DE19854729A1 - Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements - Google Patents
Verfahren zum Herstellen eines OberflächenwellenbauelementsInfo
- Publication number
- DE19854729A1 DE19854729A1 DE19854729A DE19854729A DE19854729A1 DE 19854729 A1 DE19854729 A1 DE 19854729A1 DE 19854729 A DE19854729 A DE 19854729A DE 19854729 A DE19854729 A DE 19854729A DE 19854729 A1 DE19854729 A1 DE 19854729A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- wave device
- acoustic wave
- surface acoustic
- coating layer
- operating frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/25—Constructional features of resonators using surface acoustic waves
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/08—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/08—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
- H03H3/10—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves for obtaining desired frequency or temperature coefficient
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/0023—Balance-unbalance or balance-balance networks
- H03H9/0028—Balance-unbalance or balance-balance networks using surface acoustic wave devices
- H03H9/0047—Balance-unbalance or balance-balance networks using surface acoustic wave devices having two acoustic tracks
- H03H9/0066—Balance-unbalance or balance-balance networks using surface acoustic wave devices having two acoustic tracks being electrically parallel
- H03H9/0071—Balance-unbalance or balance-balance networks using surface acoustic wave devices having two acoustic tracks being electrically parallel the balanced terminals being on the same side of the tracks
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02818—Means for compensation or elimination of undesirable effects
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/05—Holders; Supports
- H03H9/10—Mounting in enclosures
- H03H9/1064—Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices
- H03H9/1092—Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices the enclosure being defined by a cover cap mounted on an element forming part of the surface acoustic wave [SAW] device on the side of the IDT's
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/125—Driving means, e.g. electrodes, coils
- H03H9/145—Driving means, e.g. electrodes, coils for networks using surface acoustic waves
- H03H9/14538—Formation
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/42—Piezoelectric device making
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum
Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements (SAW-Bauele
ment; SAW = surface acoustic wave) beispielsweise eines
Oberflächenwellenfilters eines Oberflächenwellenresonators
und dergleichen, und spezieller auf ein Verfahren zum Her
stellen eines Oberflächenwellenbauelements, bei dem ein
Schritt des Einstellens der Frequenz desselben verbessert
ist.
Oberflächenwellenbauelemente werden verwendet, um verschie
dene Komponenten, beispielsweise Filter, Resonatoren und
dergleichen zu definieren. Zum Herstellen eines derartigen
Oberflächenwellenbauelements wird zumindest ein Interdigi
talwandler (der hierin nachfolgend als "IDT" bezeichnet
wird) auf einem piezoelektrischen Substrat gebildet. Bei
Oberflächenwellenbauelementen werden die Anzahl von IDTS so
wie die Form und die Anzahl weiterer Elektroden geeignet
entsprechend der gewünschten Komponente ausgewählt.
Wenn dasselbe als ein Filter oder als ein Resonator verwen
det wird, muß das Oberflächenwellenbauelement hergestellt
werden, um notwendige Frequenzcharakteristika zu erhalten.
Jedoch existiert ein Problem dahingehend, daß die Frequenz
charakteristika von Oberflächenwellenbauelementen aufgrund
von Abweichungen der physikalischen Eigenschaften zwischen
verschiedenen piezoelektrischen Substraten sowie der
schlechten Herstellungsgenauigkeit bei der Erzeugung von
IDTs von den entworfenen Charakteristika abweichen.
Daher wurde ein Verfahren zum Herstellen eines Oberflächen
wellenbauelements vorgeschlagen, bei dem eine Frequenz ein
gestellt werden kann, indem die Dicke einer Polyimidharz-
Überzugschicht, die auf dem Oberflächenwellenbauelement
gebildet wird, gesteuert wird (siehe beispielsweise die of
fengelegten Japanischen Patentveröffentlichungen
Nr. 61-208916 und 8-32392).
Spezieller offenbart die offengelegte Japanische Patentver
öffentlichung Nr. 61-208916, daß eine Betriebsfrequenz eines
Oberflächenwellenbauelements eingestellt werden kann, indem
eine Polyimidharz-Überzugschicht mit einer vorbestimmten
Dicke auf ein Oberflächenwellensubstrat aufgebracht wird.
Die offengelegte Japanische Patentveröffentlichung
Nr. 8-32392 offenbart ein Verfahren, bei dem ein mit Fluorid be
handelter Polyimidharz-Überzug mittels eines Aufschleuder
verfahrens auf der Substratoberfläche, auf der sich eine
akustische Oberflächenwelle ausbreitet, gebildet wird, um
eine Dicke aufzuweisen, die einer erforderlichen Frequenz
einstellung zugeordnet ist.
Die offengelegte Japanische Patentveröffentlichung
Nr. 8-32392 offenbart ferner, daß der mit Fluorin behandelte Poly
imidharz-Überzug für eine weitere Einstellung der Frequenz
mit einem Plasma-enthaltenden Sauerstoffgas geätzt werden
kann.
Jedoch können die oben erläuterten herkömmlichen Verfahren
unter Verwendung eines Polyimidharz-Überzugs die Betriebs
frequenz des Oberflächenwellenbauelements lediglich verrin
gern. Das heißt, daß es unmöglich war, eine Betriebsfrequenz
eines Oberflächenwellenbauelements derart einzustellen, daß
die Betriebsfrequenz erhöht ist.
