DE1947026A1 - Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements - Google Patents

Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements

Info

Publication number
DE1947026A1
DE1947026A1 DE19691947026 DE1947026A DE1947026A1 DE 1947026 A1 DE1947026 A1 DE 1947026A1 DE 19691947026 DE19691947026 DE 19691947026 DE 1947026 A DE1947026 A DE 1947026A DE 1947026 A1 DE1947026 A1 DE 1947026A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
platinum
exposed
metal
parts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19691947026
Other languages
English (en)
Other versions
DE1947026B2 (de
Inventor
Banfield Joseph Henry
Greig William John
Husni Saleem Ynees
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RCA Corp
Original Assignee
RCA Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RCA Corp filed Critical RCA Corp
Publication of DE1947026A1 publication Critical patent/DE1947026A1/de
Publication of DE1947026B2 publication Critical patent/DE1947026B2/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • C23F1/16Acidic compositions
    • C23F1/30Acidic compositions for etching other metallic material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/482Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Description

6858-6S/&
RCA 61,208
U.S.Serial No. 786,218
Piled Dec. 25, 1968
RCA-Corporation, New York, N.Y., USA
Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements, das ein Substrat aus' einem Halbleitermaterial enthält, auf dem sich eine Platinschicht befindet.
Bs ist bekannt, daß bei bestimmten Arten von Halbleiterbauelementen auf einer Oberfläche eines Halbleiterplättchens an verschiedenen, im Abstand voneinander liegenden Stellen ein Goldbelag aufgebracht wird. Damit das Gold besser auf dem Substrat haftet, wird eine Zwischenschicht aus Titan verwendet. Eine Zwischenschicht aus Fiatin verhindert, daß das Gold in das Titan eindiffundiert.
Zur Herstellung solcher Bauelemente ist es bekannt und üblich, eine Oberfläche des Substrates mit einer ersten Schicht aus Titan und das Titan mit einer zweiten Schicht aus Platin zu bedecken, Teile der Platinschicht selektiv so wegzuätzen, daß im Abstand voneinander liegende Inseln aus Platin übrigbleiben, die sonst freiliegenden Teile der Titanschicht zwischen den Platininseln abzudecken, und die Inseln mit Gold zu Überziehen.
Die Schwierigkeiten bei den bekannten Verfahren bestanden darin, die entsprechenden Teile des Platins genau und auf ein« reprodusierbar· Weist wegzuätzen und einen gut haftenden Ooldübtr-
ftAD ORlGINAU
109810/1338 ßA
zug auf das Platin aufzubringen· Das Edelmetall Platin ist verhältnismäßig reaktionsträge, und die Verwendung eines entsprechend starken Ätzmittels führt häufig zur Entfernung oder Abhebung der zum Ätzen benutzten Abdeckmaske· Dadurch werden in.unerwünschter Weise zusätzliche Teile des Platins dem Ätzmittel ausgesetzt. Außerdem hat sich herausgestellt, daß sich das Verhalten des Platins beim Ätzen und bei der Bildung eines Überzugs häufig ändert· Einige Werkstücke einer offenbar gleichartigen Charge können nach der Bearbeitung einwandfrei sein, während andere Werkstücke der Charge nach genau der gleichen Behandlung häufig unbrauchbar waren·
