DE19951750A1

DE19951750A1 - Testsystem für Speicher-IC

Info

Publication number: DE19951750A1
Application number: DE1999151750
Authority: DE
Inventors: Takayuki Ishikawa
Original assignee: Ando Electric Co Ltd
Current assignee: Ando Electric Co Ltd
Priority date: 1998-10-29
Filing date: 1999-10-27
Publication date: 2000-05-04
Also published as: JP2000137996A

Abstract

Es wird ein Testsystem für einen Speicher-IC, das einen Mustergenerator für das Erzeugen eines Restmusters, das an die zu testenden Speichervorrichtungen angelegt werden muß, eine Abtastauswahlschaltung für das Erzeugen eines Abtastsignals, um eine zu testende Speichervorrichtung auszuwählen, und eine Beurteilungsregisterschaltung, die ein Ausgangssignal von der getesteten Speichervorrichtung empfängt und beurteilt, ob die getestete Speichervorrichtung in Ordnung ist oder nicht, und die das Ergebnis der Beurteilung in der Beurteilungsregisterschaltung selbst speichert, umfaßt, bereitgestellt. Im Testsystem für den Speicher-IC wählt die Abtastauswahlschaltung alle zu testenden Speichervorrichtungen in einer Schreibbetriebsart, in der Daten in die zu testenden Speichervorrichtungen geschrieben werden, aus. Die Gruppe der getesteten Speichervorrichtungen werden sequentiell in einer Betriebsart ausgewählt, in welcher Daten aus den getesteten Speichervorrichtungen ausgelesen werden.

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG GEBIET DER ERFINDUNG

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Einbrenn testsystem (TBT) für das gleichzeitige Durchführen von Tests bei einer Anzahl von Speichervorrichtungen.

BESCHREIBUNG DES STANDES DER TECHNIK

Bei einem Einbrenntest werden eine Anzahl von zu testenden Speichervorrichtungen unter denselben Bedingungen plaziert, und ein Testsignal wird an diese zu testenden Vorrichtungen angelegt. Eine Schaltungsanordnung, um Speicher-ICs mit einem konventionellen TBT-System zu testen, ist in Fig. 3 gezeigt.

Ein Mustergenerator 1 sendet Adreßsignale und schreibt Daten in die zu testenden Vorrichtungen 5. Ein Zeitgenerator 2 sen det ein allgemeines Taktsignal zu den zu testenden Vorrich tungen 5, gibt ein Zyklusratensignal an den Mustergenerator 1 aus, gibt ein Beurteilungstaktpulssignal an eine Beurtei lungsregisterschaltung 4 und gibt ein Abtasttaktsignal an ei ne Abtastauswahlschaltung 3 aus.

Die Abtastauswahlschaltung 3 umfaßt eine Schaltung, die se quentiell die zu getesteten Vorrichtungen 5, die in Blöcke aufgeteilt sind, freischaltet. Das heißt, die Schaltung schaltet alle Abtastungen, Abtastung 1 bis Abtastung X frei. Die Beurteilungsregisterschaltung 4 umfaßt eine Schaltung, die erwartete Daten, die vom Mustergenerator 1 abgeleitet werden, mit Ausgangssignalen der getesteten Vorrichtungen 5 vergleicht und das Vergleichsergebnis in die Schaltung an sich durch einen Beurteilungstaktpulssignal, das aus dem Zeitgenerator 2 abgeleitet wird, speichert. Zu Beginn eines Tests überträgt eine Steuerung 6 Anfangsdaten zu den jeweili gen Schaltungsteilen, und, nachdem der Text beendet ist, spei chert sie die sich ergebenden Daten. Die Steuerung 6 steuert auch den sequentiellen Betrieb des Gesamtsystems.

Der Testmusterausführungsfluß im konventionellen Einbrenn test-System ist in Fig. 4 dargestellt. In der nachfolgenden Beschreibung bezeichnen S1 bis S8 Schritte des Ausführungsab laufs. Für den Test wird eine Anzahl von zu testenden Spei chervorrichtungen in Blöcke aufgeteilt, und der Test wird für jeden Block ausgeführt. Das Einbrenntestsystem und die zu te stenden Vorrichtungen werden initialisiert (S1). Aus einer Anzahl getesteter Vorrichtungen werden solche Vorrichtungen, die sich in einem zu testenden Block befinden, ausgewählt (S2), und es wird ein Testmuster zum Block gesandt (S3), um dadurch Daten in die zu testenden Vorrichtungen des Blocks zu schreiben. Die Daten, die in den Vorrichtungen gespeichert wurden, werden aus diesen ausgelesen, und es wird eine Beur teilung durchgeführt, ob die ausgelesenen Daten korrekt oder nicht korrekt sind (S4). Hier endet der Test des Blocks (S5), und die Daten werden von der Beurteilungsregisterschaltung 4 in der Steuerung 6 gespeichert (S6).

