DE68916969T2

DE68916969T2 - Prüfung von elektrischen kreisen.

Info

Publication number: DE68916969T2
Application number: DE68916969T
Authority: DE
Inventors: Vivian Watts
Original assignee: Bath Scientific Ltd
Current assignee: Everett Charles Technologies Inc
Priority date: 1988-10-17
Filing date: 1989-10-13
Publication date: 1995-01-12
Anticipated expiration: 2009-10-14
Also published as: JP2630846B2; JPH04503105A; EP0438491B1; WO1990004792A1; EP0438491A1; GB8824272D0; DE68916969D1

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Prüfen elektrischer Schaltungen.

HINTERGRUND DER ERFINDUNG

Auf dem Gebiet der Prüfung gedruckter Leiterplatten, zum Beispiel solcher Platten, bevor ihnen Bauteile zugefügt wurden, ist es bekannt, Leiterbahnen durch Vornehmen von Überprüfungen des Widerstandswertes oder Überprüfungen des Kapazitätswertes auf fehlerhafte Leitungsunterbrechungen oder Kurzschlußfehler hin zu prüfen. Solche Überprüfungen können unter Verwendung wenigstens einer elektrischen Prüfsonde vorgenommen werden, die von einem Rechnersystem automatisch so gesteuert wird, daß sie die Platte an geeigneten Stellen berührt, um geeignete Messungen vorzunehmen.
Gedruckte Leiterplatten können eine sehr große Anzahl von Leiterbahnen umfassen, die eine große Zahl von Netzwerken bilden, und es ist nötig, zu wissen, ob es zwischen solchen Netzwerken unerwünschte Kurzschlüsse gibt. Für eine gedruckte Leiterplatte mit N solchen Netzwerken ist die Anzahl der auf dem Widerstand basierenden Messungen, die erforderlich sind, um zu bestätigen, daß keine unerwünschten elektrischen Kurzschlußwege zwischen jeweils zwei Netzwerken bestehen:
N (N - 1)/2
Dies wird wie folgt erklärt. Zuerst wird der Widerstand zwischen einem ersten Netzwerk und jedem weiteren Netzwerk gemessen, was eine erste Anzahl (N - 1) von Messungen bedeutet. Dann wird der Widerstand zwischen einem zweiten Netzwerk und jedem weiteren Netzwerk (außer dem ersten) gemessen, was eine zweite Anzahl ((N - 1) - 1) von Messungen bedeutet. Dann wird der Widerstand zwischen einem dritten Netzwerk und jedem weiteren Netzwerk (außer dem ersten und dem zweiten) gemessen, was eine dritte Anzahl ((N - 1) - 2) von Messungen bedeutet, usw. bis zum N-ten Netzwerk. Als Ergebnis daraus ist die Gesamtzahl von Messungen eine Reihe, wie oben dargestellt.
Bei einer gedruckten Leiterplatte mit tausend Netzwerken würde die Durchführung von Widerstandsmessungen zwischen allen Netzwerken wie oben im wesentlichen eine halbe Million Messungen bedeuten, und wenn, wie typisch ist, die Messungen unter Verwendung elektrischer Prüfsonden vorgenommen werden, würde dies zu einer äußerst hohen Prüfdauer führen. Eine Einrichtung zum Verringern der Anzahl der Messungen beim Prüfen auf Kurzschlüsse zwischen Netzwerken hin wäre eindeutig ein Vorteil.
Um die Anzahl der Sondenbewegungen zu verringern, offenbart US-Patent Nr. 4 565 966 (Burr et al.) ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Prüfen einer Leiterplatte, das eine Kombination von Kapazitätsmessungen zwischen Netzwerken und einem Bezugspunkt und Endpunkt-Widerstandsmessungen von Netzwerken verwendet, wobei die gemessenen Kapazitäts- und Widerstandswerte mit entsprechenden vorher feststehenden Werten (die in einem Lernmodus erhalten wurden) für eine Platte ohne Fehler verglichen werden. In Burr et al. wird auch eine Diagnoseroutine für jene Netzwerke offenbart, die als möglicherweise fehlerhaft identifiziert wurden) Aus dem Gedankengang heraus, daß Netzwerke, die den gleichen Kapazitätswert in bezug auf den Bezugspunkt