Wenn der mit Fluorin behandelte Polyimidharz-Überzug unter
Verwendung eines Plasma-enthaltenden Sauerstoffgases geätzt
wird, ist es überdies notwendig, eine Vakuumvorrichtung zu
verwenden. Somit muß jedes Oberflächenwellenbauelement, das
eine Frequenzeinstellung erfordert, in eine Vakuumkammer
eingebracht werden, woraufhin die Vakuumkammer evakuiert
werden muß. Folglich ist ein beträchtlicher Zeitaufwand er
forderlich, um die Frequenz einer großen Anzahl von Ober
flächenbauelementen einzustellen, was bewirkt, daß das Fre
quenzeinstellverfahren einen geringen Durchsatz besitzt.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, Ver
fahren zum Herstellen von Oberflächenwellenbauelementen zu
schaffen, die zum einen eine variable Einstellung der Be
triebsfrequenz ermöglichen und zum anderen wenig zeitaufwen
dig sind.
Diese Aufgabe wird durch Verfahren gemäß den Patentansprü
chen 1 und 10 gelöst.
Die vorliegende Erfindung schafft ein Verfahren zum Her
stellen eines Oberflächenwellenbauelements, durch das eine
Betriebsfrequenz des Oberflächenwellenbauelements durch das
Verschieben der Betriebsfrequenz sowohl zu einer Seite nie
drigerer Frequenzen als auch zu einer Seite höherer Frequen
zen hin eingestellt werden kann, wobei die Einstellung der
Betriebsfrequenzen des akustischen Oberflächenwellenbauele
ments mit einem höheren Durchsatz erfolgt.
Gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung umfaßt ein Verfahren zum Herstellen eines Oberflä
chenwellenbauelements, das ein piezoelektrisches Substrat
und einen auf demselben vorgesehenen Interdigitalwandler um
faßt, die Schritte des Erzeugens einer Überzugschicht, die
aus einem anorganischen Material oder einem organischen Ma
terial besteht, auf dem piezoelektrischen Substrat, um den
Interdigitalwandler zu bedecken, und des Ätzens der Überzug
schicht mittels Laserlicht, um eine Betriebsfrequenz des
Oberflächenwellenbauelements einzustellen.
Das Verfahren kann ferner die Schritte des Bestimmens, ob
die Betriebsfrequenz erhöht oder verringert werden soll, und
des Auswählens eines speziellen anorganischen Materials für
die Überzugschicht in dem Fall, in dem die Betriebsfrequenz
erhöht werden soll, und des Auswählens eines speziellen or
ganischen Materials für die Überzugschicht in dem Fall, in
dem die Betriebsfrequenz verringert werden soll, aufweisen.
Nachfolgend wird der Schritt des Erzeugens der Überzug
schicht basierend auf dem Ergebnis des Auswahlschritts
durchgeführt.
Der Ätzschritt wird vorzugsweise unter einem atmosphärischen
Druck durchgeführt. Das anorganische Material ist vorzugs
weise zumindest ein Material, das aus der Gruppe ausgewählt
ist, die aus SiO21 SiO, ZnO, Ta2O5, TiO2 und WO3 besteht.
Das organische Material ist vorzugsweise zumindest ein Mate
rial, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Polyimid,
Parylen und Silikon besteht.
Gemäß bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Er
findung kann die Betriebsfrequenz verglichen mit herkömmli
chen Verfahren zum Einstellen der Frequenz ohne weiteres mit
einer hohen Genauigkeit eingestellt werden, wobei ein Ober
flächenwellenbauelement mit exakten gewünschten Frequenzcha
rakteristika zuverlässig bei geringen Kosten erhalten werden
kann.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend bezugnehmend auf die bei liegenden Zeich
nungen näher erläutert. ES zeigen:
Fig. 1 eine schematische Schnittansicht, die den Schritt
des Einstellens der Frequenz eines Oberflächenwel
lenbauelements durch eine Bestrahlung mit Laser
licht gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht, die einen Endoberflä
chen-Reflexionstyp-Oberflächenwellenresonator als
ein Oberflächenwellenbauelement, das gemäß einem
bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung er
halten wird, zeigt;
Fig. 3 einen Graph, der die Beziehung zwischen dem Ätzbe
trag H/λ eines SiO2-Films und der Frequenzänderung
Δf0 von der Mittenfrequenz bei einem experimentel
len Beispiel von bevorzugten Ausführungsbeispielen
der vorliegenden Erfindung, bei denen eine Über
zugschicht aus dem SiO2-Film erzeugt wurde, zeigt;
Fig. 4 einen Graphen, der die Beziehung zwischen dem Ätz
betrag H/λ eines SiO-Films und der Frequenzänderung
Δf0 von der Mittenfrequenz bei einem weiteren ex
perimentellen Beispiel der bevorzugten Ausführungs
beispiele der vorliegenden Erfindung, bei denen ei
ne Überzugschicht aus dem SiO-Film erzeugt wurde,
zeigt;
Fig. 5 einen Graphen, der die Beziehung zwischen dem Ätz
betrag H/λ eines Polyimidfilms und der Frequenzän
derung von der Mittenfrequenz bei einem experimen
tellen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin
dung, bei dem eine Überzugschicht aus bevorzugten
Ausführungsbeispielen des Polyimidfilms erzeugt
wurde, zeigt; und
Fig. 6 einen Graphen, der die Beziehung zwischen dem Ätz
betrag H/λ eines Parylenfilms und der Frequenzän
derung Δf0 von der Mittenfrequenz bei einem expe
rimentellen Ausführungsbeispiel von bevorzugten
Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung,
bei denen eine Überzugschicht aus dem Parylenfilm
erzeugt wurde, zeigt.
Fig. 1 ist eine schematische Schnittansicht, die den Schritt
des Ätzens einer Überzugschicht mittels eines Lasers bei dem
Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements
gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung zeigt. Fig. 2 ist eine perspektivische Ansicht,
die das Oberflächenwellenbauelement 1, das bei diesem bevor
zugten Ausführungsbeispiel erhalten wird, zeigt.
Bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist das Oberflä
chenwellenbauelement ein Endoberflächen-Reflexionstyp-Ober
flächenwellenresonator. Das Oberflächenwellenbauelement 1
umfaßt ein piezoelektrisches Substrat 2 und einen IDT 3, der
auf demselben gebildet ist. Das piezoelektrische Substrat 2
kann aus einem piezoelektrischen Einkristall aus LiTaO3,
LiNbO3 oder dergleichen bestehen. Alternativ kann eine pie
zoelektrische Keramik, beispielsweise eine Bleititanat-Zir
konat-Keramik oder dergleichen verwendet werden. Ferner kann
ein Substrat, das ein isolierendes Material und einen pie
zoelektrischen Dünnfilm, beispielsweise einen ZnO-Dünnfilm,
der auf dem Substrat gebildet ist, aufweist, verwendet wer
den.
Kammförmige Elektroden 3a und 3b sind auf dem piezoelektri
schen Substrat derart angeordnet, daß die Elektrodenfinger
der kammförmigen Elektroden 3a und 3b interdigital zueinan
der angeordnet sind, um den IDT 3 zu bilden. Ein Paar von
äußersten Elektrodenfingern des IDT 3, die eine Breite auf
weisen, die im wesentlichen gleich der Hälfte der Breite der
anderen Elektrodenfinger ist, ist bündig mit den Endoberflä
chen 2a und 2b des piezoelektrischen Substrats. Falls das
piezoelektrische Substrat, das das isolierende Substrat und
den piezoelektrischen Dünnfilm auf dem Substrat aufweist,
verwendet ist, kann der IDT 3 auf dem piezoelektrischen
Dünnfilm gebildet sein, oder alternativ zwischen dem piezo
elektrischen Dünnfilm und dem Substrat, das aus einem iso
lierenden Material gebildet ist.
Das Oberflächenwellenbauelement 1 verwendet z. B. eine Bleu
stein-Gulyaev-Shimizu-Welle (BGS-Welle). Die BGS-Welle, die
durch den IDT 3 angeregt wird, breitet sich in der Richtung
X, die in Fig. 2 gezeigt ist, aus und ist durch die Refle
xion der BGS-Welle an den Endoberflächen 2a und 2b zwischen
den Endoberflächen 2a und 2b eingegrenzt.
Bei dem Oberflächenwellenbauelement 1 ist eine Überzug-
Schicht 4 (die in Fig. 2 durch eine strichpunktierte Linie
gezeigt ist) angeordnet, um den IDT 3 zu bedecken. Die Über
zugschicht 4 besteht aus einem anorganischen oder einem or
ganischen Material und ist vorgesehen und angeordnet, um den
IDT 3 zu schützen und die Frequenz einzustellen. Eines der
wesentlichen Merkmale der vorliegenden Erfindung besteht da
rin, daß selektiv eine Überzugschicht 4, die aus entweder
einem anorganischen Material oder einem organischen Material
besteht, verwendet wird. Die Überzugschicht, die aus einem
anorganischen Material besteht, wird verwendet, um die Be
triebsfrequenz des Oberflächenwellenbauelements zu erhöhen,
während die Überzugschicht, die aus einem organischen Mate
rial besteht, verwendet wird, um die Betriebsfrequenz des
Oberflächenwellenbauelements zu verringern.
Bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel wird die Überzug
schicht 4 gebildet, nachdem der IDT 3 gebildet ist, wobei
der Ätzschritt unter Verwendung eines Lasers nachfolgend zur
Einstellung der Betriebsfrequenz durchgeführt wird.
Das Verfahren zum Herstellen des Oberflächenwellenbauele
ments kann allgemein wie folgt erklärt werden.
Zuerst wird der IDT 3 auf dem piezoelektrischen Substrat 2
gebildet. Der Schritt des Bildens des IDT 3 auf dem piezo
elektrischen Substrat 2 kann durch ein geeignetes Verfahren
durchgeführt werden, das üblicherweise gemäß herkömmlicher
Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements
verwendet wird. Beispielsweise wird auf der gesamten Ober
fläche des piezoelektrischen Substrats 2 ein metallisches
Material, beispielsweise Al oder dergleichen, mittels Plat
tierung, Dampfabscheidung oder Sputtern, gebildet, gefolgt
von einer Strukturierung, um den IDT 3 zu bilden. Alternativ
wird eine Maske auf dem piezoelektrischen Substrat 2 pla
ziert, wobei ein Siebdrucken, eine Plattierung, eine Dampf
abscheidung oder ein Sputtern eines metallischen Materials,
beispielsweise Al oder dergleichen, durchgeführt wird, um
den IDT 3 zu erzeugen.
Nachfolgend wird das Oberflächenwellenbauelement 1 unter
Verwendung eines geeigneten Frequenzcharakteristik-Meßgeräts
untersucht, um die tatsächliche Betriebsfrequenz zu bestim
men. Die gemessene tatsächliche Betriebsfrequenz wird mit
einer entworfenen (oder gewünschten) Betriebsfrequenz des
Oberflächenwellenbauelements 1 verglichen, wodurch bestimmt
wird, ob die tatsächliche Betriebsfrequenz des Oberflächen
wellenbauelements erhöht oder verringert werden Soll.
