DE19531988A1 - Fernmessung von U (Pu) in Gläsern - Google Patents
Fernmessung von U (Pu) in GläsernInfo
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 38
- 239000011521 glass Substances 0.000 title description 7
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N uranium(0) Chemical compound [U] JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 229910052778 Plutonium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 claims abstract description 7
- OYEHPCDNVJXUIW-UHFFFAOYSA-N plutonium atom Chemical compound [Pu] OYEHPCDNVJXUIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 7
- 239000012857 radioactive material Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 17
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 14
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 14
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 14
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 12
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 claims description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 10
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 claims description 4
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 3
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 2
- 239000003570 air Substances 0.000 claims 2
- 239000012080 ambient air Substances 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 34
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 14
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 6
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 4
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 3
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001224 Uranium Chemical group 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/718—Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine
Vorrichtung zur Fernmessung von Uran bzw. Plutonium in
radioaktiven Materialien, wie z. B. in Abfallgläsern.
Bisher wird zur Bestimmung radioaktiver Elemente in radioak
tiven Materialien eine Probe aus diesen Materialien mechanisch
entnommen und anschließend auf das Vorhandensein dieser
Elemente untersucht. Dabei hantieren die mit dieser
Untersuchung befaßten Personen an und mit der Probe des zu
analysierenden Materials, wobei diese Arbeiten in die
radioaktive Strahlung abschirmenden Kammern durchgeführt
werden, in denen Greifzangen und dgl., die vom Menschen von
außerhalb der Kammer bedient werden können, angeordnet sind.
Das Bearbeiten der Proben in den Kammern ist sehr umständlich
und daher entsprechend zeitraubend.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein
Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Fernmessung von Uran bzw.
Plutonium in radioaktiven Materialien zu schaffen, gemäß dem
bzw. bei der möglichst wenig mit der Probe des zu analysie
renden Materials hantiert werden muß.
Diese Aufgabe wird mit Hilfe eines Verfahrens bzw. einer
Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruches 15 bzw. des
Anspruches 1 gelöst.
Erfindungsgemäß wird vorgeschlagen, einen Laser vorzusehen,
dessen Laserstrahl auf die zu analysierende Probe des
radioaktiven Materials fokussierbar ist. Beim Auftreffen des
Laserstrahls auf die Probe wird eine winzige Menge derselben
ablatiert, weshalb man von einem quasi-nichtdestruktiven
Verfahren spricht. Dabei erzeugt der Laser ein Plasma der
Probe, von dem Licht emittiert wird. Das Emissionsspektrum
des Plasmas wird in einen Spektrographen abgebildet und
anschließend mit Hilfe einer Analysiereinheit ausgewertet. Die
aufgefundenen Spektrallinien lassen dann entsprechende Aussa
gen über das Vorhandensein von Uran bzw. Plutonium in der
Probe zu.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn eine Verzögerungseinheit
vorgesehen wird, die den Beginn des Analysiervorganges, d. h.
insbesondere das mathematische Aufintegrieren der gemessenen
Emissionsspektren über die Zeit, hinsichtlich des Aussende
zeitpunktes des Laserpulses verzögert. Dadurch ist es möglich,
durch Variieren dieser Verzögerungszeit ein optimales
Signal/Rausch-Verhältnis bestimmter Spektrallinien zueinander
einzustellen. Des weiteren kann gewährleistet werden, daß erst
dann analysiert wird, wenn das von der Probe abgetragene
Material vollständig atomisiert ist.
Die den Laserstrahl fokussierende Fokussiereinheit kann
unmittelbar am Laser angeordnet sein, so daß ein die
Fokussiereinheit des Lasers verlassender Laserstrahl direkt
durch den freien Raum auf die Probe treffen kann. Des weiteren
ist es möglich, die Abbildeeinheit, die das von dem laserer
zeugten Plasma emittierte Licht in den Spektrographen abbil
det, unmittelbar am Spektrographen selbst anzuordnen. Auch
hier gelangt das emittierte Licht direkt durch den freien Raum
zum Spektrographen. Aufgrund der relativ großen Distanzen, die
das Laserlicht sowie das vom Probenplasma emittierte Licht im
freien Raum zurückzulegen haben, können entsprechende
Streuungen und Intensitätsverluste der Lichtstrahlen
auftreten.