Gemäß der Erfindung werden Bauelemente der angegebenen Art nach einem Verfahren hergestellt, bei welchem die Oberfläche der.Platinschicht, die geätzt oder mit einem Oberzug versehen werden soll, mit einer Schutzschicht bedeckt wird, die beim Ätzen des Platins auch als Abdeckmaske dient.· Teile der Schutzschicht werden entfernt, damit entsprechende Teile der Platinschicht für das Ätzen und zum Aufbringen eines Überzugs freigelegt werden. Vorzugsweise erfolgt das Aufbringen sowohl der Platinschicht wie auch der Abdeckschichten für das Platin in einer Schutzatmosphäre, ohne daß die Platinschicht dabei der Erdatmosphäre ausgesetzt wird, und das Ätzen und Überziehen der Platinteile werden vorzugsweise unverzüglich vorgenommen, nachdem die Schutzschicht von den Teilen entfernt worden ist·
Anhand der Zeichnung soll die Erfindung nun näher erläutert werden· Sie Zeichnung zeigt inχ
Fig. 1 eine seitliche Schnittansicht eines Werkstücks, das nach dem Verfahren gemäß der Erfindung hergestellt worden ist, und
ffig. 2 bis 7 Darstellungen dta in Fig· 1 gezeigten Werkstücke während aufeinanderfolgender Rhrittllungistufen,
109610/ItIt
BAD ORIGJNAi.
In «Pig. 1 ist ein Werkstück 8 in einem Zwischenstadium seiner Verarbeitung zu einem Halbleiterbauelement dargestellt· Es besitzt ein Halbleitersubstrat 10 aus Silicium, Galliumarsenid oder dergleichen» Zum Teil ist die Oberfläche des Substrates 10 von einer Schutzschicht 12 aus Siliciumdioxid oder dergleichen bedeckt, deren Dicke etwa 5 000 Angström beträgt· Durch öffnungen in der Schicht 12 hindurch erstrecken sich bis zur Berührung mit den Oberflächenteilen 13 des Substrates 10 im Abstand voneinander liegende Metallpolster 14-, die als elektrische Kontakte für verschiedene Elektroden innerhalb des Substrates dienen· Die Polster 14 enthalten eine etwa 1 000 Angstrom dicke Schicht 16 aus einem Metall, das gut am Substrat 12 haftet· Geeignete Metalle sind beispielsweise Titan, Tantal und Rhodium. Zusätzliche Kriterien für die Auswahl des Metalles der Schicht 16 werden weiter unten angegeben. Auf der Schicht 16 befindet sich eine Schicht 18 aus Platin, die eine Dicke von etwa 3 000 Angström besitzt. Auf der Platinschicht 18 ist eine Schicht 20 aus Gold angeordnet, deren Dicke etwa 10 000 bis 30 000 Angström beträgt.
Das Werkstück 8 ist dazu bestimmt, zu einem Halbleiterbauelement wie z.B. einem Transistor weiterverarbeitet zu werden· Diese Weiterverarbeitung ist nicht Gegenstand der Erfindung und wird deshalb nicht näher erläutert werden·
Bisher traten bei der Herstellung des Werkstücks 8, wie schon erwähnt wurde, erhebliche Schwierigkeiten beim Ätzen des Platins und bei der Bildung des Goldüberzugs auf dem Platin auf· Nach vielen Versuchen zur Überwindung dieser Schwierigkeiten wurde erkannt, daß die Eigenschaften des Platins hinsichtlich des Ätzens und der Bildung des Überzugs sich offenbar in zufälliger Weise in Abhängigkeit von der Zeit ändern, während der die Platinoberfläche der Atmosphäre ausgesetzt ist, und in Abhängigkeit vom Einfluß der verschiedenen bei den bekannten Verfahren benutzten Chemikalien und Behandlungsweisen·
109610/1330
Ausgehend von dieser Erkenntnis wurde das folgende Verfahren zum Herstellen des Werkstücks 8 bis zu dem in Fig. 1 dargestellten Stadium entwickelt·
Das anfängliche Werkstück 8 (Fig. 2) besteht aus dem Substrat 10 und der darauf befindlichen Schutzschicht 12, in welcher Öffnungen 21 vorgesehen sind. Das Substrat 10 enthält verschiedene Zonen (nicht dargestellt) von unterschiedlichem Leitungstyp, durch welche die gewünschten elektrischen Eigenschaften des fertigen Bauelements, beispielsweise eines Transistors bewirkt werden. Die durch die Schicht 12 führenden Öffnungen 21 legen die Oberflächenteile 13 bestimmter solcher Zonen frei, so daß dort elektrische Anschlüsse, nämlich die Kontaktpolster 14 (Fig. 1) angebracht werden können. Verfahren zum Herstellen des Werkstücks 8 bis zu dem in Fig. 2. dargestellten Stadium sind bekannt und bedürfen keiner näheren Erläuterung.