Um die Vorrichtungen zu testen, die in einem anderen Block enthalten sind, kehrt der Textmusterausführungsfluß zum Abta steinstellungsschritt (S7, S2) zurück; es wird ein anderer Block ausgewählt, und es wird ein ähnliches Verfahren ausge führt.

Beim Wiederholen des oben erwähnten Ausführungsverfahrens und der Beendigung der Test der getesteten Vorrichtungen aller Blöcke geht die Steuerung weiter, um die nächste Testsequenz auszuführen (S8).

Die Speicherkapazität der Speichervorrichtung nimmt Jahr um Jahr zu, und mit einer Zunahme der Speicherkapazität nimmt auch die Zeit zu, die für den Test benötigt wird, um zu prü fen, ob die hergestellten Speichervorrichtungen in Ordnung sind oder nicht. Es ist, insbesondere beim Einbrenntest, viel Testzeit erforderlich für das Testen einer Anzahl von Spei chervorrichtungen.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Somit besteht eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, die Testzeit für das Testen der Speichervorrichtungen zu ver mindern.

Um die obige Aufgabe zu lösen, wird ein Testsystem für einen Speicher-IC bereit gestellt, das einen Mustergenerator für das Erzeugen eines Testmusters, das an die zu testenden Spei chervorrichtungen angelegt werden soll, eine Abtastauswahl schaltung für das Erzeugen eines Abtastsignals, um eine zu testendende Speichervorrichtung auszuwählen, und eine Beur teilungsregisterschaltung, die ein Ausgangssignal von der ge testeten Speichervorrichtung empfängt und beurteilt, ob die getestete Speichervorrichtung in Ordnung ist oder nicht, und die das Ergebnis der Beurteilung in der Beurteilungsregister schaltung selbst speichert, umfaßt. Im Testsystem für einen Speicher-IC wählt die Abtastauswahlschaltung alle getesteten Speichervorrichtungen in einer Schreib-Betriebsart, in wel cher Daten in die getesteten Speichervorrichtungen einge schrieben werden, aus. Gruppen der getesteten Speichervor richtungen werden sequentiell in einer Betriebsart ausge wählt, in der Daten aus den getesteten Speichervorrichtungen ausgelesen werden.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Fig. 1 ist ein Blockdiagramm, das ein Testsystem für einen Speicher-IC zeigt, das gemäß der vorliegenden Erfindung kon struiert ist.

Fig. 2 ist ein Flußdiagramm, das einen Steuerfluß zeigt, der im Testsystem für den Speicher-IC durchgeführt wird.

Fig. 3 ist ein Blockdiagramm, das ein konventionelles Test system für einen Speicher-IC zeigt.

Fig. 4 ist ein Flußdiagramm, das einen Steuerfluß zeigt, der im konventionellen Testsystem für einen Speicher-IC ausge führt wird.

DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN

Eine Anordnung eines Testsystems für einen Speicher-IC, das eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung darstellt, ist in Fig. 1 gezeigt. Ein Mustergenerator 1 überträgt Adreßsignale und einzuschreibende Daten zu den zu testenden Vorrichtungen 5. Weiterhin gibt er ein Schreib/Lese-Signal und ein Abtastauswahl-Triggersignal an eine Abtastauswahl schaltung 3 aus.

Ein Zeitgebungsgenerator 2 sendet ein allgemeines Taktsignal an die zu testenden Vorrichtungen 5, gibt ein Zyklusratensi gnal an den Mustergenerator 1 aus, gibt ein Beurteilungstakt pulssignal an eine Beurteilungsregisterschaltung 4 und gibt ein Abtasttaktsignal an die Abtastauswahlschaltung 3 aus.

Die Abtastauswahlschaltung 3 umfaßt erste und zweite Schal tungen. Die erste Schaltung empfängt ein Schreib/Lese-Signal vom Mustergenerator 1 und wählt alle zu testenden Vorrichtun gen 5 in Erwiderung darauf aus. Das heißt, sie schaltet alle Abtastungen, Abtastung 1 bis Abtastung X frei. Die zweite Schaltung empfängt ein Abtastauswahl-Triggersignal vom Mu stergenerator 1 und schaltet die zu testenden Vorrichtungen 5, die in verschiedene Blöcke aufgeteilt sind, in Erwiderung darauf in einer sequentiellen Reihenfolge frei.

