DE19506325C1 - Prüfschaltung und Prüfverfahren zur Funktionsprüfung von elektronischen Schaltungen - Google Patents
Prüfschaltung und Prüfverfahren zur Funktionsprüfung von elektronischen SchaltungenInfo
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Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3516755A1 (de) * | 1984-05-09 | 1985-11-14 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Testgeraet fuer halbleitereinrichtungen |
| DE3728521A1 (de) * | 1987-08-26 | 1989-03-09 | Siemens Ag | Anordnung und verfahren zur feststellung und lokalisierung von fehlerhaften schaltkreisen eines speicherbausteins |
| DE3800544A1 (de) * | 1988-01-12 | 1989-07-20 | Horst Dipl Ing Janssen | Ein digitales test- und pruefgeraet mit zeitlich variabler ein- und ausgabe von digitalen signalen |
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| DE3229749A1 (de) * | 1982-08-10 | 1984-02-16 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Adaptereinrichtung zum simultanen elektrischen anschluss einer mehrzahl zu pruefender bauelemente an ein pruefgeraet, insbesondere fuer die eingangspruefung hochintegrierter digitaler speicherbausteine |
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| US4968931A (en) * | 1989-11-03 | 1990-11-06 | Motorola, Inc. | Apparatus and method for burning in integrated circuit wafers |
| US5070297A (en) * | 1990-06-04 | 1991-12-03 | Texas Instruments Incorporated | Full wafer integrated circuit testing device |
| US5142449A (en) * | 1990-10-01 | 1992-08-25 | Motorola, Inc. | Forming isolation resistors with resistive elastomers |
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Patent Citations (4)
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|---|---|---|---|---|
| DE3516755A1 (de) * | 1984-05-09 | 1985-11-14 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Testgeraet fuer halbleitereinrichtungen |
| DE3528189C2 (ref) * | 1984-08-06 | 1991-11-21 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo, Jp | |
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| DE3800544A1 (de) * | 1988-01-12 | 1989-07-20 | Horst Dipl Ing Janssen | Ein digitales test- und pruefgeraet mit zeitlich variabler ein- und ausgabe von digitalen signalen |
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