Vorzugsweise wird daher einerseits der Laserstrahl näher an
die Probe herangeführt und andererseits das von der Probe
emittierte Licht in räumlicher Hinsicht früher geführt, so daß
die insgesamt von den Lichtstrahlen zurückzulegenden Wege im
freien Raum reduziert werden.
Bei einer derartigen Ausführungsform der Erfindung ist ein auf
die Probe aufsetzbarer Meßkopf vorgesehen. Die Zuführung des
Laserstrahls zum Meßkopf sowie die Weiterleitung des von der
Probe emittierten Lichtes vom Meßkopf zum Spektrographen
erfolgt jeweils mit Hilfe von Lichtleitern. Der Meßkopf weist
mehrere rohrartige Stutzen auf, in denen die Linsensysteme der
Fokussiereinheit bzw. der Abbildeeinheit angeordnet sind. Die
optischen Achsen der Linsensysteme sind dabei so ausgerichtet,
daß deren Verlängerungen im wesentlichen durch denjenigen
Raumbereich laufen, in dem sich das lasererzeugte Plasma der
Probe während der Messung befindet.
An der Unterseite des Meßkopfes kann wenigstens eine
Zuführleitung vorgesehen werden, durch die einer in dem
Meßkopf ausgebildeten Kammer, in der sich die Probe befindet,
ein Spülfluid zwecks Abschirmung des Plasmas von der Umge
bungsluft zugeführt wird. Bei diesem Spülfluid kann es sich um
ein Edelgas, vorzugsweise Argon, oder um staubfreie Luft
handeln.
Zur Justierung einer optimalen Einkoppelung des Laserstrahls
in den zum Meßkopf führenden Lichtleiter ist eine fest mit dem
Gehäuse des Lasers verbundene Lichtleitereinkopplungseinheit
vorgesehen, die es ermöglicht, das dem Laser zugewandte
Lichtleiterende einerseits um seine beiden Querachsen zu
drehen und andererseits in Richtung dieser Querachsen sowie
seiner Längsachse linear zu verschieben.
Nachfolgend wird eine Ausführungsform der Erfindung beispiel
haft anhand der beigefügten Figuren beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 eine Seitenansicht einer Ausführungsform der erfin
dungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 2 eine Ansicht von unten auf die erfindungsgemäße
Vorrichtung gemäß Fig. 1;
Fig. 3 eine Tabelle mit Daten der zum Transport des Nd:YAG
Laserstrahls benutzten Faseroptik sowie der
Fokussieroptik;
Fig. 4 eine Tabelle mit Daten der zur Abbildung des Plasmas
benutzten Faseroptik;
Fig. 5 die Optik zur Einkopplung des von dem lasererzeugten
Plasma emittierten Lichtes in den vierarmigen Licht
leiter;
Fig. 6 eine Tabelle mit Daten zum spektralen Fenster und der
Detektorauflösung in verschiedenen Wellenlängenberei
chen;
Fig. 7 die Frontansicht einer erfindungsgemäßen Lichtleiter
einkopplungseinheit vom Typ Newport MF 91-CL;
Fig. 8 eine Seitenansicht der erfindungsgemäßen Lichtleiter
einkopplungseinheit gemäß Fig. 7;
Fig. 9 eine Ansicht von unten auf die erfindungsgemäße
Lichtleitereinkopplungseinheit gemäß Fig. 8;
Fig. 10 ein Strahlprofil des Nd:YAG Laserstrahls hinter dem
Lichtleiter;
Fig. 11 die Transmission des Lichtleiters in Abhängigkeit von
der eingekoppelten Pulsenergie;
Fig. 12 die relative Transmission des vierarmigen Licht
leiters;
Fig. 13 die vom Hersteller spezifizierte absolute Transmis
sion des vierarmigen Lichtleiters;
Fig. 14 eine Kalibrationsmessung Chrom/Eisen mit drei unter
schiedlichen Matrizes;
Fig. 15 die Emissionsspektren der Glasproben VG 98/12, GP
98/12 und GP 98/12+UO₂ bei 590 nm;
Fig. 16 eine Messung zur Uranverteilung in der Glasprobe GP
98/12+UO₂;
Fig. 17 die Zeitabhängigkeit des Signal/Rausch-Verhältnisses
der Uran-Atomlinie 591,539 nm, gemessen mit und ohne
Lichtleiter bei einer Integrationszeit von 20 µs;
Fig. 18 die Zeitabhängigkeit des Signal/Rausch-Verhältnisses
bei drei verschiedenen Integrationszeiten, nämlich
10 µs, 20 µs und 30 ms, gemessen mit dem Meßkopf;
Fig. 19 einen Vergleich der Ergebnisse der erfindungsgemäßen
Messungen mit und ohne Lichtleiter.
