DE19825051A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkristalls und Verfahren zum Abtrennen von Halbleiterscheiben - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkristalls und Verfahren zum Abtrennen von HalbleiterscheibenInfo
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 152
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 title claims abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229960005486 vaccine Drugs 0.000 description 1
- 238000013316 zoning Methods 0.000 description 1
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B47/00—Drives or gearings; Equipment therefor
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C30B33/00—After-treatment of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure
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- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/12—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation involving optical means
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/0058—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/0058—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
- B28D5/0082—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material for supporting, holding, feeding, conveying or discharging work
- B28D5/0088—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material for supporting, holding, feeding, conveying or discharging work the supporting or holding device being angularly adjustable
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10S117/901—Levitation, reduced gravity, microgravity, space
- Y10S117/902—Specified orientation, shape, crystallography, or size of seed or substrate
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10T117/10—Apparatus
- Y10T117/1004—Apparatus with means for measuring, testing, or sensing
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10T117/10—Apparatus
- Y10T117/1004—Apparatus with means for measuring, testing, or sensing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkristalls aus Halbleitermaterial mit möglichst geringer Fehlorientierung des Kristallgitters. Gegenstand der Erfindung ist ferner ein Verfahren zum Abtrennen von Halbleiterscheiben von zwei oder mehreren solcher Einkristalle mittels Drahtsägen. Das Verfahren zur Herstellung des Einkristalls umfaßt folgende Schritte: DOLLAR A a) Herstellen eines Einkristalls mit einer Fehlorientierung des Kristallgitters von höchstens 1,5 DEG ; DOLLAR A b) Anordnen des Einkristalls in einer Weise, daß der Einkristall um zwei Drehachsen gedreht werden kann, wobei die Drehachsen senkrecht zu zwei Ebenen liegen, die von zwei Achsen eines rechtwinkeligen Koordinatensystems mit den Achsen x, y und z aufgespannt werden; DOLLAR A c) Drehen des Einkristalls um die Drehachsen bis die Kristallachse parallel zur x,y-Ebene und parallel zur x,z-Ebene des Koordinatensystems liegt; DOLLAR A e) Anbringen von Druckstücken an den Stirnseiten des Einkristalls; und DOLLAR A f) Drehen des Einkristalls um die Kristallachse, wobei der Einkristall zwischen den Druckstücken in einer Schleifmaschine eingespannt ist, und Abschleifen einer Mantelfläche des Einkristalls bis der Einkristall einen bestimmten, einheitlichen Durchmesser aufweist.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur
Herstellung eines zylinderförmigen Einkristalls aus Halbleiter
material mit möglichst geringer Fehlorientierung des Kristall
gitters. Gegenstand der Erfindung ist ferner ein Verfahren zum
Abtrennen von Halbleiterscheiben von zwei oder mehreren solcher
Einkristalle mittels Drahtsägen.
Das Kristallgitter von zylinderförmigen Einkristallen aus Halb
leitermaterial weist häufig eine bestimmte Fehlorientierung
auf. Eine Fehlorientierung liegt vor, wenn die Kristallachse
und die geometrische Achse des Einkristalls einen bestimmten
Winkel einschließen. Die Kristallachse ist eine die kristallo
graphische Orientierung des Kristallgitters bezeichnende Achse.
Für die Herstellung von elektronischen Bauelementen werden ins
besondere Kristalle aus Silicium benötigt, die beispielsweise
eine <100<, <511<, <110< oder <111< Kristallorientierung auf
weisen. Die Bestimmung der räumlichen Lage der Kristallachse
erfolgt nach einer röntgenoptischen Methode, beispielsweise ge
mäß dem in der deutschen Normvorschrift DIN 50433 (Teil 1) be
schriebenen Verfahren. Die geometrische Achse eines zylinder
förmigen Einkristalls entspricht der durch die Mitte des Ein
kristalls führenden Längsachse des Einkristalls.
