DE3022279C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3022279C2 DE3022279C2 DE19803022279 DE3022279A DE3022279C2 DE 3022279 C2 DE3022279 C2 DE 3022279C2 DE 19803022279 DE19803022279 DE 19803022279 DE 3022279 A DE3022279 A DE 3022279A DE 3022279 C2 DE3022279 C2 DE 3022279C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- circuit
- current
- conductor
- pulse
- current pulse
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
- G01R31/088—Aspects of digital computing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/315—Contactless testing by inductive methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Locating Faults (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen eines leistungsversorgten
elektronischen Schaltkreises und dient der Feststellung
und Lokalisierung von Fehlern in Leiterabschnitten gedruckter
Schaltungen, wie sie z. B. bei Kurzschluß oder Versagen
einer Komponente auftreten können, und kann sowohl bei linearen
Schaltkreisen, wie auch bei Logikschaltkreisen angewendet werden.
Ferner betrifft die Erfindung eine Einrichtung zum Durchführen
des Verfahrens.
Aus der DE 27 49 529 A1 ist ein Verfahren und eine Vorrichtung
zum Lokalisieren von Fehlern auf gedruckten Schaltungsplatinen
mittels Strom bekannt. Entlang einer vorbestimmten Leiterbahn
zwischen dicht benachbarten anderen Leiterbahnen der gedruckten
Schaltungsplatine wird ein Wechselspannungssignal angelegt,
das ein Magnetfeld im Bereich der vorbestimmten Leiterbahn
erzeugt. Mittels eines Tastkopfes wird in der Nähe des Magnetfeldes
an einer Seite der Leiterbahn entlang getastet, um das Feld zur
Erzeugung einer induzierten Spannung aufzunehmen. Die Phasenlage
der induzierten Spannung und der Ort der Phasenumkehr, wenn der
Tastkopf die vorbestimmte Leiterbahn überquert, kann festgestellt
werden, um den Fehlerort aufzufinden. Dem bekannten Verfahren und der
Vorrichtung liegt somit die Vorgehensweise zugrunde, mittels Polaritäten
der Phase von Feldern einen gewünschten Prüfstrom in denjenigen
Bereichen der Leiter der Platine zu erzeugen, die untersucht
werden sollen. Hierdurch kann jedoch nicht die fehlerhafte
Komponente eines Schaltkreisknotens ermittelt werden. Die Verwendung
eines Wechselstromsignals ermöglicht keine Bestimmung der
Fließrichtung des Stromes in einer Leiterbahn. Der Einsatz in komplizierten
Schaltungen ist daher nicht möglich.
Die DE 26 39 831 A1 betrifft ein Prüfverfahren und -gerät.
Zum Auffinden von Fehlstellen mit Kurzschluß oder geringem Widerstand
wird ein Wechselstrom-Tonfrequenz-Signal über eine vorbestimmte
Leiterbahn angelegt und der Weg des Signals verfolgt durch
Bewegung einer kleinen Induktionsspulenanordnung in enger Nähe der
Leiterbahn. Ein mit dem Tonfrequenz-Signal in Beziehung stehendes
Signal wird dadurch in der Spulenanordnung induziert, wobei das
Anlegen des induzierten Signals an eine Hör- oder Sichtanzeigevorrichtung
eine Verfolgung des Tonfrequenz-Signals über die Leiterbahn
zum Auffinden der Fehlstelle ermöglicht. Wie bereits aus der
vorstehenden Druckschrift bekannt, wird hier die Verwendung eines
Wechselspannungssignals beschrieben, dessen Magnetfeld in einer
Sonde ein Signal erzeugt, das ein Abtasten von Leiterbahnen zum
Auffinden von Fehlern erlaubt. Als Besonderheit werden hier Tonfrequenz-
Signale verwendet, also eine bestimmte Frequenz des Wechselstroms.
Die DE 25 24 361 A1 betrifft ein Verfahren zum Prüfen von
integrierten Digitalbausteinen. Hierbei handelt es sich um einen
typischen in-circuit-Tester, der die richtige Funktion der Digitalbausteine
zu prüfen hat. Durchgeführt wird somit eine Funktionsprüfung
von Bauteilen und keine Prüfung von Leiterbahnen zum
Auffinden von Kurzschlüssen usw.
Die DD 1 33 598 betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung
zur Fehlerlokalisierung an defekten digitalen Funktionseinheiten.
Zum Auffinden von Fehlern werden auf Leiterbahnen Wechselstrom oder
Impulssignale eingegeben. Sodann wird eine von dem in den Leiterbahnen
fließenden Strom abhängige Meßgröße ausgekoppelt, verstärkt
und angezeigt. Anhand des Vorhandenseins und der Amplitude des induzierten
Stroms in verzweigten Leitungsführungen kann der Stromfluß
verfolgt werden, da der gesamte Strom zu der Kurzschlußstelle
fließt, während alle parallelen Leitungen stromlos sind. Kriterien
für das Auffinden eines Fehlers sind somit das Vorhandensein und
die Amplitude von Wechselstromsignalen oder alternativ hierzu Impulssignale.
Darüber hinaus ist der Druckschrift nicht zu entnehmen,
wie eine Fehlerlokalisierung durchzuführen ist.
Die US 40 74 188 betrifft ein nieder-ohmiges Fehlerermittlungssystem
und ein Verfahren dazu. Es wird wiederum nur das
Vorhandensein eines Prüfsignals gemessen und nicht die Richtung.
Aus "Electronics", 25. November 1987, Heft 24, Seiten 106
bis 110, ist ein Artikel bekannt, der einen Tastkopf zum Auffinden
von Fehlern beschreibt. Aber auch hier wird wiederum nur das Vorhandensein
eines Signals geprüft und nicht dessen Richtung.
Gegenüber der DE 27 49 529 A1 besteht die Aufgabe, ein
Verfahren zum Prüfen von leistungsversorgten elektronischen Schaltkreisen
anzugeben, welches auch bei komplizierten Schaltungen anwendbar
ist und über die Ermittlung der Fließrichtung eines induzierten
Stromimpulses eine zuverlässige Fehlererkennung und Lokalisierung
gestattet.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
Gegenüber der DD 1 33 598 besteht die Aufgabe, eine Einrichtung zum Durchführen des
Verfahrens zu schaffen, welche eine Fehlerlokalisierung auch
richtungsunabhängig von bestimmten Knotenpunkten aus gestattet.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 5 gelöst.
Bestimmte Arten elektronischer Schaltkreise, insbesondere
Logikschaltkreise mit Hochfrequenztaktimpulsen, und/oder bestimmte
Arten von Random-Speichern weisen intern erzeugte Versorgungsspannungen
auf und erzeugen Rauschströme, deren Wirkungen die Tendenz
haben, Magnetfeldänderungen zu überdecken, die durch einen eingespeisten
Stromimpuls induziert werden, selbst dann, wenn der
Schaltkreis in seinem fehlerhaften Betriebszustand gehalten wird.
Auch diese Schwierigkeit soll mit dem Gegenstand der vorliegenden
Erfindung behoben werden.