aufweisen, wahrscheinlich miteinander kurzgeschlossen sind, werden insbesondere für jene der Netzwerke, die als möglicherweise fehlerhaft identifiziert wurden, und die in bezug auf den Bezugspunkt den gleichen Kapazitätswert aufweisen, Überprüfungen des Widerstands zwischen Netzwerken ausgeführt, um zu überprüfen, ob irgendwelche davon miteinander kurzgeschlossen sind. Es wäre möglich, eine solche Routine für alle Netzwerke einer gedruckten Leiterplatte zu verwenden, indem die Kapazität zwischen jedem der Netzwerke und einem Bezugspunkt gemessen wird, und Prüfungen auf Kurzschlüsse zwischen Paaren von Netzwerken hin auszuführen, die den gleichen Kapazitätswert aufweisen. Dies könnte jedoch dazu führen, daß zuviele Kurzschlußprüfungen ausgeführt werden, als wirklich nötig sind, da es möglich ist, daß zwei Netzwerke zufällig den gleichen Kapazitätswert aufweisen und möglicherweise nicht wirklich miteinander kurzgeschlossen sind.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Gemäß der vorliegenden Erfindung wird aus einem Aspekt ein Prüfverfahren auf Kurzschlüsse zwischen Netzwerken einer elektrischen Schaltung hin bereitgestellt, die eine Vielzahl solcher Netzwerke umfaßt, wobei das Verfahren umfaßt: Messen eines Impedanzwertes zwischen jedem der Netzwerke und einem Bezugspunkt; und Ausführen von Prüfungen auf Kurzschlüsse hin nur zwischen jeweils zwei Netzwerken, für welche die gemessenen Impedanzwerte im wesentlichen gleich sind, und für welche dieser gemessene Impedanzwert größer als ein für die beiden Netzwerke bei Kurzschluß miteinander vorhergesagter niedrigster Impedanzwert ist.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird aus einem weiteren Aspekt eine Vorrichtung zur Verwendung beim Prüfen einer elektrischen Schaltung, die eine Vielzahl von Netzwerken umfaßt, bereitgestellt, wobei die Vorrichtung umfaßt eine erste Einrichtung zum Messen eines Impedanzwerts zwischen jedem der Netzwerke und einem Bezugspunkt; eine zweite Einrichtung zum Ausführen von Prüfungen auf Kurzschlüsse zwischen Netzwerken hin; und eine dritte Einrichtung zum Steuern der zweiten Einrichtung, um nur zwischen jeweils zwei Netzwerken auf Kurzschlüsse hin zu prüfen, für welche die gemessenen Impedanzwerte im wesentlichen gleich sind, und für welche dieser gemessene Impedanzwert größer als ein für Netzwerke bei Kurzschluß miteinander vorhergesagter niedrigster Impedanzwert ist.
Vorzugsweise wird aus den gemessenen Impedanzwerten für ein Netzwerk, das wenigstens zwei Punkte mit wenigstens einer Leiterbahn dazwischen umfaßt, ein erster Wert für die niedrigste Impedanz pro Bahnlängeneinheit berechnet, und ein zweiter Wert wird für die niedrigste Impedanz eines Netzwerks, das nur einen einzelnen Punkt umfaßt, berechnet, wobei der genannte niedrigste Impedanzwert für jeweils zwei Netzwerke, die im wesentlichen die gleichen Impedanzwerte aufweisen, unter Verwendung des genannten ersten Wertes und/oder des genannten zweiten Wertes und aus der Kenntnis der geometrischen Merkmale der beiden Netzwerke berechnet wird.
Der genannte Impedanzwert, der zwischen jedem der Netzwerke und dem Bezugspunkt gemessen wird, kann einen Kapazitätswert zwischen jedem der Netzwerke und dem Bezugspunkt umfassen.
Die gemessenen Impedanzwerte können in einer Speichereinrichtung gespeichert werden, die abgefragt wird, um jene Netzwerke zu identifizieren, für die die gemessenen Impedanzwerte im wesentlichen gleich sind.
Die genannten Prüfungen auf Kurschlüsse hin können Widerstandsprüfungen sein.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