Üblicherweise muß jeder Einkristall untersucht werden, ob eine
Fehlorientierung des Kristallgitters vorliegt, und die Schnei
debenen durch den Einkristall beim Abtrennen von Halbleiter
scheiben so gelegt werden, daß Halbleiterscheiben mit einer ge
wünschten Kristallorientierung entstehen. Dieses Verfahren ist
besonders aufwendig und fehleranfällig.
Die Erfindung stellt ein Verfahren zur Verfügung, das zylinder
förmige Einkristalle mit exakt orientierter Kristallachse zu
gänglich macht.
Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung ei
nes zylinderförmigen Einkristalls aus Halbleitermaterial, der
ein Kristallgitter, eine Kristallachse und eine geometrische
Achse aufweist, wobei die räumliche Lage der Kristallachse
röntgenoptisch festgestellt wird. Das Verfahren ist gekenn
zeichnet durch die folgenden Schritte:
- a) Herstellen eines Einkristalls mit einer Fehlorientierung des Kristallgitters von höchstens 1,5°;
- b) Anordnen des Einkristalls in einer Weise, daß der Einkri stall um zwei Drehachsen gedreht werden kann, wobei die Dreh achsen senkrecht zu zwei Ebenen liegen, die von zwei Achsen ei nes rechtwinkeligen Koordinatensystems mit den Achsen x, y und z aufgespannt werden;
- c) Drehen des Einkristalls um die Drehachsen bis die Kristall achse parallel zur x,y-Ebene und parallel zur x,z-Ebene des Koordinatensystems liegt;
- d) Anbringen von Druckstücken an den Stirnseiten des Einkri stalls; und
- e) Drehen des Einkristalls um die Kristallachse, wobei der Ein kristall zwischen den Druckstücken in einer Schleifmaschine eingespannt ist, und Abschleifen einer Mantelfläche des Einkri stalls bis der Einkristall einen bestimmten, einheitlichen Durchmesser aufweist.
Gegenstand der Erfindung ist weiterhin eine Vorrichtung, die
zur Durchführung des Verfahrens geeignet ist. Die Vorrichtung
ist gekennzeichnet durch
- a) ein Röntgengoniometer zum Feststellen der räumlichen Lage einer Kristallachse des Einkristalls;
- b) eine Dreheinrichtung, auf der der Einkristall gelagert und um zwei Drehachsen gedreht werden kann, wobei die Drehachsen senkrecht zu zwei Ebenen liegen, die von zwei Achsen eines rechtwinkeligen Koordinatensystems mit den Achsen x, y und z aufgespannt werden; und
- c) Mittel zum Anbringen von Druckstücken an den Stirnseiten des Einkristalls.
Zur Durchführung des Verfahrens ist ein Einkristall bereitzu
stellen, der zweckmäßigerweise gemäß der Czochralski-Methode
(CZ-Verfahren) oder durch Zonenziehen (FZ-Verfahren) herge
stellt wurde. Zur Herstellung des Einkristalls wird ein Impf
kristall benötigt, der vorzugsweise aus einkristallinem Materi
al herausgetrennt wird. Bei der Gewinnung des Impfkristalls ist
zu beachten, daß das Kristallgitter des Impfkristalls eine
Fehlorientierung von höchstens 1,5° aufweist. Der auf dem
Impfkristall aufwachsende Einkristall darf ebenfalls eine
Fehlorientierung von höchstens 1,5°, vorzugsweise 0,5° auf
weisen, das heißt, der Winkel zwischen der geometrischen Achse
des Einkristalls und der Kristallachse des Einkristalls darf
den angegebenen Maximalwert nicht überschreiten.
