KR960032017A - 전자 회로의 기능 체크 회로 및 방법 - Google Patents

전자 회로의 기능 체크 회로 및 방법 Download PDF

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볼프강 니쿠타
하르트무트 슈뫼켈
귄터 쿠힝케
토마스 로프
루돌프 월터
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알베르트 발도르프·롤프 옴케
지멘스 악티엔게젤샤프트
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Abstract

출력(1)을 가진 전자 회로(31)의 기능 체크 회로 및 기능 체크 방법에서는, 적어도 2개의 저항소자(21)가 테스터 장치(32)의 한 단자에 접속될 수 있는 하나의 공통 회로 노드(3)를 포함하며, 상기 회로 노드(3)로부터 떨어진 저항소자(21)의 단자(4)는 각각 하나의 출력(1)에 접속될 수 있다.
※선택도: 제1도

Description

전자 회로의 기능 체크 회로 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도 내지 제3도는 본 발명의 여러 실시예를 나타낸 블록 회로도.

Claims (15)

  1. 출력(1)을 가진 전자 회로(31)의 기능 체크 회로(33)에 있어서, 적어도 2개의 저항소자(21)가 테스터 장치(32)의 한 단자에 접속될 수 있는 하나의 공통 회로 노드(3)를 포함하며, 상기 회로 노드(3)로부터 떨어진 저항소자(21)의 단자(4)는 각각 하나의 출력(1)에 접속될 수 있는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  2. 제1항에 있어서, 저항소자(21)을 통해 동일한 회로 노드(3)에 접속된 단자(1)는 체크동안 체크될 전자 회로(31)가 정상인 경우 동일한 신호를 갖는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 체크 회로(33)가 전자 회로(31)의 부품인 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 체크 회로(33)가 테스터 장치(32)의 부품인 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  5. 제1항 또는 제2항에 있어서, 체크 회로(33)가 부착가능한 플레이트상에 배치되는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  6. 전술한 항 중 어느 한 항에 있어서, 저항소자(21)가 능동 저항을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  7. 제6항에 있어서, 저항소자(21)가 트랜지스터 소자인 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  8. 제1항 내지 5항 중 어느 한 항에 있어서, 저항소자(21)가 수동 저항을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  9. 제8항에 있어서, 저항소자(21)가 옴 저항인 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  10. 제9항에 있어서, 옴 저항(21)이 68옴의 값을 갖는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  11. 전술한 항 중 어느 한 항에 있어서, 공통의 회로 노드(3)를 가진 저항소자(21)가 동일한 저항값을 갖는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  12. 제1항 내지 11항 중 어느 한 항에 있어서, 공통의 회로 노드(3)를 가진 저항소자(21)가 상이한 저항값을 갖는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  13. 전술한 항 중 어느 한 항에 있어서, 저항소자(21)가 단락소자인 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  14. 전술한 항 중 어느 한 항에 있어서, 회로 노드(3)가 부가의 저항(22)을 통해 고정 전위(41)에 접속되는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
  15. 전자회로(31)가 그것의 체크될 출력(1)에 신호가 인가되는 상태로 되는 방식으로 구성된, 전솔한 항들중 어느 한 항에 따른 체크 회로를 이용한 출력(1)을 가진 전자 회로의 기능 체크 방법에 있어서, 하나의 공통 회로 노드(3)에 세팅되는 신호(S)와 관련해서 기능 체크를 수행하는 것을 특징으로 하는 전자 회로의 기능 체크 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임
KR1019960004281A 1995-02-23 1996-02-23 전자회로의기능테스트장치및방법 KR100311955B1 (ko)

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