In den beigefügten Zeichnungen ist:
Fig. 1 ein schematisches Schaubild einer bevorzugten Ausführungsform einer Vorrichtung gemäß der vorliegende Erfindung,
Fig. 2 ein Flußdiagramm zum Beschreiben eines Arbeitsgangs einer Verarbeitungseinrichtung der Ausführungsform und
Fig. 3 ein Schaubild zur Verwendung beim Erklären eines weiteren Arbeitsgangs der Verarbeitungseinrichtung.

BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM

Der Betrieb der zu beschreibenden Ausführungsform ist so, daß die Anzahl an Sondenbewegungen (und Messungen) im Vergleich mit dem Prüfen auf Kurzschlüssen zwischen allen Netzwerken auf einer gedruckten Leiterplatte hin verringert ist, es ist jedoch kein Vorwissen über jeweilige vorher feststehende Kapazitätswerte in bezug auf einen Bezugspunkt und vorher feststehende Endpunkt-Widerstandswerte für die Netzwerke einer Platte ohne Fehler erforderlich.
Zunächst mit Bezug auf Fig. 1 der beigefügten Zeichnungen bezeichnet die Bezugszahl 1 (um der Klarheit willen in ziemlich einfacher Form) eine zu prüfende gedruckte Leiterplatte, bevor Bauteile zugefügt werden, mit Anschlußflächen 2 und Leiterbahnen 3. Jede Anschlußfläche 2 wird als einzelner Punkt betrachtet. Die Platte weist L einzelne Netzwerke auf, die Bahnen 3 umfassen, wobei jedes solche Netzwerk zwei oder mehr Punkte (Anschlußflächen 2) umfaßt, die durch eine oder mehr Leiterbahnen 3 untereinander verbunden sind. Es gibt auch M Punkte (Anschlußflächen 2), mit denen keine Leiterbahn verbunden ist, und jede solche Anschlußfläche wird auch als ein "Netzwerk" betrachtet (d.h. ein Netzwerk, das als einzelner Punkt betrachtet wird, wobei die Leiterbahnen 3 umfassenden Netzwerke als Netzwerke mit zwei oder mehr Punkten betrachtet werden). Somit weist die Platte 1 eine Summe von L + M = N Netzwerken auf.
Die Bezugszahlen 4 und 5 bezeichnen elektrische Prüf Sonden, die über ein Rechnersystem 6 gesteuert werden, und Bezugszahl 7 bezeichnet eine leitende Bezugsebene (die eine auf Erdpotential befindliche Ebene der Leiterplatte 1 sein kann). Die Fühler 4 und 5 sind jeweils in den X-, Y- und Z-Richtungen relativ zur Platte 1 unter Steuerung durch das System 6 durch geeignete Motoren (nicht gezeigt) beweglich, wie es in der Technik bekannt ist.
Zunächst führt das System 6 unter Verwendung des Fühlers 4, um Punkte auf der Leiterplatte 1 unter Steuerung durch eine Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 zu berühren, und mit Fühler 5 in Berührung mit der Bezugsebene 7 über eine Kapazitätsmeßeinrichtung 8 eine Messung eines Kapazitätswertes zwischen jedem der Netzwerke der Leiterplatte 1 und der Bezugsebene 7 aus. Es gibt N solche Messungen, und jeder Meßwert wird vorübergehend in einem Speicher 10 mit einem Hinweis auf das Netzwerk, auf das er sich bezieht, gespeichert.
Die Meßeinrichtung 8 kann von der Art sein, die die Zeit mißt, die gebraucht wird, um die geprüfte Schaltung mit einem konstanten oder halbkonstanten Strom zwischen zwei vorgeschriebenen Spannungsgrenzen zu laden.
Während die gemessenen Kapazitätswerte erhalten werden, berechnet die Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 aus ihnen und aus ihrer Kenntnis der Position(en) des Punktes (der Punkte), die jedes der Netzwerke einer bestimmten Art der geprüften Platte umfassen, einen ersten Wert (VL), der als die niedrigste Kapazität pro Bahnlängeneinheit für ein Netzwerk mit wenigstens zwei Punkten betrachtet wird, und einen zweiten Wert (CL), der als niedrigste Kapazität eines Netzwerks betrachtet wird, welches nur einen einzelnen Punkt umfaßt. Fig. 2 ist ein Flußdiagramm, das den Arbeitsgang der Verarbeitungsund Steuereinheit 9 in dieser Hinsicht beschreibt. In dem Schritt im Flußdiagramm, der mit "Berechne Strecke = L" bezeichnet