Als nächstes (Fig. 3) erhält das Werkstück 8 eine erste Schicht 16 aus Metall wie z.B. Titan, die etwa 1000 Angström dick ist, eine zweite Schicht 18 aus Platin, deren Dicke etwa 3000 Angström beträgt, und eine etwa 500 bis 1000 Angström dicke dritte Schicht 22 aus Metall, beispielsweise ebenfalls aus Titan. Wie in der Zeichnung dargestellt ist, erstrecken sich Teile der ersten Schicht 16 durch die Öffnungen 21 in der Schutzschicht 12 hindurch bis auf die Oberflächenteile 13 des Substrates 10 und stehen mit diesen in Kontakt. Obwohl dies in der Zeichnung nicht dargestellt ist, können die Oberflächenteile 13 des Substrates 10 von einer dünnen, z.B. 1000 Angström dicken Schicht aus Platinsilicid bedeckt sein, die den Zweck hat, einen guten Ohmschen Kontakt zwischen den Polstern 14 und dem Substrat 10 zu gewährleisten. Die Verwendung solcher Platinsilicidschichten und Verfahren zu ihrer Herstellung sind bekannt·
109810/1338
ßAD ORIGINAL
Vorzugsweise werden sowohl die Platinschicht 18 als auch die Deckschicht 22 in einer Schutzatmosphäre, beispielsweise in einer Argonatmosphäre, oder in einem Vakuum auf das Substrat 10 aufgebracht, ohne daß die Platiinoberflache im Verlauf des Verfahrens der Erdatmosphäre ausgesetzt wird.
Dies geschieht zweckmäßig dadurch, daß die Schichten 16, 18 und 22 der Reihe nach in einem Zerstäubungssystem erzeugt werden. Wie bekannt, bestehen solche Systeme aus einem Kolben, der eine Schutzatmosphäre beispielsweise aus Argon und eine oder mehrere Elektroden aus den Materialien, die auf ein im Kolben angeordnetes Substrat aufgestäubt werden sollen, enthält. Zwischen das Substrat und die zu zerstäubende Elektrode wird eine elektrische Spannung angelegt, und das Substrat wird mit dem Material beschichtet, das durch den Aufprall von Ionen der Argonatmosphäre auf der Elektrode von dieser abgestäubt wird. Verschiedene Schichten aus den Materialien der Elektroden können dadurch auf dem Substrat hergestellt werden, daß man die angelegte Spannung nacheinander auf die verschiedenen Elektroden umschaltet. Während des Vorgangs wird das System nicht zur Erdatmosphäre geöffnet, so daß eine außerordentlich reine Schicht 22 aus ^etall entsteht.
Es können auch andere Verfahren angewandt werden, bei denen Metallßchichten nacheinander auf ein Substrat aufgebracht werden können, ohne daß die Schichten während dieses Verfahrens der Erdatmosphäre ausgesetzt werden, beispielsweise ein Verfahren der Blektronenstrahlverdampfung von Metallen.
Pur die dritte 3chicht 22 können Metulle wie z.B. Titan, Tantal oder Rhodium verwendet werden, die nach einem Verfahren der angegebenen Art aufgebracht werden können. Die erste Schicht 16 und die dritte Schicht 22 bestehen vorzuga-
10 0810/1338 ,_INAI
BAD ORIGINAL
weise aus dem gleichen Metall, was den Vorteil hat, daß die Anzahl der benötigten Metallquellen begrenzt wird. Ein weiteres Kriterium für die Wahl der Metalle dieser Schichten wird noch erläutert werden.
Die dritte Schicht 22 schützt die Platinschicht 18 vor der Brdatmosphäre, nachdem das Werkstück aus dem Gerät, in welchem die Schichten aufgebracht werden, herausgenommen worden ist. Es hat sich gezeigt, daß dadurch Änderungen der Eigenschäften des Platins hinsichtlich des Ätzens und der Bildung eines Metallüberzuges nach einer Zwischenlagerung des Werkstücks verhindert werden.