Das wird dadurch erreicht, daß
ein Teststromimpuls mit einer vorgegebenen Flankenform in den Knoten
injiziert wird, um die Richtung zu dem Fehler von einem bestimmten
Knotenpunkt aus erkennen zu können.
Im Betrieb wird die zu prüfende Schaltung unter Spannung
gesetzt und in den Zustand gebracht, in welchem ein Fehler beobachtet
wird. Eine Strominjektionssonde wird auf einen Leiter der
gedruckten Schaltung gesetzt, der einen Teil des Knotens bildet, wo
der Fehler liegt, und ein Stromimpuls wird in den Leiter injiziert.
Da die gelieferten Stromimpulse eine vorgegebene Flankenform besitzen,
vorzugsweise eine Dreieckform mit einer steilen Anstiegsflanke
und einer weniger steilen Abfallflanke, die unterschiedliche
Spannungsimpulse in einem Stromsondenkreis erzeugen. Die resultierenden
Spannungsimpulse ermöglichen aufgrund ihrer verschiedenen
Ausgestaltung festzustellen, ob für eine gewählte Orientierung der
Stromfluß nach rechts oder links erfolgt und damit ein Fehler
rechts oder links liegt. Die Erfindung der vorliegenden Anmeldung
zeigt somit einen Weg auf, wie festgestellt werden kann, in welcher
Richtung von einem Knotenpunkt aus der Fehler liegt.
Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Konzepts sind in den
Unteransprüchen definiert.
Bei allen Aspekten der Erfindung ist die Höhe der Stromimpulse
vorzugsweise so gewählt, daß diese nicht in der Lage sind,
den Logikzustand des zu prüfenden Schaltkreises zu verändern.
Die Erfindung wird nachstehend unter Bezugnahme auf die
beigefügten Zeichnungen näher erläutert, die Ausführungsbeispiele
darstellen.
Fig. 1 ist ein schematischer Blockschaltkreis einer
Fehlererkennungseinrichtung gemäß der Erfindung,
Fig. 2 zeigt etwas idealisiertes Wellenformen, die in
der Schaltung nach Fig. 1 auftreten,
Fig. 3 ist ein Längsschnitt durch eine Ausführungsform
einer Sonde, die einen Teil der Einrichtung nach
Fig. 1 bildet,
Fig. 4 ist ein schematisches Blockschaltbild einer automatischen
Prüfanlage gemäß der Erfindung, ausgebildet
zum Einbau in die Einrichtung nach
Fig. 1 und 3, und
Fig. 5 ist ein vereinfachtes Schaltungsdiagramm eines
Teils des Blockschaltbildes nach Fig. 1.
Die nachstehend zu beschreibende Einrichtung dient dazu,
einen Fehler bei bestückten gedruckten Schaltungen zu lokalisieren.
Bei der konventionellen Prüfung einer solchen Schaltung, die beispielsweise
einen komplizierten digitalen Logikschaltkreis trägt, wird an
den Schaltkreis Spannung angelegt über einen Kantenanschluß der
Platte, und Testsignale werden dann in vorgegebener Abfolge an die
Schaltung angelegt, so daß sie mehrere unterschiedliche Logikzustände
annimmt. Für jeden solchen Zustand werden die elektrischen Spannungen
an verschiedenen Punkten der Schaltung ermittelt, und ihre Logikwerte
(oder Kombinationen derselben) werden verglichen mit vorgegebenen
Werten (oder Kombinationen derselben), die man beim Normalbetrieb
oder fehlerfreien Betrieb der Schaltung erwarten würde. Jegliche Abweichung
von diesen erwarteten Werten wird als Anzeige für einen
Fehler der Schaltung gewertet.
Typischerweise kann der Fehler ein Kurzschluß sein (oder
ein Versagen einer Komponente, derart, daß die Wirkung ähnlich einem
Kurzschluß ist) zwischen dem Punkt, etwa einem Leiterabschnitt
der gedruckten Schaltung, wo die Falschspannung beobachtet wird, und
entweder der Spannungszufuhrschiene oder der Spannungsrücklaufschiene
der Schaltung. Wenn es sich bei dem Punkt um einen Schaltkreisknoten
handelt, an dem mehrere unterschiedliche Komponenten angekoppelt
sind, erlaubt die einfache Messugn der Knotenspannung nicht die Ermittlung
der fehlerhaften Komponente. Die Injektion eines Teststromimpulses
in den Knoten kann jedoch diese Schwierigkeit überwinden.
Demgemäß, und wie in Fig. 1 dargestellt, umfaßt die Einrichtung
einen Stromeinspeisungskreis 10, der eine Strominjiziersonde
12 umfaßt, welche an eine Stromquelle 14 und eine Stromsenke 16 angekoppelt
ist. Zum Prüfen einer Schaltung, bei der die Leistungszufuhrschiene
wie üblich positiv ist gegenüber der Leistungsrücklaufschiene,
ist die Stromquelle 14 so ausgebildet, daß sie ins
Positive gehende Stromimpulse liefert, und die Stromsenke 16 ist so
ausgebildet, daß sie ins Negative gehende Stromimpulse liefert. Die
Auswahl entweder der Stromquelle 14 oder der Stromsenke 16 wird gesteuert
durch einen Polaritätssperrkreis 18 im Ansprechen entweder
auf die Signale von zwei Komparatoren 20 und 22 oder auf einen
handbetätigbaren Schalter 24. Die Komparatoren 20 und 22 sind invers
relativ zueinander an zwei Eingangs-/Ausgangsklemmen 26 bzw. 28
angeschlossen. Diese zwei Klemmen 26 und 28 bilden auch die Stromversorgungsklemmen
der Einrichtung, wobei die gleiche Stromleistung
getrennt ist von den Eingangs- und Ausgangssignalen durch zwei Drosseln
30 und 32 für die Versorgung der verschiedenen Teile der Einrichtung
über entsprechende Zuleitungen, die aus Gründen der Übersichtlichkeit
weggelassen sind.
Der Betrieb der Stromquelle 14 oder der Stromsenke 16 wird
getriggert durch einen Taktschaltkreis 34 und kann gesperrt werden
durch ein Signal auf einer Eingangsklemme 36.
Der Taktschaltkreis 34 arbeitet entsprechend einem Steuersignal
auf einer Eingangsklemme 38, um entweder die Quelle 14 oder
die Senke 16 je nach der Auswahl durch den Polaritätssperrkreis 18
zu triggern, und zwar entweder kontinuierlich mit etwa 1 kHz (interner
Betrieb) oder selektiv im Ansprechen auf ein Signal von einem ODER-
Gatter 40, das zwei Eingänge aufweist, die verbunden sind mit jeweils
einem der Komparatoren 20 und 22 (externer Betrieb). Die Eingangsklemme
38 ist ferner angeschlossen an den Polaritätssperrkreis
18, um diesen so zu steuern, daß er entweder auf die Komparatoren
20 und 22 (für externen Betrieb) oder auf den Schalter 24 (für
internen Betrieb) anspricht. Wenn einmal der Taktschaltkreis 34
Quelle 14 oder Senke 16 getriggert hat, sperrt er zeitweilig weiteren
Betrieb der Komparatoren 20, 22 über eine Steuerleitung 41.