ist, wird der Wert L, der für ein bestimmtes Netzwerk mit zwei oder mehr Punkten berechnet wird, aus der Kenntnis der geometrischen Beschaffenheit und den Positionen der Punkte des bestimmten Netzwerks hergeleitet. Insbesondere wenn das Netzwerk nur eine geradlinige Leiterbahn zwischen zwei Punkten umfaßt (möglicherweise mit wenigstens einem dazwischenliegenden Punkt (Anschlußfläche) entlang dieser), dann wird L als die kürzeste Strecke zwischen jenen beiden Punkten berechnet; wenn das Netzwerk eine Leiterbahnlinie zwischen zwei Punkten umfaßt, die keine gerade Linie ist und keine dazwischenliegenden Punkte (Anschlußflächen) entlang dieser aufweist, dann wird L als die Länge des Vektors für eine gerade Linie zwischen den zwei Punkten berechnet; wenn das Netzwerk eine Leiterbahnlinie zwischen zwei Punkten umfaßt, die keine gerade Linie ist, aber wenigstens einen dazwischenliegenden Punkt (Anschlußfläche) entlang dieser aufweist, dann wird L als die Länge der Bahn selbst berechnet; und wenn das Netzwerk eine Linie (gerade oder anders) zwischen zwei Punkte und wenigstens eine Leiterbahn aufweist, die von ihr zu wenigstens einem weiteren Punkt abzweigt, dann wird L als die kürzeste entlang des Netzwerkes selbst von einem Punkt zu jedem anderen Punkt des Netzwerkes zurückzulegende Strecke berechnet.
Nachdem VL und CL berechnet wurde, verwendet die Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 sie, wie unten erklärt wird.
Wenn es keine unerwünschten Kurzschlußfehler zwischen jeweils zweien der Netzwerke gibt, sind in den meisten Fällen alle Meßwerte der Kapazität unterschiedlich. Wenn jedoch zwei Netzwerke einen unerwünschten Kurzschlußfehler untereinander aufweisen, sind ihre Kapaztitäswerte mit Bezug auf die auf Erdpotential befindliche Ebene gleich (obwohl in der Praxis die in Speicher 10 gespeicherten gemessenen Werte aufgrund physikalischer Meßbedingungen nicht genau gleich sind, was bedeutet, daß zwei oder mehr gespeicherte Meßwerte als "gleich" betrachtet werden, wenn sie sich voneinander nicht um mehr als um einen bestimmten Betrag unterscheiden). Folglich fragt die Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 die in Speicher&sub1;&sub0; gespeicherten Werte ab, um jede Gruppe von zwei oder mehr als zwei Netzwerken zu identifizieren, die die gleichen gemessenen Kapazitätswerte in Speicher 10 gespeichert haben, wobei Werte als "gleich" angesehen werden, wenn sie sich voneinander nicht mehr als um einen definierten Betrag unterscheiden, z.B. wenn sie sich nicht um mehr als einen kleinen, definierten Prozentsatz voneinander unterscheiden. Ein Netzwerk, dessen in Speicher 10 gespeicherter gemessener Kapazitätswert von dem jedes anderen Netzwerkes verschieden ist, wird als zufriedenstellend betrachtet und wird nicht weiter geprüft. Jede Gruppe von zwei oder mehr Netzwerken mit dem gleichen gespeicherten gemessenen Kapaztitätswert umfaßt eine Gruppe von Kandidaten zum Prüfen auf Kurzschlüsse zwischen den Netzwerken der Gruppe hin. In jeder solchen Gruppe könnten jedoch die beiden Netzwerke oder zwei der Netzwerke nur zufällig den gleichen gemessenen Kapazitätswert haben, nicht weil sie einen unerwünschten Kurzschluß untereinander aufweisen. Um die Anzahl der Prüfungen auf Kurzschlüsse zwischen Netzwerken hin zu verringern, die den gleichen gemessenen Kapazitätswert aufweisen, identifiziert die Steuer- und Verarbeitungseinrichtung 9 jedes Netzwerk, das, obwohl es den gleichen gemessenen Kapazitätswert wir ein weiteres aufweist, nicht mit dem weiteren Netzwerk kurzgeschlossen ist, da der gemessene Kapaztitätswert geringer ist, als ein für die beiden Netzwerke bei wirklichem Kurzschluß miteinander vorhergesagter niedrigster Kapazitätswert. Somit werden Prüfungen auf Kurzschlüsse hin nur zwischen Netzwerken ausgeführt, die wahrscheinlich wirklich miteinander kurzgeschlossen sind.
