zwei Torelektroden von einer Wortleitung
und einer Bitleitung ansteuerbar ist. Wie diese Leitungen im FaiJe eines nach Spalten und Zeilen organisierten
Speichers bei einem tatsächlichen Ausführungsbeispiel geführt sein sollen, ist dort jedoch nicht erörtert
Eine wesentliche Schwierigkeit ergibt sich beim Aufbau eines nach Zeilen und Spalten organisierten Halbleiterspeichers
mit Speicherelementen und mit solchen Ans'.eucrungen, wie sie in F i g. 1 angegeben sind. Hs
sind nämlich besonders schwierig auszuführende technologische Maßnahmen zu treffen, um die zwangläufig
erforderlichen Überkreuzungen dec in Zeilen und Spalten angeordneten Ansteuerleitungen 3 und 4 zu realisieren.
Auf einem derartigen Überkreuzungspunkt ist mit der Bezeichnung 8 hingewiesen.
Es ist eine Aufgabe der Erfindung, Schaltung und Aufbau zur Ansteuerung von Speicherelementen eines
wie im Oberbegriff des Patentanspruches 1 angegebenen Halbleiterspeichers zu finden, bei dem die Herstellung
der Überkreuzungen der spalten- und zeilenweise organisierten Ansteuerleitungen keine technologischen
Schwierigkeiten macht und praktisch beiläufig bei der Herstellung des integrierten Speichers ausgeführt werden
kann.
Diese Aufgabe wird mit einem wie im Oberbegriff des Patentanspruches 1 angegebenen Halbleiterspeicher
gelöst, der erfindungsgemäC gekennzeichnet ist. wie dies im Kennzeichen des Anspruches 1 angegeben
ist. Weitere Ausgestaltungen und Weiterbildungen gehen aus den Unteransprüchen hervor.
Es ist an sich bekannt, Auswahltransistoren und Ansteuerleitungen für jeweils beide Zweige der bistabilen
Kippstufe vorzusehen, und zwar um eine sichere Ansteuerung zu erreichen. Gemäß einer Weiterbildung
der Erfindung sind für jeweils beide Zweige oder Hälften der Kippstufe dei einzelnen Speicherelemente je
ein erfindungsgemäß geschalteter und aufgebauter Auswahltransistor vorgesehen.
Weitere Einzelheiten der Erfindung gehen aus der Beschreibung zu Figuren bevorzugter Ausführungsbeispiele
der Erfindung hervor.
F i g. 2 zeigt das Schaltbild eines Speicherelements mit den Schalttransistoren 20 und den Lasttransistoren
21, sowie mit dem erfindungsgemäß angeschalteten Auswahltransistor 22. Der zweite Zweig des Speicherelements,
der gleich dem ersten Zweig ist, ist in der F i g. 2 gestrichelt ausgeführt.
Der Auswahltransistor 22 übernimmt in der Schaltung nach Fi g. 2 die Funktionen der beiden Auswahltransistoren
1 und 2 des bekannten Speicherelements nach Fig. 1. Mit 23 und 24 sind die Auswahlleitungen
und mit 25 der Anschluß an die Informationsleitung be-
zeichnet. Die Auswahlleitung 23 ist mit der Torelektrode und die Auswahlleitung 24 erfindungsgemäß mit
dem Substrat des Transistors 22 verbunden. Die Verbindungen der Leitungen 23 und 24 mit dem Transistor
können auch vertauscht sein. Die ^Schlüsse 26 und 27
dienen der Zuführung der Versorgungsspannung für das Speicherelement, wobei im Regelfall der Anschluß
26 durch das gemeinsame Substrat alier Spt icherelemente des integrierten Halbleiterspeichers gebildet
wird. Au; die Überkreuzung ist mit der Bezeichnung 28 hingewiesen.
Ein Aufbau eines Auswahltransistors nach der Erfindung wird durch die F i g. 3 näher erläutert. Mit 31 ist
ein vorzugsweise elektrisch isolierender Trägerkörper bezeichnet. Auf diesem Trägerkörper befindet sich das '5
eigentliche Halbleitersubstrat 32 des erfindungsgemäß angeschalteten Auswahltransistors. Dieses Substrat ist
entweder p- oder η-leitend und enthäl* die entgegenge setzt dotierten Bereiche 33 und 34 die das Senken- und
das Quellengebiet des Feldeffekt-Auswahltransistors bilden. Mit 133 und 134 sind Elektroden auf dein Senken-
und dem Quellengebiet bezeichnet. Das Substrat ist mit einer Isolierschicht 35 flächenmaßig wenigstens
soweit bedeckt, daß eine über die Gebiete 33 und 34
und über das Substrat zwischen diesen Gebieten sich erstreckende Fläche bedeckt ist. Auf dieser Isolier·
schicht 35 befindet sieh eine elektrisch gut leitende, weitere Schicht, Belegung 36 die im Bereich zwischen
den Senken- und Quellengebieten 33 und 34 als Tor
elektrode 37 ausgebildet ist. Wie dies für FeIc .'fekt- ^0
Transistoren bekannt ist. ist die Isolierschicht zwischen
dem Substrat 32 und dem als Torelektrode 37 w irksa
men Teil der Belegung 36 für die Torelektrode entsprechend dünn ausgeführt. Für die sich über die eigentliche
Torelektrode hinaus erstreckenden Teile 38 und 39 der Belegung 3b ist eine gegenüber der Dicke der Isolierschicht der Torelektrode dickere Isolationsschicht, so
genannte Dickoxyd, vorgesehen.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung wird die Belegung 36 als Ansteuerleitung zeilen- bzw. spaltenweise durch den Speicher hindurchgeführt. Alle Auswahltransistoren der Speicherelemente einer Zeile
bzw. einer Spalte des Speichers sind auf diese Weise durch die Belegung 36 miteinander verbunden. Die jeweils zweite Ansteuerleitung der Auswahltransistoren
der Speicherelemente einer Spalte bzw. einer Zeile des Speichers sind durch das Substrat 32 elektrisch miteinander verbunden. Dieses Substrat wird nämlich etwa in
der Art eines Streifens im wesentlichen orthogonal zur streifenförmigen Belegung 36 auf dem Träger in einer
Spalte bzw. einer Zeile des Speichers durchlaufend ausgeführt. Die in dem ganzen Speicher durchlaufende Informalionsleitung wird in an sich im Prinzip bekannter
Weise ausgeführt, z. B. in oder auf dem Träger 31, und an die Elektrode (134) des Quellengebietes (34) angeschlossen.