Die Einrichtung weist ferner einen Stromsondenkreis 42
auf, in dem eine Spule 44 auf den Mittelbereich eines U-förmigen
oder gabelförmigen Ferritkerns gewickelt ist, der ganz schematisch
bei 46 angedeutet ist. Die Enden der Spule 44 sind angekoppelt an
einen Richtungsverstärker 48, der entgegengesetzte Polarität aufweisend
Eingänge von zwei Komparatoren 50 und 52 beaufschlagt. Diese
Komparatoren empfangen außerdem Bezugsspannungen V+ bzw. V- entgegengesetzter
Polarität, und ihre Ausgänge sind angekoppelte an einen Anzeigelogikkreis
54, an den außerdem die Ausgangssignale des Polaritätssperrkreises
18 im Strominjektionskreis 10 angelegt sind.
Der Ausgang des Verstärkers 48 ist ferner verbunden mit
einem Eingang 70 eines Rauschunterdrückungskreises. Der Rauschunterdrückungskreis
72 weist einen weiteren Eingang 74 auf, angeschlossen
an den Ausgang des Taktkreises 34, der verwendet wird, um die Stromquelle
14 und Stromsenke 16 zu triggern, sowie zwei Steuereingänge
76 bzw. 78. Der Rauschunterdrückungskreis 72 besitzt ferner einen
Ausgang 80, der an entsprechende Sperreingänge der Komparatoren 50
bzw. 52 angeschlossen ist, sowie zwei weitere Ausgänge 82, 84, die
in verdrahteter ODER-Funktion angeschlossen sind an entsprechende
Ausgänge der Komparatoren 50 und 52. Aufbau und Wirkungsweise des
Rauschunterdrückungskreises werden weiter unten im einzelnen unter
Bezugnahme auf Fig. 5 erläutert.
Der Anzeige-Logikkreis 54 spricht auf die Signale an
seinen Eingängen an, um einen entsprechend zugeordneten Indikator
von zwei Lichtemissionsdioden-Richtungsindikatoren 56 und 58 zu erregen,
und zwar über zugeordnete Sperrkreise 60 und 62, welche entsperrt
werden durch den Taktkreis 34. Die Ausgänge der Komparatoren
50 und 52 sind außerdem an einen Differentialausgangsverstärker 64
angeschlossen, der entsprechende entgegengesetzt gerichtete Signale
an die Eingangs-/Ausgangsklemmen 26 und 28 legt: Diese Signale
werden daran gehindert, den Polaritätssperrkreis 18 zu beeinflussen
durch die Tatsache, daß der Betrieb der Komparatoren 20, 22 zeitweise
unterdrückt wird, wie oben erwähnt wurde.
Die Auslegung jedes der oben beschriebenen Schaltkreise
ergibt sich für den Fachmann ohne weiteres aus der nachfolgenden
Erläuterung, so daß keine weiter detaillierte Beschreibung erforderlich
erscheint.
Im Betrieb wird die zu prüfende Schaltung unter Spannung
gesetzt und in den Zustand gebracht, in welchem ein Fehler beobachtet
wird. Die Strominjektionssonde 12 wird auf einen Leiter der
gedruckten Schaltung gesetzt, der einen Teil des Knotens bildet,
wo der Fehler vorliegt, und ein Stromimpuls wird in den Leiter injiziert.
Es sei angenommen, daß das Steuersignal an Klemme 38 externen
Betrieb vorgegeben hat, wobei die Injektion des Stromimpulses getriggert
wird durch den Taktkreis 34 im Ansprechen auf einen Impuls an einer
der Klemmen 26 und 28, der wirksam wird über einen der Komparatoren
20 und 22 sowie das ODER-Gatter 40. Gleichzeitig spricht der Polaritätssperrkreis
18 auf den entsprechenden Komparator an, um entweder
die Stromquelle 14 oder die Stromsenke 16 zu entsperren entsprechend
der Polarität des Triggerimpulses.
Die Höhe des Stromimpulses ist auf 1 mA begrenzt,
was nicht hinreicht, um irgendwelche Änderungen im Zustand der Logikschaltungen
des zu prüfenden Schaltkreises zu bewirken. Typischerweise
wird für eine Transistor-Transistor-Logikschaltung (TTL-Schaltung)
ein Impuls von der Stromquelle 14 einen ins Positive gehenden
Spannungsimpuls von etwa 100 mV Maximalhöhe hervorrufen, verglichen
mit den maximal 800 mV Schwellenspannung, die zulässig sind für ein
Signal, um ein Logik-Null-Eingangssignal zu repräsentieren (dabei
wird positive Logik angenommen). In ähnlicher Weise erzeugt ein
Impuls von der Stromsenke 16 einen ins Negative gehenden Impuls von
ebenfalls etwa 100 mV Maximalamplitude bei einem im schlimmsten
Falle Logik-1-Ausgangssignal von 2,8 V, verglichen mit den minimal
2,4 V, die als ein Logik-1-Eingangssignal akzeptiert werden.
Die Enden des U-förmigen Ferritkerns 46 werden gleichzeitig
an oder unmittelbar über dem betreffenden Leiter der gedruckten
Schaltung plaziert, so daß das mit dem Stromimpuls, der
in dem Leiter fließt, einhergehende Magnetfeld einen entsprechenden
Spannungsimpuls über der Spule 44 erzeugen kann.
Dieser Impuls wirkt über den Verstärker im Sinne einer
Triggerung entweder des Komparators 50 oder des Komparators 52,
je nach der Polarität des Impulses, die ihrerseits abhängt von der
Richtung des Magnetfeldes, das den Impuls induziert. Die Richtung
zu dem Fehler (zum Unterschied zu der Richtung des Stromflusses zum
oder von dem Fehler) steht jedoch nicht nur in Beziehung mit der
Polarität des Spannungsimpulses, sondern auch mit der Polarität
des Prüfstromimpulses. Demgemäß empfängt die Anzeigelogik 54 ein
Signal sowohl von dem getriggerten Komparator 50 oder 52 als auch
von dem Polaritätssperrkreis 18 und liefert durch Vergleich dieser
Signale ein Signal an den zugeordneten Indikator 56 bzw. 58 zur Anzeige
der Richtung des Fehlers. Die Anzeige wird festgehalten mittels
der Haltekreise 60 und 62, die zu einem geeigneten Zeitpunkt nach
der Injektion des Prüfstromimpulses durch den Taktkreis 34 entsperrt
werden.
Beim internen Betrieb werden die Prüfstromimpulse automatisch
durch den Taktkreis 34 mit einer Repetitionsrate von 1 kHz
getriggert und mit einer Polarität, die bestimmt wird durch die Stellung
des Schalters 24.