Die in Fig. 1 dargestellte erfindungsgemäße Vorrichtung 30
weist einen Nd:YAG Laser (Spectron SL 401), einen Spektro
graphen 4 mit Detektoreinheit 23, eine Analysiereinheit 6
sowie eine zwischen letzterer und dem Laser 1 angeordnete
Verzögerungseinheit 7 auf. An der Detektoreinheit 23 ist ein
nicht dargestellter Rechner angeschlossen. Bei der
Analysiereinheit 6 handelt es sich um das Vielkanalanalysator-
System OMAIII der Firma EG Die Verzögerungseinheit 7 ist
über entsprechende Signalleitungen 24 mit dem Laser 1 und der
Analysiereinheit 6 verbunden.
Zur Verdampfung der Probe 3 wird der Laser 1 mit seiner
Grundwellenlänge von 1064 nm und einer Pulslänge von 5 ns be
trieben. Die Pulsenergie beträgt vorzugsweise 20 mJ.
Der Meßkopf 14, der gemäß Fig. 2 einen quadratischen Grundriß
aufweist, ist auf die Probe 3 aufsetzbar. An ihm sind
insgesamt fünf rohrartige Stutzen 16, 17 angeordnet, von denen
im Seitenschnitt der Fig. 1 nur drei zu erkennen sind.
Die Fokussiereinheit 2, bestehend aus dem Lichtleiter 10 sowie
den Linsen 8 und 9, ist in dem senkrecht nach oben
wegstehenden Stutzen 16 des Meßkopfes 14 angeordnet, wobei der
Lichtleiter 10 naturgemäß nur auf einer vergleichsweise
geringen Länge innerhalb des Stutzens 16 verläuft. Die übrigen
vier seitlich wegstehenden Stutzen 17 nehmen die vier
Abbildeeinheiten 5, jeweils bestehend aus dem Lichtleiter 13
sowie den Linsen 11 und 12 bzw. 11′ und 12′, auf. Wegen der
hier vorgesehenen vier Abbildungseinheiten 5 spricht man auch
von einem vierarmigen Lichtleiter 13. Die beiden in Fig. 1
nicht sichtbaren Stutzen 17 liegen in Blickrichtung der Fig.
1 hintereinander sowie symmetrisch zur Zeichenebene der Fig.
1. Dadurch wird gewährleistet, daß ein möglichst großer Teil
des in alle Raumrichtungen emittierten Lichtes in den Spektro
graphen 4 abgebildet wird.
Die Lichtleiter 10 bzw. 13 werden in den Stutzen 16 bzw. 17
von Führungsstücken 25 bzw. 26 gehalten. Als Lichtleiter
werden vorzugsweise Glasfasern bzw. Glasfaserkabel verwendet.
Die technischen Daten der Fokussier- und Faseroptik der
Fokussiereinheit 2 können der Tabelle gemäß Fig. 3 entnommen
werden. Die technischen Daten der Fokussier- und Faseroptik
der vier Abbildeeinheiten 5 sind in der Tabelle gemäß Fig. 4
enthalten.
Wie in Fig. 2 am besten zu erkennen ist, weist der Meßkopf 14
an seiner Unterseite vier Zuführleitungen 22 auf, durch die
ein Spülfluidstrom gemäß der Pfeile A in die Kammer 15 des
Meßkopfes 14 zuführbar ist. Dabei soll der Spülfluidstrom
entlang der Oberfläche der Probe 3 strömen und eine solche
vertikale Erstreckung aufweisen, daß das lasererzeugte Plasma
18 möglichst vollständig umströmt wird. Durch das Umströmen
mit einem Spülfluid werden Störungen des Plasmas, wie z. B.
eine Verringerung der Plasmatemperatur, durch Luft vermieden.