ünach werden die beabstandeten Kontaktpolster 14 gebildet. Dies geschieht dadurch, daß zuerst die dritte Schicht 22 mit einer Photolackschicht beispielsweise aus dem von der Firma Eastman Kodak Company vertriebenen "KPR"-Photolack bedeckt wird, die dann durch eine Maske hindurch belichtet wird, worauf die unbelichteten Teile der Photolackschicht weggeätzt werden, so daß die in Fig. 3 dargestellte, gegen Ätzen beständige Abdeckmaske 28 entsteht· Während Teile 30 der dritton Schicht 22 durch die Maske 28 freigelegt werden, werden andere !Teile 52 durch die Maske geschützt· Die freigelegten Teile 30 werden dann weggeätzt· PUr eine Schicht 22 aus Titan beispielsweise wird ein Ätzmittel gewählt, das Wasser, Schwefelsäure und Flußsäure enthält* Das Ergebnis nach dem Ätzen der dritten Schicht ist in Fig. 4 dargestellt. Bestimmte Teile 34 der Platinschicht 18 sind freigelegt, während andere Teile 36 dieser Schicht 18 durch die noch vorhandenen Teile der dritten Schicht 22 bedeckt bleiben· Nun werden die freiliegenden Platinteile 34 unter Verwendung eines Ätzmittels, das 5 Teile Salzsäure und 1 Teil Salpetersäure enthält, weggeätzt. Bei dieser Stelle des Verfahrens ist es wünschenswert» daß die erste Schicht 16 nicht durch das Ätzen des Platins verändert odor beeinflußt wird. Deshalb wird für die erste
109810/1318 bad original
Schicht ein Metall gewählt, das gegenüber dem verwendeten Platinätzmittel beständig ist, also beispielsweise eines der oben aufgezählten Metalle· Ih Fig. 5 ist das Ergebnis nach dem Ätzen der Platinschicht dargestellt·
Auf zwei Punkte ist besonders hinzuweisen. Erstens ist das gemäß der Erfindung verwendete Platinätzmittel wesentlich stärker als dasjenige, das bei dem bisher üblichen bekannten Verfahren benutzt wurde (z.B. 10 Teile Wasser, 9 Teile Salzsäure und 1 Teil Salpetersäure). Bisher mußte ein relativ schwaches Ätzmittel gewählt werden, um ein Abheben der aus der Photolackschicht bestehenden Ätzmaske zu vermeiden und zu verhindern, daß unerwünschte Teile der Platinschicht dem Ätzmittel ausgesetzt werden. Bei der Verwendung eines schwachen Ätzmittels kann andererseits nur eine relativ dünne Platinschicht (z.B. etwa 1 500 Angström) verwendet werden, damit die Platinschicht mit wenigstens einer gewissen Genauigkeit und Wiederholbarkeit durchgeätzt werden kann. Bei der Verwendung einer dünnen Platinschicht besteht aber das Problem, daß die Anzahl der durch die Schicht hindurchführenden feinen Poren ("pinholes") im allgemeinen praktisch umgekehrt proportional zur Schichtdicke ist· Es ist bekannt, daß solche durchgehenden Poren schädlich und unerwünscht sind.
Bei dem Verfahren gemäß der Erfindung wird für die dritte Schicht ein Metall gewühlt, beispielsweise eines der aufgezählten Metalle, das nicht nur gegenüber dem verwendeten Platinätzmittel beständig ist, sondern auch im Vergleich mit normalen Photolacken extrem gut am Platin haftet. Die verbliebenen Teile 32 (Fig. 4·) der dritten Schicht 22 dienen soait beim Ätzen des Platins als eine ausgezeichnete Ätzmaske, und es kann ein stärkeres Ätzmittel verwendet werden. Dies wiederum ermöglicht eine dickere Platinschicht mit weniger durchgehenden Poren und führt somit zu Bauelementen mit besserer Qualität.
109810/1338 BAD