Wenn die Einrichtung im externen Betrieb in Verbindung mit
einer automatischen Prüfanlage benutzt wird, die die Sequenz von
Taktsignalen, wie oben erwähnt wurde, liefert,
wird die Prüfanlage so ausgebildet, daß sie die Sequenz der
Prüfschritte führt, derart, daß die Anzahl von Schritten identifiziert
und gespeichert wird, bei welchen die zu prüfende Schaltung in
den fehlerhaften Zustand gerät. Die Prüfanlage wird dann dazu gebracht,
die Sequenz zu wiederholen und die Einrichtung gemäß Fig. 1
zu triggern, über die Klemmen 26 und 28, wenn der identifizierte
Schritt wieder auftritt, so daß der Prüfstromimpuls angelegt wird,
während die zu prüfende Schaltung sich im fehlerhaften Zustand befindet:
Schaltungsanordnungen für das Erreichen dieser Triggerung
werden nachstehend unter Bezugnahme auf Fig. 4 erläutert. Das resultierende
Signal, das an die automatische Prüfanlage über Verstärker
64 und Klemmen 26 und 28 geliefert wird, ermöglicht der Anlage,
den Fehler zu diagnostizieren oder weitere Prüfschritte auszuwählen,
falls erforderlich.
Die von den Kreisen 14 und 16 gelieferten Stromimpulse
haben etwa Dreieckform, wie in etwas idealisierter Form in Fig. 2
dargestellt ist, wobei die Anstiegsflanke sehr steil ist (typische
Anstiegszeit 10 Nanosekunden) und die Abfallflanke viel weniger
steil ist (typische Abfallzeit 200 Nanosekunden). Obwohl die Abfallflanken
der Impulse in Fig. 2 als im wesentlichen linear dargestellt
sind, sind sie in der Praxis etwa exponentiell, da die Impulse
typischerweise jeweils geformt werden mittels eines entsprechenden
einfachen Differenzierschaltkreises vom Typ mit Serienkapazität
und Parallelwiderstand, angeordnet innerhalb der Schaltkreise bzw.
16 und so ausgebildet, daß sie ein Schritteingangssignal empfangen,
getriggert durch den Taktkreis 34. Wie ebenfalls in Fig. 2 dargestellt,
hat der resultierende Spannungsimpuls, der in Spule 44 induziert
wird, einen kurzen Ausschlag hoher Amplitude in einer Richtung,
gefolgt von einem längeren Ausschlag niedrigerer Amplitude in
der anderen Richtung. Demgemäß ermöglicht die richtige Auswahl der
Größen von V+ und V-, die Richtung des ersten Ausschlages (und damit
die Richtung, in der der Prüfstromimpuls fließt) ohne weiteres zu
unterscheiden. Die Spannungsimpulse, die in der Spule 44 induziert
werden, sind wiederum in etwas idealisierter Form in Fig. 2 dargestellt:
in der Praxis werden sie geformt durch die Induktanz und
Streukapazitanz der Spule 44, so daß sie als gedämpfte Sinusimpulse
erscheinen, wobei die erste Halbperiode viel größere Amplitude
aufweist als die zweite.
Fig. 2 zeigt außerdem die Beziehungen zwischen Stromflußrichtung,
Polarität des Prüfstromes und Fehlerrichtung. Man
erkennt demgemäß in Fig. 2b und 2c für einen ins Positive gehenden
Prüfstromimpuls, daß der Stromfluß nach rechts oder links (für eine
entsprechende Orientierung des Ferritkerns 46) einen Fehler entsprechend
rechts oder links anzeigt. Umgekehrt zeigt für einen ins
Negative gehenden Prüfstromimpuls (Fig. 2e und 2f) Stromfluß nach
rechts bzw. links einen Fehler auf der linken bzw. rechten Seite.
Die Anzeigelogik 54 umfaßt eine einfache Schaltung aus Gattern und
Sperrkreisen, die so ausgelegt ist, daß diese Beziehungen verwirklicht
werden.
Es ist anzumerken, daß bei Drehung des Ferritkerns 46
axial um 180° die Polarität der Spannungsimpulse, die in der Spule
44 induziert werden, ebenfalls umgedreht wird, womit der Stand der
Indikatoren 56 und 58 wechselt. Wenn jedoch diese Indikatoren auf
demselben Träger montiert werden wie der Kern 46, und zwar auf
gegenüberliegenden Seiten von dessen Achse 66, ändern sich bei
Drehung auch deren Positionen, und damit wird die richtige Anzeige
aufrechterhalten.
Eine Ausführungsform der auf diese Weise ausgebildeten
Einrichtung ist in Fig. 3 dargestellt, wobei Teile entsprechend
den Komponenten aus Fig. 1 entsprechende Bezugszeichen mit vorgestellter 1 aufweisen.
Gemäß Fig. 3 sind die verschiedenen Teile der Schaltung
auf einer langgestreckten gedruckten Schaltung 100 montiert mit
einem rohrförmigen Gehäuse 102, durch dessen Wandung die Indikatoren
156 und 158 sowie der Schalter 124 herausragen. Der gegabelte
Ferritkern 146 ist an einem Ende des Gehäuses 102 montiert, wobei
sich die Strominjektionssonde 112 in Form einer Metallplatte, die
in einem Punkt 104 ausläuft, zwischen den Schenkeln des Kerns 146
nach unten erstreckt: Aus Gründen der Deutlichkeit ist der Ferritkern
146 hier um 90° verdreht dargestellt, um die Strominjektionssonde
112 sichtbar zu machen, doch liegen in der Praxis der Schenkel
des Kerns 146 und die Sonde 112 in einer gemeinsamen Ebene
senkrecht zur Ebene der Fig. 3. Demgemäß kann der so ausgebildete
Stift mit einer Hand auf eine Leiter 106 einer zu prüfenden gedruckten
Schaltung 108 aufgesetzt werden, wonach die Strominjektionssonde
112 und der Ferritkern 146 gleichzeitig richtig positioniert
sind für die Injektion eines Prüfstromimpulses.
Die automatische Prüfanlage (A.T.E.) der Fig. 4 ist bei
200 angedeutet.
A.T.E. 200 ist über einen Kanalbus 202 an eine
komplizierte zu prüfende Digitalschaltung angeschlossen, die bei
204 angedeutet ist und typischerweise eine große Anzahl von LSI-
Schaltkreisen (nicht dargestellt) umfaßt, montiert auf einer gedruckten
Schaltung (nicht dargestellt). Die gedruckte Schaltung
des Schaltkreises 204 ist normalerweise in ihrer üblichen Kantenklemmenanordnung
(nicht dargestellt) montiert, und der Bus 202 ist
an diese Kantenklemme angeschlossen. Bekanntlich ist die A.T.E. so
programmiert, daß sie den Schaltkreis 204 über Bus 202 mit den
erforderlichen Versorgungsleistungen speist sowie mit einer Sequenz
von Testsignalen, wonach das Ansprechen der Schaltung 204 auf diese
Testsignale überwacht wird, um irgendwelche Fehler zu ermitteln,
die in dem Schaltkreis vorliegen können.
Die A.T.E. 200 ist mit Schnittstellenschaltungen versehen,
die allgemein bei 206 angedeutet sind, für den Anschluß der
A.T.E. an die Einrichtung nach Fig. 1 und 3. Die Schnittstellenschaltung
206 umfaßt einen Datenübertrager 208 für den Empfang von
Daten von und übertragen von Daten zur A.T.E. 200 (genauer gesagt:
zu bzw. von deren Zentraleinheit), wobei der Datenübertrager 208
angeschlossen ist, um von der A.T.E. 200 empfangene Daten zu einer
Datenschreibeinheit 210 zu übertragen. Die Datenschreibeinheit 210
weist drei Ausgänge 212, 214, 217 auf, die angeschlossen sind an
Eingangs- und Ausgangsklemmen 26 bzw. 28 bzw. die Eingangsklemme
38 der Einrichtung nach Fig. 1 und 2, sowie einen vierten Ausgang
215, angeschlossen an die Klemme 36 dieser Einrichtung. Die Klemmen
26,28 sind ferner angeschlossen an zwei Eingänge 216, 218 einer
Datenleseeinheit 220, deren Ausgänge zusammengeschaltet sind mit
den Eingängen der Datenschreibeinheit 210 und angeschlossen sind
an den Datenübertrager 208.