Nachfolgend wird die Überzugschicht 4 auf dem piezoelektri
schen Substrat 2 erzeugt. Falls die tatsächliche Betriebs
frequenz des Oberflächenwellenbauelements erhöht werden muß,
wird für die Überzugschicht 4 ein anorganisches Material
ausgewählt. Andernfalls wird, falls die Betriebsfrequenz des
Oberflächenwellenbauelements verringert werden muß, ein or
ganisches Material für die Überzugschicht 4 ausgewählt. Die
Überzugschicht 4 kann gemäß herkömmlicher Verfahren erzeugt
werden. Beispielsweise kann die Überzugschicht 4 mittels
eines geeigneten Verfahrens wie z. B. eines Aufschleuderns,
einer Sprühbeschichtung, eines Sputterns, einer Dampfab
scheidung und dergleichen erzeugt werden.
Als Material zum Erzeugen der Überzugschicht 4 können ver
schiedene anorganische Materialien und organische Materia
lien verwendet werden. Es ist bevorzugt, ein anorganisches
Material wie z. B. SiO2, SiO, ZnO, Ta2O5, TiO3, WO3 und der
gleichen und ein organisches Material wie z. B. Polyimid, Pa
rylen, Silikon und dergleichen zu verwenden.
Die Dicke der Überzugschicht 4 wird bestimmt, um größer als
die Dicke zu sein, die die Frequenzänderung bewirkt, die der
Differenz zwischen der tatsächlichen Betriebsfrequenz und
der gewünschten Betriebsfrequenz entspricht. Es sei bemerkt,
daß die Beziehung zwischen der Dicke der Überzugschicht und
der Frequenzänderung im voraus durch Messung zu bestimmen
ist. Die Dicke der Überzugschicht 4 kann gemäß dem Betrag,
der für jedes der einzustellenden Oberflächenwellenbauele
mente erforderlich ist, geändert werden. Alternativ kann die
Dicke der Überzugschicht 4 auf einen vorbestimmten Wert
festgelegt sein, der eine ausreichende Frequenzänderung für
alle der Endoberflächen-Reflexionstyp-Oberflächenwellenreso
natoren 1, die einzustellen sind, bewirkt.
Als nächstes wird die Überzugschicht 4 mittels eines Laser
lichts 6 durch die Verwendung eines Lasergeräts 5 bestrahlt,
um die Überzugschicht 4 durch Verbrennen oder Verdampfen ei
nes Abschnitts der Überzugschicht 4 zu ätzen bzw. abzutra
gen, wie in Fig. 1 gezeigt ist. Bei diesem Ätzen kann die
gesamte obere Oberfläche 4a der Überzugschicht 4 geätzt wer
den, um die Dicke der Überzugschicht 4 zu verringern, oder
die obere Oberfläche 4a der Überzugschicht 4 kann partiell
geätzt werden. Der Ätzbetrag wird durch das Einstellen der
Laserlichtleistung gesteuert. In jedem Fall wird das Ätzen
unter Verwendung des Lasergeräts 5 durchgeführt, weshalb das
Ätzen mit einer hohen Genauigkeit durchgeführt werden kann.
Während dieses Schrittes muß das Oberflächenwellenbauelement
nicht in irgendwelche Vakuumkammern eingebracht werden, wo
bei das Ätzen der Überzugschicht 4 ferner bei einem atmos
phärischen Druck durchgeführt wird. Folglich ist für diesen
Schritt keine Evakuierungszeit erforderlich.
Zusätzlich ist Laserlicht geeignet, um verschiedene Mate
rialarten ungeachtet der Materialtypen zu ätzen. Folglich
können sowohl eine Überzugschicht, die aus einem anorgani
schen Material besteht, als auch eine Überzugschicht, die
aus einem organischen Material besteht, durch die gleiche
Laserquelle geätzt werden, ohne die Laserquellen oder das
Verfahren des Ätzens zu ändern.
Aus den vorher genannten Gründen können die Frequenzcharak
teristika des Oberflächenwellenbauelements durch Ätzen un
geachtet der Abweichungen der Frequenzcharakteristika des
Oberflächenwellenbauelements 1 vor dem Ätzen korrekt an die
gewünschte Frequenzcharakteristika angepaßt werden. Zusätz
lich kann der Frequenzeinstellungsdurchsatz stark verbessert
sein.
Nachfolgend werden experimentelle Beispiele beschrieben.
Als das Oberflächenwellenbauelement wurde ein Oberflächen
wellenbauelement, das ein piezoelektrisches Substrat 2, das
aus einer piezoelektrischen Keramik (PZT) besteht und Abmes
sungen von näherungsweise 50 × 50 × 1 mm aufweist, vorberei
tet. Der erzeugte IDT 3 umfaßte 20 Paare von Elektrodenfin
gern und wurde aus einem Aluminium-Dünnfilm hergestellt, der
relativ zu der Wellenlänge vernachlässigbar dünn war.
Nach dem Messen einer tatsächlichen Betriebsfrequenz des
Oberflächenwellenbauelements 1 wurde ein SiO2-Dünnfilm mit
tels HF-Magnetron-Sputtern erzeugt, um die gesamte obere
Oberfläche 2a des piezoelektrischen Substrats zu bedecken,
so daß die Dicke der Gleichung H/λ = 0,35 genügte, wobei H
die Dicke des SiO2-Dünnfilms und λ die Wellenlänge der
BGS-Welle, die durch das Oberflächenwellenbauelement angeregt
wird, darstellt.
Die Überzugschicht, die den SiO2-Dünnfilm enthält, wurde
durch das Lasergerät geätzt, um die Dicke derselben zu ver
ringern, wobei die Änderung Δf0 der Mittenfrequenz f0 be
stimmt wurde. Die Ergebnisse sind in Fig. 3 gezeigt.
In Fig. 3 ist die Änderung Δf0 (ppm) bezüglich der Mitten
frequenz auf der Ordinate dargestellt. Hierbei ist die Mit
tenfrequenz des Oberflächenwellenbauelements, das keine
Überzugschicht 4 aufweist, die auf demselben gebildet ist,
f0, wobei die Frequenzabweichung von der Mittenfrequenz f0
durch Δf0 gezeigt ist.