Als besonders günstig hat sich die Verwendung des Edelgases
Argon als Spülfluid erwiesen. Vorzugsweise wird ein Argonfluß
von ca. 40 l/h gewählt.
Fig. 5 zeigt den Aufbau der zur Einkopplung in den
vierarmigen Lichtleiter 13 verwendeten Optiken. Es ist
insbesondere der Arbeitsabstand E der 2-Linsensysteme 11, 12
der Abbildeeinheiten 5 zu erkennen, in dem das licht
emittierende Plasma 18 liegen muß. Die verwendeten
Abbildeeinheiten 5 ermöglichen es, auch Strahlung aus
oberflächennahen Schichten des Plasmas 18 abzubilden und zu
analysieren.
Der Tabelle gemäß Fig. 6 können die Pixelbreite und die das
simultanbeobachtbare spektrale Fenster in verschiedenen
Spektralbereichen des verwendeten Vielkanalanalysator-Systems
entnommen werden.
In den Fig. 7, 8 und 9 ist die Lichtleitereinkopplungsein
heit 19 gezeigt. Sie dient der optimalen Einkopplung des aus
dem Laser 1 kommenden Laserstrahles in den Lichtleiter 10. Sie
weist eine Laserstrahleinleitungsöffnung 21 und einen
Lichtleiteranschluß 20 auf. Die gesamte Lichtleitereinkopp
lungseinheit 19 ist mechanisch lösbar an dem Gehäuse des
Lasers 1 befestigt, so daß eine Dejustierung der Lichtleiter
faser zum Laserstrahl und damit eine mögliche Zerstörung der
Lichtleiterfaserendflächen bei Dejustierung vermieden wird.
Zum Schutz vor Verunreinigungen der Lichtleiterfaserendflächen
werden die Faserenden mit staubfreier Luft gespült. Zur
Einkopplung des Laserstrahles in die Lichtleitfaser wird eine
Quarzlinse mit einer Brennweite von 55,8 mm bei der Laserwel
lenlänge von 1064 nm benutzt. Die Lichtleiterfaser mit einem
Kerndurchmesser von 600 µm wird etwa 14 mm hinter dem
Brennpunkt der Linse positioniert.
Zur optimalen Justierung des Lichtleiterfaserendes relativ zum
Laserstrahl werden dem Lichtleiter insgesamt fünf Freiheits
grade eingeräumt. Gemäß Fig. 8 ist der an den Lichtleiter
anschluß 20 angeschlossene Lichtleiter 10 an seinen dem Laser
1 zugewandten Ende um seine beiden Querachsen y, z verschwenkbar
sowie in Richtung dieser beiden Querachsen und seiner Längs
achse x linear verschiebbar. Zur Vermeidung von Zerstörungen
der Faserendfläche durch zu hohe Intensitäten wird während der
Justierung ein Abschwächfilter zwischen Laser 1 und Faser des
Lichtleiters 10 gesetzt, so daß bei einer Pulsenergie von etwa
10 mJ nur etwa 0,01 mJ/Puls in die Lichtleiterfaser einge
koppelt werden.
Fig. 10 zeigt das Ergebnis einer Untersuchung des
Strahlprofiles des aus der Faser des Lichtleiters 10
austretenden Lichtes, das mittels einer Photodiodenzelle
ermittelt wurde. Es handelt sich um das Strahlprofil des
Laserstrahls hinter der Lichtleiterfaser bei optimierter
Einkopplung. Ein symmetrisches Profil ist erkennbar. Nach
sorgfältiger Justierung der Lichtleiterfaser wurden Pulsener
gien von bis zu 30 mJ problemlos in die Faser eingekoppelt.
Diese Pulsenergien liegen noch etwa eine Größenordnung unter
der spezifizierten Zerstörschwelle des Lichtleiters 10.
Gemäß Fig. 11 konnten in dem Lichtleiter 10 keine
Transmissionsverluste im Rahmen der Meßgenauigkeit festge
stellt werden. Bei den Messungen wurde mit einer Pulsenergie
von 20 mJ gearbeitet, wobei die Bestrahlungsdichte (ca. 0,8
GW/cm²) der Lichtleiterfaserendflächen etwa eine Größenordnung
unter der Zerstörschwelle lag.