Insbesondere berechnet die Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 für jeweils zwei Netzwerke mit dem gleichen gemessenen Kapazitätswert aus ihrer Kenntnis der Position(en) des Punktes (der Punkte) jedes der Netzwerke, den Wert VL und/oder CL und den kürzesten Abstand zwischen den beiden Netzwerken, einen für jedes von ihnen vorhergesagten niedrigsten Kapazitätswert, wenn sie wirklich miteinander kurzgeschlossen sind, wobei der Gedankengang der ist, daß es zwischen ihnen eine Leiterbahn gibt, wenn sie miteinander kurzgeschlossen sind.
Die Wahrscheinlichkeit, daß es eine Leiterbahn zwischen zwei Netzwerken gibt, ist klein. Der Zweck der Verwendung des kürzesten Abstands zwischen den Netzwerken ist der, festzustellen, ob sie ausreichend nah sind, um ein Prüfen auf einen Kurzschluß hin überhaupt zu rechtfertigen. So können Netzwerke so weit voneinander entfernt sein und zu einem so hohen Wert der Kapazität für eine Kurschlußleiterbahn zwischen ihnen führen, daß der vorhergesagte niedrigste Kapazitätswert höher als der in der Praxis für jedes der beiden Netzwerke gemessene ist, um dadurch diese Netzwerke davon auszunehmen, für eine Prüfung auf einen Kurzschluß untereinander hin in Betracht gezogen zu werden.
Insbesondere wenn jedes der Netzwerke ein Netzwerk mit zwei oder mehr Punkten umfaßt, dann berechnet die Verarbeitungsund Steuereinrichtung 9 einen Kapazitätswert durch Multiplizieren von VL mit dem Wert von L für jedes Netzwerk entsprechend und Addieren jedes resultierenden Werts zu dem Wert des kürzesten Abstandes zwischen den beiden Netzwerken, der mit VL multipliziert ist; wenn jedes der Netzwerke nur einen einzelnen Punkt umfaßt, dann addiert die Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 2 x CL zu dem kürzesten Abstand zwischen den beiden Punkten, der mit VL multipliziert ist; und wenn die beiden Netzwerke ein Netzwerk mit zwei oder mehr Punkten und ein Netzwerk, das einen einzelnen Punkt umfaßt, umfassen, dann multipliziert die Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 VL mit dem Wert von L für ein Netzwerk mit zwei oder mehr Punkten, addiert dies zu CL und addiert das Ergebnis zu dem kürzesten Abstand zwischen den beiden Netzwerken, der mit VL multipliziert ist.
Als ein Ergebnis des obigen berechnet die Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 für je zwei Netzwerke, die miteinander kurzgeschlossen sein könnten, einen für sie bei Kurzschluß miteinander vorhergesagten niedrigsten Kapazitätswert. Die Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 vergleicht dann den wirklich gemessenen Kapazitätswert jedes Netzwerks, das mit einem weiteren Netzwerk kurzgeschlossen sein könnte, mit dem für die beiden betrachteten Netzwerke vorhergesagten niedrigsten Kapazitätswert. Wenn der gemessene Wert geringer als der vorhergesagte niedrigste Wert ist, dann werden die Netzwerke als nicht miteinander kurzgeschlossen betrachtet und werden nicht weiter geprüft, wohingegen, wenn der gemessene Kapazitätswert größer als der vorhergesagte niedrigste Wert ist, die beiden Netzwerke dann als möglicherweise miteinander kurzgeschlossen betrachtet werden und ausgewählt werden, um in dieser Hinsicht geprüft zu werden. Somit wählt die Verarbeitungsund Steuereinrichtung 9 Paare von Netzwerken aus, wobei bei jedem dieser Paare die Netzwerke beide den gleichen gemessenen Kapazitätswert und einen gemessenen Kapazitätswert aufweisen, der größer ist als der für die Netzwerke bei Kurzschluß miteinander vorhergesagte niedrigste Kapazitätswert.
Das obige wird zum Zweck der Erläuterung mit Bezug auf Fig. 3 weiter beschrieben. Wenn das Netzwerk A einen gemessenen Kapazitätswert von 100 pF aufweist und das Netzwerk B einen gemessenen Kapazitätswert von 105 pF aufweist, dann werden die beiden Werte von der Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 als gleich angesehen, und dies könnte aufgrund dessen sein, daß ein Kurzschluß zwischen ihnen vorhanden ist. Nachdem vorher die niedrigste Kapazität pro Bahnlängeneinheit (VL) berechnet wurde und die Werte von L für die Netzwerke A und B bekannt sind, kann ein theoretischer niedrigster Kapazitätswert von der Verarbeitungs- und Steuereinrichtung 9 berechnet werden. Hier wird angenommen, daß sie 40 pF bzw. 30 pF sind. Der kürzeste Abstand zwischen den beiden Netzwerken ist durch Linie S dargestellt, wobei dieser Abstand die kürzestmögliche Länge eines Kurzschlusses zwischen den Netzwerken ist. Durch Multiplizieren der Länge der Linie S mit VL wird ein berechneter niedrigster Kapazitätswert für einen Kurzschluß zwischen den beiden Netzwerken erzeugt, und es wird angenommen, daß er 10 pF ist. Daher ist die theoretische gesamte sich addierende Kapazität der beiden Netzwerke zusammen mit dem Kurzschluß durch 40 + 10 + 30 = 80 pF dargestellt. Da der gemessene Kapazitätswert für jedes der Netzwerke A und B größer als dieser theoretisch niedrigste vorhergesagte Wert ist, sollte dann ein Test ausgeführt werden, um zu sehen, ob die beiden Netzwerke miteinander kurzgeschlossen sind. Wenn jedoch der theoretisch niedrigste Kapazitätswert für die beiden Netzwerke bei Kurzschluß miteinander zum Beispiel 300 pF erzeugt hätte (zum Beispiel wegen der Länge der Linie S) wären die beiden Netzwerke A und B davon ausgeschlossen worden, auf einen Kurschluß zwischen ihnen hin überprüft zu werden, weil ihre gemessenen Kapazitätswerte niedriger als der theoretisch niedrigste für sie bei Kurzschluß miteinander vorhergesagte Wert sind.
In der Praxis ist der verwendete Wert von VL halb so groß wie der durch die mit Bezug auf Fig. 2 beschriebene Operation erhaltene Wert, um auf Netzwerke eingestellt zu sein, die sich überkreuzen, und für welche ein resultierender Kurzschlußweg als Null angesehen werden kann, und um auf der sicheren Seite zu sein. Um auf der sicheren Seite zu sein, ist auch der verwendete Wert von CL halb so groß wie der durch die mit Bezug auf Fig. 2 beschriebene Operation erhaltene Wert.
Für je zwei Netzwerke mit dem gleichen in Speicher 10 gespeicherten gemessenen Kapazitätswert, wobei der Wert größer als der bei einem Kurzschluß miteinander vorhergesagte niedrigste Kapazitätswert ist, werden Widerstandsüberprüfungen, wie oben umrissen1 ausgeführt, wobei die Fühler 4 und 5 unter Steuerung durch die Verarbeitungs- und Steuerungseinrichtung 9 verwendet werden, wobei das System 6 zu diesem Zweck eine Widerstandsmeßeinrichtung 11 umfaßt. Die Widerstandsmeßeinrichtung 11 kann eine Einrichtung sein, die Leitungskontinuität zwischen zwei Punkten angibt, indem sie prüft, ob der Widerstand zwischen den Punkten geringer oder größer als eine bestimmte Schwelle ist. Zum Beispiel kann die Widerstandsmeßeinrichtung 11 zwischen den geprüften Punkten einen Strom von einer Quelle für konstanten Strom zuführen und die über die Punkte abgefallene Spannung mit einer Schwelle (zum Beispiel die über eine in Vorwärtsrichtung betriebene Diode abgefallene Spannung) vergleichen, um auf Kontinuität zwischen den Punkten hin zu prüfen.
In Anbetracht des obigen ist klar, daß Widerstandsmessungen unter Verwendung der Sonden 4 und 5 nur für jeweils zwei Netzwerke mit dem "gleichen" in Speicher 10 gespeicherten Kapazitätswert, und für welche dieser Kapazitätswert größer als ein für jedes der beiden Netzwerke bei wirklichem Kurzschluß miteinander vorhergesagter niedrigstmöglicher Kapazitätswert ist, erforderlich sind.

Claims

1. prüfverfahren auf Kurzschlüsse zwischen Netzwerken einer elektrischen Schaltung (1) hin, die eine Vielzahl solcher Netzwerke umfaßt, wobei das Verfahren umfaßt: Messen eines Impedanzwertes zwischen jedem der Netzwerke und einem Bezugspunkt (7); und Ausführen von Prüfungen auf Kurzschlüsse hin nur zwischen jeweils zwei Netzwerken, für welche die gemessenen Impedanzwerte im wesentlichen gleich sind, und für welche dieser gemessene Impedanzwert größer als ein für die beiden Netzwerke bei Kurzschluß miteinander vorhergesagter niedrigster Impedanzwert ist.

2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem aus den gemessenen Impedanzwerten ein erster Wert (VL) für die niedrigste Impedanz pro Bahnlängeneinheit für ein Netzwerk, das wenigstens zwei Punkte (2) mit wenigstens einer Leiterbahn (3) dazwischen umfaßt, berechnet wird und ein zweiter Wert (CL) für die niedrigste Impedanz eines Netzwerks, das nur einen einzelnen Punkt (2) umfaßt, berechnet wird und der genannte für jeweils zwei Netzwerke, die im wesentlichen die gleichen gemessenen Impedanzwerte aufweisen, vorhergesagte niedrigste Impedanzwert unter Verwendung des genannten ersten Werts und/oder des genannten zweiten Werts und aus der Kenntnis der geometrischen Merkmale der beiden Netzwerke berechnet wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, bei dem der Impedanzwert, der zwischen jedem der Netzwerke und dem genannten Bezugspunkt (7) gemessen wird, einen Kapazitätswert zwischen jedem der Netzwerke und dem Bezugspunkt umfaßt.