Ein gemäß Schritt a) des Verfahrens hergestellter Einkristall
wird erfindungsgemäß in einer Weise angeordnet, daß er um zwei
Drehachsen gedreht werden kann, die senkrecht zu zwei Ebenen
liegen, die von zwei Achsen eines rechtwinkeligen Koordinaten
systems mit den Achsen x, y und z aufgespannt werden. In dieser
Lage wird der Einkristall um die Drehachsen gedreht, bis die
Kristallachse parallel zur x,y-Ebene und parallel zur x,z-Ebene
des Koordinatensystems liegt. Die Drehachsen schneiden sich
vorzugsweise in der Mitte L/2 des Einkristalls, wobei L die
Länge des Einkristalls ist. Liegt der Schnittpunkt genau in der
Mitte L/2 und sind die Länge L und der Enddurchmesser des ge
schliffenen Einkristalls vorgegeben, können bei dieser Lage des
Schnittpunktes der Drehachsen Fehlorientierungen der Kristall
achse beseitigt werden, die bei jeder anderen Lage des
Schnittpunktes der Drehachsen nicht mehr zu korrigieren wären,
ohne daß der vorgegebene Enddurchmesser beim Schleifen der Man
telfläche unterschritten werden müßte.
Das Verfahren und eine zur Durchführung des Verfahrens geeigne
te Vorrichtung werden nachfolgend unter Bezugnahme auf Figuren
näher erläutert.
Fig. 1 zeigt schematisch, wie ein Einkristall gemäß einer Aus
führungsform des Verfahrens im Raum bewegt werden muß, um eine
möglichst geringe Fehlorientierung des Kristallgitters zu er
reichen;
in Fig. 2 ist gezeigt, wie sich dieses Ziel gemäß einer anderen
Ausführungsform des Verfahrens verwirklichen läßt.
In Fig. 3 ist eine bevorzugte Vorrichtung zur Durchführung des
erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt.
Bei der in Fig. 1 gezeigten Verfahrensvariante wird der Ein
kristall 1 um die Drehachsen 2 und 3 gedreht, die einen 90°-
Winkel einschließen und sich bei L/2 schneiden. Die Drehachse 2
liegt senkrecht zur x,y-Ebene des Koordinatensystems, die Dreh
achse 3 senkrecht zur x,z-Ebene. Die Achse 4 ist die geometri
sche Achse des Einkristalls. Die Drehachse 2 wird um einen, dem
Winkel α entsprechenden Winkel, und die Drehachse 3 um einen,
dem Winkel β entsprechenden Winkel gedreht. Die Lage der Kri
stallachse 5 im Koordinatensystem wird röntgenoptisch festge
stellt. Zu diesem Zweck trifft der Strahl eines Röntgengoniome
ters an einer Stirnseite des Einkristalls auf. Das Drehen des
Einkristalls kann automatisch geregelt erfolgen oder durch ei
nen Operator vorgenommen werden. Als Regelgröße dient die In
tensität der am Kristallgitter gestreuten Röntgenstrahlung. Das
Röntgengoniometer wird vorzugsweise so justiert, daß die Inten
sität der registrierten Röntgenstrahlung beim Drehen des Ein
kristalls jeweils ein Maximum erreicht, wenn die Kristallachse
parallel zur x,y-Ebene, beziehungsweise parallel zur x,z-Ebene
ausgerichtet ist. Der Operator hat dann keine Mühe, den Einkri
stall in die gewünschte Position zu drehen.
Bei der in Fig. 2 gezeigten Verfahrensvariante wird der Einkri
stall zunächst um die geometrische Achse 4 gedreht, bis die
Kristallachse 5 parallel zur x,y-Ebene liegt. Der Einkristall
ist so angeordnet, daß die geometrische Achse senkrecht zur
y,z-Ebene des Koordinatensystems liegt. Gemäß der Darstellung
muß der Einkristall um einen Winkel α' gedreht werden. An
schließend wird der Einkristall 1 um einen Winkel β' gedreht.