Die Beurteilungsregisterschaltung 4 umfaßt eine Schaltung, die erwartete Daten, die vom Mustergenerator 1 abgeleitet werden, mit Ausgangssignalen der getesteten Vorrichtungen vergleicht, die das Vergleichsergebnis in der Schaltung selbst durch ein Beurteilungstaktpulssignal, das vom Zeitge bungsgenerator 2 abgeleitet wird, speichert, und ein Beurtei lungsregister durch ein Abtastauswahltriggersignal, das vom Mustergenerator 1 abgeleitet wird, auswählt.

Am Start eines Tests überträgt eine Steuerung 6 anfängliche Daten zu den jeweiligen Schaltungsteilen, und nachdem der Test beendet ist, speichert sie die sich ergebenden Daten. Die Steuerung 6 steuert auch einen sequentiellen Betrieb des gesamten Systems.

Fig. 2 ist ein Flußdiagramm, das den Ablauf eines Testver fahrens, das im Testsystem für den Speicher-IC ausgeführt wird, zeigt. In der nachfolgenden Beschreibung bezeichnen S9 bis S15 Schritte des Ablaufs des Testverfahrens. Die Steue rung 6 initialisiert das gesamte Testsystem für einen Spei cher-IC und die zu testenden Vorrichtungen 5 (S9). Die Steue rung 6 steuert die Abtastauswahlschaltung 3 in der folgenden Weise. Wenn Daten vom Mustergenerator 1 in die zu testenden Vorrichtungen 5 geschrieben werden, so schaltet die Abta stauswahlschaltung 3 alle getesteten Vorrichtungen 5 frei. Wenn Daten aus den getesteten Vorrichtungen 5 in die Beurteilungs registerschaltung 4 ausgelesen werden, wählt die Abtastaus wahlschaltung 3 sequentiell solche getesteten Vorrichtungen 5, die in verschiedene Blöcke aufgeteilt wurden (S10), aus.

Der Mustergenerator 1 startet das Senden eines Testmusters zu den zu testenden Vorrichtungen (S11). In einem Schreibzyklus schaltet die Abtastauswahlsschaltung 3 alle die Abtastungen, Abtastung 1 bis Abtastung X, frei, und der Mustergenerator 1 schreibt Daten in die getesteten Vorrichtungen 5 in einer si multanen Art und Weise. In einem Lesezyklus wählt die Abta stauswahlschaltung 3 gleichzeitig die freizuschaltenden Blocks aus und führt die Abtastoperationen so oft aus, wie es Blöcke gibt. Die Beurteilungsregisterschaltung 4 wiederholt eine Ausleseoperation und eine Beurteilungsreaktion (S12). Nach dem Ende des Tests (S13) holt die Steuerung 6 die Daten aus der Beurteilungsregisterschaltung 4, speichert die gehol ten Daten in die Steuerung selbst (S14) und geht zum Ausfüh ren der nächsten Testsequenz weiter (S15).

Wie oben beschrieben ist, arbeitet das Testsystem des Spei cher-ICs der vorliegenden Erfindung in der folgenden Art. In einem Schreibzyklus werden Daten gleichzeitig in alle die ge testeten Vorrichtungen geschrieben, und in einem Lesezyklus werden die freizuschaltenden Blöcke sequentiell ausgewählt und die Datenleseoperation und die Beurteilungsoperation wer den für jeden Block ausgeführt. Somit wird der Zeitverbrauch für das Durchführen des Tests vermindert.

Das Testsystem für Speicher-ICs der Erfindung wird in zukünf tigen Speichervorrichtungen, deren Speicherkapazität erhöht sein wird, wirksamer sein.

Claims

Testsystem für Speicher-IC, umfassend:
einen Mustergenerator für das Erzeugen eines Testmu sters, das an die zu testenden Speichervorrichtungen anzule gen ist;
eine Abtastauswahlschaltung für das Erzeugen eines Ab tastsignals, um eine zu testende Speichervorrichtung auszu wählen; und
eine Beurteilungsregisterschaltung, die ein Ausgangssi gnal von der getesteten Speichervorrichtung empfängt und be urteilt, ob die getestete Speichervorrichtung in Ordnung ist oder nicht, und die das Ergebnis der Beurteilung in der Beur teilungsregisterschaltung selbst speichert;
wobei in einer Schreibbetriebsart, in welcher Daten in die zu testenden Speichervorrichtungen geschrieben werden, die Abtastauswahlschaltung alle zu testenden Speichervorrich tungen auswählt, und wobei Gruppen der getesteten Speicher vorrichtungen in einer Betriebsart sequentiell ausgewählt werden, in welcher Daten aus den getesteten Speichervorrich tungen ausgelesen werden.