Die A.T.E. 200 weist einen Ausgang 222 auf, an dem sie
Testimpulse erzeugt, die jeweils synchronisiert sind mit einem
entsprechenden Schritt der Sequenz von Testsignalen, die an die
Schaltung 204 angelegt werden, und dieser Ausgang ist verbunden
mit dem Zähleingang eines Testzahlzählers 224. Die Zählausgänge
des Zählers 224 sind verbunden mit einem ersten Satz von Eingängen
eines Komparators 226 und mit den Eingängen eines Sperrkreises 228,
dessen Ausgänge mit dem anderen Satz von Eingängen des Komparators
226 verbunden sind.
Die A.T.E. 200 besitzt einen weiteren Ausgang 230, an
welchen sie einen Impuls erzeugt, synchronisiert mit einem Testimpuls,
wenn sie einen Fehler im Schaltkreis 204 erfaßt. Der Ausgang
230 ist verbunden mit einem Entsperreingang des Sperrkreises 228.
Der Ausgang des Komparators 226 ist verbunden mit einem Eingang
eines Zwei-Eingangs-UND-Gatters 232, dessen anderer Eingang verbunden
ist mit dem Ausgang 222 der A.T.E. 200 und dessen Ausgang verbunden
ist mit einem weiteren Eingang der Datenschreibeinheit 210.
Im Betrieb wird die A.T.E. 200 dazu gebracht, die Sequenz
der Testsignale ein erstes Mal zu durchlaufen, und während sie dies
tut, wird der Zählstand im Zähler 224 für jeden aufeinanderfolgenden
Schritt in der Sequenz um 1 weitergeschaltet: Der Zählstand im
Zähler 224 zeigt demgemäß die Zahl in der Sequenz der Testsignale
an, die gerade an den Schaltkreis 204 in irgendeinem Augenblick angelegt
wird. Bei diesem ersten Durchlauf der Sequenz ist der Betrieb
der Einrichtung nach Fig. 1 und 3 gesperrt, falls erforderlich durch
ein Signal, das von der A.T.E. 200 an ihre Eingangsklemme 36 über
den Datenübertrager 208 und die Datenschreibeinheit 210 angelegt
wird.
Es sei angenommen, daß bei Schritt Nr. 27 der Sequenz die
A.T.E. 200 einen Fehler in der Schaltung 204 feststellt. Neben dem
Speichern von Einzelheiten des Fehlers für diagnostische Zwecke
erzeugt die A.T.E. 200 einen "Fehler erfaßt"-Impuls auf ihrem Ausgang
230, welcher Impuls dazu dient, den Zählstand im Zähler 224
(hier also "27") in den Sperrkreis 228 zu übertragen: Die Sequenz
läuft dann weiter bis zu ihrem Ende. Es sei ferner angenommen, daß
eine anfängliche Diagnose, die auf den bekannten Betriebskennwerten
der Schaltung 204 beruht, und gegebenenfalls eine Überprüfung der
Spannungen an verschiedenen Punkten der Schaltung umfaßt, anzeigt,
daß der Fehler in einem bestimmten Schaltungsleiter oder Knoten vorliegt,
an den mehrere LSI-Schaltkreise angeschlossen sind. Die
A.T.E. 200 instruiert nun die Bedienungsperson, die Sonde 12/112
der Einrichtungen nach Fig. 1 und 3 an dem betreffenden Knoten zu
plazieren, und aus vorprogrammierten Informationen bezüglich der
Natur der Schaltkreise, die an den Knoten angeschlossen sind, wird
der entsprechende Ausgang 212, 214 der Datenschreibeinheit 210 entsperrt
(entsprechend der zugeordneten Versorgung aus Quelle 14 oder
Senke 16 in der Einrichtung nach Fig. 1 und 3) über den Datenübertrager
208.
Die A.T.E. 200 wir dann so eingestellt, daß sie nochmals
die Sequenz von Testsignalen durchläuft. Wenn sie den Schritt 27
der Sequenz erreicht, d. h. den Schritt, bei dem der Fehler auftaucht,
erzeugt der Komparator 226 ein Eingangssignal, das das UND-
Gatter 232 entsperrt. Der Testimpuls, der am anderen Eingang des
UND-Gatters liegt, triggert demgemäß die Einrichtung 1 und 3 über
den jeweils entsperrten Ausgang 212 oder 214 der Datenschreibeinheit
210 und den entsprechenden Eingang 26 bzw. 28, um einen Stromimpuls
an den betreffenden Knoten anzulegen, mit den Ergebnissen,
die weiter oben unter Bezugnahme auf Fig. 1 bis 3 beschrieben wurden.
Im einzelnen wird das resultierende Ausgangssignal an den Klemmen
26, 28 rückübertragen zur A.T.E. 200 über die Datenleseeinheit 220
und den Datenübertrager 208. Die Bedienungsperson kann diesen Vorgang
(der extrem schnell abläuft) mehrere Male wiederholen, wenn
verschiedene Teile des Knotens untersucht werden, bis die genaue Stelle
des Fehlers bestimmt worden ist.
Es versteht sich, daß diese Technik besonders wertvoll
ist für die Lokalisierung von Übergangsfehlern, da sie sicherstellt,
daß er Fehlerlokalisierstromimpuls in einem Augenblick angelegt wird,
von dem man weiß, daß dann der Fehler auftritt. Die Stromimpulsinjiziertechnik
hat den weiteren Vorteil, daß die Wirkungen relativ
kleiner Stromimpulse selbst dann erfaßt werden können, wenn größere
Gleichströme vorliegen.
Wie weiter oben erwähnt, erzeugen bestimmte digitale logische
Schaltkreise, insbesondere solche mit hochfrequenten Taktimpulsen
und/oder bestimmte Arten von Random-Speichern mit intern
erzeugten Leistungsversorgungsspannungen Rauschströme, deren Wirkungen
ähnlich sind den Magnetfeldänderungen, welche mit der Sonde 12/
112 erfaßt werden sollen, so daß die letzteren gegebenenfalls überdeckt
werden. Wenn einmal ein fehlerhafter Knoten durch eine anfängliche
Diagnose der obenerwähnten Art identifiziert worden ist, kann
die Bedienungsperson ohne weiteres prüfen, ob die Schaltung 204 solche
Rauschströme aufweist, indem die Schaltung in den fehlerhaften
Zustand gebracht wird, die Sonde 12/112 an den fehlerhaften Knoten
angesetzt wird und mehrere Einmalmessungen ausgelöst werden über den
zugeordneten Eingang 26, 28 aus Fig. 1, während der Betrieb der Stromquelle
14 und der Stromsenke 16 über den Eingang 36 gesperrt wird.