Als Drehachse wird eine Achse 2 gewählt, die senkrecht zur x,y-
Ebene des Koordinatensystems liegt. Nach dem Drehen des Einkri
stalls ist die Kristallachse 5 parallel zur x,y-Ebene und par
allel zur x,z-Ebene ausgerichtet.
In Fig. 3 ist eine Vorrichtung dargestellt, mit der ein Einkri
stall in der anhand von Fig. 2 beschriebenen Weise gedreht wer
den kann. Die Vorrichtung umfaßt ein Röntgengoniometer 6, eine
Dreheinrichtung 7 und Mittel 8 zum Anbringen von Druckstücken 9
an den Stirnseiten 10 des Einkristalls 1. Der Einkristall ist
mit Hilfe von Zentrierringen 11 so auf der Dreheinrichtung ge
lagert, daß er um die geometrische Achse 4 und die Drehachse 2
drehbar ist. Besonders bevorzugt ist, Zentrierringe 11 zu ver
wenden, deren Innenradius wie der Innenradius einer Irisblende
verengt werden kann. Die geometrische Achse 4 liegt senkrecht
zur y,z-Ebene des Koordinatensystems, die Drehachse 2 senkrecht
zu dessen x,y-Ebene. Die Dreheinrichtung ist auf einem Tisch 14
angeordnet und kann auf diesem beispielsweise zum Justieren
des Röntgengoniometers, linear verschoben werden. Zur Erleich
terung des Justierens kann eine Anschlagrolle 15 bereitgestellt
werden, die so angeordnet ist, daß eine optimale Justierung
vorliegt, sobald die Stirnseite 10 des Einkristalls die An
schlagrolle beim linearen Verschieben der Dreheinrichtung be
rührt.
Es ist klar, daß die Vorrichtung ohne weiteres so abgewandelt
werden kann, daß der Einkristall mit der Dreheinrichtung statt
um die geometrische Achse 4 um eine Drehachse gedreht werden
kann, die senkrecht zur x,z-Ebene des Koordinatensystems liegt
und die andere Drehachse vorzugsweise bei L/2 schneidet. In
diesem Fall kann mit der Vorrichtung die Verfahrensvariante ge
mäß Fig. 1 durchgeführt werden.
Wenn die Kristallachse in der gewünschten Weise ausgerichtet
ist, werden Druckstücke 9 an die Stirnseiten 10 des Einkri
stalls herangeführt und an diesen fixiert, vorzugsweise an die
se aufgeklebt. Druckstücke sind Halterungen, zwischen denen der
Einkristall beim Schleifen der Mantelfläche in einer Schleifma
schine eingespannt ist. Die Druckstücke werden so an die Stirn
seiten gesetzt, daß sie von der Kristallachse zentrisch durch
drungen werden und die Kristallachse während des Schleifens der
Mantelfläche des Einkristalls auch Rotationsachse ist. Zum An
setzen der Druckstücke verfügt die Vorrichtung über einen Vor
schub 13, der die Druckstücke entlang der Kristallachse linear
gegen die Stirnseiten verschiebt. Es hat sich als vorteilhaft
erwiesen, daß die Druckstücke von einer magnetisierten Kugel
gehalten werden, bevor sie auf den Stirnseiten des Einkristalls
befestigt werden. Die Druckstücke können dadurch auch dann noch
exakt positioniert werden, wenn die Stirnseiten nicht genau
parallel zur y,z-Ebene des Koordinatensystems ausgerichtet sein
sollten.
Zum Schluß des Verfahrens wird die Mantelfläche 12 des Einkri
stalls geschliffen, bis der Einkristall einen vorbestimmten,
einheitlichen Enddurchmesser aufweist.
Die Erfindung ermöglicht, Einkristalle, die auf die beschriebe
ne Weise hergestellt wurden, einfach und effektiv zu Halblei
terscheiben zu zerteilen. Die Halbleiterscheiben werden vor
zugsweise mittels einer Drahtsäge und unter Ausnutzung der ge
samten Breite eines als Sägewerkzeug eingesetzten Drahtgatters
der Drahtsäge von einem Einkristall mit ausreichender Länge
oder von zwei oder mehreren kürzeren Einkristallen mit einer
der Breite des Drahtgatters möglichst entsprechenden Gesamtlän
ge abgetrennt. Die dazu notwendigen Vorarbeiten, insbesondere
im Hinblick auf das richtige Ausrichten von zwei oder mehreren
Einkristallen sind denkbar einfach, wobei Fehler kaum gemacht
werden können. Die Einkristalle mit einer der Breite des Draht
gatters möglichst entsprechenden Gesamtlänge werden auf einer
ebenen Unterlage entlang einer geraden Führungskante nebenein
ander so angeordnet, daß die Mantelfläche jedes Einkristalls an
der Führungskante anliegt. Die Führungskante dient zur raschen
und einfachen Ausrichtung der Einkristalle. Sie kann wieder
entfernt werden, sobald die Einkristalle auf der Unterlage fi
xiert sind. Die Einkristalle können beispielsweise auf die Un
terlage geklebt werden und bleiben auch nach dem Entfernen der
Führungskante entlang einer geraden Linie ausgerichtet. Durch
präzises Einstellen des Winkels zwischen den Drähten des Draht
gatters der Drahtsäge und dieser Linie während des Abtrennens
der Halbleiterscheiben, können Halbleiterscheiben mit genau
vorbestimmter Kristallorientierung erzeugt werden. Beträgt der
Winkel 90°, entspricht die Kristallorientierung genau der Kri
stallorientierung des zylinderförmigen Einkristalls. Mit einem
von 90° abweichendem Winkel können Fehlorientierungen gezielt
eingestellt werden.
Claims (10)
1. Verfahren zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkri
stalls aus Halbleitermaterial, der ein Kristallgitter, eine
Kristallachse und eine geometrische Achse aufweist, wobei
die räumliche Lage der Kristallachse röntgenoptisch festge
stellt wird, das gekennzeichnet ist durch
- a) Herstellen eines Einkristalls mit einer Fehlorientierung des Kristallgitters von höchstens 1,5°;
- b) Anordnen des Einkristalls in einer Weise, daß der Einkri stall um zwei Drehachsen gedreht werden kann, wobei die Drehachsen senkrecht zu zwei Ebenen liegen, die von zwei Achsen eines rechtwinkeligen Koordinatensystems mit den Ach sen x, y und z aufgespannt werden;
- c) Drehen des Einkristalls um die Drehachsen bis die Kri stallachse parallel zur x,y-Ebene und parallel zur x,z-Ebene des Koordinatensystems liegt;
- d) Anbringen von Druckstücken an den Stirnseiten des Einkri stalls; und
- e) Drehen des Einkristalls um die Kristallachse, wobei der Einkristall zwischen den Druckstücken in einer Schleifma schine eingespannt ist, und Abschleifen einer Mantelfläche des Einkristalls bis der Einkristall einen bestimmten, ein heitlichen Durchmesser aufweist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine
Achse als Drehachse gewählt wird, die senkrecht zur x,y-
Ebene des Koordinatensystzems liegt, und eine Achse als
Drehachse gewählt wird, die senkrecht zur x,z-Ebene des Ko
ordinatensystems liegt.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
geometrische Achse des Einkristalls als Drehachse gewählt
wird und eine Achse als Drehachse gewählt wird, die senk
recht zur x,y-Ebene des Koordinatensystems liegt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Einkristall derartig angeordnet wird, daß
sich die Drehachsen in der Mitte L/2 des Einkristalls
schneiden, wobei L die Länge des Einkristalls ist.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß ein Impfkristall, dessen Kristallgitter um
höchstens 1,5° fehlorientiert ist, aus einem Mutterkristall
herausgetrennt wird und der Einkristall auf dem Impfkristall
gezüchtet wird.
