DE19721112A1 - Autofokussiereinrichtung - Google Patents
AutofokussiereinrichtungInfo
- Publication number
- DE19721112A1 DE19721112A1 DE19721112A DE19721112A DE19721112A1 DE 19721112 A1 DE19721112 A1 DE 19721112A1 DE 19721112 A DE19721112 A DE 19721112A DE 19721112 A DE19721112 A DE 19721112A DE 19721112 A1 DE19721112 A1 DE 19721112A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- pattern
- objective lens
- projection
- autofocusing
- liquid crystal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
- G02B21/245—Devices for focusing using auxiliary sources, detectors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
- G02B21/244—Devices for focusing using image analysis techniques
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Autofokussiereinrichtung, bei der eine Objek
tivlinse auf der Grundlage des Kontrasts eines Objektbilds derart bewegbar ist, daß die Objek
tivlinse stets auf die Oberfläche eines zu messenden Objekts (bzw. auf die zu messende
Objektoberfläche) fokussiert sein kann. Die vorliegende Erfindung ist bei optischen Meßgeräten
wie etwa einem Bildmeßinstrument oder einem Mikroskop einsetzbar, bei denen eine Messung
der Größen und Formen eines zu messenden Objekts unter Beobachtung eines Bilds des Objekts
mit Hilfe eines optischen Beobachtungssystems durchgeführt wird.
Bei Autofokussiereinrichtungen, die an einem optischen Meßgerät wie etwa einem Bildmeßin
strument oder einem Mikroskop vorgesehen sind, ist eine unter Ausnutzung des Bildkontrasts
arbeitende Ausführungsform bekannt, bei der die Fokussierung auf der Grundlage des Kontrast
der Abbildung einer zu messenden Objektoberfläche durchgeführt wird. Hierbei wird das Bild
zunächst durch eine CCD-Kamera aufgenommen. Weiterhin ist eine mit Laser-Fokussierung
arbeitende Ausführungsform bekannt, bei der die Fokussierung auf der Grundlage des von einer
zu messenden Objektoberfläche reflektierten Lichts unter Einsatz eines Lasers durchgeführt wird.
Allerdings ergeben sich bei den vorstehend angegebenen, mit Hilfe des Kontrasts oder eines
Lasers arbeitenden Ausführungsformen die nachstehend erläuterten Schwierigkeiten.
Bei der anhand des Kontrasts arbeitenden Ausführungsform ist es schwierig, eine korrekte
Fokussierung auf eine mit relativ geringem Kontrast versehene Oberfläche wie etwa auf eine
spiegelnd bearbeitete Oberfläche oder auf eine Glasoberfläche durchzuführen. Bei der mit Laser
arbeitenden Fokussierungsmethode ist es zwar möglich, eine Fokussierung auf geringen Kontrast
aufweisenden Oberflächen gemäß den vorstehenden Angaben durchzuführen, wobei jedoch eine
Fokussierung lediglich an demjenigen Punkt stattfindet, der durch den Laser bestrahlt wird (die
meisten dieser Punkte befinden sich an zentralen Abschnitten). Darüberhinaus ist das Gerät
selbst sehr teuer.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht in der Schaffung einer Autofokussiereinrichtung,
bei der die Schwierigkeiten, die bei der herkömmlichen, mit Kontrastauswertung arbeitenden
Ausführungsform oder der mit Laser arbeitenden Fokussierungsmethode auftreten, überwunden
sind, so daß eine Fokussierung auf zu messende Objekte aus allen möglichen Materialarten
möglich ist und eine Fokussierung auf beliebige gewünschte Punkte innerhalb eines beobachte
ten Abbildes des zu messenden Objekts erreicht werden kann.
Diese Aufgabe wird mit den im Patentanspruch 1 genannten Merkmalen gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Bei der in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung stehenden Autofokussiereinrichtung
ist zusätzlich eine Musterprojektionseinrichtung vorgesehen, die ein bestimmtes Muster auf die
Oberfläche eines zu messenden Objekts projiziert. Die erfindungsgemäße Autofokussiereinrich
tung enthält ferner eine Objektivlinse, die das Licht auf die Oberfläche des zu messenden Objekts
bzw. auf die zu messende Objektoberfläche fokussiert, ein optisches Beobachtungssystem, das
zur Betrachtung oder Beobachtung eines Abbildes des zu messenden Objekts auf der Grundlage
von durch die Objektivlinse durchtretendem Licht ausgelegt ist, und eine Antriebseinrichtung,
durch die die Objektivlinse entlang der optischen Achse auf der Grundlage des Kontrasts des mit
Hilfe des optischen Beobachtungssystems erhaltenen Objektbilds verlagerbar ist.
Unter Verwendung des vorstehend erläuterten Aufbaus läßt sich ein bestimmtes, bzw. definiert
ausgelegtes, Muster auf die Oberfläche des zu messenden Objekts projizieren, wobei die
Objektivlinse auf der Grundlage des Kontrasts des Musters entlang der optischen Achse derart
verlagert werden kann, daß eine Fokussierung auf der Oberfläche des zu messenden Objekts
selbst dann stattfindet, wenn die Oberfläche durch ein ursprünglich geringen Kontrast aufwei
sendes Material wie etwa durch eine spiegelnd bearbeitete Oberfläche oder durch eine Glasober
fläche gebildet ist. Da das bei der vorliegenden Erfindung eingesetzte Verfahren zu den mit
Kontrastauswertung arbeitenden Verfahren zählt, sind zugleich auch die Schwierigkeiten gelöst,
die bei einer mit Lasereinsatz arbeitenden Fokussiermethode auftreten.
Bei dem vorstehend erläuterten Aufbau weist die Musterprojektionseinrichtung in bevorzugter
Ausgestaltung eine Beleuchtungseinrichtung, eine Projektionslinse und eine Musterprojektionsta
fel auf, die zwischen die Beleuchtungseinrichtung und die Projektionslinse eingeführt ist und
mindestens ein bestimmtes bzw. definiertes Muster trägt.
Bei der Messung eines aus Material mit geringem Kontrast bestehenden Objekts wird die
Messung in einem solchen Zustand ausgeführt, daß das auf der Musterprojektionstafel befindli
che Muster auf die Oberfläche des zu messenden Objekts über die Projektionslinse projiziert
wird. Wenn demgegenüber ein aus Material mit hohem Kontrast bestehendes Objekt gemessen
wird, wird die Musterprojektionstafel aus dem Lichtpfad entfernt, indem die die Musterprojek
tionstafel enthaltende oder bildende Platte zurückgezogen wird. Das Gerät kann dann in der
gleichen Weise wie bei der herkömmlichen Kontrast-Methode eingesetzt werden. Die Musterpro
jektionstafel kann auch durch eine Platte ersetzt werden, die hinsichtlich der Form und der
Qualität der Oberfläche des zu messenden Objekts ein noch geeigneteres Muster trägt.
Bei der erfindungsgemäßen Autofokussiereinrichtung ist in bevorzugter Ausgestaltung eine
Einstelleinrichtung vorgesehen, die zur Justierung des Abstands und der Neigung der Musterpro
jektionstafel mit Bezug zu der Projektionslinse der Musterprojektionseinrichtung ausgelegt ist,
wobei diese Einstelleinrichtung zusätzlich zu der Beleuchtungseinrichtung, der Projektionslinse
und der Musterprojektionstafel bereitgestellt ist.