4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die gemessenen Impedanzwerte in einer Speichereinrichtung (10) gespeichert werden, die abgefragt wird, um jene Netzwerke zu identifizieren, für welche die gemessenen Impedanzwerte im wesentlichen gleich sind.

5. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die Prüfungen auf Kurzschlüsse hin Widerstandsprüfungen sind.

6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die elektrische Schaltung (1) eine gedruckte Leiterplatte ist.

7. Verfahren nach Anspruch 6, bei dem der genannte Bezugspunkt (7) eine auf Erdpotential befindliche Ebene der Leiterplatte (1) ist.

8. Vorrichtung zur Verwendung beim Prüfen einer elektrischen Schaltung (1), die eine Vielzahl von Netzwerken umfaßt, wobei die Vorrichtung umfaßt eine erste Einrichtung (8) zum Messen eines Impedanzwerts zwischen jedem der Netzwerke und einem Bezugspunkt (7); eine zweite Einrichtung (11) zum Ausführen von Prüfungen auf Kurzschlüsse zwischen Netzwerken hin; und eine dritte Einrichtung (9) zum Steuern der zweiten Einrichtung, um nur zwischen jeweils zwei Netzwerken auf Kurzschlüsse hin zu prüfen, für welche die gemessenen Impedanzwerte im wesentlichen gleich sind, und für welche dieser gemessene Impedanzwert größer als ein für Netzwerke bei Kurzschluß miteinander vorhergesagter niedrigster Impedanzwert ist.

9. Vorrichtung nach Anspruch 8, bei der die genannte dritte Einrichtung (9) angepaßt ist, um aus den gemessenen Impedanzwerten einen ersten Wert (VL) für die niedrigste Impedanz pro Bahnlängeneinheit für ein Netzwerk, das wenigstens zwei Punkte (2) mit wenigstens einer Leiterbahn (3) dazwischen umfaßt, und einen zweiten Wert (CL) für die niedrigste Impedanz eines Netzwerks, das nur einen einzelnen Punkt (2) umfaßt, zu berechnen, wobei die genannte dritte Einrichtung angepaßt ist, um den genannten für jeweils zwei Netzwerke, die im wesentlichen die gleichen gemessenen Impedanzwerte aufweisen, vorhergesagten niedrigsten Impedanzwert unter Verwendung des genannten ersten Werts und/oder des genannten zweiten Werts und aus der Kenntnis der geometrischen Merkmale der beiden Netzwerke zu berechnen.

Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, bei der die genannte erste Meßeinrichtung (8) eine Kapazitätsmeßeinrichtung zum Messen eines Kapazitätswertes zwischen jedem der Netzwerke und dem Bezugspunkt (7) umfaßt.

11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 10, die eine Speichereinrichtung (10) zum Speichern der gemessenen Impedanzwerte umfaßt, wobei die genannte dritte Einrichtung (9) die Speichereinrichtung abfragt, um jene Netzwerke zu identifizieren, für die die gemessenen Impedanzwerte im wesentlichen gleich sind.

12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, bei der die genannte zweite Einrichtung (11) eine Prüfeinrichtung für den Widerstandswert umfaßt.

13 Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 12, die wenigstens zwei Sondeneinrichtungen (4, 5) umfaßt, die für die Verwendung durch die genannte erste Meßeinrichtung (8) beim Messen der Impedanzwerte und für die Verwendung durch die genannte zweite Einrichtung (11) beim Prüfen auf Kurzschlüsse hin in bezug auf die elektrische Schaltung (1) beweglich sind.