Zweitens erfolgt das Ätzen des Platins unverzüglich nach dem Freilegen der Teile 34 der Platinschicht, damit jede "Alterung" der Platinoberfläche, d.h. Änderungen ihres Verhaltens beim Ätzen vermieden werden. Vorzugsweise wird das Werkstück so schnell aus dem Ätzbad für die dritte Schicht 22 herausgenommen, durch Abspülen in destilliertem Wasser vom Ätzmittel befreit und dann in das Bad aus dem Platinätzmittel gebracht, wie es die für diese Arbeiten notwendige Zeit zuläßt, also ohne daß das Werkstück zwischen diesen Behandlungen gelagert wird. Die Eile, mit der das Werkstück nach der einen Behandlung der nächsten zugeführt wird, ist zwar nicht kritisch, solange es sich um Sekunden oder sogar Minuten handelt, doch müssen Verzögerungen in der Größenordnung von einigen Stunden, während welcher die Platinoberfläche der Atmosphäre ausgesetzt wird, vermieden werden.
Wenn man zuerst die Platinschicht mit einer Deckschicht schützt, und danach das Platin nach seiner Freilegung "unverzüglich" ätzt, so wird dadurch eine gleichbleibende und reproduzierbare Ätzung der Platinschichten verschiedener Werkstücke einer Charge gewährleistet.
Nun werden die verbliebenen Teile der Photolackmaske 28 entfernt, und unter Anwendung eines bekannten photolithographischen Verfahrens werden die Teile der ersten Schicht 16 zwischen den verbliebenen Platinteilen 36 mit einer elektrisch nichtleitenden Photolackschicht 40 bedeckt, wie in Fig. 6 dargestellt ist, während die Teile 32 der dritten Schicht, die auf den Platinteilen 36 liegen, freibleiben· .
Anschließend werden diese freiliegenden Teile 32 der dritten Schicht entfernt, wozu ein Ätzmittel aus Wasser, Schwefelsäure und Flußsäure verwendet wird, so daß nun zum ersten Mal die verbliebenen Teile 36 der Platinschicht 18 entblößt werden· "Unverzüglich" wird anschließend ein Überzug aus Gold auf
10981071338
BAD ORIGINAL
die Platinteile 36 aufgebracht, um die Goldschichten 20 zu bilden, wie in Pig. 7 dargestellt ist. Dieses Überziehen der Platinteile mit Gold erfolgt durch ein elektrolytisches Verfahren. Die hierfür erforderlichen elektrischen Anschlüsse an die Platinteile werden über die noch unversehrte erste Schicht 16 hergestellt, die unter jedem Platinteil 36 liegt und bis zum Rand des Substrates 10 reicht. Der elektrische Anschluß an die Schicht 16 erfolgt beispielsweise mittels einer (nicht dargestellten) Klammer, die die Abdeckschicht 4-0 durchdringt. Mit dem Ausdruck "unverzüglich" ist auch hier gemeint, daß eine Zwischenlagerung des Werkstücks für die Dauer von mehreren Stunden vermieden wird.
Dadurch, daß die Platinteile 36 zuvor durch die Teile 32 der dritten Schicht 22 geschützt und nach ihrer Entblößung "unverzüglich" mit Gold überzogen werden, wird erreicht, daß sich auf dem Platin in wiederholbarer Weise ein ausgezeichnet haftender Goldüberzug hoher Qualität ergibt. Gold ist zwar das bevorzugte Material für die oberste Schicht 20 der Kontaktpolster 14, doch können auch andere Metalle wie Silber, Kupfer oder dergleichen verwendet werden.
Die noch vorhandenen Teile der Photolackschicht 40 werden dann entfernt, wobei man sich bekannter Mittel zur Beseitigung des Photolacks bedient, so daß die Teile der Schicht 16, dio nicht von den Platinteilen 36 bedeckt worden, freigelegt werden. Nach dem Wegätzen dieser freiliegenden Teile der Schicht 16 erhält man das in Fig. 1 dargestellte Werkstück· Das dabei verwendete Ätzmittel, im Falle einer Schicht 16 aus Titan beispielsweise Schwefelsäure, Flußaäure und Wasser, wird so gewählt, daß es Gold oder Platin nicht angreift«
BAD ORIGINAL
109810/1338