Der Abstand und die Neigung der Musterprojektionstafel mit Bezug zu der Musterprojektionslinse
sind somit einstellbar, so daß das auf der Musterprojektionstafel befindliche Muster scharf und
genau auf die Oberfläche des zu messenden Objekts projiziert werden kann.
Der Aufbau der Einstelleinrichtung kann jede beliebige Gestaltung aufweisen. In bevorzugter
Ausgestaltung ist die Einstelleinrichtung jedoch mit einer Schiebeplatte bzw. gleitverschieblich
angeordneten Platte versehen, die im rechten Winkel zu der optischen Achse des von der
Beleuchtungseinrichtung ausgesandten Lichts angeordnet ist und für eine Positionierung in
Richtungen verschieblich ist, die einander rechtwinklig kreuzen. Weiterhin ist die Einstelleinrich
tung bei dieser Ausgestaltung mit einer drehbaren Platte, die an der gleitverschieblich angeordne
ten Platte in einer um eine Achse, die parallel zu der optischen Achse des von der Beleuch
tungseinrichtung ausgesandten Lichts verläuft, drehbaren Weise vorgesehen ist, mit einem
Halter, der an der drehbaren Platte angeordnet ist und zum Halten der Musterprojektionstafel
ausgelegt ist, mit einer Mehrzahl von Einstellschrauben, die in dem Halter mit in bestimmten
Winkeln angeordneten Abständen vorgesehen sind und deren Köpfe sich in Anlageberührung an
der drehbaren Platte befinden, und mit einer Mehrzahl von Zugschrauben bzw. Stellschrauben
versehen, die an der drehbaren Platte zwischen den Einstellschrauben vorgesehen sind.
Die Musterprojektionstafel ist vorzugsweise durch eine Flüssigkristalltafel bzw. Flüssigkristall
platte gebildet, deren Anzeigemuster durch entsprechende Zuführung von elektrischem Strom
steuerbar ist. Hierbei wird als Beispiel ein Muster bei Zuführung von elektrischem Strom
angezeigt, während bei Fehlen von elektrischem Strom das Muster ausgelöscht ist.
Das auf der Musterprojektionstafel dargestellte Muster läßt sich somit in einfacher Weise
auslöschen, wenn das Meßgerät bzw. die Fokussiereinrichtung bei der Messung eines Objekts
aus einem hohen Kontrast aufweisenden Material in herkömmlicher Weise eingesetzt wird.
Hinsichtlich der auf der Flüssigkristalltafel angezeigten Muster wird in bevorzugter Weise ein
dreieckförmiges Muster verwendet, bei dem ein Satz aus zwei Dreiecken, die jeweils unter
schiedliche Lichtdurchlässigkeit aufweisen, abwechselnd in den nach links und rechts weisenden
Richtungen aneinander gereiht sind, wobei die Scheitelpunkte der beiden Dreiecke gleichfalls
abwechselnd nach oben und nach unten zeigen. Dieser Satz aus dreieckförmigen Mustern ist
weiterhin in der Vertikalrichtung ausgebreitet bzw. wiederholt vorgesehen, derart, daß alle
Scheitelpunkte aller benachbarten Dreiecke jeweils in die entgegengesetzte Richtung weisen. Ein
weiteres bevorzugtes Muster besteht aus einem Muster aus Quadraten, bei dem ein Satz aus
zwei verkippten Quadraten mit unterschiedlicher Lichtdurchlässigkeit abwechselnd entlang der
geneigten Randlinien, die einander mit rechten Winkeln schneiden, angeordnet sind. Das Muster
kann zum Beispiel auch die Form von Wellen aufweisen, bei dem ein Satz aus zwei wellenförmi
gen Streifen mit jeweils unterschiedlicher Lichtdurchlässigkeit abwechselnd bzw. wiederholt
angeordnet ist.
Diese Muster sind zur Erzielung einer korrekten Fokussierung zweckmäßig, da jedes beliebige zu
messende Objekt, das eine gerichtete Kante aufweist, leicht sichtbar ist, weil sich, anders
ausgedrückt, eine solche Kante nicht hinter dem Muster verstecken kann bzw. durch das Muster
deutlich wiedergegeben wird.
Als optisches Beobachtungssystem ist eine CCD-Kamera bevorzugt.
In bevorzugter Ausgestaltung ist die Antriebseinrichtung mit einem Magneten, der an einer Seite,
das heißt entweder an einem Gehäuse und einem die Objektivlinse in beweglicher Weise in
Richtung der optischen Achse haltenden Halter angeordnet ist, und mit einer Spule versehen, die
an der anderen Komponente, das heißt an dem Linsenhalter oder an dem Gehäuse, angeordnet
ist.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die
Zeichnungen näher beschrieben.
Fig. 1 zeigt eine seitliche Aufrißansicht eines Bildmeßgeräts bzw. eines mit Abbildung
arbeitenden Meßgeräts, das mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
in Verbindung steht,
Fig. 2 zeigt eine Schnittansicht, die entlang der Linie 2-2 in Fig. 1 gesehen ist,
Fig. 3 zeigt eine vergrößerte Ansicht, in der eine Positioniereinrichtung bei dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel dargestellt ist,
Fig. 4 zeigt eine Schnittansicht, die entlang der Linie 4-4 in Fig. 3 gesehen ist,
Fig. 5(A) und (B) zeigen eine Draufsicht auf eine bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
eingesetzte Flüssigkristalltafel und eine schematische Ansicht der Oberfläche eines zu
messenden Objekts, auf der das durch die Flüssigkristalltafel gebildete Muster proji
ziert ist,
Fig. 6 zeigt eine Draufsicht auf eine bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel eingesetzte
Einstelleinrichtung,
Fig. 7 zeigt eine Schnittansicht der in Fig. 6 dargestellten Einstelleinrichtung,
Fig. 8 zeigt ein Blockschaltbild eines bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel eingesetzten
Steuersystems,
Fig. 9 zeigt eine Draufsicht auf eine weitere Ausführungsform einer Flüssigkristalltafel,
Fig. 10 zeigt eine Draufsicht auf eine andere Ausführungsform einer Flüssigkristalltafel,
Fig. 11 zeigt eine Draufsicht auf ein abgeändertes Ausführungsbeispiel der Flüssigkristalltafel,
Fig. 12 zeigt eine Draufsicht auf eine weitere Ausführungsform einer Flüssigkristalltafel,
Fig. 13(A) und 13(B) zeigen Draufsichten auf eine Flüssigkristalltafel, die ein Gittermuster trägt,
und auf ein projiziertes Muster, und
Fig. 14 zeigt eine seitliche Aufrißansicht einer mit Abbildung arbeitenden Meßeinrichtung, bei
der ein weiteres Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung eingesetzt ist.