Die Messungen mit der hier beschriebenen Ausführungsform, also
mit den Lichtleitern 10 und 13 sowie dem Meßkopf 14, wurden
mit Messungen verglichen, die mit einer anderen erfindungs
gemäßen Ausführungsform, bei der kein Meßkopf 14 sowie keine
Lichtleiter 10 und 13 vorhanden waren, sondern der Laserstrahl
direkt vom Laser 1 durch den freien Raum auf die Probe 3
auftreffen konnte und das von dem Plasma 18 emittierte Licht
direkt durch den freien Raum in den Spektographen 4 gelangen
konnte, durchgeführt wurden. Die diesen beiden Ausführungsfor
men zugeordneten Messungen werden im folgenden als "Messungen
mit Lichtleiter" und "Messungen ohne Lichtleiter" bezeichnet.
Bei den Messungen mit Lichtleiter wurde auf der Probe 3 ein
Fokusradius von ca. 320 µm realisiert. Bei den Messungen ohne
Lichtleiter wurde ein maximales Signal/Rauschverhältnis bei
einer Laserenergie von 20 mJ und einem Fokusradius auf der
Probe 3 von 90 µm festgestellt, was einer Bestrahlungsstärke
von etwa 6,3×10¹⁰ W/cm² entspricht. Bei den Messungen mit
Lichtleiter betrug die Bestrahlungsdichte bei gleicher
Pulsenergie des Lasers 1 wegen des größeren Fokusdurchmessers
nur etwa 5×10⁹ W/cm². Dies führte zu einem etwa eine
Größenordnung geringeren Probenabtrag.
In Fig. 12 ist die relative Transmission des vierarmigen
Lichtleiters 13 für die Plasmastrahlung im Wellenlängenbereich
zwischen 200 und 600 µm dargestellt. Die Transmissionsmessung
erfolgte mit Hilfe einer Quecksilber-Dampflampe. Die Transmis
sionskurve zeigt den relativen Verlauf mit allen optischen
Komponenten bei Messungen in Luft. Es ist das Intensitäts
verhältnis von Messungen mit und ohne Lichtleiter über der
Wellenlänge aufgetragen. Deutlich sichtbar ist ein abfallender
Transmissionsverlauf unterhalb einer Wellenlänge von ca. λ =
280 nm.
Fig. 13 zeigt die vom Hersteller spezifizierte absolute
Transmission des Lichtleiters 13. Die maximale absolute
Transmission beträgt etwa 64%.
Fig. 14 zeigt eine Kalibrationsmessung Chrom gegen Eisen mit
drei verschiedenen Matrizes (Stahl: NBS-Probe, Glas: Probe der
Fa. Hoesch, Aluminium: Proben der Firmen Pechiney und
Alusuisse). Verwendet wurden Atom-Emissionslinien bei 425,435
nm (Cr(I)) und 302,639 nm (Fe(I)). Es ist das Intensitäts
verhältnis gegen das Konzentrationsverhältnis aufgetragen. Des
weiteren wurde mit einer Zeitverzögerung von 6 µs nach dem
Laserpuls (Pulsenergie 20 mJ) gemessen. Die Integrationszeit
betrug 40 µs. 50 Spektren wurden aufaddiert. Die Steigung der
ausgleichenden Geraden ist in doppelt logarithmischer
Darstellung eins. Alle Meßdaten liegen innerhalb von 5% auf
der Geraden. Dies zeigt, daß eine matrixunabhängige Messung
möglich ist. Diese Aussage ist für die Bestimmung von Uran und
Plutonium in Gläsern unterschiedlicher Zusammensetzung wich
tig. Geringe Änderungen in der Zusammensetzung des
eingeschmolzenen Probenmaterials können die Absorption und
Reflexion der Laserstrahlung, die Abtragsmenge und die
Plasmaparameter verändern. Wählt man jedoch Linien mit ähn
licher Anregungsenergie, so ist bei vollständiger Atomisierung
des abgetragenen Materials und Annahme eines thermodynamischen
Gleichgewichtes das Intensitätsverhältnis proportional dem
Konzentrationsverhältnis und damit weitgehend unabhängig von
der Probenzusammensetzung und den Plasmatemperaturen. Proben
3, bei denen unterschiedliche Mengen abgetragen werden und bei
denen verschiedene Temperaturen im lasererzeugten Plasma 18
auftreten, können so miteinander verglichen werden.