Claims (7)

  1. Patentansprüche
    Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements, das ein Substrat aus einem Halbleitermaterial enthält, auf dem sich eine Platinschicht befindet, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat (10) mit einer ersten Metallschicht (16), diese mit einer zweiten Schicht (18) aus Platin und diese Platinschicht mit einer dritten Metallschicht (22) bedeckt wird, daß in der dritten Schicht eine Öffnung geschaffen wird, durch welche ein Teil (34) der Platinschicht freigelegt wird, und daß dieser freigelegte Teil der Platinschicht mit einem Ätzmittel, das die Metalle der ersten und der dritten Schlicht nicht angreift, weggeätzt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß anschließend der durch das Wegätzen des Teiles (34) der Platinschicht (18) freigelegte Teil der ersten Metallschicht (16) mit einer elektrisch nichtleitenden Schicht (40) bedeckt wird, daß durch Entfernen eines anderen Teiles (32) der dritten Metallschicht (22) ein anderer Teil (36) der Platinschicht freigelegt wird, und daß dieser andere Teil der Platinschicht mit einem Metall (20) überzogen wird·
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der andere Teil (36) der Platinschicht (18) unverzüglich nach seiner Freilegung mit dem Metall überzogen wird.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 1, 2 oder 3» dadurch gekennzeichnet, daß der erstgenannte Teil (34) der Platinschicht (18) unveraüglich nach seiner Freilegung weggeätzt wird«
  5. 5. Verfahren nach Anspruch 1,2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß di· Platinsohicht (18) und di· dritte
    109810/1338 6AD 0R1GInal
    32. - 11 -
    • Schicht (22) geschaffen werden, ohne daß die Platinschicht dabei der Erdatmosphäre ausgesetzt wird.
  6. 6, Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Platinschicht (18) mit einer Dicke von 5 000 Angström gebildet wird, daß zum Wegätzen des Platinteils (34) ein Ätzmittel verwendet wird, welches sich etwa aus 3 Teilen Salzsäure und 1 Teil Salpetersäure zusammensetzt und daß auf den anderen Platinteil (36) ein Goldüberzug aufgebracht wird.
  7. 7. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Schicht (16) und die dritte Schicht (22) aus dem gleichen Metall bestehen und daß die erste, zweite und dritte Schicht (16, 18, 22) nacheinander auf das Substrat (10) aufgestäubt werden, ohne daß die zweite Schicht (18) dabei der Erdatmosphäre ausgesetzt wird.
    109810/1338
    Leerseite
    BAD ÖRIGiNÄL
DE19691947026 1968-12-23 1969-09-17 Verfahren zum Herstellen von Metallkontakten an Halbleiterbauelementen Pending DE1947026B2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US78621868A 1968-12-23 1968-12-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE1947026A1 true DE1947026A1 (de) 1971-03-04
DE1947026B2 DE1947026B2 (de) 1973-12-20