Fig. 1 zeigt eine seitliche Aufrißansicht eines Bildmeßgeräts bzw. eines mit Abbildung oder
Bildgabe arbeitenden Meßgeräts, das mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
ausgestattet ist. In Fig. 2 ist eine Schnittansicht dargestellt, die entlang der in Fig. 1 gezeigten
Linie 2-2 geschnitten ist. Das mit Abbildung arbeitende Meßgerät weist einen Tisch 10, der in
Richtung der Achsen X und Y (nach links und rechts weisende Richtung gemäß Fig. 1 sowie eine
rechtwinklig zu der Zeichnungsoberfläche der Fig. 1 verlaufende Richtung) beweglich angeordnet
ist und zur Auflage eines zu messenden Objekts dient, und eine optische Systemeinheit 11 auf,
die dem Tisch 10 gegenüberliegend angeordnet ist und sich nach oben und unten in Richtung
der Achse Z (vertikale Richtung in Fig. 1) entlang einer in den Zeichnungen nicht gezeigten Säule
bewegen kann.
Die optische Systemeinheit 11 umfaßt ein Gehäuse bzw. einen Kasten 12. In einem Zylinder
bzw. zylindrisches Element 12A an der Bodenfläche des Gehäuses 12 ist eine Objektlinse bzw.
Objektivlinse 14 vorgesehen, die durch einen Objektivlinsenhalter 13 gehalten ist, der in
Richtung der optischen Achse L verlagerbar ist. Ein Betätigungselement 15 ist zwischen dem
zylindrischen Element 12A und dem Objektivlinsenhalter 13 vorgesehen und dient als
Antriebseinrichtung für die Bewegung des Objektivlinsenhalters 13 entlang der optischen Achse
L. Das Betätigungselement 15 ist durch einen Magnet 16, der an dem zylindrischen Element 12A
fest angebracht ist, und eine Spule 17 gebildet, die an dem Objektivlinsenhalter 13 fest montiert
ist. Eine CCD-Kamera 24 und eine Beleuchtungseinrichtung 25 sind an der Oberseite des
Gehäuses 12 angebracht. Die CCD-Kamera ist an der optischen Achse der Objektivlinse 14
angeordnet und bildet ein optisches Beobachtungssystem, das das Bild des zu messenden
Objekts, das durch das von der Objektivlinse 14 ausgehende Licht gebildet wird, beobachten
bzw. aufnehmen kann.
In dem Gehäuse 12 sind ein Spiegel 26, der von der Beleuchtungseinrichtung 25 ausgesandtes
Licht in Richtung zu der optischen Achse L in einem rechten Winkel reflektiert, ein Strahlteiler
27, der das von dem Spiegel 26 reflektierte Licht auf die optische Achse L reflektiert bzw.
umlenkt, Tubuslinsen 28A, 28B und 28C, die unterschiedliche Vergrößerungen aufweisen (zum
Beispiel 1X, 2X und 6X), eine Wähleinrichtung 29, die selektiv eine der Tubuslinsen 28A bis
28C austauschen bzw. in die optische Achse L einbringen kann, und eine Musterprojektionsein
richtung 20 vorgesehen, die ein bestimmtes Muster auf die Oberfläche des zu messenden
Objekts projiziert. Die Wähleinrichtung 29 umfaßt einen Revolver bzw. Revolverkopf 32, der um
eine Achse 31 herum drehbar angeordnet ist, die parallel zu der optischen Achse L verläuft, sich
jedoch von dieser unterscheidet, wobei der Revolverkopf 32 die Tubuslinsen 28A bis 28C mit
gleichen Winkelabständen (jeweilige Winkelintervalle von 120 Grad) entlang des Umfangs eines
Kreises trägt, dessen Radius dem Abstand zwischen der Achse 31 und der optischen Achse L
entspricht. Weiterhin enthält die Wähleinrichtung 29 eine Positioniereinrichtung 33, durch die der
Revolverkopf 32 in einem jeweiligen Winkel, bei dem eine jeweilige Tubuslinse 28A bis 28C mit
der optischen Achse L übereinstimmt, positioniert wird, und einen Revolverkopf-Antriebsmotor
44, der mit der Achse 31 des Revolverkopfes 32 über eine Kupplung 43 verbunden ist. Mit dem
Bezugszeichen 35 ist ein Sensor bezeichnet, der die Drehwinkel bzw. die Drehwinkellage des
Revolverkopfes 32 erfaßt.
Die Positioniereinrichtung 33 weist drei hohle Abschnitte 51A, 51B und 51C, die entlang des
Umfangs des Revolverkopfes 32 an dessen Oberfläche als Kerben mit Winkelabständen von 120
Grad eingebracht sind, und ein Lager bzw. ein Eingriffselement 52 auf, das stets derart vorge
spannt ist, daß es sich in Berührung mit der Oberfläche am Außenumfang des Revolverkopfes 32
befindet, so daß das Lager bzw. Eingriffselement 52 mit den hohlen Abschnitten 51A bis 51C in
Eingriff treten kann. Das Eingriffselement 52 wird durch einen L-förmigen Halter 53 abgestützt,
der an der Oberseite des Gehäuses 12 befestigt ist, wobei die Abstützung des Eingriffselements
52 an dem Halter 53 mittels einer seitlich offenen bzw. mindestens einseitig seitlich nicht
eingespannten Flachfeder erfolgt, wie es in den Fig. 3 und 4 gezeigt ist.
Die Musterprojektionseinrichtung 20 ist durch die Beleuchtungseinrichtung 25, eine Projektions
linse 21, die zwischen dem Spiegel 26 und dem Strahlteiler 27 vorgesehen ist, eine Musterpro
jektionstafel oder -Platte 22, die zwischen die Beleuchtungseinrichtung 25 und den Spiegel 26
an einer mit einer Objektoberfläche der Beleuchtungseinrichtung 25 konjugierten Position
eingefügt ist und mit einem bestimmten Muster versehen ist, und die Einstelleinrichtung 23 zur
Einstellung des Abstands und der Neigung der Musterprojektionstafel 22 gegenüber der Projek
tionslinse 21 gebildet. Die Musterprojektionstafel 22 ist durch eine Flüssigkristalltafel bzw. einen
Flüssigkristallschirm 22A gebildet, der ein Muster aus Dreiecken gemäß der Darstellung in Fig.
5(A) anzeigt, wobei die Anzeige durch Zuführung von elektrischem Strom bewirkt wird. Das
dreieckförmige Muster ist ein Muster, bei dem jeweils zwei Dreiecke mit unterschiedlichen
Lichtabsorptionsraten, das heißt genauer gesagt zwei regelmäßige bzw. gleichseitige Dreiecke,
von denen eines lichtdurchlässig ist und das andere undurchlässig ist, abwechselnd entlang der
Richtung der Achse X (in den nach links und rechts weisenden Richtungen) mit jeweils umge
kehrter Richtung des Scheitelpunkts der Dreiecke angeordnet sind, wobei die Dreiecke auch
entlang der Richtung der Achse Y (das heißt in vertikaler Richtung) in der gleichen Weise
angeordnet sind (siehe Fig. 5(A)).