Wenn bei diesen Messungen einer der Komparatoren 50 oder 52 getriggert
wird, wie beispielsweise durch Aufleuchten eines der Indikatoren
56, 58 angezeigt wird, wird ein Sperrkreis (nicht dargestellt) in der
A.T.E. 200 so gesetzt, daß er eine Anzeige dafür liefert, daß der
Rauschpegel an dem fehlerhaften Knoten unakzeptabel hoch ist. In diesem
Fall wählt die A.T.E. 200 einen abweichenden Betriebsmodus, in
welchem der Rauschunterdrückungskreis 72 wirksam die Komparatoren
50 und 52 ersetzt.
Der Rauschunterdrückungskreis 72 ist im einzelnen in Fig. 5
dargestellt. Er umfaßt einen Diodenbrückenschalterkreis 310, der
leitend gemacht wird durch das von der Sekundärwicklung 312 eines
Impulstransformators 314 erzeugte Signal, das über einer Diagonale
der Brücke liegt. Die Primärwindung 316 des Transformators 314 ist
so angeschlossen, daß sie erregt wird durch einen an den Eingang
74 der Schaltung 72 angelegten Impuls vom Taktkreis 34 der Fig. 1.
Dieser Impuls wird angelegt an die Wicklung 316 über ein Zwei-
Eingangs-UND-Gatter 318, dessen einer Eingang gebildet wird vom Eingang
74, und dessen anderer Eingang gebildet von dem Eingang 76. Der
Eingang 76 ist angeschlossen zum Empfang eines Entsperrsignals von
dem oben erwähnten "Rauschanzeige-Sperrkreis" in A.T.E. in Fig. 4:
Eine invertierte Version dieses Entsperrsignals, abgeleitet durch
einen Inverter 320, wird angelegt an den Ausgang 80 der Schaltung
72, um den Betrieb der Komparatoren 50 und 52 aus Fig. 1 zu sperren.
Die vom Verstärker 48 der Fig. 1 erzeugten Signale werden
über den Eingang 70 der Schaltung 72 an den Eingang der anderen Diagonalen
der Brücke 310 angelegt, deren Ausgang über einen Filterkondensator
322 an einen Integrator 324 angelegt ist. Der Integrator
324 umfaßt einen hochverstärkenden Verstärker 326 mit einem Eingangswiderstand
328 und der Parallelschaltung eines Kondensators 330 und
eines Widerstandes 332 im Gegenkopplungszweig zwischen seinem Ausgang
und einem Eingang. Der Ausgang des Integrators 324 ist angeschlossen
an den Eingang eines Analog-Digital-Wandlers 334, der
einen Entsperreingang aufweist, angekoppelt an den Eingang 74 zur
Schaltung 72 über einen Frequenzteiler 336.
Der Digitalausgang des Wandlers 334 wird über einen
Schalterkreis 338 (der aus Gründen der Vereinfachung in Fig. 5
als einfacher Umschalter dargestellt ist), einem von zwei Speichern
340 bzw. 342 aufgeschaltet. Der Zustand des Schalterkreises
338 wird gesteuert von der A.T.E. 200 aus Fig. 4, wie nachfolgend
noch zu erläutern.
Die jeweiligen Ausgänge der Speicher 340, 342
werden angekoppelt an einen digitalen Subtrahierkreis 344, dessen
Ausgang verglichen wird mit positiven und negativen Schwellenwerten
in Digitalkomparatoren 346 bzw. 348. Die jeweiligen Ausgänge der
Komparatoren 346 und 348 bilden die Ausgänge 82, 84 der Schaltung
72.
In der Praxis bilden der Schalterkreis 338, die Speicher
340, 342, der Subtrahierkreis 344 und die Komparatoren 346, 348 tatsächlich
einen Teil der A.T.E. 200, doch wurden sie aus Gründen
der Deutlichkeit getrennt dargestellt.
In dem Betriebsmodus, der gewählt wird durch Setzen des
oben erwähnten Rauschpegelsperrkreises in der A.T.E. 200, setzt
die A.T.E. die Schaltung nach Fig. 1 auf den internen Betrieb über
den Eingang 38, sperrt der Betrieb der Stromquelle 14 und der Stromsenke
16 über den Eingang 36 und setzt den Schalterkreis 338 auf
die in Fig. 5 dargestellte Position. Der Taktkreis 34 erzeugt eine
Gruppe von Triggerimpulsen mit 1 kHz, und im wesentlichen gleichzeitig
mit jedem Triggerimpuls wird der Brückenschalterkreis 310 leitend
gemacht über den Eingang 74 der Schaltung 72 während der Zeit, in der
sonst der anfängliche kurze, mit hoher Amplitude behaftete Spannungsausgleich
jedes Spannungsimpulses aufgetreten wäre, der in der
Spule 44 durch die entsprechenden Testimpulse (wären diese nicht
gesperrt) hervorgerufen worden wäre. Unabhängig von ihrer Polarität
werden alle Rauschimpulse, die von der Spule 44 der Sonde 12, 112
erfaßt werden, über den Schalterkreis 310 zum Filterkondensator
322 übertragen, und der sich verändernde Spannungspegel auf diesem
Kondensator wird integriert durch den Integrator 324. Nach einer
vorgegebenen Anzahl von Triggerimpulsen wird der Analog-Digital-
Wandler 334 getriggert über den Frequenzteiler 336 und erzeugt ein
Digitalsignal, das repräsentativ ist für die Spannung am Ausgang
des Integrators, dessen Zeitkonstante so gewählt ist, daß diese
Spannung den mittleren Pegel der Spannung am Filterkondensator
322 darstellt. Das vom Wandler 334 erzeugte Digitalsignal gelangt
in den Speicher 340. Dieser gesamte Vorgang wird dann etwa
100mal wiederholt, so daß der Speicher 340 schließlich ein
Digitalsignal enthält, das repräsentativ ist für den Mittelwert
der Spannungsimpulse, erfaßt durch die Spule 44 der Sonde 12/112.
Die A.T.E. 200 entfernt dann das Sperrsignal vom Eingang
36 und erlaubt den Betrieb entweder der Stromquelle 14 oder der
Stromsenke 16, je nachdem, welcher Schaltkreis von den Eingängen
26, 28 der Schaltung nach Fig. 1 festgelegt worden ist und setzt
den Schalterkreis 338 aus Fig. 5 in die andere (d. h. die dort nicht
dargestellte) Stellung. Der gesamte oben beschriebene Vorgang wird
dann wiederholt, doch werden diesmal die von der Spule 44 der Sonde
12/112 erfaßten Impulse sowohl auf das Rauschen, als auch auf die
Stromimpulse zurückzuführen sein, die über die Sonde eingeführt
wurden. Am Ende dieser Wiederholung enthält der Speicher 342
ein Digitalsignal, das repräsentativ ist für den Mittelpunkt der
testimpulsinduzierten und rauschinduzierten Impulse, erfaßt von der
Spule 44 der Sonde 12/112.