Family

ID=25137939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19691947026 Pending DE1947026B2 (de) 1968-12-23 1969-09-17 Verfahren zum Herstellen von Metallkontakten an Halbleiterbauelementen

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPS4842023B1 (de)
DE (1) DE1947026B2 (de)
FR (1) FR2026831A1 (de)
GB (1) GB1232126A (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2243682A1 (de) * 1971-09-10 1973-03-15 Western Electric Co Verfahren zur metallisierung von bauteilen
US4904612A (en) * 1987-10-23 1990-02-27 Siemens Aktiengesellschaft Method for manufacturing a planar, self-aligned emitter-base complex

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5174735U (de) * 1974-12-06 1976-06-11
CH648692A5 (en) * 1979-09-05 1985-03-29 Bbc Brown Boveri & Cie Contact arrangement on a semiconductor component

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2243682A1 (de) * 1971-09-10 1973-03-15 Western Electric Co Verfahren zur metallisierung von bauteilen
US4904612A (en) * 1987-10-23 1990-02-27 Siemens Aktiengesellschaft Method for manufacturing a planar, self-aligned emitter-base complex

Also Published As

Publication number Publication date
FR2026831A1 (de) 1970-09-25
GB1232126A (de) 1971-05-19
JPS4842023B1 (de) 1973-12-10
DE1947026B2 (de) 1973-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3340563C2 (de) Schichtkondensator und Verfahren zur Herstellung desselben
DE1930669C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer integrierten Halbleiterschaltung
DE2720893A1 (de) Verfahren zur herstellung einer metall-halbleiter-grenzflaeche
DE1809115A1 (de) Verfahren zur Herstellung von mehrere Schichten umfassenden Leitungsverbindungen fuer Halbleiteranordnungen
DE2036139A1 (de) Dunnfümmetallisierungsverfahren fur Mikroschaltungen
DE3604368A1 (de) Verfahren zur herstellung eines duennfilm-transistors
DE2132034A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Zwischenverbindungen fuer elektrische Baueinheiten auf Festkoerpern
DE1954499A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiterschaltkreisen mit Leitbahnen
DE2620998A1 (de) Verfahren zur herstellung von traegern fuer die verarbeitung von ic-chips
DE1258941B (de) Verfahren zur Herstellung von mehrschichtigen Duennfilmschaltungsplatten
EP0013728A1 (de) Verfahren zur Herstellung von elektrischen Verbindungen zwischen Leiterschichten in Halbleiterstrukturen
DE1947026A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements
DE2059306A1 (de) Verfahren zum Zerstaeubungsaetzen
DE2540301C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem Leitermuster
DE1564528A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines elektrisch leitenden Kanals in einem kristallinen Halbleiterkoerper
DE2351664A1 (de) Verfahren zum behandeln einer duennschicht
DE1640470A1 (de) Verfahren zum Herstellen von scharf definierten Aperturen in einer isolierenden Schicht bzw.in Halbleitermaterial,insbesondere zur gegenseitigen elektrischen Isolierung verschiedener in einer integrierten oder monolithischen Halbleitervorrichtung zusammengefasster Schaltungselemente
DE2012110A1 (de) Verfahren zum Herstellen einer Mehrlagenmetallisierung an elektrischen Bauelementen
DE2057204C3 (de) Verfahren zur Herstellung von Metall-Halbleiterkontakten
DE2613759A1 (de) Verfahren zum herstellen eines mehrschichtigen metallanschlusskontaktes fuer ein halbleiterbauelement
DE1071846B (de)
DE1908901A1 (de) Verfahren zur Herstellung besonders feiner Muster durch AEtzen,insbesondere zur Herstellung von Halbleiterbauelementen
DE1464687A1 (de) Verfahren zum AEtzen von Haibleiteranordnungen
DE2128360A1 (de) Verfahren zur Bildung von ohmschen Kontakten an Metall Isolator Halbleiter bauteilen
DE2104804A1 (de) Verfahren zum Atzen eines passivier baren Metalls

Legal Events

Date Code Title Description
SH Request for examination between 03.10.1968 and 22.04.1971