Die Einstelleinrichtung 23 ist durch eine Schiebeplatte bzw. verschiebliche Platte 60, die entlang
der Achse X und der Achse Y gleitverschieblich zur Positionierung in dem Gehäuse 12 angeord
net ist und mittels Stellschrauben bzw. Justierschrauben 60A festgelegt ist, eine drehbare Platte
61, die in drehbarer Weise um die Achse Z herum drehbar an der verschieblichen Platte 60
vorgesehen ist und durch eine Justierschraube 61A in jeder gewünschten Winkelposition
festlegbar ist, einen Halter 62, der an der drehbaren Platte 61 vorgesehen ist und die Flüssigkri
stalltafel 22A hält, drei Stell- bzw. Justierschrauben 63, die an dem Halter 62 in Winkelabstän
den von 120 Grad angebracht sind, wobei die Köpfe der Justierschrauben in Berührung mit der
drehbaren Platte 61 stehen, und drei Aushebeschrauben bzw. Ziehschrauben 64 gebildet, die an
der drehbaren Platte 61 zwischen den drei Justierschrauben angebracht sind, bzw. in die
drehbare Platte 61 eingeschraubt sind. Es ist daher möglich, die Position der Flüssigkristalltafel
22 entlang der Achsenrichtungen X und Y durch Einstellen der Position der verschieblichen
Platte 60 zu justieren, die Winkel (Winkel bezüglich der Achse Z) der Flüssigkristalltafel 22A
durch Drehung der drehbaren Platte 61 einzustellen, und den Abstand und die Neigung der
Flüssigkristalltafel 22A bezüglich der Projektionslinse 21 durch Einstellen der Justierschrauben
63 und der Aushebe- bzw. Anhebeschrauben 64 zu justieren.
Fig. 8 zeigt ein Blockschaltbild einer Steuereinrichtung für das mit Abbildung arbeitende
Meßgerät gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel. Die Steuereinrichtung ist mit einer
Zentraleinheit CPU 71 versehen. Mit der Zentraleinheit 71 sind jeweils eine Kathodenstrahlröh
renanzeige 73 über eine Anzeigesteuereinheit 72, die Beleuchtungseinrichtung 25 über eine
Beleuchtungssteuereinheit 74, die CCD-Kamera 24 über eine zur Einzelbildgewinnung dienende
Einrichtung (frame grabber) 75, die Flüssigkristalltafel 22A über eine die Stromzuführung
steuernde Steuereinheit 76, das Betätigungselement 15 über eine Betätigungselementsteuerein
heit 77, und der Revolverkopfantriebsmotor 44 über eine Revolverkopf-Antriebssteuereinheit 78
verbunden. Weiterhin sind mit der Zentraleinheit 71 jeweils ein X-Achsen-Codierer 79X zur
Erfassung der Position des Tisches 10 entlang der Achse X, ein Y-Achsen-Codierer 79Y für die
Erfassung der Position des Tisches 10 entlang der Achse Y, ein Z-Achsen-Codierer 79Z für die
Erfassung der Position der optischen Systemeinheit 11 (der Objektivlinse 14) entlang der Achse
Z, und eine Befehlseingabeeinheit 80 verbunden.
Wenn bei dem vorstehend beschriebenen Aufbau eine Messung begonnen wird, wird eine der
Tubuslinsen 28A bis 28C in die optische Achse L eingebracht. Der Motor 44 wird hierzu in
einem entsprechenden Winkel gedreht, wobei die Kupplung 43 geschlossen ist, und dann
angehalten. Eine der Tubuslinsen 28A bis 28C hat hierbei aufgrund der Drehung des Motors 44
eine Lage nahe bei der optischen Achse L erreicht, wobei das Eingriffselement 52 beginnt, in
einen entsprechenden hohlen Abschnitt 51A bis 51C hineinzuwandern. Wenn die Kupplung 43
zu diesem Zeitpunkt freigegeben wird, ist der Motor 44 von dem Revolverkopf 32 entkoppelt, so
daß der durch den Motor 44 ausgeübte Drehwiderstand beendet ist. Der Revolverkopf 32 wird
dann automatisch so weit gedreht, bis seine Winkelposition mit einer Position übereinstimmt, bei
der das Eingriffselement 52 vollständig in den entsprechenden hohlen Abschnitt 51A bis 51C
hineingetreten ist, wodurch der Revolverkopf 32 positioniert ist.
Wenn von der Beleuchtungseinrichtung 25 dann Licht ausgesandt wird, wird dieses Licht durch
den Spiegel 26 reflektiert, erneut durch den Strahlteiler 27 umgelenkt und bestrahlt unter
Durchlaufen der Objektivlinse 14 ein Objekt auf dem Tisch 20. Das von dem Objekt reflektierte
Licht läuft durch die Objektivlinse 14 hindurch, und wird dann entsprechend der Vergrößerung
der ausgewählten Tubuslinse 28 und des Strahlteilers 27 vergrößert oder verkleinert, so daß ein
Bild auf der CCD-Kamera ausgebildet wird.
Hierbei erfaßt die Zentraleinheit 71 den Kontrastwert jedes Bildelements, das durch die CCD-
Kamera aufgenommen ist, und führt der Flüssigkristalltafel 22A elektrischen Strom über die
Stromzuführungs-Steuereinheit in einem Fall zu, bei dem der Kontrastwert unterhalb eines
vorbestimmten Werts liegt. Es wird dann ein aus Dreiecken bestehendes Muster, wie es in Fig.
5(A) gezeigt ist, auf der mit Strom gespeisten Flüssigkristalltafel 22A angezeigt, das dann über
die Projektionslinse 21 auf die Oberfläche des zu messenden Objekts fokussiert wird. Die
Zentraleinheit 71 treibt dann das Betätigungselement 15 in Abhängigkeit von dem Kontrastwert
jedes durch die CCD-Kamera 24 aufgenommenen Bildelements über die Betätigungselement-
Steuereinheit 77 an und verlagert die Objektivlinse 14 entlang der optischen Achse L derart, daß
eine korrekte Fokussierung erzielt wird, bzw., anders ausgedrückt, die Objektivlinse 14 durch die
Zentraleinheit 71 in eine Position gebracht wird, bei der sich der maximale Kontrastwert für die
Bildelemente ergibt. In diesem Fall wird auch ein Ende bzw. ein Rand des zu messenden Objekts
sichtbar gemacht, so daß eine korrekte Fokussierung erhalten wird.
Die Größen und die Formen des Objekts werden anhand des Bilds des zu messenden Objekts
ermittelt, das durch die CCD-Kamera 24 bei dem vorstehend beschriebenen Zustand, das heißt
bei scharfer Fokussierung, erhalten wird.
Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel kann somit ein Muster auf die Oberfläche des Objekts
projiziert werden, da die Musterprojektionseinrichtung 20 zum Projizieren des Musters auf die
Oberfläche des zu messenden Objekts vorgesehen ist. Weiterhin kann die Objektivlinse 14 in
Richtung der optischen Achse L in Abhängigkeit von dem Kontrast des Musters verlagert
werden, so daß das Licht auf der Oberfläche des Objekts gesammelt wird. Es ist daher möglich,
auf ein ursprünglich geringen Kontrast aufweisendes Material, wie etwa auf eine spiegelnde
Oberfläche oder eine Glasoberfläche, zu fokussieren. Da das bei der vorliegenden Erfindung
eingesetzte Verfahren zu der Kontrast-Methode rechnet, treten hierbei die Schwierigkeiten bei
der Laser-Fokussierungsmethode nicht auf.
Da die Musterprojektionseinrichtung 20 durch die Beleuchtungseinrichtung 25, die Projektions
linse 21, die Musterprojektionstafel 22, die ein projiziertes bzw. gezielt erzeugtes Muster
aufweist und zwischen die Beleuchtungseinrichtung 25 und die Projektionslinse 21 eingefügt ist,
und die Einstelleinrichtung 23 zur Einstellung des Abstands und der Neigung der Musterprojek
tionstafel 22 bezüglich der Projektionslinse 21 gebildet ist, kann das auf der Musterprojektionsta
fel 22 vorhandene Muster scharf und exakt auf die Oberfläche des messenden Objekts fokussiert
werden.
Da die Musterprojektionstafel durch die Flüssigkristalltafel 22A gebildet ist, durch die ein Muster
mit Hilfe der Durchleitung von elektrischem Strom angezeigt wird, kann die erfindungsgemäße
Einrichtung auch als Gerät für die herkömmliche Kontrastmethode eingesetzt werden, indem
lediglich das Muster auf der Flüssigkristalltafel beseitigt bzw. abgeschaltet wird, so daß das
Gerät zum Messen eines Objekts eingesetzt werden kann, das aus einem hohen Kontrast
zeigenden Material besteht. Folglich läßt sich ein Ersatz für, bzw. eine Arbeitsweise wie bei
einem herkömmlichen Kontrast-Verfahren in einfacher Weise erzielen.
Da auf der Flüssigkristalltafel 22A bei der Zuführung von elektrischem Strom ein Muster von
Dreiecken angezeigt wird, ist es möglich, eine korrekte Fokussierung selbst dann zu erhalten,
wenn das Ende bzw. der Rand des zu messenden Objekts eine bestimmte Richtung bzw.
Ausrichtung aufweisen sollte, da der Rand sichtbar gemacht wird. Wenn hierbei, wie in Fig.
13(A) gezeigt ist, eine Flüssigkristalltafel 22F eingesetzt wird, auf der ein schlitzförmiges Muster
angezeigt wird, können die Schlitze mit dem Rand des zu messenden Objekts in dem Fall, daß
sie die gleiche Richtung aufweisen, wie es in Fig. 13(B) gezeigt ist, überlappt sein, so daß der
benötigte Rand für die Fokussierung verborgen bleibt.
Da das Gerät durch den Revolverkopf 32 mit den drei Tubuslinsen 28A bis 28C mit unterschied
lichen Vergrößerungsfaktoren, die entlang des Umfangs in drehbarer Weise zwischen der
Objektivlinse 14 und der CCD-Kamera 24 angeordnet sind, und durch die Wähleinrichtung 29 für
die Auswahl einer der Tubuslinsen 28A bis 28C für deren Einbringung in die optische Achse L
gebildet ist, ist das Gerät im Vergleich mit einem Gerät mit Objektivlinsen-Revolverkopf kosten
günstig, da keine Notwendigkeit hinsichtlich einer Mehrzahl von Objektivlinsen besteht und eine
außerhalb angebrachte Beleuchtung wie etwa eine ringförmige Beleuchtung eingesetzt werden
kann.
Die Wähleinrichtung 29 enthält den Revolverkopf 32, der um die Achse 31 herum drehbar
angeordnet ist, die parallel zu der optischen Achse L der Objektivlinse 14 verläuft, jedoch in einer
unterschiedlichen Lage liegt. Der Revolverkopf 32 umfaßt die Tubuslinsen 28A bis 28C, die an
dem Umfang eines Kreises angeordnet sind, dessen Radius gleich dem Abstand zwischen der
Achse 31 und der optischen Achse L der Objektivlinse ist. Ferner enthält die Wähleinrichtung 29
die Positioniereinrichtung 33 für die Positionierung des Revolverkopfes 32 in jeweiligen Winkel
positionen, bei denen eine jeweilige Tubuslinse 28A bis 28C mit der optischen Achse L der
Objektivlinse 14 übereinstimmt. Der Revolverkopf 32 kann durch die Positioniereinrichtung 33 in
jeweiligen Winkelpositionen, bei denen jeweils eine Tubuslinse 28A bis 28C mit der optischen
Achse L der Objektivlinse 14 übereinstimmt, durch Drehen des Revolverkopfes 32 eingebracht
werden, so daß es einfach ist, eine jeweilige Tubuslinse 28A bis 28C mit der optischen Achse L
der Objektivlinse 14 auszurichten.
Da der Motor 44 mit der Achse 31 des Revolverkopfes 32 über die Kupplung 43 gekoppelt ist,
kann der Revolverkopf 32 automatisch in die jeweils angegebene Winkelposition gedreht
werden. Wenn der Revolverkopf 32 in der vorgegebenen Winkelposition ankommt, wird der
Motor 44 durch Lösen der Kupplung 43 von dem Revolverkopf 32 abgekoppelt, so daß der von
dem Motor 44 ausgeübte Drehwiderstand nicht länger wirksam ist und die Position des Revol
verkopfes 32 somit exakt in die jeweils gewünschte Winkelposition durch die Positioniereinrich
tung 33 gebracht werden kann.
Die Positioniereinrichtung 33 enthält die hohlen Abschnitte 51A bis 51C, die kerbförmig an der
Oberfläche um den Umfangsbereich des Revolverkopfes 32 herum eingebracht sind, das Lager
bzw. Eingriffselement 52 und die flache Feder 54, die das Eingriffselement 52 stets in Richtung
auf eine Berührung mit der Oberfläche des Außenumfangs des Revolverkopfes 32 vorspannt.
Wenn der Revolverkopf 32 die gewünschte Winkelposition erreicht, das heißt wenn das
Eingriffselement gerade damit beginnt, in einen der hohlen Abschnitte 51A bis 51C einzupassen
bzw. einzugreifen, wird der Motor 44 von dem Revolverkopf 32 durch Freigeben der Kupplung
43 entkoppelt, wonach der Revolverkopf 32 sich unabhängig vom Motor zu drehen beginnt.
Folglich kann der Revolverkopf 32 exakt mit Hilfe eines einfachen Aufbaus positioniert werden.
Bei dem vorstehend erläuterten Ausführungsbeispiel ist die Musteranzeigetafel 22 durch die
Flüssigkristallplatte 22A gebildet, auf der das durch die Dreiecke gebildete Muster bei Zuführung
von elektrischem Strom ausgebildet wird. Jedoch liegen auch Flüssigkristalltafeln mit anderen
Mustern im Rahmen der vorliegenden Erfindung, die nicht auf Dreiecks-Muster beschränkt ist.
Wie zum Beispiel in Fig. 9 gezeigt ist, kann auch eine Flüssigkristalltafel 22B vorgesehen sein,
die bei Zuführung von elektrischem Strom ein aus Quadraten bestehendes Muster ausbildet und
anzeigt. Das in der Flüssigkristalltafel 22B gebildete Muster ist eine Abfolge eines Quadrat-
Paares, das aus zwei verkippten Quadraten mit unterschiedlicher Durchlässigkeit bzw. Transpa
renz besteht. Genauer gesagt ist jeweils eines der Quadrate transparent und das andere nicht
transparent, wobei diese Quadrate abwechselnd in schräger Ausrichtung entlang der schräg
verlaufenden Randlinien, die einander rechtwinklig schneiden, angeordnet sind.
Es können auch Flüssigkristalltafeln 22C, 22D und 22E vorgesehen sein, wie sie in den Fig. 10,
11 und 12 gezeigt sind, die wellenförmige Muster bei Zuführung von elektrischem Strom bzw.