6. Verfahren zur Herstellung von Halbleiterscheiben mittels
Drahtsägen, wobei zwei oder mehrere zylindrische Einkristalle
gleichzeitig von einem Drahtgatter einer Drahtsäge bear
beitet werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Einkristalle
nach einem Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5 her
gestellt werden und gleiche Durchmesser und gleiche Kristall
orientierung haben, und beim Drahtsägen in einer Weise ne
beneinander angeordnet sind, daß die Einkristalle mit den
Mantelflächen an einer geraden Führungskante anliegen wür
den.
7. Vorrichtung zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkri
stalls aus Halbleitermaterial mit möglichst geringer Fehl
orientierung des Kristallgitters, gekennzeichnet durch
- a) ein Röntgengoniometer zum Feststellen der räumlichen Lage einer Kristallachse des Einkristalls;
- b) eine Dreheinrichtung, auf der der Einkristall gelagert und um zwei Drehachsen gedreht werden kann, wobei die Dreh achsen senkrecht zu zwei Ebenen liegen, die von zwei Achsen eines rechtwinkeligen Koordinatensystems mit den Achsen x, y und z aufgespannt werden; und
- c) Mittel zum Anbringen von Druckstücken an den Stirnseiten des Einkristalls.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch einen
Tisch, auf dem die Dreheinrichtung linear bewegbar montiert
ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder Anspruch 8, gekennzeichnet
durch Mittel, die sicherstellen, daß das Röntgengoniometer
in gewünschter Weise justiert ist.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, gekennzeich
net durch Zentrierringe, die um eine Mantelfläche des Ein
kristalls gelegt sind.
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JP11155419A JP3032979B2 (ja) | 1998-06-04 | 1999-06-02 | 円柱形単結晶の製造方法及び装置、並びに半導体ウェ―ハの切断方法 |
TW088109178A TW453939B (en) | 1998-06-04 | 1999-06-03 | Process and device for producing cylindrical single crystals and process for cutting semiconductor wafers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19825051A DE19825051A1 (de) | 1998-06-04 | 1998-06-04 | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkristalls und Verfahren zum Abtrennen von Halbleiterscheiben |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19825051A1 true DE19825051A1 (de) | 1999-12-09 |
Family
ID=7869937
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19825051A Withdrawn DE19825051A1 (de) | 1998-06-04 | 1998-06-04 | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkristalls und Verfahren zum Abtrennen von Halbleiterscheiben |
DE59900416T Expired - Lifetime DE59900416D1 (de) | 1998-06-04 | 1999-05-27 | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkristalls und Verfahren zum Abtrennen von Halbleiterscheiben |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE59900416T Expired - Lifetime DE59900416D1 (de) | 1998-06-04 | 1999-05-27 | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines zylinderförmigen Einkristalls und Verfahren zum Abtrennen von Halbleiterscheiben |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6159284A (de) |
EP (1) | EP0962284B1 (de) |
JP (1) | JP3032979B2 (de) |
KR (1) | KR100291047B1 (de) |
DE (2) | DE19825051A1 (de) |
TW (1) | TW453939B (de) |
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1999
- 1999-05-25 US US09/318,657 patent/US6159284A/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-05-25 KR KR1019990018842A patent/KR100291047B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-05-27 EP EP99109278A patent/EP0962284B1/de not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000026200A (ja) | 2000-01-25 |
TW453939B (en) | 2001-09-11 |
US6159284A (en) | 2000-12-12 |
KR20000005711A (ko) | 2000-01-25 |
EP0962284B1 (de) | 2001-11-14 |
JP3032979B2 (ja) | 2000-04-17 |
EP0962284A1 (de) | 1999-12-08 |
DE59900416D1 (de) | 2001-12-20 |
KR100291047B1 (ko) | 2001-05-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8130 | Withdrawal |