Das Digitalsignal im Speicher 340 wird dann subtrahiert
von jenem im Speicher 342, und das Ergebnis wird verglichen mit
den positiven und negativen Schwellen, die an die Kompatoren 346
und 348 angelegt sind. Wenn das Ergebnis mehr positiv ist als die
positive Schwelle, erzeugt der Komparator 346 ein Ausgangssignal,
während dann, wenn das Ergebnis negativer als die negative Schwelle
ist, der Komparator 348 ein Ausgangssignal erzeugt. Die Ausgangssignale
der Komparatoren 346, 348 werden in der Schaltung nach
Fig. 1 in derselben Weise verwendet wie die Ausgangssignale der
Komparatoren 50, 52, was oben erläutert wurde.
Es versteht sich, daß der Mittelwert der Rauschimpulse
sehr wahrscheinlich ziemlich niedrig ist, wenn nicht Null, während
der Mittelwert der testimpulsinduzierten Impulse wahrscheinlich
deutlich positiv oder deutlich negativ ist, abhängig von der Polarität
der Testimpulse und der Richtung des Fehlers relativ zum Ansetzpunkt
dieser Testimpulse. Demgemäß kann bei der Betriebsweise,
die gerade beschrieben wurde, die Richtung der testimpulsinduzierten
Impulse erfaßt werden durch Detektor 12/112 und zuverlässig bestimmt
werden, selbst bei Gegenwart von Rauschimpulsen der gleichen Größenordnung
wie die testimpulsinduzierten Impulse.
Falls erwünscht, kann ein weiterer Komparator (nicht dargestellt)
an den Ausgang des Speichers 340 angeschlossen werden
(d. h. den Rauschmittelwertspeicher) und so ausgebildet werden,
daß er eine Warnanzeige liefert, wenn der gesamte mittlere Rauschimpulswert
einen vorgegebenen Pegel übersteigt. Zusätzlich kann
der Wandler 334 asynchron von der A.T.E. 200 getriggert werden
anstatt asynchron mit dem Frequenzteiler 336, während die Frequenz
der vom Taktkreis 34 erzeugten Triggerimpulse beim internen Betriebsmodus
von 1 kHz, wie oben erwähnt, gesteigert werden kann auf einige
zehn kHz.
Zahlreichen Abwandlungen können an den beschriebenen Ausführungsbeispielen
vorgenommen werden. Beispielsweise kann die Stromsonde
112, falls erwünscht, vom Rest der Einrichtung nach Fig. 3 getrennt
werden, d. h. der Strom kann an einem Punkt in den Leiter oder
Knoten injiziert werden, und seine Wirkungen können an einer anderen
Stelle desselben Leiters oder Knotens erfaßt werden. Auch können sich
die Indikatoren 156, 158, die typischerweise von lichtemittierenden
Dioden gebildet werden, auf derselben Seite des Gehäuses 102 befinden
und mit Pfeilen versehen sein oder als solche ausgebildet sein:
Ein Pfeil zeigt abwärts zur Anzeige dafür, daß der Fehler im Teil
des Leiters oder Knotens auf der Seite des Gehäuses 102 liegt, die
den Anzeiger trägt, während der andere aufwärts zeigt zur Anzeige
dafür, daß der Fehler in dem Teil des Leiters oder Knotens liegt,
der auf der anderen Seite des Gehäuses 102 befindlich ist.
Darüber hinaus kann die Einrichtung nach Fig. 1 und 3 ebenso
gut als Spannungssonde wie als Stromsonde ausgebildet sein;
in diesem Falle kann sie so ausgebildet werden, daß sie das Anlegen
eines Stromimpulses abstoppt und/oder ein Warnsignal erzeugt, wenn
der Logikzustand an dem Anlegepunkt des Stromimpulses sich zu
ändern beginnt im Ansprechen auf den Stromimpuls; alternativ können
Stromquelle 14 und Stromsenke 16 hinsichtlich der Spannung begrenzt
werden, um weiter sicherzustellen, daß sie nicht den Logikzustand
der zu prüfenden Schaltung ändern können.
Schließlich kann der Sperrkreis 228 aus Fig. 4, falls
dies erwünscht ist, von der Bedienungsperson einstellbar ausgebildet
werden, die die Einstellung vornimmt in Abhängigkeit von
der Information, die von der A.T.E. 200 angezeigt wird, anstatt
daß eine automatische Einstellung durch die A.T.E. erfolgt.
Claims (10)
1. Verfahren zum Prüfen eines leistungsversorgten
elektronischen Schaltkreises, mit den
Schritten:
- - Erzeugung einer Sequenz von Prüfsignalen und Anlegen derselben an Knoten des Schaltkreises;
- - Empfangen einer Folge von Antwortsignalen von den Knoten des Schaltkreises und Feststellen von Schaltkreisfehlern durch Vergleichen dieser Antwortsignale mit Referenzsignalen;
- - Speichern der Schrittnummer in der Sequenz, bei der während des Anlegens der Sequenz von Prüfsignalen ein Fehler auftritt;
- - Wiederholung des Anlegens der Sequenz von Prüfsignalen an den Schaltkreis;
- - automatisches Triggern triggerbarer Stromimpulse zum Anlegen eines Stromimpulses mit vorgegebener Flankenform an den Leiter mit dem fehlerbehafteten Knoten, wenn die Sequenz den Schritt erreicht, dessen Nummer gespeichert wurde;
- - Bestimmung der Fließrichtung des Stromimpulses längs des Leiters zur Bestimmung des Fehlerortes.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem
ein Stromimpuls mit im wesentlichen dreieckiger
Form mit einer steilen Anstiegsflanke und einer
weniger steilen Abfallflanke verwendet wird,
und bei dem die Bestimmung der Fließrichtung des Stromimpulses
längs des Leiters durch Erfassen von Magnetfeldänderungen
erfolgt, die nahe dem Leiter durch die Anstiegsflanke
des Impulses induziert werden, sowie ein für
die Fließrichtung des Stromes charakteristisches Signal in
Abhängigkeit von der Richtung der Magnetfeldänderungen erzeugt
wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, bei dem
eine automatische Bestimmung des
Fehlerortes in Abhängigkeit von der vorgegebenen Flankenform
der Stromimpulse und deren Fließrichtung
längs des Leiters erfolgt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem
die Höhe der Stromimpulse so bemessen
wird, daß sie den Logikzustand des Schaltkreises unverändert
läßt.
5. Einrichtung zum Durchführen des Verfahrens
nach Anspruch 1, mit
- - einer Einrichtung (200) zum Anlegen einer Sequenz von Prüfsignalen an Knoten des Schaltkreises (204),
- - einer Einrichtung (224) zum Speichern der Schrittnummer in der Sequenz, bei der in dem Schaltkreis ein Fehler auftritt,
- - einer Einrichtung (10) zum Anlegen eines Stromimpulses vorgegebener Flankenform an einen Leiter des fehlerbehafteten Schaltkreises,
- - einer Einrichtung (210, 232) zum Triggern der Stromimpulsanlegeeinrichtung (10) zum Anlegen eines Impulses an den Schaltkreis, wenn die gespeicherte Schrittnummer erreicht ist, und
- - einer Einrichtung (42) für die Bestimmung der Fließrichtung des Stromimpulses längs des Leiters, um so die Bestimmung des Fehlerortes zu ermöglichen.
