DE19749832A1 - Verfahren zum Entfernen und/oder Aufbringen von leitendem Material - Google Patents
Verfahren zum Entfernen und/oder Aufbringen von leitendem MaterialInfo
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Description
Die Erfindung geht aus von einem Verfahren zum Entfernen
und/oder Aufbringen von leitendem Material gemäß dem Oberbegriff
der unabhängigen Ansprüche.
Es ist bekannt, Leiterplatinen chemisch zu ätzen, indem deren
Kupferschicht mit einer Ätzmaske versehen wird und Kupfer an den
Stellen chemisch weggeätzt wird, wo die Ätzmaske nicht vorhanden
ist. Dieses ist nachteilig z. B. unter Umweltaspekten, da die
chemische Flüssigkeit weiterhin mit Kupfer angereichert wird und
wenn die Flüssigkeit verbraucht ist, sie nicht oder nur mit
großem Einsatz an Energie und Ressourcen wieder aufbereitet
werden kann und auch schwer entsorgbar ist.
Es ist weiterhin bekannt, Metallschichten auf elektrischem Wege
auf Metalloberflächen abzuscheiden, um deren Eigenschaften
spezifischen Anforderungen anzupassen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu
schaffen, um auf elektrischem Wege entweder leitendes Material
auf einen isolierenden Träger aufzubringen oder von diesem zu
entfernen. Diese Aufgabe wird durch die in den unabhängigen
Ansprüchen angegebene Erfindung gelöst. Vorteilhafte
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
angegeben.
Das erfindungsgemäße Verfahren zum Entfernen von elektrisch
leitendem Material von einer Leiterplatte auf der eine Ätzmaske
angeordnet ist, die die Leiterstruktur abdeckt und bei welcher
sich aufgrund der gewünschten Leiterstruktur, nicht
zusammenhängende Flächen ausbilden können, zeichnet sich dadurch
aus, daß folgende Schritte durchgeführt werden:
- a) die Leiterplatte wird zusammen mit einer Elektrode in eine Elektrolytflüssigkeit gegeben,
- b) an die Leiterplatte und der Elektrode werden Spannungen mit geeignetem unterschiedlichen Potential angelegt und
- c) von der Leiterplatte wird elektrisch leitendes Material entfernt.
Vorteilhaft ist hierbei, daß keine chemischen Mittel verwendet
werden, sondern auf elektro-galvanischem Weg eine Ätzung
vorgenommen wird. Das elektrisch leitenden Material ist
vorzugsweise Kupfer und wird von der Platine entfernt durch den
potentialunterschied zwischen Kathode und Anode und lagert sich
an der Kathode ab. Das Elektrolyt wird verwendet, damit zwischen
Platine die, die Anode bildet und Elektrode die, die Kathode
bildet eine leitende Verbindung entsteht. Die leitende
Verbindung ist derart zu verstehen, daß aufgrund der
unterschiedlichen Potentiale die Ionen aus CU und SO4 im
Elektrolyt wandern, um zu der negativ geladenen Kathode zu
kommen. Das Elektrolyt ist beispielsweise eine wässerige
Kupfersulfat Lösung.
Weiterhin kann das Verfahren dadurch gekennzeichnet sein, daß
die Leiterplatte eine erste Zone durchläuft in der sich nur die
elektrolytische Flüssigkeit und die Elektrode befindet und daß
die Leiterplatte eine zweite Zone durchläuft in der sich neben
der elektrolytische Flüssigkeit und der Elektrode eine Bürste
befindet an der dasselbe Potential anliegt wie an der
Leiterplatte und daß beim Durchlaufen der zweiten Zone ein
flächenhafter elektrischer Kontakt zu allen Bereichen der
Leiterplatte geschaffen wird.
Das Durchlaufen der beiden Zonen hat den Vorteil, daß in der
ersten Zone großflächig Kupfer entfernt wird und in der zweiten
Zone die Reste entfernt werden, die sich als Inselform
ausgebildet haben. Inselform ist derartig zu verstehen, daß
nicht das gesamte Kupfer entfernt worden ist. Da dann auch kein
direkter Kontakt zur positiven Spannung besteht, wird diese
Insel als solche nicht entfernt. Durch Durchlaufen der zweiten
Zone mit den Bürsten ist dieses wiederum aber möglich, da die
Bürstenhaare die positive Spannung auf die Inselfläche bringen,
so wieder ein potentialunterschied zwischen Anode und Kathode
besteht und die Insel dann entfernt werden kann. Die
Bürstenhaare sind aus chemisch sehr resistentem Material
auszubilden, damit ein guter Kontakt und eine lange Lebensdauer
gewährleistet ist.
Ferner kann das Verfahren dadurch gekennzeichnet sein, daß die
Leiterplatte zunächst außerhalb des Elektrolyts angebracht wird
und während des Prozesses entsprechend dem Ätzfortschritt in das
Bad eingeführt wird und/oder daß zwischen der Elektrode und der
Leiterplatte eine Isolationsschicht eingefügt wird, und daß so
eine Grenzzone zwischen Elektrode und Leiterplatte gewonnen
wird.
Ferner kann das Verfahren dadurch gekennzeichnet sein, daß eine
linienförmige Elektrode in geringem Abstand an der Leiterplatte
vorbei bewegt wird, wodurch eine bewegte Ätzzone auf der
Leiterplatte gebildet wird.
Vorteilhaft beim Schaffen der Grenzzone ist, daß die Bürsten
nicht verwendet werden müssen. Durch die Grenzzone wird
großflächig an einem bestimmten Punkt ein Potentialunterschied
geschaffen, so daß eine Inselbildung hier so gut wie
ausgeschlossen ist. Gleiches wird erreicht wenn die Elektrode
als Stab ausgebildet ist. Hier wird dann auch für einen
bestimmte Bereich der Potentialunterschied erhöht, so daß das
Kupfer sich löst.
Eine Leiterplatte hergestellt nach dem Verfahren zeichnet sich
dadurch aus, daß das leitende Material auf der Leiterplatte
verbleibt welches durch die Ätzmaske abgedeckt wurde.
Das erfindungsgemäße Verfahren zum Aufbringen von elektrisch
leitendem Material auf eine Leiterplatte auf der die
Leiterstruktur abgebildet ist, zeichnet sich dadurch aus, daß
eine Bürste und eine Elektrode in eine Elektrolytflüssigkeit
gegeben wird und an der Bürste und der Elektrode ein
unterschiedliches Potential angelegt wird, die vorher bekeimte
Leiterplatte unter den Bürsten entlang bewegt wird und direkten
Kontakt zu den Bürsten besteht und auf die Leiterplatte
elektrisch leitendes Material aufgetragen wird.
Die Elektrode ist vorzugsweise als Kupferelektrode ausgestaltet
und bildet die Anode, da die positive Spannung angelegt ist. An
den Bürsten wird eine negative Spannung ausgelegt und diese
bilden die Kathode. Die Platinen sind Palladium bekeimt, d. h.
die Leiterbahnen, welche bekupfert werden soll, werden auf diese
Art aktiviert. Wenn nun über den Bürsten die Spannung auf die
palladium-bekeimte Fläche gelangt, lösen sich von der Anode Ionen
und setzen sich in den Palladium bekeimten Flächen fest. Auf
diese Art und Weise wird die Kupferleiterbahnschicht gewonnen.
Dadurch, daß die Platine mehrere Bürsten durchläuft und ständig
ein Kontakt zwischen Bürste und Leiterbahn besteht, werden auch
weiterhin Ionen von der positiven Anode in Richtung
Kupferleiterbahn fließen und sich dort ablagern. Vorteilhaft ist
hierbei, daß nur das Kupfer verwendet wird, welches auch
wirklich benötigt wird.
Weiterhin kann das Verfahren dadurch gekennzeichnet sein, daß
nach Entfernen der Leiterplatte aus der Elektrolytflüssigkeit
das Potential der Elektrode und der Bürste gewechselt wird und
das leitende Material von der Bürste zurück an die Elektrode
abgegeben wird.
Da das Kupfer sich zum einen auf der Platine ablagert, zum
anderen aber auch auf den Bürsten, wird durch eine
Umpolarisation der Anode und Kathode gewährleistet, daß das
Kupfer von den Bürsten in Richtung Elektrode wandert.
Eine Leiterplatte hergestellt nach dem Verfahren zeichnet sich
dadurch aus, an den Stellen leitendes Material aufgetragen ist
die der abgebildeten Leiterstruktur entsprechen.
Das erfindungsgemäße Verfahren zum Aufbringen und Entfernen von
leitendem Material auf einer vorher aktivierten Leiterplatte,
zeichnet sich dadurch aus, daß
- a) eine Bürste und eine Elektrode in eine Elektrolytflüssigkeit gegeben werden, an der Bürste und der Elektrode Spannungen mit unterschiedlichem Potential angelegt werden, die Leiterplatte unter den Bürsten entlang bewegt wird und direkten Kontakt zu den Bürsten besteht und auf die Leiterplatte eine dünne Schicht elektrisch leitendes Material aufgetragen wird,
- b) zwischen Elektrode und Leiterplatte in der elektrolytischen Flüssigkeit keine Bürste angeordnet wird und eine dicke leitende Schicht aufgetragen wird, an den Stellen, wo sich keine Ätzmaske befindet und
- c) eine Bürste und eine Elektrode in eine Elektrolytflüssigkeit gegeben werden, an der Bürste und der Elektrode Spannungen mit unterschiedlichem Potential angelegt werden, die Leiterplatte unter den Bürsten entlang bewegt wird und direkten Kontakt zu den Bürsten besteht und von der Leiterplatte eine dünne Schicht elektrisch leitendes Material abgegeben wird.
Bei diesem erfindungsgemäßen Verfahren werden drei Schritte
durchgeführt. Zum einen wird auf der Platine eine
Gesamtkupferschicht von ca. 1-5 µm aufgetragen. Im nächsten
Schritt wird an den Flächen, wo sich keine Ätzmaske befindet,
die zu Beginn dieses Schrittes aufgetragen wurde, das Kupfer
verstärkt um ca. 30-40 µm. Im letzten Schritt wird großflächig
eine 1-5 µm dicke Schicht abgetragen, so daß die Leiter aus ca.
30-40 µm dicken Schichten bestehen und ansonsten sich kein
leitendes Material zwischen den einzelnen Leitern mehr befindet.
Bei diesem Verfahren wird relativ verlustfrei gearbeitet, da das
Kupfer sich entweder auf der Platine oder auf der Elektrode
befindet.
Eine Leiterplatte hergestellt nach dem Verfahren zeichnet sich
dadurch aus, daß an den Stellen leitendes Material aufgetragen
ist die der abgebildet Leiterstruktur entsprechen.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zum Entfernen von leitendem
Material von einer Leiterplatte auf der eine Ätzmaske angeordnet
ist, die die Leiterstruktur abdeckt zeichnet sich dadurch aus,
daß in einer elektrolytischen Flüssigkeit eine Elektrode
vorhanden ist, die an einen ersten Pol einer Spannungsquelle
angeschlossen ist und die Kathode bildet, daß die Leiterplatte
Kontakt zu einem zweiten Pol der Spannungsquelle hat und die
Leiterplatte so die Anode bildet.
Ferner kann sich die Vorrichtung dadurch auszeichnen, daß zwei
Zonen eingerichtet sind.
Auch kann sich die Vorrichtung dadurch auszeichnen, daß in der
ersten Zone zwischen Elektrode und Leiterplatte nur die
elektrolytische Flüssigkeit angeordnet ist, daß in der zweiten
Zone zwischen Leiter und Leiterplatte in der elektrolytischen
Flüssigkeit eine Bürste angeordnet ist.
Weiterhin kann sich die Vorrichtung dadurch auszeichnen, daß die
Bürste an den zweiten Pol der Spannungsquelle angeschlossen ist
und Mittel vorgesehen sind, die die Leiterplatte unter der
Bürste derart entlangführt, daß ein direkter Kontakt zur
Leiterplatte besteht.
Als nächstes kann sich die Vorrichtung dadurch auszeichnen, daß
zwischen der Elektrode und der Leiterplatte eine
Isolationsschicht angeordnet ist, derart, daß eine Grenzzone
zwischen Elektrode und Leiterplatte entsteht.
Auch kann sich die Vorrichtung dadurch auszeichnen, daß die
Elektrode als Flächenelektrode, Rundelektrode oder Eckelektrode
ausgebildet ist.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zum Aufbringen von leitendem
Material auf eine Leiterplatte auf der die Leiterstruktur
abgebildet ist abdeckt zeichnet sich dadurch aus, daß
eine Bürste und eine Elektrode in eine Elektrolytflüssigkeit
angeordnet sind, an der Bürste und der Elektrode Spannungen mit
unterschiedlichem Potential angelegt sind, und Mittel vorgesehen
sind, die die Leiterplatte unter der Bürste derart entlangführt,
daß ein direkter Kontakt zur Leiterplatte besteht.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zum Aufbringen und Entfernen
von leitendem Material auf eine Leiterplatte auf der die
Leiterstruktur abgebildet oder abdeckt ist, zeichnet sich
dadurch aus, daß
- a) in einer elektrolytischen Flüssigkeit eine Elektrode vorhanden ist, die an einen ersten Pol einer Spannungsquelle angeschossen ist und die Anode bildet, daß in der elektrolytischen Flüssigkeit eine Bürste angeordnet ist die an einen zweiten Pol der Spannungsquelle angeschlossen ist und so die Kathode bildet,
- b) zwischen Elektrode und Leiterplatte in der elektrolytischen Flüssigkeit keine Bürste angeordnet sind und eine dicke leitende Schicht aufgetragen wird, an den Stellen, wo sich keine Ätzmaske befindet,
- c) daß in einer elektrolytischen Flüssigkeit ein Elektrode vorhanden ist, die an den ersten Pol einer Spannungsquelle angeschossen ist und die Kathode bildet, daß in der elektrolytischen Flüssigkeit eine Bürste angeordnet die an den zweiten Pol der Spannungsquelle angeschlossen ist und so die Anode bildet.
Die Inselbildung im Ätzverfahren kann auch durch entsprechende
Layoutgestaltung vermieden werden, z. B. dadurch, daß nur die
Konturen der Insel weggeätzt werden und die Insel selbst, welche
normalerweise keine Funktion hat, gezielt stehen bleibt. Die
Breite der geätzte Zone kann so ca. 0.5 bis 1 mm betragen. Ein
weiterer Vorteil dieser Methode ist, daß weniger Strom, dem zu
folge auch Energie benötigt wird.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnung an mehreren
Ausführungsbeispielen erläutert. In der Zeichnung zeigen
Fig. 1 eine Zweizonentechnik mit Bürsten,
Fig. 2 eine Isolationsschicht zwischen Anode und Kathode,
Fig. 3 einen Rundelektrode,
Fig. 4 Bürstentechnik mit Aufbringen von leitendem Material,
Fig. 5 Bürstentechnik mit Auf- und Abbringen von leitendem
Material.
Fig. 1a zeigt eine Elektrode ELC, die als Kathode K geschaltet
ist d. h. mit der Spannung -U verbunden ist. Weiterhin sind
Bürsten B und Platinen PL dargestellt. Die Platine PL stellt die
Leiterplatte dar. Die Bürsten B und die Platinen PL sind an die
Spannung +U angeschlossen und bilden die Anode A. Die Kathode K,
die Anode A befinden sich in einer elektrolytischen Flüssigkeit
E. Weiterhin sind zwei Zonenbereiche Z1 und Z2 dargestellt, die
später erläutert werden. Ein Schleifer S dient dazu Kontakt von
der Spannungsquelle +U zur Platine PL zu geben. Auch ist es
möglich anstelle des Schleifers eine bewegliche Stromzuführung
zu verwenden. Folgendermaßen arbeitet das Verfahren. Die Platine
PL wird in Richtung R entlang der Kathode K geschoben. Die
Platine PL hat einen gleichmäßigen Abstand zur Kathode K.
Aufgrund des Potentialunterschiedes und der elektrolytischen
Flüssigkeit E findet nun ein elektrolytisches Ätzverfahren
statt. Das heißt, die Leiterbahnen, welche nicht von einer
Ätzmaske abgedeckt sind, werden entfernt.
Durch die inhomogene Stromverteilung, aufgrund der großflächen
Elektrode, kann es zu einer Inselbildung kommen, wie in Fig. 1b
dargestellt. Das heißt, die Kupferschicht ist bis auf einen
geringen Teil abgetragen worden. Da nun der Schleifer S keinen
Kontakt mehr zu dem kleinen Reststück I hat, ist kein Stromfluß
mehr vorhanden und ein vollständiges Entfernen des Kupferbelages
wäre nicht gegeben. Aus diesem Grund wird nach Verlassen der
Zone 1 in der Zone 2 eine oder mehrere Bürsten dafür sorgen, daß
die Spannung +U auf die übriggebliebenen Inseln I gelangt, so
daß ein Abtrennen erfolgen kann. Die Bürsten dienen zur
flächigen Kontaktierung und durch den direkten Kontakt zur
freien Metallfläche und die Bewegung in Richtung R der
Leiterplatte wird zusätzlich ein Abtrag der Inseln unterstützt.
Die Bürsten bestehen aus hochresistentem Edelmetall, z. B.
Platin, Iridium o. ä. Das entfernte Kupfer Ku schlägt sich auf
der Kathode K nieder und kann so später wiederverwendet werden
oder in den Kupferkreislauf, im Recycling Verfahren,
zurückgeführt werden. Es sei noch angemerkt, daß die Kathode K
so groß ausgestaltet ist, daß sie flächendeckend über den allen
Platinen liegt.
Fig. 2 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel ohne die in Fig. 1
dargestellten Bürsten. Der Leiter ist hier als Kathode K
dargestellt und die Leiterplatte als Platine PL. Dieses ist auch
schon in Fig. 1 der Fall gewesen. Die Isolationsschicht IS
zwischen der Kathode K und der Platine PL ist derart angeordnet,
daß eine Grenzzone GZ gewonnen wird. Es sind ferner die
elektrischen Feldlinien EF, die zwischen der Kathode K und der
Platine PL gebildet werden, dargestellt. Die Kathode K ist mit
der negativen Spannung -U verbunden und die Platine PL mit der
positiven Spannung +U. Die Platine PL bildet die Anode. Die Zone
Z3 ist die nicht geätzte Zone. Die Zone Z4 ist die Zone, welche
derzeit geätzt wird. Die Zone Z5 ist die bereits geätzte Zone.
Mit HE wird der Flüssigkeitsstand des Elektrolytes angezeigt.
Wird nun die Platine PL in Richtung R geführt, findet in der
Grenzzone GZ die elektrolytisches Ätzung statt. Das heißt, die
Teile der Platine PL, welche nicht von der Ätzmaske abgedeckt
sind, werden entfernt. Das Kupfer schlägt sich auf der Kathode K
nieder. Durch die Bildung der Grenzzone GZ und der dortigen
Konzentration des elektrischen Feldes wird die Inselbildung
vermieden.
Fig. 3 zeigt eine Weiterbildung des in Fig. 2 dargestellten
Ausführungsbeispiels. Hier wird die Grenzschicht GZ gewonnen,
indem eine Stabelektrode mit rundem Querschnitt verwendet wird.
Die Abkürzungen in Fig. 3 weisen auf gleiche Bedeutung wie in
Fig. 2 hin. Es ist auch möglich, an Stelle der Rundelektrode
eine Dreieck- oder Vieleckelektrode zu verwenden, um
entsprechende Feldlinien zu erwirken. Anstatt die Leiterplatte
zu bewegen, kann hier auch die Kathode an der ruhenden
Leiterplatte vorbei geführt werden. Es ist auch eine vertikale
Anordnung der Kathode möglich.
Bei den Fig. 1-3 wurde das Kupfer jeweils von der Platine
entfernt.
Fig. 4 zeigt ein Ausführungsbeispiel bei dem an bestimmten
Stellen das Kupfer aufgebracht werden soll. Die Elektrode wird
durch die Anode A dargestellt. Bei der Anode handelt es sich um
eine Kupferanode. Die Anode ist an der Spannung +U
angeschlossen. Die Platinen werden in Richtung R mit konstantem
Abstand zur Anode A entlang geschoben. Die Bürsten B haben
direkten Kontakt zu den Platinen PL und sind an die Spannung -U
angeschlossen und bilden die Kathode K. Die Platine ist Palladium
bekeimt. Dieses bewirkt, daß die Oberfläche leitfähig wird an
den bekeimte Stellen. Die Platine ist derart Palladium bekeimt,
daß die Leiterstruktur abgebildet ist. Wenn nun der
Leiterstruktur mit den Bürsten die negative Spannung -U
zugeführt wird, kommt es aufgrund des Elektrolytes E dazu, daß
das Kupfer von der Anode A auf die bekeimte Fläche gelangt.
Durch dieses Verfahren wird das Kupfer galvanisch
niedergeschlagen und die Leiterbahnen werden geformt. Nachdem
einige Platinen mit dem Verfahren gewonnen wurden, wird die
Spannung an dem Leiter und an den Bürsten umgepolt, so daß das
Kupfer von den Bürsten wieder zum Leiter gelangen kann welches
sich zuvor an den Bürsten niedergeschlagen hat. Das heißt, wie
in Fig. 4b gezeigt, gelangt das Kupfer von den Bürsten B, an
welche nun die Spannung +U angelegt ist, die so und die Anode
bilden, an die Elektrode, die nun Kathode K ist und an die eine
Spannung -U angelegt wird.
Fig. 5 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel. Gleiche
Bezeichnung weist auf die Rückbeziehung zu Fig. 4 hin. In Fig.
5a wird eine Kupferlage vollflächig aufgebracht mit der Dicke
von ca 3 µm. In Fig. 5b sind die Platinen mit einer Ätzmaske
versehen, d. h. in diesem Fall aber, daß an den Stellen, wo die
Ätzmaske nicht liegt, das Kupfer verstärkt wird um ca. 35 µm. Das
heißt, die ganze Platine hat eine Kupferschicht von 3 µm und die
Leiterbahnen haben eine zusätzliche Kupferschicht von 35 µm, so
daß die Leiterbahnen insgesamt eine Dicke von 38 µm besitzen.
In Fig. 5c wird die Elektrode ELC und die Platine PL
unterschiedlich mit Spannungen versorgt in Bezug auf Fig. 5a und
b. Das heißt, die Elektrode wird nun zur Kathode K mit der
Spannung -U. Die Bürsten B werden an die Spannung +U
angeschlossen und bilden die Anode A. Die Ätzmaske wird zuvor
entfernt. Durch die Spannungsumkehr wird nun das Kupfer
abgetragen in der Stärke von 31 µ, so daß nur noch die
Leiterbahnen, die eine dickere Stärke hatten von insgesamt 38 µm
und die sich nun reduziert hat auf 35 µm, bestehen bleiben.
Zusammenfassend ist zu sagen, in Fig. 5a wird eine ganzflächige
dünne Kupferschicht aufgebracht. Fig. 5b wird an den Stellen
eine Kupferschicht aufgebracht, bzw. angereichert, an denen die
Leiterbahnen verlaufen sollen. In Fig. 5c wird gleichmäßig eine
dünne Schicht abgetragen, so daß nur noch das Leiterbahnenbild
erhalten bleibt. Dieses Prozedur erscheint zunächst umständlich,
ist aber verfahrenstechnisch von Vorteil da auch so eine
Inselbildung nicht gegeben ist und so gut wie kein
Materialverlust entsteht. Das heißt, es wird das Material, was
benötigt wird in Leiterbahnen umgewandelt.
Die Elektrolyt E sollte umgewälzt werden, damit
Konzentrationsunterschiede vermieden werden und der Ätzprozeß
wird dadurch unterstützt.
Claims (17)
1. Verfahren zum Entfernen von elektrisch leitendem Material
(KU) von einer Leiterplatte (PL) auf der eine Ätzmaske
angeordnet ist, die die Leiterstruktur abdeckt,
gekennzeichnet durch folgende Schritte,
die Leiterplatte (PL) wird zusammen mit einer Elektrode (ELC) in eine Elektrolytflüssigkeit (E) gegeben,
an die Leiterplatte (PL) und der Elektrode (E) werden Spannungen (+U; -U) mit unterschiedlichem Potential angelegt und
von der Leiterplatte (PL) wird elektrisch leitendes Material (KU) entfernt.
gekennzeichnet durch folgende Schritte,
die Leiterplatte (PL) wird zusammen mit einer Elektrode (ELC) in eine Elektrolytflüssigkeit (E) gegeben,
an die Leiterplatte (PL) und der Elektrode (E) werden Spannungen (+U; -U) mit unterschiedlichem Potential angelegt und
von der Leiterplatte (PL) wird elektrisch leitendes Material (KU) entfernt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Leiterplatte (PL) eine erste Zone (Z1) durchläuft in der sich nur die elektrolytische Flüssigkeit (E) und die Elektrode (ELC) befindet
und daß die Leiterplatte (PL) eine zweite Zone (Z2) durchläuft in der sich neben der elektrolytische Flüssigkeit (E) und der Elektrode (ELC) eine Bürste (B) befindet an der dasselbe Potential anliegt (U+) wie an der Leiterplatte (PL) und
daß beim Durchlaufen der zweiten Zone (Z2) ein direkter Kontakt zur Leiterplatte (PL) geschaffen wird.
die Leiterplatte (PL) eine erste Zone (Z1) durchläuft in der sich nur die elektrolytische Flüssigkeit (E) und die Elektrode (ELC) befindet
und daß die Leiterplatte (PL) eine zweite Zone (Z2) durchläuft in der sich neben der elektrolytische Flüssigkeit (E) und der Elektrode (ELC) eine Bürste (B) befindet an der dasselbe Potential anliegt (U+) wie an der Leiterplatte (PL) und
daß beim Durchlaufen der zweiten Zone (Z2) ein direkter Kontakt zur Leiterplatte (PL) geschaffen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Leiterplatte (PL) entsprechend dem Fortgang des Ätzvorgangs
in den Elektrolyten (E) eingefahren wird und daß zwischen der
Elektrode (ELC) und der Leiterplatte (PL) eine
Isolationsschicht (IS) eingefügt wird, und daß so eine schmale
Ätzzone (Z4) auf der Leiterplatte gewonnen wird.
4. Leiterplatte hergestellt nach dem Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
das leitende Material (KU) auf der Leiterplatte (PL)
verbleibt welches nicht durch die Ätzmaske abgedeckt wurde.
5. Verfahren zum Aufbringen von elektrisch leitendem Material
(KU) auf eine Leiterplatte (PL) auf der die Leiterstruktur
abgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Bürste (B) und eine Elektrode (E) in eine Elektrolytflüssigkeit (E) gegeben wird,
an der Bürste (B) und der Elektrode (ELC) Spannungen mit unterschiedliches Potential angelegt wird,
die Leiterplatte (PL) unter den Bürsten (B) entlang bewegt wird und direkter Kontakt zu den Bürsten (B) besteht und
auf die Leiterplatte (PL) elektrisch leitendes Material (KU) aufgetragen wird.
eine Bürste (B) und eine Elektrode (E) in eine Elektrolytflüssigkeit (E) gegeben wird,
an der Bürste (B) und der Elektrode (ELC) Spannungen mit unterschiedliches Potential angelegt wird,
die Leiterplatte (PL) unter den Bürsten (B) entlang bewegt wird und direkter Kontakt zu den Bürsten (B) besteht und
auf die Leiterplatte (PL) elektrisch leitendes Material (KU) aufgetragen wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
nach Entfernen der Leiterplatte (PL) aus der
Elektrolytflüssigkeit (E) das Potential der Elektrode (ELC)
und der Bürste (B) gewechselt wird und das leitende Material
von der Bürste (B) zurück an die Elektrode (ELC) abgegeben
wird.
7. Leiterplatte hergestellt nach dem Verfahren nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
an den Stellen leitendes Material (KU) aufgetragen ist, die
der abgebildet Leiterstruktur entsprechen.
8. Verfahren zum Aufbringen und Entfernen von leitendem Material
(KU) auf einer Leiterplatte (PL) auf der die Leiterstruktur
abgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) eine Bürste (B) und eine Elektrode (ELC) in eine
Elektrolytflüssigkeit (E) gegeben werden,
an der Bürste (B) und der Elektrode (ELC) Spannungen mit unterschiedlichem Potential angelegt werden,
die Leiterplatte (PL) unter den Bürsten (B) entlang bewegt wird und direkter Kontakt zu den Bürsten (B) besteht und
auf die Leiterplatte (PL) eine dünne Schicht elektrisch leitendes Material (KU) aufgetragen wird, - b) zwischen Elektrode (ELC) und Leiterplatte (PL) in der
elektrolytischen Flüssigkeit keine Bürste (B) angeordnet wird
und eine dicke leitende Schicht aufgetragen wird, an den Stellen, wo sich keine Ätzmaske befindet, - c) eine Bürste (B) und eine Elektrode (ELC) in eine
Elektrolytflüssigkeit (E) gegeben werden,
an der Bürste (B) und der Elektrode (E) Spannungen mit unterschiedlichem Potential angelegt werden,
die Leiterplatte (PL) unter den Bürsten (B) entlang bewegt wird und direkten Kontakt zu den Bürsten (B) besteht und
von der Leiterplatte (PL) eine dünne Schicht elektrisch leitendes Material (KU) abgegeben wird.
9. Leiterplatte hergestellt nach dem Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß an den Stellen leitendes Material
(KU) aufgetragen ist, die der abgebildet Leiterstruktur
entsprechen.
10. Vorrichtung zum Entfernen von leitendem Material von einer
Leiterplatte auf der eine Ätzmaske angeordnet ist, die die
Leiterstruktur abdeckt, dadurch gekennzeichnet, daß
in einer elektrolytischen Flüssigkeit (E) eine Elektrode (ELC) vorhanden ist, die an den ersten Pol einer Spannungsquelle (-U) angeschossen ist und die Kathode (K) bildet,
daß die Leiterplatte (PL) Kontakt zu dem zweiten Pol der Spannungsquelle (+U) hat und die Leiterplatte (PL) so die Anode (A) bildet.
in einer elektrolytischen Flüssigkeit (E) eine Elektrode (ELC) vorhanden ist, die an den ersten Pol einer Spannungsquelle (-U) angeschossen ist und die Kathode (K) bildet,
daß die Leiterplatte (PL) Kontakt zu dem zweiten Pol der Spannungsquelle (+U) hat und die Leiterplatte (PL) so die Anode (A) bildet.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
zwei Zonen (Z1, Z2) eingerichtet sind.
12. Vorrichtung nach Anspruch 10 und 11, dadurch gekennzeichnet,
daß in der ersten Zone (Z1) zwischen Elektrode (ELC) und Leiterplatte (PL) nur die elektrolytische Flüssigkeit (E) angeordnet ist,
daß in der zweiten Zone (2) zwischen Elektrode (ELC) Leiterplatte (PL) in der elektrolytischen Flüssigkeit (E) eine Bürste (B) angeordnet ist.
daß in der ersten Zone (Z1) zwischen Elektrode (ELC) und Leiterplatte (PL) nur die elektrolytische Flüssigkeit (E) angeordnet ist,
daß in der zweiten Zone (2) zwischen Elektrode (ELC) Leiterplatte (PL) in der elektrolytischen Flüssigkeit (E) eine Bürste (B) angeordnet ist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die
Bürste (B) an die zweite Spannungsquelle (+U) angeschlossen
ist und Mittel vorgesehen sind, die die Leiterplatte (PL)
unter der Bürste (B) derart entlangführt, daß ein direkter
Kontakt zur Leiterplatte (PL) besteht.
14. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
zwischen der Elektrode (ELC) und der Leiterplatte (PL) eine
Isolationsschicht (IS) angeordnet ist, derart, daß eine
Grenzzone (GZ) zwischen Elektrode (E) und Leiterplatte (PL)
entsteht.
15. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die
Elektrode (ELC) als Flächenelektrode, Rundelektrode oder
Eckelektrode ausgebildet ist.
16. Vorrichtung zum Aufbringen von leitendem Material auf eine
Leiterplatte auf der die Leiterstruktur abgebildet ist
abdeckt, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Bürste (B) und eine Elektrode (ELC) in eine Elektrolytflüssigkeit (E) angeordnet sind,
an der Bürste (B) und der Elektrode (E) Spannungen mit unterschiedlichem Potential angelegt sind
und Mittel vorgesehen sind, die die Leiterplatte (PL) unter der Bürste (B) derart entlangführt, daß ein direkter Kontakt zur Leiterplatte (PL) besteht.
eine Bürste (B) und eine Elektrode (ELC) in eine Elektrolytflüssigkeit (E) angeordnet sind,
an der Bürste (B) und der Elektrode (E) Spannungen mit unterschiedlichem Potential angelegt sind
und Mittel vorgesehen sind, die die Leiterplatte (PL) unter der Bürste (B) derart entlangführt, daß ein direkter Kontakt zur Leiterplatte (PL) besteht.
17. Vorrichtung zum Aufbringen und Entfernen von leitendem
Material auf eine Leiterplatte auf der die Leiterstruktur
abgebildet abdeckt ist, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) in einer elektrolytischen Flüssigkeit (E) eine Elektrode
(ELC) vorhanden ist, die an einen ersten Pol einer
Spannungsquelle (+U) angeschlossen ist und die Anode (A)
bildet,
daß in der elektrolytischen Flüssigkeit (E) eine Bürste (B) angeordnet die an einen zweiten Pol der Spannungsquelle (-U) angeschlossen ist und so die Kathode (K) bildet, - b) zwischen Elektrode (ELC) und Leiterplatte (PL) in der elektrolytischen Flüssigkeit (E) keine Bürste (B) angeordnet sind und eine dicke leitende Schicht aufgetragen wird, wo sich keine Ätzmaske befindet,
- c) daß in einer elektrolytischen Flüssigkeit (E) ein Elektrode
(ELC) vorhanden ist, die an den ersten Pol einer
Spannungsquelle (-U) angeschossen ist und die Kathode (K)
bildet,
daß in der elektrolytischen Flüssigkeit (ELC) eine Bürste (B) angeordnet die an den zweiten Pol der Spannungsquelle (+U) angeschlossen ist und so die Anode (A) bildet.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP98111307A EP0889680A3 (de) | 1997-07-01 | 1998-06-19 | Verfahren zur Entfernung und/oder Aufbringung von leitendem Material |
US09/107,042 US6217787B1 (en) | 1997-07-01 | 1998-06-29 | Method of removing and/or applying conductive material |
JP10184059A JPH1174635A (ja) | 1997-07-01 | 1998-06-30 | 導電材料の除去および被着方法、並びに除去および被着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP97110751 | 1997-07-01 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE1997149832 Withdrawn DE19749832A1 (de) | 1997-07-01 | 1997-11-11 | Verfahren zum Entfernen und/oder Aufbringen von leitendem Material |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP0361029A1 (de) * | 1988-09-01 | 1990-04-04 | Siemens Nixdorf Informationssysteme Aktiengesellschaft | Galvanisiereinrichtung für plattenförmige Werkstücke, insbesondere Leiterplatten |
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1997
- 1997-11-11 DE DE1997149832 patent/DE19749832A1/de not_active Withdrawn
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