Fig. 15 zeigt Spektren der Glasproben VG 98/12, GP 98/12 und
GP 98/12+0,98%UO₂. Es wurden bei einer Verzögerung von 6 µs
und einer Integrationszeit von 20 µs jeweils 50 Spektren
aufintegriert. Der Probenabtrag betrug etwa 0,15 ng/Schuß bei
einer Bestrahlungsdichte von 5×10⁹ W/cm². Neben der Uran-
Atomlinie bei 591,539 nm sind noch zwei Emissionslinien des
Matrixbestandteils Titan (Ti(I) 591,855 nm, Ti(I) 592,212 nm)
sowie eine Atomlinie des Schutzgases Argon (591,208 nm) zu
erkennen.
Unter gleichen Meßbedingungen wurde die in Fig. 16
dargestellte Messung zur Homogenität der Uranverteilung in der
Probe GP 98/12+UO₂ durchgeführt. Jeder Meßpunkt repräsentiert
den Mittelwert aus fünf Messungen. Es zeigt sich eine, bezogen
auf den Durchmesser des Brennflecks von 320 µm, relativ
homogene Uranverteilung. Die Standardabweichung der Einzelmes
sungen liegt zwischen 6 und 12%, die des Mittelwertes bei 6%.
Fig. 17 zeigt das Signal/Rausch-Verhältnis der Uran Atomlinie
591,539 nm in Abhängigkeit von der Zeit. Sowohl bei der
Messung mit Lichtleiter als auch bei der Messung ohne
Lichtleitung ist ein maximales Verhältnis bei einer
Zeitverschiebung von 6 µs zu erkennen. Zwar ist die Intensität
der Analysenlinien bei kleineren Verzögerungszeiten höher, sie
liegen aber auf einem sehr hohen Untergrund (Rekombina
tionskontinuum des Plasmas). Außerdem gibt es eine gewisse
Matrixabhängigkeit bei kleinen Zeitverzögerungen, weil das
abgetragene Material noch nicht vollständig atomisiert ist.
Durch Kühlung des Detektors 23 läßt sich das Rauschen
verringern. Damit erhält man eine Verbesserung des
Signal/Rauschverhältnisses und somit auch der Nachweisgrenze.
Bei Verwendung höherer Laserpulsenergien sind durch den
größeren Abtrag größere Linienintensitäten zu erwarten. Aller
dings muß dann für ein optimales Signal/Rausch-Verhältnis das
Zeitfenster neu gefunden werden.
Wegen der geringeren Intensität im Laserfokus ist der
Probenabtrag bei Messungen mit Lichtleiter kleiner als bei den
Messungen ohne Lichtleiter. Jedoch ist die gemessene Intensi
tät der Analysenlinien um etwa 66% größer als bei den
Messungen ohne Lichtleiter, wenn der Probenabtrag durch
Verringerung der Laserintensität bei den Messungen ohne
Lichtleiter vergleichbar ist.
In Fig. 18 ist die Zeitabhängigkeit des Signal/Rausch-
Verhältnisses bei verschiedenen Integrationszeiten (10 µs, 20 µs
und 30 µs) dargestellt. Bei einer Integrationszeit von 20 µs
und einer Verzögerung von 6 µs erhält man ein optimales
Verhältnis.
In der Tabelle gemäß Fig. 19 werden die erfindungsgemäßen
Messungen ohne Lichtleiter 10, 13 einerseits sowie mit
Lichtleiter 10, 13 andererseits gegenübergestellt. Der
Vergleich der Ergebnisse zeigt, daß die absoluten
Nachweisgrenzen für Uran bei Messungen mit Lichtleiter kleiner
sind als bei den Messungen ohne Lichtleiter. Die
Nachweisgrenze ließe sich etwa um den Faktor 2-3 reduzieren,
wenn man den Detektor 23 kühlen würde, wobei allerdings eine
Spülung des Detektors 23 mit einem trockenen Gas erforderlich
wäre. Des weiteren führen höhere Pulsenergien zu einem
größeren Abtrag und, bei geeigneter Wahl der Verzögerung der
Detektion, zu niedrigeren relativen Nachweisgrenzen.