Anlegen von elektrischer Spannung erzeugen. Bei diesen Mustern handelt es sich jeweils um eine
Abfolge eines Paares aus zwei wellenförmigen Bändern, die unterschiedliche Lichtdurchlässigkeit
aufweisen, wobei, genauer gesagt, jeweils ein Band, das lichtdurchlässig ist, und ein anderes
Band, das lichtundurchlässig ist, abwechselnd entlang der horizontalen Richtung, der vertikalen
Richtung oder entlang einer schräg verlaufenden Richtung angeordnet sind.
Wie in Fig. 14 gezeigt ist, ist es auch möglich, Muster dadurch zu projizieren, daß entweder die
Beleuchtungseinrichtung 25 oder eine Beleuchtungseinrichtung 25A ausgewählt wird, wobei die
Beleuchtungseinrichtung 25A, die sich von der Beleuchtungseinrichtung 25 der Musterprojek
tionseinrichtung 20 unterscheidet, an einer der Projektionslinse 21 gegenüberliegenden Seite
derart angeordnet ist, daß sich der Spiegel 26 zwischen diesen Komponenten befindet. Der
Spiegel 26 ist hierbei in schwenkbarer Weise angeordnet, wie es aus Fig. 14 ersichtlich ist.
Die Musterprojektionstafel 22 ist nicht auf die Flüssigkristalltafeln 22A bis 22F beschränkt,
sondern kann auch eine Tafel wie etwa eine Strichplatte oder eine Zielmarke sein, auf der ein
bestimmtes Muster ausgebildet ist. In einem solchen Fall kann die Tafel in abnehmbarer Weise
angebracht sein und wird abgenommen, wenn ein hohen Kontrast aufweisendes Objekt gemes
sen wird.
Die Einstelleinrichtung 23 ist ebenfalls nicht auf den vorstehend beschriebenen Aufbau
beschränkt. So kann zum Beispiel die Anzahl von Justierschrauben 63 oder von Zugschrauben
bzw. Verstellschrauben 64 beliebig sein. Auch das Betätigungselement 15 kann anders ausgebil
det sein und zum Beispiel umgekehrt wie die vorstehend beschriebene Gestaltung ausgeführt
sein, das heißt es kann die Spule 17 an dem zylindrischen Abschnitt 12A angeordnet sein,
während der Magnet 16 an dem Objektivlinsenhalter 13 vorgesehen ist.
Mit der erfindungsgemäßen Autofokussiereinrichtung ist es möglich, auf zu messende Objekte zu
fokussieren, die aus allen Materialarten hergestellt sein können, ohne daß sich irgendeine
Einschränkung hinsichtlich der Qualität des Materials oder hinsichtlich der Position in dem von
dem Objekt erhaltenen Beobachtungsbild ergibt.
Claims (10)
1. Autofokussiereinrichtung mit
einer Objektivlinse (14) zum Konzentrieren von Licht auf der Oberfläche eines zu mes senden Objekts,
einem optischen Betrachtungssystem (24), durch das ein Objektbild betrachtbar ist, das durch das durch die Objektivlinse (14) hindurchgetretene Licht erzeugt ist,
einer Antriebseinrichtung (15) für die Objektivlinse (14) für deren Verlagerung entlang einer optischen Achse (L) in Abhängigkeit von dem Kontrast des durch das optische Betrach tungssystem (24) gewonnenen Objektbilds, und
einer Musterprojektionseinrichtung (20) zum Projizieren eines bestimmten Musters auf die Oberfläche des zu messenden Objekts.
einer Objektivlinse (14) zum Konzentrieren von Licht auf der Oberfläche eines zu mes senden Objekts,
einem optischen Betrachtungssystem (24), durch das ein Objektbild betrachtbar ist, das durch das durch die Objektivlinse (14) hindurchgetretene Licht erzeugt ist,
einer Antriebseinrichtung (15) für die Objektivlinse (14) für deren Verlagerung entlang einer optischen Achse (L) in Abhängigkeit von dem Kontrast des durch das optische Betrach tungssystem (24) gewonnenen Objektbilds, und
einer Musterprojektionseinrichtung (20) zum Projizieren eines bestimmten Musters auf die Oberfläche des zu messenden Objekts.
2. Autofokussiereinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Musterprojektionseinrichtung (20) eine Beleuchtungseinrichtung (25, 25A), eine Projektionslinse
(21) und eine Musterprojektionstafel (22; 22A bis 22F) aufweist, die zwischen die Beleuch
tungseinrichtung (25, 25A) und die Projektionslinse (21) eingefügt ist und mindestens ein
bestimmtes Muster ausbildet.
3. Autofokussiereinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Musterprojektionstafel (22; 22A bis 22F) eine Flüssigkristalltafel enthält, deren Musteranzeige
durch Zuführung von elektrischem Strom steuerbar ist.
4. Autofokussiereinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Flüs
sigkristalltafel (22) ein Muster aus Dreiecken ausbildet, die derart angeordnet sind, daß jeweils
zwei Dreiecke mit unterschiedlicher Lichtdurchlässigkeit alternierend in der nach links und rechts
weisenden Richtung sowie in der nach oben und unten führenden Richtung angeordnet sind,
wobei die Ausrichtung der Dreiecke alternierend umgekehrt ist, so daß alle Scheitelpunkte
jeweils benachbarter Dreiecke in entgegengesetzte Richtungen weisen.
5. Autofokussiereinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Flüs
sigkristalltafel (22B) ein Muster aus Quadraten ausbildet, wobei die Quadrate derart angeordnet
sind, daß jeweils zwei Quadrate mit unterschiedlicher Lichtdurchlässigkeit abwechselnd in schräg
verlaufenden Richtungen sowie entlang gerader Linien ausgerichtet sind, die die Randlinien der
Quadrate rechtwinklig schneiden.
6. Autofokussiereinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Flüs
sigkristalltafel (22C bis 22E) ein Muster aus bandförmigen, wellenförmigen Streifen ausbildet,
wobei die wellenförmigen Streifen derart angeordnet sind, daß jeweils zwei Streifen mit
unterschiedlicher Lichtdurchlässigkeit abwechselnd Seite an Seite angeordnet sind.
7. Autofokussiereinrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 6, gekennzeichnet durch
eine Einstelleinrichtung (23) zur Einstellung des Abstands und der Neigung der Musterprojek
tionstafel (22; 22A bis 22E) in bezug zu der Projektionslinse (26).
8. Autofokussiereinrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die
Einstelleinrichtung (23) eine gleitverschiebliche Platte (60), die rechtwinklig zur optischen Achse
des von der Beleuchtungseinrichtung (25) ausgehenden Lichts angeordnet ist und für eine
Positionierung entlang zweier sich rechtwinklig schneidender Richtungen gleitverschieblich ist,
eine drehbare Platte (61), die an der gleitverschieblichen Platte (60) derart drehbar angeordnet
ist, daß sie um eine parallel zu der optischen Achse des von der Beleuchtungseinrichtung (25)
ausgehenden Lichts parallelen Achse herum drehbar ist, einen Halter (62), der an der drehbaren
Platte vorgesehen ist und die Musterprojektionstafel (22; 22A bis 22E) hält, eine Mehrzahl von
Justierschrauben (63), die in den Halter (62) in bestimmten Winkelabständen eingebracht sind
und deren Köpfe sich in Berührung mit der drehbaren Platte (61) befinden, und eine Mehrzahl
von Zug- bzw. Einstellschrauben (64) enthält, die an der drehbaren Platte (61) angreifen und sich
zwischen den Justierschrauben (63) befinden.
9. Autofokussiereinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß das optische Betrachtungssystem (24) eine CCD-Kamera aufweist.
10. Autofokussiereinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Antriebseinrichtung (15) einen Magnet (16), der an einem Gehäuse (12)
oder an einem Objektivlinsenhalter (13), der die Objektivlinse (14) in einer entlang der optischen
Achse (L) bewegbaren Weise hält, angeordnet ist, und eine Spule (17) aufweist, die an dem
Objektivlinsenhalter (13) bzw. an dem Gehäuse (12) angeordnet ist.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12458296A JP3462006B2 (ja) | 1996-05-20 | 1996-05-20 | オートフォーカス装置 |
JP124582/96 | 1996-05-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19721112A1 true DE19721112A1 (de) | 1997-11-27 |
DE19721112B4 DE19721112B4 (de) | 2010-12-02 |
Family
ID=14889044
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19721112A Expired - Lifetime DE19721112B4 (de) | 1996-05-20 | 1997-05-20 | Autofokussierverfahren |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6075558A (de) |
JP (1) | JP3462006B2 (de) |
CN (1) | CN1093943C (de) |
DE (1) | DE19721112B4 (de) |
GB (1) | GB2313508B (de) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE29806004U1 (de) * | 1998-04-03 | 1998-09-17 | Leica Mikroskopie & Syst | Vorrichtung zur Fokussierung eines Auflichtmikroskops |
EP0911664A2 (de) * | 1997-10-22 | 1999-04-28 | Carl Zeiss | Optische Bildaufnahmeeinrichtung und Verfahren zu deren Nutzung |
DE19923821A1 (de) * | 1999-05-19 | 2000-11-23 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Lageerfassung einer mit einem Laser-Scanner abzutastenden Fläche |
DE10112639A1 (de) * | 2001-03-16 | 2002-09-19 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Mikroskop mit Autofokussiereinrichtung |
DE10132650C1 (de) * | 2001-05-11 | 2003-02-20 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Verfahren und Anordnung zur Justierung einer Bilderfassungsvorrichtung |
DE102008005355A1 (de) * | 2008-01-21 | 2009-07-23 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Autofokusvorrichtung und Autofokussierverfahren für eine Abbildungsvorrichtung |
DE102008005356A1 (de) * | 2008-01-21 | 2009-07-23 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Autofokusvorrichtung und Autofokussierverfahren für eine Abbildungsvorrichtung |
DE10362244B4 (de) * | 2003-04-29 | 2014-06-26 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Bestimmung der Fokusposition und der Verkippung der Fokusebene bei der Abbildung einer Probe |
DE102009047249B4 (de) * | 2008-11-28 | 2014-08-28 | Mitutoyo Corp. | Autofokusvorrichtung |
US9229209B2 (en) | 2008-01-21 | 2016-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Autofocus device and autofocusing method for an imaging device |
DE102016120730A1 (de) * | 2016-10-31 | 2018-02-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Autofokussiereinrichtung für eine Abbildungsvorrichtung sowie Autofokussierverfahren |
DE102006027836B4 (de) * | 2006-06-16 | 2020-02-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop mit Autofokuseinrichtung |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7061672B2 (en) * | 2000-06-20 | 2006-06-13 | Kramer Scientific Corporation | Fluorescence microscope |
TW526928U (en) * | 2001-08-08 | 2003-04-01 | Mustek Systems Inc | Microscopic function expansion module of digital camera |
JP2003254718A (ja) * | 2002-03-05 | 2003-09-10 | Mitsutoyo Corp | 画像処理型測定機の照明装置 |
JP2005017805A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Mitsutoyo Corp | 画像測定装置のフォーカス検出方法、フォーカス検出機構、およびこのフォーカス検出機構を備えた画像測定装置 |
DE602005009432D1 (de) | 2004-06-17 | 2008-10-16 | Cadent Ltd | Verfahren und Gerät zur Farbbildformung einer dreidimensionalen Struktur |
CN100357779C (zh) * | 2004-12-17 | 2007-12-26 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 影像自动对焦系统及方法 |
IL166453A0 (en) * | 2005-01-23 | 2006-01-15 | A method and apparatus for measurement of chromatic aberations of optical systems | |
WO2006081412A2 (en) * | 2005-01-28 | 2006-08-03 | Indiana University Research & Technology Corporation | Relocatable stereotactic immobilization apparatus |
JP2007155379A (ja) * | 2005-12-01 | 2007-06-21 | Tokyo Univ Of Agriculture & Technology | 三次元形状計測装置および三次元形状計測方法 |
DE102006040636B3 (de) * | 2006-05-15 | 2007-12-20 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Autofokus-System und Verfahren zum Autofokussieren |
JP5065189B2 (ja) * | 2008-07-18 | 2012-10-31 | 株式会社ミツトヨ | オートフォーカス装置 |
JP2010026212A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Mitsutoyo Corp | オートフォーカス装置 |
US8362409B2 (en) * | 2009-10-29 | 2013-01-29 | Applied Precision, Inc. | System and method for continuous, asynchronous autofocus of optical instruments |
CA2785739C (en) * | 2009-12-31 | 2015-10-06 | Abbott Point Of Care, Inc. | Method and apparatus for fast focus imaging biologic specimens |
JP2013533469A (ja) | 2010-05-25 | 2013-08-22 | アリックス インク | 免疫診断における生物学的および化学的分析および用途における粒子の位置的自由度の検出のための方法および装置 |
CN102435516A (zh) * | 2011-09-14 | 2012-05-02 | 西南交通大学 | 一种实时观测与记录微动摩擦磨损的装置 |
US20130162806A1 (en) * | 2011-12-23 | 2013-06-27 | Mitutoyo Corporation | Enhanced edge focus tool |
US9675430B2 (en) | 2014-08-15 | 2017-06-13 | Align Technology, Inc. | Confocal imaging apparatus with curved focal surface |
JP2016071010A (ja) * | 2014-09-29 | 2016-05-09 | 株式会社ミツトヨ | オートフォーカス装置、オートフォーカス方法、及びプログラム |
EP3441812B1 (de) * | 2017-08-11 | 2020-07-01 | Tecan Trading Ag | Muster-basiertes autofokus-verfahren für ein mikroskop |
KR102411099B1 (ko) * | 2017-09-29 | 2022-06-22 | 라이카 바이오시스템즈 이미징 인크. | 실시간 오토포커스 스캐닝 |
GB2583369B (en) * | 2019-04-25 | 2021-09-15 | Andor Tech Limited | Microscope with focusing system |
US10895727B1 (en) | 2019-10-19 | 2021-01-19 | SequLITE Genomics US, Inc. | Microscope for locating structures on the inner surface of a fluidic channel |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4561731A (en) * | 1980-03-10 | 1985-12-31 | Kley Victor B | Electronic illumination control |
US4935612A (en) * | 1986-05-16 | 1990-06-19 | Reichert Jung Optische Werks, A.G. | Autofocus system and method of using the same |
GB2198607B (en) * | 1986-12-05 | 1990-10-31 | Maxwell Electronics Ltd | Autofocus assist illuminator |
GB2207828A (en) * | 1987-08-07 | 1989-02-08 | Achiever Ltd | Automatic focusing |
DE3739223A1 (de) * | 1987-11-19 | 1989-06-01 | Reichert Optische Werke Ag | Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierung |
DE3744143A1 (de) * | 1987-12-24 | 1989-07-13 | Kernforschungsanlage Juelich | Magnetische lagerung eines rotors an einem stator |
GB2215389B (en) * | 1988-02-01 | 1992-02-19 | Ogden Industries Pty Ltd | Lock mechanism |
US4945220A (en) * | 1988-11-16 | 1990-07-31 | Prometrix Corporation | Autofocusing system for microscope having contrast detection means |
JP2686492B2 (ja) * | 1988-12-12 | 1997-12-08 | 株式会社日立製作所 | 透過形電子顕微鏡の照射位置決め方法 |
JP3012248B2 (ja) * | 1989-05-09 | 2000-02-21 | 旭光学工業株式会社 | 自動焦点検出装置および自動焦点検出装置を備えたカメラ |
US5056177A (en) * | 1989-07-31 | 1991-10-15 | Nast Irving J | Cleanout apparatus |
JPH03223831A (ja) * | 1990-01-30 | 1991-10-02 | Canon Inc | カメラの投光装置 |
US5289318A (en) * | 1990-07-31 | 1994-02-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical apparatus provided with a driving unit for moving a lens |
JP2696044B2 (ja) * | 1992-07-14 | 1998-01-14 | 株式会社ミツトヨ | 合焦検出方法、これを用いた非接触変位測定方法及び装置 |
US5577950A (en) * | 1993-11-29 | 1996-11-26 | Coburn Optical Industries, Inc. | Conformal tool operating apparatus and process for an ophthalmic lens finer/polisher |
IL111229A (en) * | 1994-10-10 | 1998-06-15 | Nova Measuring Instr Ltd | Autofocusing microscope |
-
1996
- 1996-05-20 JP JP12458296A patent/JP3462006B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-05-14 US US08/856,394 patent/US6075558A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-15 GB GB9709935A patent/GB2313508B/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-20 CN CN97104689.1A patent/CN1093943C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-20 DE DE19721112A patent/DE19721112B4/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0911664A2 (de) * | 1997-10-22 | 1999-04-28 | Carl Zeiss | Optische Bildaufnahmeeinrichtung und Verfahren zu deren Nutzung |
EP0911664A3 (de) * | 1997-10-22 | 2002-03-13 | Carl Zeiss | Optische Bildaufnahmeeinrichtung und Verfahren zu deren Nutzung |
DE29806004U1 (de) * | 1998-04-03 | 1998-09-17 | Leica Mikroskopie & Syst | Vorrichtung zur Fokussierung eines Auflichtmikroskops |
DE19923821A1 (de) * | 1999-05-19 | 2000-11-23 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Lageerfassung einer mit einem Laser-Scanner abzutastenden Fläche |
DE10112639A1 (de) * | 2001-03-16 | 2002-09-19 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Mikroskop mit Autofokussiereinrichtung |
DE10132650C1 (de) * | 2001-05-11 | 2003-02-20 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Verfahren und Anordnung zur Justierung einer Bilderfassungsvorrichtung |
DE10362244B4 (de) * | 2003-04-29 | 2014-06-26 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Bestimmung der Fokusposition und der Verkippung der Fokusebene bei der Abbildung einer Probe |
DE102006027836B4 (de) * | 2006-06-16 | 2020-02-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop mit Autofokuseinrichtung |
DE102008005355A1 (de) * | 2008-01-21 | 2009-07-23 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Autofokusvorrichtung und Autofokussierverfahren für eine Abbildungsvorrichtung |
US9229209B2 (en) | 2008-01-21 | 2016-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Autofocus device and autofocusing method for an imaging device |
DE102008005355B4 (de) * | 2008-01-21 | 2016-10-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Autofokusvorrichtung und Autofokussierverfahren für eine Abbildungsvorrichtung |
DE102008005356B4 (de) * | 2008-01-21 | 2017-01-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Autofokusvorrichtung und Autofokussierverfahren für eine Abbildungsvorrichtung |
DE102008005356A1 (de) * | 2008-01-21 | 2009-07-23 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Autofokusvorrichtung und Autofokussierverfahren für eine Abbildungsvorrichtung |
DE102009047249B4 (de) * | 2008-11-28 | 2014-08-28 | Mitutoyo Corp. | Autofokusvorrichtung |
DE102016120730A1 (de) * | 2016-10-31 | 2018-02-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Autofokussiereinrichtung für eine Abbildungsvorrichtung sowie Autofokussierverfahren |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1176396A (zh) | 1998-03-18 |
JPH09304685A (ja) | 1997-11-28 |
CN1093943C (zh) | 2002-11-06 |
JP3462006B2 (ja) | 2003-11-05 |
DE19721112B4 (de) | 2010-12-02 |
US6075558A (en) | 2000-06-13 |
GB2313508B (en) | 2000-04-12 |
GB2313508A (en) | 1997-11-26 |
GB9709935D0 (en) | 1997-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19721112A1 (de) | Autofokussiereinrichtung | |
DE2710995C2 (de) | Laseroptisches Gerät für Operationen unter einem Mikroskop | |
EP1276586B1 (de) | Laser-mikro-dissektionsgerät | |
DE3116190C2 (de) | ||
DE2110073C3 (de) | Vorrichtung zur Projektionsmaskierung einer lichtempfindlichen Schicht | |
DE1427531A1 (de) | Vorrichtung zur Herstellung von asphaerischen Oberflaechen | |
EP0011709A2 (de) | Lichtleiteinrichtung zur Auflichtbeleuchtung | |
DE4136002A1 (de) | Moire- konturenabbildungsvorrichtung | |
DE102021118327B4 (de) | Messkamera zur zweidimensionalen Vermessung von Gegenständen | |
DE602005001286T2 (de) | Universalmikroskop | |
EP0055209B1 (de) | Strahlenumlenkvorrichtung | |
DE2804527A1 (de) | Verfahren und anordnung zum abgleichen von abbildungssystemen | |
DE4113279C2 (de) | Konfokales optisches Rastermikroskop | |
WO2007137598A1 (de) | Inverses mikroscop | |
DE3242002C2 (de) | ||
WO2015004263A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur spektrometrischen reflexionsmessung bei sphärischen flächen | |
DE2633965C3 (de) | Einrichtung zur Parallelen und zentrischen Justierung eines mittels Strahlablenker manipulierbaren Laserstrahls | |
DE3116074C2 (de) | Funduskamera zur Augenuntersuchung | |
DE2624372B2 (de) | Vorrichtung zur photogrammetrischen Wiedergabe | |
DE2328096A1 (de) | Strichzeichnung-belichtungsvorrichtung mit bilddreheinrichtung | |
WO1994007164A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur messung von belichtungszeiten in optischen geräten mit mikroskopischem abbildungsstrahlengang | |
DE1933651C3 (de) | Optische Vorrichtung zum Messen des Durchmessers von Fasern geringer Dicke | |
DE1773335B2 (de) | Mikroskop zur radiusmessung | |
DE3514779C2 (de) | ||
DE102022109577A1 (de) | Verfahren und Messkamera zur zweidimensionalen Vermessung von Gegenständen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20110302 |
|
R071 | Expiry of right |