Fig. 3 zeigt, daß durch das Aufbringen der Überzugschicht,
die den SiO2-Dünnfilm aufweist, die Mittenfrequenz erhöht
wurde, und daß durch das Ätzen der Überzugschicht mittels
Laserlicht, um die Dicke des SiO2-Dünnfilms zu verringern,
die Mittenfrequenz verringert wurde. Es wurde somit ent
deckt, daß durch das Ätzen der Überzugschicht durch Laser
licht, um die Dicke derselben zu verringern, die Mittenfre
quenz des Oberflächenwellenbauelements 1 mit hoher Präzision
eingestellt werden kann.
Bei einem alternativen experimentellen Beispiel wurde ein
SiO-Dünnfilm anstelle des SiO2-Dünnfilms derart gebildet,
daß die Dicke H/λ = 0,21 genügte, wobei der Film nachfolgend
durch das gleiche Verfahren, das oben beschrieben ist, ge
ätzt wurde. Die Ergebnisse sind in Fig. 4 gezeigt. Fig. 4
zeigt, daß auch bei der Bildung der SiO-Überzugschicht die
Mittenfrequenz eingestellt werden kann, um durch das Ätzen
der Überzugschicht mittels Laserlicht, um die Dicke dersel
ben zu verringern, verringert zu werden.
Ferner wurde ein Versuch durchgeführt, um die Frequenz durch
das gleiche Verfahren wie bei dem obigen experimentellen
Beispiel einzustellen, mit der Ausnahme, daß eine Überzug
schicht aus Polyimid als einem organischen Material durch
die Verwendung einer Schleuder anstelle des SiO2-Dünnfilms
und des SiO-Dünnfilms derart erzeugt wurde, daß die Dicke
H/λ = 0,11 genügte. Die Ergebnisse sind in Fig. 5 gezeigt.
Fig. 5 zeigt, daß die Mittenfrequenz durch das Bilden der
Überzugschicht, die einen Polyimid-Dünnfilm aufweist, ver
ringert wurde, und daß das Ätzen der Überzugschicht durch
Bestrahlung mit Laserlicht eine Frequenzeinstellung in der
Richtung erlaubt, in der die Frequenz zunimmt, wenn der Ätz
betrag zunimmt, d. h., die Dicke der Überzugschicht, die den
Polyimiddünnfilm aufweist, abnimmt.
In gleicher Weise wurde das gleiche Experiment durch die
Verwendung von Parylen anstelle von Polyimid durchgeführt.
Die Ergebnisse sind in Fig. 6 gezeigt. Fig. 6 zeigt, daß,
nach dem Bilden der Überzugschicht, die Parylen aufweist,
das Ätzen der Überzugschicht mittels einer Bestrahlung mit
Laserlicht eine Frequenzeinstellung auf eine solche Art und
Weise ermöglicht, daß die Frequenz durch eine Erhöhung des
Ätzbetrags, d. h. durch eine Verringerung der Dicke der Über
zugschicht, wie in dem Fall von Polyimid, erhöht wird.
Daher zeigen die Ergebnisse, die in den Fig. 3 bis 6 gezeigt
sind, daß bei der Bildung der Überzugschicht, die aus einem
anorganischen Material besteht, die Frequenz eingestellt
werden kann, um durch ein Erhöhen des Ätzbetrags, d. h. ein
Verringern der Dicke der Überzugschicht, verringert zu wer
den, während bei der Verwendung von Polyimid oder Parylen
die Frequenz eingestellt werden kann, um durch eine Erhöhung
des Ätzbetrags, d. h. eine Verringerung der Dicke der Über
zugschicht, erhöht zu werden.
In jedem Fall wurde entdeckt, daß durch das Ätzen der Über
zugschicht mittels einer Bestrahlung mit Laserlicht, um die
Dicke derselben zu verringern, die Frequenz zuverlässig und
exakt eingestellt werden kann, um beabsichtigte Frequenzcha
rakteristika zu erhalten.
Obwohl bei den bevorzugten Ausführungsbeispielen das Verfah
ren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements der
vorliegenden Erfindung auf eine Verfahren zum Herstellen ei
nes Endoberflächen-Reflexionstyp-Oberflächenwellenbauele
ments, das eine BGS-Welle verwendet, angewendet wird, kann
das Herstellungsverfahren auch für die Herstellung eines
Oberflächenwellenbauelements, das eine andere akustische
Oberflächenwelle als die BGS-Welle, beispielsweise andere
akustische SH-Typ-Oberflächenwellen, wie z. B. eine Love-Wel
le und dergleichen, und andere akustische Oberflächenwellen,
beispielsweise eine Rayleigh-Welle und dergleichen, verwen
det, angewendet werden. Überdies kann das Herstellungsver
fahren nicht nur für einen Oberflächenwellenresonator ver
wendet werden, sondern auch für jedes gewünschte Oberflä
chenwellenbauelement, beispielsweise ein Transversaltyp-
oder Resonatortyp-Oberflächenwellenfilter, eine Oberflächen
wellenverzögerungsleitung und dergleichen.
Claims (19)
1. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbau
elements (1), das ein piezoelektrisches Substrat (2)
und einen auf demselben vorgesehenen Interdigitalwand
ler (3) aufweist, mit folgenden Schritten:
Erzeugen einer Überzugschicht (4), die aus einem anor ganischen Material oder einem organischen Material be steht, auf dem piezoelektrischen Substrat (2), um den Interdigitalwandler (3) zu bedecken; und
Ätzen der Überzugschicht, um eine Betriebsfrequenz des Oberflächenwellenbauelements einzustellen.