6. Einrichtung nach Anspruch 5, bei der
die Stromimpulsanlegeeinrichtung (10) so ausgebildet
ist, daß sie einen Stromimpuls mit im wesentlichen dreieckiger
Form mit steiler Anstiegsflanke und
weniger steiler Abfallflanke erzeugt, und bei der
Einrichtung (42) zur Bestimmung der Stromflußrichtung
Schaltungskomponenten (46) umfaßt zum Erfassen von Magnetfeldänderungen,
die nahe dem Leiter durch die Anstiegsflanke
des Impulses induziert werden, sowie Schaltungskomponenten
(50, 52, 54, 60, 62), die auf die Richtung der
Magnetfeldänderungen ansprechend ausgebildet sind, zum Erzeugen
eines für die Fließrichtung des Stromes charakteristischen
Signals.
7. Einrichtung nach Anspruch 5 oder 6, bei der
die Stromimpulsanlegeeinrichtung (10) einen Differenzierschaltkreis
enthält, der
an seinem Ausgang in Abhängigkeit von einem
Sprungsignal an seinem Eingang einen Impuls mit dreieckiger
Form erzeugt.
8. Einrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 7, bei der
die Komponenten zum Erfassen von Magnetfeldänderungen
aus einer auf einen gabelförmigen Kern (46)
gewickelten Spule (44) bestehen, und bei der die Stromimpulsanlegeeinrichtung
(10) ein zwischen den Schenkeln des Kerns (46)
angeordnetes leitendes Bauteil (12) umfaßt.
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 8, mit
einer auf die vorgegebenen Flankenform der
Stromimpulse und auf deren Fließrichtung längs des
Leiters ansprechende Einrichtung (56, 58) zum
Bestimmen und Anzeigen des Fehlerortes.
10. Einrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 9, bei der
die Höhe des oder jedes Stromimpulses so
bemessen ist, daß sie unzureichend ist für die Änderung des
Logikzustandes des zu prüfenden Schaltkreises.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB7921940 | 1979-06-23 | ||
GB7943989 | 1979-12-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3022279A1 DE3022279A1 (de) | 1981-01-08 |
DE3022279C2 true DE3022279C2 (de) | 1992-08-13 |
Family
ID=26271949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19803022279 Granted DE3022279A1 (de) | 1979-06-23 | 1980-06-13 | Verfahren und einrichtung zur lokalisierung eines fehlers in einem elektronischen schaltkreis |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3022279A1 (de) |
FR (1) | FR2459980A1 (de) |
GB (1) | GB2055478B (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3270882D1 (en) * | 1981-10-16 | 1986-06-05 | Fairchild Camera Instr Co | Current probe signal processing circuit |
US4857833A (en) * | 1987-08-27 | 1989-08-15 | Teradyne, Inc. | Diagnosis of faults on circuit board |
EP0527321A1 (de) * | 1991-08-05 | 1993-02-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur automatischen Fehlerdiagnose von elektrischen Baugruppen |
DE69229389T2 (de) * | 1992-02-25 | 1999-10-07 | Hewlett-Packard Co., Palo Alto | Testsystem für Schaltkreise |
EP0729035A3 (de) * | 1995-02-24 | 1997-05-07 | Langer Guenter | Feldquelle zur Untersuchung der elektromagnetischen Verträglichkeit |
CN113777459B (zh) * | 2021-08-12 | 2024-05-28 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司昆明局 | 换流器丢脉冲故障定位方法及装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2524361A1 (de) * | 1975-06-02 | 1976-12-09 | Tesla Np | Verfahren zum pruefen von integrierten digitalbausteinen |
US4074188A (en) * | 1975-08-01 | 1978-02-14 | Testline Instruments, Inc. | Low impedance fault detection system and method |
GB1537870A (en) * | 1975-09-05 | 1979-01-04 | Ericsson L M Pty Ltd | Printed circuit board testing method and apparatus |
US4186338A (en) * | 1976-12-16 | 1980-01-29 | Genrad, Inc. | Phase change detection method of and apparatus for current-tracing the location of faults on printed circuit boards and similar systems |
DD133598A1 (de) * | 1977-10-18 | 1979-01-10 | Franz Drescher | Verfahren und vorrichtung zur fehlerlokalisierung an defekten digitalen funktionseinheiten |
-
1980
- 1980-06-13 DE DE19803022279 patent/DE3022279A1/de active Granted
- 1980-06-18 GB GB8019954A patent/GB2055478B/en not_active Expired
- 1980-06-20 FR FR8013688A patent/FR2459980A1/fr active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2459980A1 (fr) | 1981-01-16 |
GB2055478A (en) | 1981-03-04 |
GB2055478B (en) | 1983-01-26 |
FR2459980B1 (de) | 1983-04-01 |
DE3022279A1 (de) | 1981-01-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3111852C2 (de) | ||
EP2754086B1 (de) | Verfahren zum prüfen einer antennenspule | |
DE3877862T2 (de) | Bestimmung der ausrichtung von bauteilen. | |
EP2954338B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum prüfen eines schaltkreises | |
DE1591223B2 (de) | Automatische Präfeinrichtung für schnell schaltende, elektronische Schaltkreise | |
DE69325751T2 (de) | Verfahren zum Testen des Kontakts zwischen einem integrierten Baustein und einer Leiterplatte | |
DE3022279C2 (de) | ||
DE102017116379A1 (de) | Vorrichtung zur Zustandserfassung eines Injektors | |
DE69637490T2 (de) | Prüfbare schaltung und prüfverfahren | |
DE68916969T2 (de) | Prüfung von elektrischen kreisen. | |
DE19820207A1 (de) | Vorrichtung zum Überprüfen der Antenne eines in einem Kraftfahrzeug vorhandenen Systems, insbesondere Wegfahrsperrensystem | |
DE69021036T2 (de) | Test-Anordnungssystem für integrierte Schaltungen unter Verwendung von lateralen Transistoren. | |
DE10237696B3 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Melden eines Übertragungsfehlers auf einer Datenleitung | |
DE3209562C2 (de) | ||
DE19908882B4 (de) | Vergleicherschaltung für ein Halbleiter-Prüfsystem | |
DE69123236T2 (de) | Instrument mit Erfassung des Durchgangs | |
DE2906736A1 (de) | Vorrichtung zur untersuchung von gedruckten schaltungen | |
DE69106713T2 (de) | Detektorschaltung. | |
EP0354214B1 (de) | Verfahren zur feststellung der elektrischen laufzeit von signalstrecken | |
WO2004086069A1 (de) | Verfahren zum testen von bauelementen einer schaltungsplatine | |
DE1908255A1 (de) | Fernalarmnetz | |
EP0919821A1 (de) | Sensoranordnung und Betriebsverfahren hierfür | |
DE4430243A1 (de) | Magneto-resistiver Sensor | |
EP0513952B1 (de) | Schaltung zur Störungserfassung für eine elektronische Baugruppe | |
DE102020110000A1 (de) | Elektrische Schaltungsanordnung und Verfahren zur galvanisch getrennten, allstromsensitiven Differenzstrom-Messung mit hoher Auflösung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES LTD., WIMBORNE, DORSET, |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |