JP2010133836A - 絶縁検査方法および絶縁検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導体パターンP1〜P40をN個(この例ではN=4)の検査グループG1〜G4にグループ分けすると共に、N組の検査用プローブを使用して各検査グループG毎の第1の導体パターンPおよび第2の導体パターンPの間の絶縁状態を、第1の導体パターンP同士を同電位(H電位)にすると共に第2の導体パターンP同士を同電位(L電位)にした状態で各検査グループGに対して同時に検査する第1の検査処理を各導体パターンPに対する一対の検査用プローブの接触態様を変更して複数回(この例では第1〜45回の計45回)に亘って実行すると共に、異なる検査グループGにグループ分けした各導体パターンPのうちの近接する一対の導体パターンPのうちの一方をH電位にすると共に他方をL電位にした状態で一対の導体パターンPの間の絶縁状態を検査する第2の検査処理を実行する。
【選択図】図2
Description
2 プローブ機構
3 接続切替部
4 電圧供給部
4H 高電位出力部
4L 低電位出力部
5 測定部
8 制御部
11H1〜11H4,11L1〜11L4 移動機構
12H1〜12H4,12L1〜12L4 検査用プローブ
100 回路基板
Dt 検査手順データ
G1〜G4 検査グループ
P1〜P40 導体パターン
S1〜S3 制御信号
V 検査用電圧
Claims (4)
- 検査対象基板に形成された複数の導体パターンに一対の検査用プローブを接触させると共に、当該一対の検査用プローブのうちの一方を電圧供給部における高電位を出力する高電位出力部に接続し、かつ、当該一対の検査用プローブのうちの他方を電圧供給部における低電位を出力する低電位出力部に接続した状態において、当該一対の検査用プローブを介して前記電圧供給部から検査用電圧を供給して前記各導体パターンのうちの前記一方の検査用プローブを接触させた第1の導体パターンと当該各導体パターンのうちの前記他方の検査用プローブを接触させた第2の導体パターンとの間の電気的パラメータを測定し、当該測定した電気的パラメータに基づいて当該第1の導体パターンおよび当該第2の導体パターンの間の絶縁状態を検査する検査処理を前記各導体パターンに対する前記一対の検査用プローブの接触態様を変更して複数回に亘って実行することによって当該各導体パターンの間の絶縁状態をそれぞれ検査する絶縁検査方法であって、
前記各導体パターンのうちの少なくとも一部の導体パターンをN個(Nは、2以上の自然数)の検査グループにグループ分けすると共に、前記複数回の検査処理として、N組の前記検査用プローブを使用して当該各検査グループ毎の前記第1の導体パターンおよび前記第2の導体パターンの間の絶縁状態を、当該第1の導体パターン同士を互いに同電位にすると共に当該第2の導体パターン同士を互いに同電位にした状態で当該各検査グループに対して同時に検査する第1の検査処理を前記接触態様を変更して複数回に亘って実行すると共に、異なる前記検査グループにグループ分けした前記各導体パターンのうちの互いに近接する一対の当該導体パターンのうちの一方を前記高電位にすると共に当該一対の導体パターンのうちの他方を前記低電位にした状態で当該一対の導体パターンの間の絶縁状態を検査する第2の検査処理を実行する絶縁検査方法。 - 前記少なくとも一部の導体パターンを前記N個の検査グループに等分して前記第1の検査処理および前記第2の検査処理を実行する請求項1記載の絶縁検査方法。
- 前記第1の検査処理時において前記絶縁状態を不良と検査したときに、前記各検査グループ毎に前記第1の導体パターンおよび前記第2の導体パターンの間の絶縁状態を個別的に検査する第3の検査処理を実行する請求項1または2記載の絶縁検査方法。
- 検査対象基板に形成された複数の導体パターンに一対の検査用プローブを接触させるプローブ移動機構と、前記一対の検査用プローブを介して当該各導体パターンに検査用電圧を供給する電圧供給部と、前記検査用電圧を供給させた状態において前記各導体パターンのうちの前記電圧供給部における高電位を出力する高電位出力部に接続された前記検査用プローブが接触している第1の導体パターンと当該各導体パターンのうちの当該電圧供給部における低電位を出力する低電位出力部に接続された前記検査用プローブが接触している第2の導体パターンとの間の電気的パラメータを測定して当該測定した電気的パラメータに基づいて当該第1の導体パターンおよび当該第2の導体パターンの間の絶縁状態を検査する検査処理を実行する検査部とを備え、当該検査部が前記プローブ移動機構を制御して前記各導体パターンに対する前記一対の検査用プローブの接触態様を変更させると共に前記電圧供給部を制御して前記検査用電圧を供給させて複数回の前記検査処理を実行することによって前記各導体パターンの間の絶縁状態をそれぞれ検査する絶縁検査装置であって、
前記検査部は、前記複数回の検査処理として、前記各導体パターンのうちの少なくとも一部の導体パターンをグループ分けしたN個(Nは、2以上の自然数)の検査グループ毎の前記第1の導体パターンおよび前記第2の導体パターンの間の絶縁状態を、N組の前記検査用プローブを使用して当該第1の導体パターン同士を互いに同電位にすると共に当該第2の導体パターン同士を互いに同電位にした状態で当該各検査グループに対して同時に検査する第1の検査処理を前記接触態様を変更させて複数回に亘って実行すると共に、異なる前記検査グループにグループ分けされた前記各導体パターンのうちの互いに近接する一対の当該導体パターンのうちの一方を前記高電位にすると共に当該一対の導体パターンのうちの他方を前記低電位にした状態で当該一対の導体パターンの間の絶縁状態を検査する第2の検査処理を実行する絶縁検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008310362A JP2010133836A (ja) | 2008-12-05 | 2008-12-05 | 絶縁検査方法および絶縁検査装置 |
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JP (1) | JP2010133836A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012247295A (ja) * | 2011-05-27 | 2012-12-13 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 |
DE102022128550A1 (de) | 2022-10-27 | 2024-05-02 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Verfahren zur isolationsprüfung von elektrischen netzwerken eines kabelbaums |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63206667A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-25 | Fujitsu Ltd | プリント基板試験方法 |
JPH04503105A (ja) * | 1988-10-17 | 1992-06-04 | バス、サイエンティフィック、リミテッド | 電気回路の試験 |
JPH0777554A (ja) * | 1993-09-08 | 1995-03-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント配線板の検査方法 |
JPH07244126A (ja) * | 1994-03-08 | 1995-09-19 | Matsushita Electron Corp | 検査装置 |
JPH10142281A (ja) * | 1996-11-08 | 1998-05-29 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査方法 |
JPH10193702A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-28 | Teraoka Seiko Co Ltd | ラベルプリンタ |
JP2002350486A (ja) * | 2001-05-30 | 2002-12-04 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 電気配線システムの検査装置及び方法 |
JP2003098216A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2004184109A (ja) * | 2002-11-29 | 2004-07-02 | Hioki Ee Corp | インサーキットテスタによる回路基板の検査方法 |
JP2006105795A (ja) * | 2004-10-06 | 2006-04-20 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査方法および絶縁検査装置 |
-
2008
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63206667A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-25 | Fujitsu Ltd | プリント基板試験方法 |
JPH04503105A (ja) * | 1988-10-17 | 1992-06-04 | バス、サイエンティフィック、リミテッド | 電気回路の試験 |
JPH0777554A (ja) * | 1993-09-08 | 1995-03-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント配線板の検査方法 |
JPH07244126A (ja) * | 1994-03-08 | 1995-09-19 | Matsushita Electron Corp | 検査装置 |
JPH10142281A (ja) * | 1996-11-08 | 1998-05-29 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査方法 |
JPH10193702A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-28 | Teraoka Seiko Co Ltd | ラベルプリンタ |
JP2002350486A (ja) * | 2001-05-30 | 2002-12-04 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 電気配線システムの検査装置及び方法 |
JP2003098216A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2004184109A (ja) * | 2002-11-29 | 2004-07-02 | Hioki Ee Corp | インサーキットテスタによる回路基板の検査方法 |
JP2006105795A (ja) * | 2004-10-06 | 2006-04-20 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査方法および絶縁検査装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012247295A (ja) * | 2011-05-27 | 2012-12-13 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 |
DE102022128550A1 (de) | 2022-10-27 | 2024-05-02 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Verfahren zur isolationsprüfung von elektrischen netzwerken eines kabelbaums |
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