Erzeugen einer Überzugschicht (4), die aus einem anor ganischen Material oder einem organischen Material be steht, auf dem piezoelektrischen Substrat (2), um den Interdigitalwandler (3) zu bedecken; und
Ätzen der Überzugschicht, um eine Betriebsfrequenz des Oberflächenwellenbauelements einzustellen.
2. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments (1) nach Anspruch 1, das ferner folgende Schritte
aufweist:
Bestimmen, ob die Betriebsfrequenz erhöht oder verrin gert werden soll;
Auswählen des anorganischen Materials für die Überzug schicht (4), wenn die Betriebsfrequenz erhöht werden soll, und Auswählen des organischen Materials für die Überzugschicht (4), wenn die Betriebsfrequenz verrin gert werden soll; und
Durchführen des Schritts des Erzeugens der Überzug schicht (4) basierend auf dem Ergebnis des Auswahl schritts.
Bestimmen, ob die Betriebsfrequenz erhöht oder verrin gert werden soll;
Auswählen des anorganischen Materials für die Überzug schicht (4), wenn die Betriebsfrequenz erhöht werden soll, und Auswählen des organischen Materials für die Überzugschicht (4), wenn die Betriebsfrequenz verrin gert werden soll; und
Durchführen des Schritts des Erzeugens der Überzug schicht (4) basierend auf dem Ergebnis des Auswahl schritts.
3. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach Anspruch 1 oder 2, bei dem der Ätzschritt
bei einem atmosphärischen Druck durchgeführt wird.
4. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem das
anorganische Material zumindest ein Material ist, das
aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus SiO2, SiO, ZnO,
Ta2O5, TiO2 und WO3 besteht.
5. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem das or
ganische Material zumindest ein Material ist, das aus
der Gruppe ausgewählt ist, die aus Polyimid, Parylen
und Silikon besteht.
6. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem das
Oberflächenwellenbauelement (1) ein Endoberflächen-Re
flexionstyp-Oberflächenwellenbauelement ist.
7. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem das
Oberflächenwellenbauelement eine Bleustein-Gulyaev-Shi
mizu-Welle verwendet.
8. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 1 bis 7, bei dem der
Ätzschritt unter Verwendung eines Lasers durchgeführt
wird.
9. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach Anspruch 2, bei dem der Schritt des Bestim
mens, ob die Betriebsfrequenz erhöht oder verringert
werden soll, die Schritte des Untersuchens einer Fre
quenzcharakteristik des Oberflächenwellenbauelements,
um eine tatsächliche Betriebsfrequenz zu bestimmen, und
des Vergleichens der tatsächlichen Betriebsfrequenz mit
einer gewünschten Betriebsfrequenz aufweist.
10. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments (1) mit folgenden Schritten:
Bereitstellen eines piezoelektrischen Substrats (2);
Erzeugen eines Interdigitalwandlers (3) auf einer Ober fläche des piezoelektrischen Substrats (2);
Erzeugen einer Überzugschicht (4) auf dem piezoelek trischen Substrat (2), um den Interdigitalwandler (3) zu bedecken; und
Ätzen der Überzugschicht (4), um eine Betriebsfrequenz des Oberflächenwellenbauelements (1) zu erhöhen oder zu verringern.
Bereitstellen eines piezoelektrischen Substrats (2);
Erzeugen eines Interdigitalwandlers (3) auf einer Ober fläche des piezoelektrischen Substrats (2);
Erzeugen einer Überzugschicht (4) auf dem piezoelek trischen Substrat (2), um den Interdigitalwandler (3) zu bedecken; und
Ätzen der Überzugschicht (4), um eine Betriebsfrequenz des Oberflächenwellenbauelements (1) zu erhöhen oder zu verringern.
11. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach Anspruch 10, bei dem der Schritt des Erzeu
gens einer Überzugschicht (4) den Schritt des Erzeugens
der Überzugschicht (4) aus entweder einem organischen
Material oder einem anorganischen Material umfaßt.
12. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach Anspruch 11, das ferner folgende Schritte
aufweist:
Bestimmen, ob die Betriebsfrequenz erhöht oder verrin gert werden soll;
Auswählen des anorganischen Materials für die Überzug schicht (4), wenn die Betriebsfrequenz erhöht werden soll, und Auswählen des organischen Materials für die Überzugschicht (4), wenn die Betriebsfrequenz verrin gert werden soll; und
Durchführen des Schritts des Erzeugens der Überzug schicht (4) basierend auf dem Ergebnis des Auswahl schritts.
Bestimmen, ob die Betriebsfrequenz erhöht oder verrin gert werden soll;
Auswählen des anorganischen Materials für die Überzug schicht (4), wenn die Betriebsfrequenz erhöht werden soll, und Auswählen des organischen Materials für die Überzugschicht (4), wenn die Betriebsfrequenz verrin gert werden soll; und
Durchführen des Schritts des Erzeugens der Überzug schicht (4) basierend auf dem Ergebnis des Auswahl schritts.
13. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 10 bis 12, bei dem der
Ätzschritt bei einem atmosphärischen Druck durchgeführt
wird.
14. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 11 bis 13, bei dem das
anorganische Material zumindest ein Material ist, das
aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus SiO2, SiO, ZnO,
Ta2O5, TiO2 und WO3 besteht.
15. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 11 bis 14, bei dem das
organische Material zumindest ein Material ist, das aus
der Gruppe ausgewählt ist, die aus Polyimid, Parylen
und Silikon besteht.
16. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 10 bis 15, bei dem das
Oberflächenwellenbauelement ein Endoberflächen-Refle
xionstyp-Oberflächenwellenbauelement ist.
17. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 10 bis 16, bei das Ober
flächenwellenbauelement eine Bleustein-Gulyaev-Shimi
zu-Welle verwendet.
18. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach einem der Ansprüche 10 bis 17, bei dem der
Ätzschritt unter Verwendung eines Lasers durchgeführt
wird.
19. Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauele
ments nach Anspruch 13, bei dem der Schritt des Bestim
mens, ob die Betriebsfrequenz erhöht oder verringert
werden soll, die Schritte des Untersuchens einer Fre
quenzcharakteristik des Oberflächenwellenbauelements,
um eine tatsächliche Betriebsfrequenz zu bestimmen, und
des Vergleichens der tatsächlichen Betriebsfrequenz mit
einer gewünschten Betriebsfrequenz aufweist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9330575A JPH11163655A (ja) | 1997-12-01 | 1997-12-01 | 弾性表面波装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19854729A1 true DE19854729A1 (de) | 1999-06-10 |
DE19854729C2 DE19854729C2 (de) | 2001-05-03 |
Family
ID=18234196
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19854729A Expired - Lifetime DE19854729C2 (de) | 1997-12-01 | 1998-11-26 | Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements und zum Einstellen von dessen Beriebsfrequenz |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6185801B1 (de) |
JP (1) | JPH11163655A (de) |
KR (1) | KR100302969B1 (de) |
CN (1) | CN1206751C (de) |
DE (1) | DE19854729C2 (de) |
NL (1) | NL1010688C2 (de) |
SG (1) | SG94318A1 (de) |
TW (1) | TW404090B (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19949739C1 (de) * | 1999-10-15 | 2001-08-23 | Karlsruhe Forschzent | Massesensitiver Sensor |
DE102009019523A1 (de) * | 2009-04-30 | 2010-11-11 | Epcos Ag | Verfahren zum Trimmen eines SAW Bauelements |
DE10118408B4 (de) * | 2000-04-13 | 2012-03-01 | Murata Mfg. Co., Ltd. | Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3712035B2 (ja) * | 1999-04-28 | 2005-11-02 | 株式会社村田製作所 | 表面波装置の製造方法 |
JP3317274B2 (ja) * | 1999-05-26 | 2002-08-26 | 株式会社村田製作所 | 弾性表面波装置及び弾性表面波装置の製造方法 |
DE19949738A1 (de) * | 1999-10-15 | 2001-05-23 | Karlsruhe Forschzent | Verfahren zur Herstellung von Oberflächenwellensensoren und Oberflächenwellensensor |
JP3485067B2 (ja) | 2000-05-22 | 2004-01-13 | 株式会社村田製作所 | ラッピング加工方法およびラッピング装置 |
JP2002217672A (ja) * | 2001-01-12 | 2002-08-02 | Murata Mfg Co Ltd | 弾性表面波装置およびそれを用いた通信機装置 |
US6650205B2 (en) * | 2001-03-29 | 2003-11-18 | Clarisay, Inc. | Wafer-scale package for surface acoustic wave circuit and method of manufacturing the same |
JP4063000B2 (ja) * | 2001-08-14 | 2008-03-19 | 株式会社村田製作所 | 端面反射型表面波フィルタ |
JP3945363B2 (ja) * | 2001-10-12 | 2007-07-18 | 株式会社村田製作所 | 弾性表面波装置 |
JP4704660B2 (ja) * | 2002-12-18 | 2011-06-15 | 株式会社日立製作所 | 記憶デバイス制御装置の制御方法、記憶デバイス制御装置、及びプログラム |
JP3969311B2 (ja) * | 2003-01-20 | 2007-09-05 | 株式会社村田製作所 | 端面反射型弾性表面波装置 |
JP2005033379A (ja) | 2003-07-09 | 2005-02-03 | Tdk Corp | 薄膜バルク波振動子およびその製造方法 |
JP2009130806A (ja) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波素子及びその製造方法 |
JP2009281887A (ja) * | 2008-05-22 | 2009-12-03 | Fujitsu Ltd | 気圧測定装置および気圧測定方法 |
JP2011023929A (ja) * | 2009-07-15 | 2011-02-03 | Panasonic Corp | 弾性波素子とこれを用いた電子機器 |
US8959734B2 (en) * | 2010-12-16 | 2015-02-24 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method of fabricating a card with piezo-powered indicator by printed electronics processes |
US8976093B2 (en) | 2010-12-16 | 2015-03-10 | Palo Alto Research Center Incorporated | Printed interactive card with piezo-powered indicator |
US20180329271A1 (en) * | 2017-05-11 | 2018-11-15 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Surface Acoustic Wave (SAW) Spatial Light Modulator Device Providing Varying SAW Speed |
JP7195758B2 (ja) * | 2018-04-19 | 2022-12-26 | 株式会社ディスコ | Sawデバイスの製造方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4243960A (en) * | 1978-08-14 | 1981-01-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method and materials for tuning the center frequency of narrow-band surface-acoustic-wave (SAW) devices by means of dielectric overlays |
US4442574A (en) * | 1982-07-26 | 1984-04-17 | General Electric Company | Frequency trimming of saw resonators |
US4435441A (en) * | 1982-12-30 | 1984-03-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method of frequency trimming surface acoustic wave devices |
US4539847A (en) * | 1984-01-03 | 1985-09-10 | Texaco Inc. | Acoustic method and apparatus for measuring thickness of a coating layer on a substrate |
JPH0763131B2 (ja) | 1985-03-13 | 1995-07-05 | 株式会社村田製作所 | 表面波装置の周波数調整方法 |
FR2646309B1 (fr) * | 1989-04-24 | 1997-01-31 | Technomed Int Sa | Procede de fabrication d'un capteur acoustique et capteur acoustique ainsi obtenu, a couche de protection indecollable |