Vorteilhaft wäre auch die Verwendung eines Spektrographen 4
möglichst hoher Auflösung, damit stärkere Nachweislinien, die
bislang aufgrund von Linieninterferenzen nicht ausgewählt
werden konnten, für die Konzentrationsbestimmung herangezogen
werden können.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung ermöglicht eine schnelle und
im Aufbau einfache Analyse hochradioaktiver Proben 3. Die zur
Analyse des emittierten Lichtes benötigte Vorrichtung ist
transportabel, wobei es sich während der Messung beim Meßkopf
14 und den Lichtleitern 10, 13 um stationäre Einheiten handelt,
während der Laser 1, der Spektrograph 4 und der Detektor 23
mit angeschlossenem Rechner in einer mobilen Einheit
installiert werden können. Der Vorteil des Meßkopfes 14
besteht insbesondere darin, daß er beliebig positioniert
werden kann, wobei darüber hinaus biegsame und flexible
Lichtleiter 10, 13 von sehr großer Länge eingesetzt werden
können. Des weiteren finden die Messungen unter einem
Argonstrom bei Atmosphärendruck statt, so daß die Verwendung
von geschlossenen Probenkammern mit aufwendigen Mechaniken zum
Probenwechsel entfallen. Der Meßkopf 14 kann mittels eines
Manipulators oder eines Roboterarms an der Probe 3
positioniert werden, so daß das Experiment ferngesteuert und
ohne direkten Kontakt mit radioaktivem Material durchgeführt
werden kann.
Bezugszeichenliste
1 Laser
2 Fokussiereinheit
3 Probe
4 Spektrograph
5 Abbildeeinheit
6 Analysiereinheit
7 Verzögerungseinheit
8 Linse
9 Linse
10 Lichtleiter
11, 11′ Linsen
12, 12′ Linsen
13 Lichtleiter
14 Meßkopf
15 Kammer
16 Stutzen
17 Stutzen
18 Plasma
19 Lichtleitereinkopplungseinheit
20 Lichtleiteranschluß
21 Laserstrahleinleitungsöffnung
22 Zuführleitung
23 Detektoreinheit
24 Signalleitungen
25 Führungsstück
26 Führungsstück
30 Vorrichtung
2 Fokussiereinheit
3 Probe
4 Spektrograph
5 Abbildeeinheit
6 Analysiereinheit
7 Verzögerungseinheit
8 Linse
9 Linse
10 Lichtleiter
11, 11′ Linsen
12, 12′ Linsen
13 Lichtleiter
14 Meßkopf
15 Kammer
16 Stutzen
17 Stutzen
18 Plasma
19 Lichtleitereinkopplungseinheit
20 Lichtleiteranschluß
21 Laserstrahleinleitungsöffnung
22 Zuführleitung
23 Detektoreinheit
24 Signalleitungen
25 Führungsstück
26 Führungsstück
30 Vorrichtung
Claims (20)
1. Vorrichtung zur Fernmessung von Uran bzw. Plutonium in
radioaktiven Materialien,
dadurch gekennzeichnet, daß
dadurch gekennzeichnet, daß
- - ein Laser (1), dessen Laserstrahl mittels einer Fokussiereinheit (2) auf eine zu analysierende Probe (3) fokussierbar ist, so daß lichtemittierendes Plasma (18) entsteht,
- - ein Spektrograph (4), in den das von der Probe (3) emittierte Licht mittels einer Abbildeeinheit (5) abbildbar ist, und
- - eine Analysiereinheit (6) zur Analyse des von dem Spektrographen (4) aufgenommenen Emissionsspektrums vorgesehen sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
eine Verzögerungseinheit (7), die den Beginn des Ana
lysiervorganges relativ zum Aussendezeitpunkt des Laserpulses
verzögert, vorgesehen ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Fokussiereinheit (2) ein erstes Linsensystem (8, 9) und
einen an den Laser (1) angekoppelten ersten Lichtleiter (10)
aufweist.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Abbildeeinheit (5) wenigstens ein zweites Linsensystem
(11, 12; 11′, 12′) und wenigstens einen an den Spektographen (4)
angekoppelten zweiten Lichtleiter (13) aufweist.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
ein auf die Probe (3) aufsetzbarer Meßkopf (14) vorgesehen
ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Meßkopf (14) eine Kammer (15) aufweist, an der wenigstens
zwei rohrartige Stutzen (16, 17) angeordnet sind.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß
in einem (16) der Stutzen (16, 17) das erste Linsensystem (8, 9)
der Fokussiereinheit (2) und in dem wenigstens einen anderen
Stutzen (17) das zweite Linsensystem (11, 12; 11′, 12′) der
Abbildeeinheit (5) so angeordnet sind, daß die optischen
Achsen der Linsensysteme (8, 9; 11, 12; 11′, 12′) im wesentlichen
einen Raumbereich durchlaufen, in dem sich das lasererzeugte
Plasma (18) der Probe (3) erstreckt.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 oder 7,
dadurch gekennzeichnet,daß
an der Unterseite des Meßkopfes (14) wenigstens eine
Zuführleitung (22) vorgesehen ist, durch die der Kammer (15)
ein Spülfluid zugeführt (A) wird.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Spülfluid ein Edelgas ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet,daß
das Edelgas Argon ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,daß
das Spülfluid staubfreie Luft ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
zur Kopplung des ersten Lichtleiters (10) an den Laser (1)
eine Lichtleitereinkopplungseinheit (19) vorgesehen ist, die
an dem Gehäuse des Lasers (1) lösbar befestigt ist, so daß
eine Dejustierung des Lichtleiters (10) zum Laserstrahl
vermieden wird.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Lichtleitereinkopplungseinheit (19) einen Licht
leiteranschluß (20) und eine Laserstrahleinleitungsöffnung
(21) aufweist, wobei der an den Lichtleiteranschluß (20)
angeschlossene Lichtleiter (10) zur Justierung gegenüber der
Laserstrahleinleitungsöffnung (21) um seine beiden zueinander
orthogonalen Querachsen (y, z) verschwenkbar sowie in Richtung
der Querachsen (y, z) und in Richtung seiner Längsachse (x)
linear verschieblich ist.
14. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Lichtleiter (10, 13) eine Glasfaser bzw. ein
Glasfaserkabel ist.
15. Verfahren zur Fernmessung von Uran bzw. Plutonium in
radioaktiven Materialien,
gekennzeichnet durch
folgende Verfahrensschritte:
- - Erzeugen des lichtemittierenden Plasmas (18) einer zu analysierenden Probe (3) mittels eines Laserstrahles,
- - Detektieren des Emissionsspektrums des Plasmas (18) und
- - Analysieren des Emissionsspektrums.
16. Verfahren nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Beginn des Analysierens relativ zum Aussendezeitpunkt des
Laserpulses verzögert wird.
17. Verfahren nach Anspruch 15 oder 16,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Plasma (18) während der Messungen zwecks Abschirmung von
Störungen durch die Umgebungsluft mit einem Spülfluid gespült
wird.
18. Verfahren nach Anspruch 17,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Spülfluid ein Edelgas ist.
19. Verfahren nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Edelgas Argon ist.
20. Verfahren nach Anspruch 17,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Spülfluid staubfreie Luft ist.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19531988A DE19531988A1 (de) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | Fernmessung von U (Pu) in Gläsern |
PCT/EP1996/003702 WO1997008539A1 (de) | 1995-08-30 | 1996-08-22 | Fernmessung von uran bzw. plutonium in gläsern |
EP96929306A EP0847525A1 (de) | 1995-08-30 | 1996-08-22 | Fernmessung von uran bzw. plutonium in gläsern |
US09/029,730 US6259757B1 (en) | 1995-08-30 | 1996-08-22 | Telemetering of uranium or plutonium in glass |
JP09509827A JP3081648B2 (ja) | 1995-08-30 | 1996-08-22 | 遠隔測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19531988A DE19531988A1 (de) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | Fernmessung von U (Pu) in Gläsern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19531988A1 true DE19531988A1 (de) | 1997-03-06 |
Family
ID=7770810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19531988A Ceased DE19531988A1 (de) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | Fernmessung von U (Pu) in Gläsern |
Country Status (5)
Country | Link |
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US (1) | US6259757B1 (de) |
EP (1) | EP0847525A1 (de) |
JP (1) | JP3081648B2 (de) |
DE (1) | DE19531988A1 (de) |
WO (1) | WO1997008539A1 (de) |
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8131 | Rejection |