Das Ausführungsbeispiel nach F i g. 3 ist in der im Prinzip an sich bekannten Dünnschichttechnik aufgebaut, bei dem das Substrat eines einzelnen Transistors
gegenüber bestimmten anderen Transistoren elektrisch isoliert ist. Insbesondere wird dies dadurch erreicht.
daß auf einem vorzugsweise nichtleitenden Träger einzelne voneinander isolierte Inseln des Substrats hergestellt werden. In diese Inseln sind dann die einzelnen,
oder wie bei der Weiterbildung der Erfindung eine Reihe von Transistoren eingebaut. Im Falle eines elektrisch leitfähigen Trägers werden die .Substratinseln
durch eine vorzugsweise aufgewachsene sich zwischen dem Träger und dem Substrat befindenden Isolierschicht elektrisch voneinander getrennt.
Die erfindungsgemäße Speicheranordnung kann auch in der sogenannten Massivtechnik ausgeführt sein.
Bei dieser Technik, die insbesondere von der Komplementiirkanaitechnik
für Speicherelemente he; bekannt ist. befindet sich das Substrat 32 in einer sogenannte!'.
Wanne in dem massiven Trägerkörper. Diese Wanne isoliert das darin befindliche Substrat gegenüber dem
Massivkörper durch die Wirkung des /wischen Wanne und Massivkörper auftretenden, in Sperrichtung zu pulenden
pn-übergang, i ι g. 4 zeigt mi Schnitt eine Frontansicht eines erfindungsgemäß geschalteter! Auswahltransistors
in dieser hier beschriebenen Technik. In dem Massivträger 41 bclindet sieh die dem Trägermaterial
gegenüber entgegengesetzt dotierte Wanne 42. 43 und 44 sind die der Wanne gegenüber w leder entgegengesetzt
dotierten Senken- und Quellengebicte des
Auswahltransistors. Die übrigen Ein/elhcucn dieser
Ausführungsform nach F i g. 4 stimmen mit denen der Ausführungsform nach F i g. 3 überein.
Die Erfindung wendet den im andeien Zusammen
hang an sich schon bekannten SubstraisteuereHekt an,
der unter anderem z.B. schon von Crawford. »MOS-FET Circuit Design«, Mac-Graw Hill. New York, 1967.
S. 40, beschrieben wurde. Man versteht darunter bei einen: Feldeffekt-Transistor die zusätzliche Steuerung
der elektrischen Leitfähigkeit des Kanals durch Anlegen eines zusätzlichen Potentials an das Substrat. In
diesem Falle wirkt das durch eine Verarmungs/.one vom leitenden Kanal isolierte Substrat als eine /weite
Torelektrode. Entsprechend des gewählten Potentials am Substrat tritt eine Verschiebung des F.insatzpunktes
der Spannung der Torelektrode des Transistors auf.
Die neue Anwendung des Substratsteuereffekts er möglicht einen neuen vorteilhaften Aufbau eines integrierten
Halbleiterspcichers mit wie oben beschriebenen, nach der Erfindung angeschalteten Auswahltransistoren.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1. Halbleiterspeicher mit Speicherelementen, z. B.
in Form eines kreuzgekoppelten Flip-Flops, mit einer Organisation nach dem Koinzidenzprinzip,
mit entsprechenden Ansteuerleitungen, wobei für zwei Ansteuerleitungen eines Speicherelements nur
ein Feldeffektauswahltransistor mit oberhalb von dessen Substratkörper befindlichem Gate, an dem
eine ersie Auswahlleitung angeschlossen ist, vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, daß
für einen nach Zeilen und Spalten organisierten integrierten Speicher die jeweils zweite Ansteuerleitung
(24) des jeweiligen Auswahltransistors (22) '5 eine im Substrat (32, 42) dieses Auswahltransistors
vorliegende Leitungsbahn ist, und daß die erste Ansteuerleitung (23, 36) über die Gateelektrode (37)
dieses Auswahltransistors verläuft, so daß sich beide Ansteuerleitungen am bzw. im jeweiligen Auswahltransistor
in verschiedenen Ebenen kreuzen (F i g. 3,
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