JPH0832392A (ja) | 1994-07-19 | 1996-02-02 | Meidensha Corp | 弾性表面波素子及びその製造方法 |
-
1997
- 1997-12-01 JP JP9330575A patent/JPH11163655A/ja active Pending
-
1998
- 1998-11-16 US US09/192,774 patent/US6185801B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-19 TW TW087119158A patent/TW404090B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-11-20 SG SG9804878A patent/SG94318A1/en unknown
- 1998-11-26 DE DE19854729A patent/DE19854729C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-30 NL NL1010688A patent/NL1010688C2/nl not_active IP Right Cessation
- 1998-12-01 KR KR1019980052193A patent/KR100302969B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-12-01 CN CNB981227805A patent/CN1206751C/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19949739C1 (de) * | 1999-10-15 | 2001-08-23 | Karlsruhe Forschzent | Massesensitiver Sensor |
EP1230541B1 (de) * | 1999-10-15 | 2009-08-12 | Forschungszentrum Karlsruhe GmbH | Massesensitiver sensor |
DE10118408B4 (de) * | 2000-04-13 | 2012-03-01 | Murata Mfg. Co., Ltd. | Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements |
DE102009019523A1 (de) * | 2009-04-30 | 2010-11-11 | Epcos Ag | Verfahren zum Trimmen eines SAW Bauelements |
DE102009019523B4 (de) * | 2009-04-30 | 2014-02-13 | Epcos Ag | Verfahren zum Trimmen eines SAW Bauelements |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1206751C (zh) | 2005-06-15 |
US6185801B1 (en) | 2001-02-13 |
SG94318A1 (en) | 2003-02-18 |
CN1221255A (zh) | 1999-06-30 |
KR100302969B1 (ko) | 2001-09-22 |
JPH11163655A (ja) | 1999-06-18 |
KR19990062681A (ko) | 1999-07-26 |
DE19854729C2 (de) | 2001-05-03 |
NL1010688A1 (nl) | 1999-06-02 |
TW404090B (en) | 2000-09-01 |
NL1010688C2 (nl) | 2002-05-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19854729C2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements und zum Einstellen von dessen Beriebsfrequenz | |
DE60223620T2 (de) | Verfahren und System zur Abstimmung auf Wafer-Ebene von akustischen Volumenwellenresonatoren und Filter | |
DE10330136B4 (de) | Film Bulk Acoustic Resonator (FBAR) und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE10207328B4 (de) | Verfahren zum Liefern unterschiedlicher Frequenzeinstellungen bei einem akustischen Dünnfilmvolumenresonator- (FBAR-) Filter und Vorrichtung, die das Verfahren beinhaltet | |
DE102007000133B4 (de) | Piezoelektrische Dünnschichtvorrichtung | |
DE10207330B4 (de) | Verfahren zum Herstellen akustischer Dünnfilmvolumenresonatoren (FBARs) mit unterschiedlichen Frequenzen auf dem gleichen Substrat durch ein Subtraktionsverfahren und Vorrichtung, die das Verfahren beinhaltet | |
DE2746712C3 (de) | Piezoelektrischer Resonator | |
DE10207329B4 (de) | Verfahren zur Massenbelastung akustischer Dünnfilmvolumenresonatoren (FBARs) zum Erzeugen von Resonatoren mit unterschiedlichen Frequenzen und Vorrichtung, die das Verfahren beinhaltet | |
DE3123410A1 (de) | Akustischer oberflaechenwellen-resonator | |
DE10207324A1 (de) | Verfahren zum Herstellen akustischer Dünnfilmvolumenresonatoren (FBARs) mit unterschiedlichen Frequenzen auf dem gleichen Substrat durch ein Substrationsverfahren und Vorrichtung, die das Verfahren beinhaltet | |
DE4400980A1 (de) | Oberflächenwellenbauelement | |
DE10207342A1 (de) | Verfahren zum Liefern unterschiedlicher Frequenzeinstellungen bei einem akustischen Dünnfilmvolumenresonator- (FBAR-) Filter und Vorrichtung, die das Verfahren beinhaltet | |
DE10207341A1 (de) | Verfahren zum Erzeugen akustischer Dünnfilmvolumenresonatoren (FBARs) mit unterschiedlichen Frequenzen auf einem einzelnen Substrat und Vorrichtung, die das Verfahren beinhaltet | |
DE10143730A1 (de) | Verfahren zum Einstellen eines Frequenzcharakteristikums eines Oberflächenwellenbauelements vom Kantenreflexionstyp und Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements vom Kantenreflexionstyp | |
DE102006019505B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer strukturierten Bodenelektrode in einem piezoelektrischen Bauelement | |
DE19803791B4 (de) | Akustisches Oberflächenwellenbauelement | |
DE112020006401T5 (de) | Wandlerstruktur für einen Eintor-Resonator | |
DE60120052T2 (de) | Dünnschicht, Verfahren zur Herstellung einer Dünnschicht und elektronische Komponente | |
EP3186887B1 (de) | Filterchip und verfahren zur herstellung eines filterchips | |
DE112007000373B4 (de) | Grenzwellenbauelement und Verfahren zum Herstellen desselben | |
DE112009000963T5 (de) | Grenzschallwellenvorrichtung | |
DE10212174A1 (de) | Kantenreflexionsoberflächenwellenfilter | |
DE10248444B4 (de) | Oberflächenwellen-Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen derselben | |
DE112007002113B4 (de) | Grenzflächenschallwellenvorrichtung | |
DE10202856B4 (de) | Oberflächenakustikwellenvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right |